Подобрянский
Устройство для контроля диаметра микроволокна
Номер патента: 1128119
Опубликовано: 07.12.1984
Авторы: Айсин, Заболотский, Подобрянский
МПК: G01B 21/00
Метки: диаметра, микроволокна
...диска с приводом,с нанесенными на диск по радиусу щелями, оптический коммутатор 7, оптически связанный с блоком 6 сканирования, фотоприемник 8, усилитель9, вход которого подключен к фотоприемнику 8, нолосовой Фильтр 10, входкоторого подключен к усилителю 9,ключи 11 и 12, информационные входыкоторых подключены к выходу полосового фильтра, а управляющие входы подключены к управляющим выходам оптического коммутатора, блоки 13 и 14 измерения амплитуды, входы которогоподключены к выходам ключей 11 и 12,дифференциальный усилитель 15, входыкоторого подключены к выходам первого и второго блоков 13 и .14 измерения амплитуды, блок 16 деления, первый вход которого подключен к выходудифференциального усилителя 15, а второй вход подключен к выходу...
Устройство для измерения углового положения объекта
Номер патента: 1125489
Опубликовано: 23.11.1984
Авторы: Айсин, Асташкин, Гаврилов, Заболотский, Захарова, Мамон, Подобрянский, Пушечников, Смирнов, Хлебников
МПК: G01M 11/02
Метки: объекта, положения, углового
...соединенных паласовых фильтров 22-25, входы которых подключены к выходам сумматоров 17, детекторов 26-29, фильтров 30-33 нижних частот, дифференциальные усилители 34 и 35, входы которых подключены к выходам Фильтров 30-33, блок 36 регистрации., входы которого подключены к выходам дифференциальных усилителей 34 и 35, сумматор 37, входы которого подключены к выходам Фильтров 30-33 нижних частот, индикатор 38, подключенный к выходу сумматора 37, блок 39 Формирования опорных напряжений, состоящий из модуляторов 40-43, выходы которых соединены с вторыми входами сумматоров 17-20 полосового Аильтра 44, вход которого подключен к выходу дополнительного Фотан немника Я, 3 11 фазоинверторов 45 и 46, выходы которых соединены с управляющими...
Проекционное устройство для контроля параллельности оптических осей бинокулярного прибора и поворота изображения вокруг этих осей
Номер патента: 1118854
Опубликовано: 15.10.1984
Авторы: Заболотский, Подобрянский
МПК: G01B 11/26
Метки: бинокулярного, вокруг, изображения, оптических, осей, параллельности, поворота, прибора, проекционное, этих
...и плоским зеркалом, расположенным вне оптической оси между экраном с отверстиями, под углом к этому экрану с выходным зрачком системы. 40На фиг, 1 представлен главный вид.оптической системы устройства, общий вид; на фиг. 2 - то же, вид сверху; на фиг. 3 - вид экрана с отверстиями.Устройство содержит осветитель 1, диафрагму 2 с перекрестиями (не показаны), диафрагму 3 со штрихом (не показан), кол лиматорную линзу 4, систему входного 5 и выходного 6 плоских зеркал, экранс отверстиями, зеркало 8, проекционную линзу 9, экран 10.50Между коллиматорной линзой 4 и системой входного 5 и выходного 6 плоских зеркал укреплен испытуемый бинокль с возможностью поворота вокруг двух ортогональных осей, перпендикулярных оптической оси устройства, В...
