H01J 49/40 — спектрометры, работающие по принципу измерения времени полета ионов

Номер патента: 1723601

Опубликовано: 30.03.1992

Авторы: Буцев, Казанский, Коган, Павлов

МПК: H01J 49/40

Метки: ионов, космической, плазмы, характеристик

...не осуществлен:20 Авторами впервые предложена определенная связь между ускоряющим и отражающим электрическими полями по величинеи геометрии, причем ранее закономерностивлияния ее на повышение чувствительности25 известно не было, соотношение потенциалов указанных полей предлагается находитьпо выведенной авторами зависимости.Таким образом, новая совокупностьвзаимосвязанных существенных признаков30 обеспечивает одновременную селекциюионов по массе, энергии и направлениюдвижения, т,е, достигнут положительныйэффект, изложенный в цели изобретения.На чертеже представлена схема анали 35 затора для реализации предложенного способа, содержащего источник 1 ионов собластью 2 ускорения. областью 3 дрейфаионов, областью 4 отражения ионов и приемник 5...

Номер патента: 1725289

Опубликовано: 07.04.1992

Авторы: Назаренко, Секунова, Якушев

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр, многократным, отражением

...на линии СС пересечениясвзаимно перпендикулярных плоскостейсимметрии ионных зеркал (плоскостихг и ху),Масс-спектрометр работает следующим образом,Ионный пакет, вылетевший из источника ионов по направлению к одному из зеркал, отражается в нем и попадает в другое зеркало, отразившись вГ котором, снова попадает в поле первого зеркала и т.д. В процессе дрейфа ионный пакет расслаивается по массам и, отразившись многократнов поле ионных зеркал, попадает вприемное окно детектора, При этом дисперсия прибора равна 517252 ложены в свободном от поля пространстве между ионными зеркалами.Указанные зеркала создают свобод- ный для прохождения ионов ионно-оптический тракт. При этом полностью5 устраняются такие характерные для се" точных зеркал потери...

Номер патента: 1732396

Опубликовано: 07.05.1992

Автор: Манагадзе

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...работает следующим образом,Ионы, образованные на мишени 5