Устройство для контроля поворота изображения и параллельности оптических осей бинокулярных приборов
Номер патента: 1091102
Опубликовано: 07.05.1984
Авторы: Васютин, Заболотский, Подобрянский, Федосеев, Федчук, Хлебников, Челышков
МПК: G01B 11/26, G01M 11/02
Метки: бинокулярных, изображения, оптических, осей, параллельности, поворота, приборов
...Р зависит от расстояния Ь между диафрагмой со штрихоми диафрагмой с перекрестием. Ветличина Ь ограничена полем зренияиспытуемого бинокля,С целью повышения точности контроля угла поворота изображения, какправило, стараются получить как можно большую величину 2, Для этогоВеличину Ь определяют из условийЬ = (0,95+0,99) Е, .". Хгде 1 - Фокусное расстояние коллиматорной линзы;2 В - угловое поле зрения испытуемого бинокля.Из этого выражения видно, что30 наклонные пучки лучей, соответствующие диафрагме со штрихом,.проходятчерез бинокль на границе его полязрения.ьОбъектив и окуляр испытуемого бинокля имеют астигматизм, поэтомуесли в объективы испытуемого биноклявходят два коллимированных пучкалучей, соответствующие диафрагмамс...
Устройство для сортировки
Номер патента: 1084816
Опубликовано: 07.04.1984
Авторы: Воробьев, Кислицын, Подобрянский, Сумин
МПК: G07C 11/00
Метки: сортировки
...содержит регистр сдвига, соединенный установочным входом с выходом блока управления, а тактовым входом - с выходом первого элемента ИЛИ, а выходами - с соответствующими третьими выходами. блока управления и входами второго элемента ИЛИ, подключенного выходом через элемент задержки к первому входу элемента И, связанного вторым входом с вторым входом блока управления, а выходом - с первым входом третьего элемента ИЛИ, подключенного выходом к второму выходу блока управления, а вторым входом - к перному выходу блока управления и выходу первого элемента ИЛИ, соединенного первым и вторым входами с первым . и третьим входами блока управления,На фиг. 1 изображена структурная схема устройства; на фиг. 2 - функциональная схема блока...
Устройство для обработки информации о комплектовании пар деталей
Номер патента: 1080150
Опубликовано: 15.03.1984
Авторы: Воробьев, Кислицын, Подобрянский, Сумин
МПК: G06F 17/00
Метки: информации, комплектовании, пар
...содержащее первый счетчик, блок индикации, эле- менты ИЛИ,две группы элементов комму 60 тации, выходы которых через одновиб раторы подключены соответственно к входам первого и второго элемен-, тов ИЛИ, введены три счетчика и две . схемы сравнения, причем первые входы 65 первой и второй схем сравнения соединены соответственно с выходами первого и второго счетчиков, информационные входы которых являются соответственно первым н вторым входамиустройства, выход третьего счетчикаподключен к первому входу блока индикации.и ко второму входу первой схемы сравнения, выход четвертого счетчика подключен к второму входу блокаиндикации и к второму входу второйсхемы сравнения, выходы первой ивторой схем сравнения соединены соот.ветственно с...
Способ измерения положения объекта и устройство для его осуществления
Номер патента: 1067352
Опубликовано: 15.01.1984
Авторы: Айсин, Викентьев, Заболотский, Подобрянский, Федчук
МПК: G01B 21/00
...временнойинтервал, длительность которого пропорциональна ширине изображения диаФрагмы, причем начало второго временйого интервала совпадает с окончанием первого временного интервала, измеряют число импульсов с частотой, равной или кратной частоте видеоимпульсов, заполняющих второй временной интервал, частота импульсов, за полняющих первый временной интервал, в два раза выше частоты импульсов, заполняющих второй временной интер-. вал, а ширина иэображения диафрагмы не равна периоду нанесения фоточув ствительных ячеек фотопреобразователя, суммируют число импульсов, заполняющих первый временной интервал, с числом импульсов, заполняющих второй временной интервал, и по найден ной сумме будят о положении объекта.Цель достигается тем, что в...
Устройство для измерения рабочего отрезка объективов
Номер патента: 1049768
Опубликовано: 23.10.1983
Авторы: Айсин, Асташкин, Заболотский, Земсков, Подобрянский, Смирнов, Хлебников
МПК: G01M 11/00
Метки: объективов, отрезка, рабочего
...14. фильтры 15, 16 нижних частот, блок 17 формирования управляющих сигналов, состоящийиз делителя 18, компаратора 19, триггера20, формирователей 21, 22, узла 23 за-.держки, блок 24 сканирования, содержащий зеркальный цилиндр 25, дополнительный привод 26, датчик 27 положения,состоящим из сельсин датчика 28, сельсинприемника 29, синхронного детектора 30,генератора 31, фазовращателя 32, блоки33, 34 запоминающие блок 35 усреднения,блок 36 экстремума, состоящим из фильтра 37 нижних частот, узла 38 дифференцирования, нуль органа 39, формирователя 40, индикатор 41, блок уставки 42, конт.ролируется объектив 43.Устройство работает следующим образом.Изображение щелевой диафрагмы 3,освещаемои осветителем, состоящим изисточника света 1 и...
Способ измерения угловых перемещений объекта в двух взаимно перпендикулярных плоскостях и устройство для его осуществления
Номер патента: 1049735
Опубликовано: 23.10.1983
Авторы: Айсин, Викентьев, Грошев, Заболотский, Подобрянский, Федчук, Хлебников
МПК: G01B 11/26
Метки: взаимно, двух, объекта, перемещений, перпендикулярных, плоскостях, угловых
...щелевых диафрагм 12 и 13, подученноепри отражении от объекта 30, с помощьюсветоделительных элементов 15 и 16строится в плоскостях установки фото-приемников 18 и 19, которые оптичеоки сопряжены с плоскостями установкишелевых диафрагм 12.и 13,Модулягор 6 осуществляет яркостнуюмодуляцию световых потоков, направляемых на шелевые диафрагмы 12 и 13 спомощью диска 7, вращаемого приво-.дом 8. Световоды 2 - 5 расположенытаким образом относительно диска 7,что модуляция световых потоков осушествляется в противофазе,Фаза модуляции считывается блоком 9с помощью лампы 10 и вспомогательного фотоприемника 11.На фотоприемниках 18, 19 попеременно (фиг, 3, Е 12, Е 13) стройся изображения щелевых диафрагм 12 и 13,причем одно цз изображений щелевыхдиафрагм...
Автоматизированная сборочная линия
Номер патента: 1020207
Опубликовано: 30.05.1983
Авторы: Бегляков, Дьяков, Куликов, Несвижский, Подобрянский, Харьков
МПК: B23Q 41/02
Метки: автоматизированная, линия, сборочная
...9 спутник на рабочей позиции, вид сверху; на фиг. 10 - разрез А-А на фиг. 8; на фиг. 11 - разрез Б-Б н фиг. 9; на фиг 12 - мехнизм бракования.1 иния состоит из транспортера 1 с тяговым элементом 2, контактирующим со спутникам, 3, имеющими передние 4 и задние 5 опорь Тяговый элемент 2 перемешает спутники 3 на рабочую позицию 6 с отсекателями 7. Спутник 3 выполнен из соединенных между собой вер,него 8 и нижнего 9 кори. сов. Нижний корпус 9 имеет возможность переч.1 цения относительно верхнего корпуса 8 вдоль движущегося тягового элемента 2 и снабжен рычагами 10, установленными с возможностью поворота на осях 11, жестко закрепленных в нижнем корпусе 9. На нижних концах рычагов 10 установлены передняя 4 и задняя 5 опоры спутника 3, а...
Устройство для измерения рабочего отрезка объективов
Номер патента: 1004796
Опубликовано: 15.03.1983
Авторы: Айсин, Асташкин, Бегляков, Подобрянский, Смирнов, Хлебников
МПК: G01M 11/00
Метки: объективов, отрезка, рабочего
...составляющая которой равна удвоенной частоте сканирования микрообъектива 8 (фиг. 2 а). При этом на выходе фазочувствительного детектора 34 Формируется напряжение, постоянная составляющая которого равна нулю и контролируемый объектив 41 не перемещается.При смещении фокальной плоскости контролируемого объектива 41 относительно плоскости фотопленки 7 на конденсаторах 21 и 22 выделяется модулирующая огибающая, первая гармоническая составляющая которой равна частоте сканирования микрообъектива 8, а фаза зависит от знака смещения фокальной плоскости контролируемого объектива 41. На выходе Фазоцувствительного детектора 34 формируется пульсирующее напряжение соответствующего знака (фиг, 2 б), которое перемещает контролируемый объектив...
Устройство для обработки информации о комплектовании партии деталей
Номер патента: 1001112
Опубликовано: 28.02.1983
Авторы: Воробьев, Кислицын, Подобрянский, Сумин
МПК: G06F 17/00
Метки: информации, комплектовании, партии
...деталей А имеет определенное количество деталей 01, аналогично каждая группа деталей В имеет определенное количество деталей Ь . Ограничения, накладывае мые на комплектацию, представлены выделенными ступенчатыми линиями и, верхняя граница, и - нижняя. В йри 1 г 11 иведенном случае ограничения линейныЕ, так как 11, -11,-п=со 1151, в общем случае и -и=Маг . КомплектацияВаХ гпмнпначинается с=1, где а; =10, которая может соединяться с деталями вида В по группам 1 =1 и 1 =2, в ка торых соответственно при Ь=2 и при зз=4 видно, что детали соберутся толь ко при Ь =10, где будет остаток, который используется при комплектации деталей о 1= 9. Таким образом, просматривается каждый столбец ав пределах 40 ограничений ьц и 11, , В рез 1 чьтате получаем...
Устройство для разбраковки изделий на группы
Номер патента: 970386
Опубликовано: 30.10.1982
Авторы: Воробьев, Кислицын, Подобрянский, Сумин
МПК: G06F 17/00
Метки: группы, разбраковки
...знака неравенства. Блок 9 управления производит пересчет такто" ,вых импульсов в номера сортировоч:ных групп и выдает код номера сорти ровочной группы на информационные входы дешифратора 12. Устройство работает следующим образом.45Преобразователь 1 аналог-код преобразует величину измеряемого параметра в цифровой код, который поступает на входы блока 2 сравнения. Под действием тактовых импульсов, проходящих через элемент. И 15, инФормация в регистрах 5, 6 и 7 постоянно сдвигаетсяи в определенный момент в регистрах границ уставок будет находиться код верхней границы (регистр б) и код нижней границы 55 (регистр 7) . Этот момент выявляется блоком 9 управления. следующим образом,Счетчик 10 имеет коэффициент пересчета, равный тактовому...
Устройство для сортировки деталей и узлов на группы
Номер патента: 906635
Опубликовано: 23.02.1982
Авторы: Воробьев, Подобрянский, Сумин
МПК: B07C 5/04
Метки: группы, сортировки, узлов
...входам регистра 13 число необходимых измере- ь 5 ний детали, по которому происходит усреднение, Контролируемую деталь по сигналу "Пуск начинают поворачивать,и по каждому синхроимпульсу с датчика 1 или 2 производят фиксац 1 ю значения показаний датчика. Измеряемая величина параметра детали преобразуется датчиком в электрический си мал и передается по одному из каналов, номер которого соответствует измеряемой величине, на пороговый элемент 3, Последний ограничивает поступление сигналов в блок 5, если величина параметра выходит за заданные пределы, Он также посылает сигналы для образования команды Брак" на принимающие элементы исполнительного механизма 11 после поступления на вход его сигнала о крайних значениях параметров, Сигнал о...
Способ измерения расстояния между оптически прозрачными поверхностями и электронно-оптическое устройство (его варианты) для реализации способа
Номер патента: 903701
Опубликовано: 07.02.1982
Авторы: Айсин, Подобрянский, Смирнов, Хлебников
МПК: G01B 21/08
Метки: варианты, его, между, оптически, поверхностями, прозрачными, расстояния, реализации, способа, электронно-оптическое
...толщины 10стенок стеклянных трубок в процессевытяжки, что позволяет в сочетаниис системами регулирования обеспечитьболее высокое качество выпускаемойпродукции. 15Устройство (вариант 1) работаетследующим образом,Изображение щелевой диафрагмы 2,построенное с помощью полупрозрачного элемента 3 и сканирующего объектива 4, отраженное от поверхностистеклянной трубки 16, анализируетсяанализирующей диафрагмой 6.При перемещении сканирующего объектнва 4, перемещаемого с постоянной 25скоростью приводом 5 в одно из край-.них положений, на выходе блока 15определения направления перемещенияформируется сигнал "сброс", сбрасывающий триггер 1 О и счетчик 13,В процессе сканирования, при фокусировании изображения щелевой диафрагмы 2 на первую...
Устройство для управления сортировкой деталей и узлов на группы
Номер патента: 902865
Опубликовано: 07.02.1982
Авторы: Воробьев, Подобрянский, Сумин
МПК: B07C 5/04
Метки: группы, сортировкой, узлов
...величины параметра 9, при этом первый выход управляющего блока 12 через триггер 10 связан с вторым входом схемы И 7, а второй - с. вторым входом схемы ИЛИ 8, с входом счетчика номера сортиро.- вочной группы 14, выход которого подсоединен к первому входу ключевых схем 3, и с вторым входом счетчика величины параметра 9, связанного с дешяфратором 11, выход которого подключен к входу обнуления триггера 10 и второму входу ключевых схем 3, причем вход схел 1 ы сравнения 5 соединен с выходом регистра 15 величины сортировочной группы 15. Устройство работает следующим обра 1Измерительный блокпроизводит замер параметра детали, а измерительно-кодирующий преобразователь 2 преобразует аналоговый сигнал с измерительного блока в цифровой код и подает...
Устройство для контроля фокусных расстояний положительных линз
Номер патента: 892205
Опубликовано: 23.12.1981
Авторы: Заболотский, Подобрянский
МПК: G01B 11/00
Метки: линз, положительных, расстояний, фокусных
...1 с двумя штрихами А и В, два клина 2, 8922051 Па 1=кл Г, и а 1-цгде ЧКи Ч - - углы отклонения свеТПтовых пучков клиньями с инденксамии 1 соответственно; Я - фокусное расстояние объектива.Измеряя расстояние ЬУ между штрихами сетки А и В 1 (фиг. 3 и 4) с помощью окуляра-микрометра или по шкале, помещенной в задней фокальной плоскости объектива, можно определить величину отклонения Фо 40 объектив 3, окуляр-микрометр 4 и контролируемую линзу 5.Контролируемую линзу 5 помещаютмежду сеткой 1 и клиньями 2 так, чтобы сетка 1 находилась в ее переднейФокальной плоскости.Устройство работает следующим образом.Два коллимированных пучка лучейпосле контролируемой линзы, соответствующие двум штрихам А и В сетки 1,отклоняются клиньями 2 и попадают на...
Контрольно-сортировочный автомат
Номер патента: 887037
Опубликовано: 07.12.1981
Авторы: Воробьев, Подобрянский, Сумин
МПК: B07C 5/08
Метки: автомат, контрольно-сортировочный
...длительность цикла, кодируют величину этого напряжения двоичным кодом и получают некоторый набор Б,Задают другие возможные математические ожидания контролируемого параметра, аналогично получают другие наборы А и Б, после всего этого составляют таблицу соответствия и по ней известными методами строят кодопреобразователь, у которого каждому набору А соответствует определенный набор Б.Автомат работает следующим образом.Контролируемое изделие подается транспортирующим механизмом к измеритель- но-кодирующему преобразователю 1, а затем к сортировочному механизму 3. После измерения каждого изделия кодовая комбинация, появляющаяся на выходах преобразователя 1, поступает в запоминающее устройство 2, а затем на сортировочный 5 10 1 г 20...
Способ измерения рабочего отрезка объективов и устройство для его осуществления
Номер патента: 879357
Опубликовано: 07.11.1981
Авторы: Айсин, Асташкин, Бегляков, Подобрянский, Смирнов, Хлебников
МПК: G01M 11/00
Метки: объективов, отрезка, рабочего
...помощью конденсатора 2 на целевую диафрагму 3. Изображение щелевой диафрагмы 3, расположенной в фокусе объектива 4, строится в фокальной плоскости контролируемым объективом 5 и переносится микро- объективом б в плоскость анализа, в которой установлен диск 7 анализатора.Диск 7 анализатора проводит пространственный анализ спектра изображения щелевой диафрагмы 3, имеющий спектр, близкий к непрерывному. Световой поток, промодулированный частотами, определяемыми частотой нанесения штриховых решеток на диск анализатора. 7 и коростью вращения электродвигателя 9, попадает на фотоприемник 8.Генератор 26 опорных напряжений связан с приводом 27,передающим колебательные движения микрообъективу б. Колеблющийся микрообъектив б осуществляет глубинное...
Проекционное устройство для контроля параллельности оптических осей бинокулярного прибора и поворота изображения вокруг этих осей
Номер патента: 857704
Опубликовано: 23.08.1981
Авторы: Заболотский, Кривовяз, Подобрянский, Хлебников
МПК: G01B 11/26
Метки: бинокулярного, вокруг, изображения, оптических, осей, параллельности, поворота, прибора, проекционное, этих
...линзой 4, каждой из трубок испытуемого бинокля 7 и проекционной линзой 5 на экране 6 служит мерой непараллельности оптических осей трубок бинокля. 5 1 о 15 20 25 зо 35 Обычно поле допуска для непараллельности определяется допусковым прямоугольником (фиг. 3).В случае параллельности оптических осей бинокля изображения 10 и 11 на экране 6 будут совмещены.Измерение угла поворота изображения бинокля по повороту изображения перекрестия на экране 6 не обеспечивает требуемой точности из-за малого радиуса перекрестия, который ограничен полем зрения проекционной линзы.Поэтому используется дополнительная диафрагма 3. Поскольку ход лучей в каждой из трубок бинокля идентичен, описание касается хода лучей только через одну трубку. Расстояние Ь от...
Фотоэлектрическое устройство для конт-роля рабочего расстояния обективов
Номер патента: 842401
Опубликовано: 30.06.1981
Авторы: Заболотский, Подобрянский
МПК: G01B 11/00
Метки: конт-роля, объективов, рабочего, расстояния, фотоэлектрическое
...на объективодержателе 2 контролируемый объектив 12, который дает изображение диафрагмы коллиматора в своей фокальной плоскости, вблизи которой расположена грань волоконно-оптического клина 3. При вращении волоконно 55 оптического клина З.изображение диафрагмы коллиматора перемещаетсй по грани клина. На фиг. 2 изображен во- . 01 41 локонно-оптический клин 3, на которомусловно показаны сплошными линиямилинии равной толщины клина, а пунктирной - проекция траектории, по ко-.торой перемещается изображение диафрагмы коллиматора, на грань клина,перпендикулярную оптической оси.Так как грань клина, на которойобразуется иэображение диафрагмы коллиматора, наклонена к оптической оси,то при вращении клина только в двухего точках А и А,...
Способ измерения коэффициента передачи модуляции оптических систем
Номер патента: 779837
Опубликовано: 15.11.1980
Авторы: Айсин, Подобрянский, Смирнов, Хлебников
МПК: G01M 11/02
Метки: коэффициента, модуляции, оптических, передачи, систем
...частотойнанесения штрихов на диске 7, попа-дает на катод фотоприемника 8,Штрихи решетки растра расположены на несовпадающих дорожках (фиг.2),Растр на диске анализатора с дискретно изменяющимися по частоте штриховыми решетками разбит на и+1секторов, где и - число анализируемых пространственных частот, причем в каждом из секторов на различных кольцевых дорожках последова-тельно нанесены штриховые решетки,соответствующие нулевой и анализируемым пространственным частотам,.при.перемещении с одного секторана другой, последовательность нане.сения дорожек смещается на однукольцевую дорожку. Решетка 36 спространственной частотой, близкойк нулю, предназначена для нормирования сигнала, т. к. коэффициент передачи контраста для такой...
Способ контроля бокового зазора в кинематических передачах
Номер патента: 750267
Опубликовано: 23.07.1980
Авторы: Айсин, Бегляков, Подобрянский, Смирнов, Шевелев
МПК: G01B 7/14
Метки: бокового, зазора, кинематических, передачах
...Указанная цель достигается тем, что изменяют направление нагрузки многократно эа время одного оборота выходного звена передачи, а о контролируемом зазоре судят по количеству импульсов, считанных между изменениями направления нагрузки.На чертеже показана структурная схема устройства.Двигатель 1 соединяют с входным валом 2 ведущей шестерни 3. На выходной вал 4 ведомой шестерни 5 устанавливают угловой импульсный преоб; разователь 6, связанный со входом измерительного прибора 7. С выходным750267 Формула изобретения Составитель И. ШвабРе акто М. Ликович Тех е А.цепанская Ко ректоГ, Назарова Заказ 4456/15 Тираж 801 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035 Москва ЖРаушская наб. д. 4 5Филиал ППП...
Устройство для контроля вогнутых отражающих поверхностей изделий
Номер патента: 658404
Опубликовано: 25.04.1979
Авторы: Горшков, Подобрянский
МПК: G01B 11/26
Метки: вогнутых, отражающих, поверхностей
...5 связаны с механизмом 7 перемещения, причем механизмы б и 7перемещения связаны с отсчетным устройством 8,Устройство работает следующим о разом.Параллельные пучки лучей, выходящие иэ автоколлиматора 1, с помощью подвижных пентапризм 2 и 3 направляются в симметричные зоны контролируемой детали 4.Отразившись от контролируемой летали 4, пучки лучей пересекают оптичес - кую ось в зональном фокусе ) эон, с которым совпадают центры кривизны С обеих половин зеркала 5, и, отражаясь от обеих половин, возвращаются в автоколлиматор 1 по первоначальному направлению.итель С.Гра И.Петко Ко вектор О.Ковинская 038/Зб исноекомитета СССи открытийау до 45 По ог ни Тираж 865 ЦНИИПИ Госуцарствен по делам иэобрет сква ЖРаушская,4 атент Ужгород,...
Способ автоколлимационного контроля вогнутых оптических поверхностей
Номер патента: 480904
Опубликовано: 15.08.1975
Авторы: Горшков, Подобрянский
МПК: G01B 11/24, G01B 9/08
Метки: автоколлимационного, вогнутых, оптических, поверхностей
...ус поверх целью осковское ордена Ленина высшее техническо Изобретение отностехнике, а именно кционного контроляверхностей,Известен способ автоколлимационного контроля вогнутых оптических поверхностей с использованием автоколлимационной зрительной трубы, подвижных пентапризм, плоского зеркала, установленного в фокусе контролируемой поверхности, заключающийся в том, что напрягают световые лучи в симметричные зоны контролируемой поверхности с помощью подвижных пентапризм и наблюдают отклонение лучей от первоначального направления.Однако эти способы не позволяют контролировать вогнутые поверхности, имеющие различные запальные фокусные расстояния.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что сначала плоское зеркало устанавливают в...
Устройство для контроля полированных асферических поверхностей второго порядка
Номер патента: 458705
Опубликовано: 30.01.1975
Авторы: Александров, Зубарев, Подобрянский, Семибратов
МПК: G01B 9/02
Метки: асферических, второго, поверхностей, полированных, порядка
...пентапризмы 2, проектируется на две расположенные симметрично оптической оси площадки кольцевой зоны радиуса У вспомогательной поверхности 3, отражаясь от которой, направляется на контролируемую поверхность 4 и, вторично отразившись от двух симметричных площадок кольцевой зоны У, направляется на две выходные пентапризмы 5, из которых далее в отсчетную зрительную трубу 6.Отступление профиля обрабатываемой по верхности от идеального, рассматриваемоекак симметричный поворот двух зеркал в контролируемых зонах У, вызывает отклонение отраженного луча от своего нормального направления на некоторый угол а, величина и О направление котброго зависят от величины ихарактера ошибки. Проходя через две входные пентапризмы 2, лучи коллиматора 1...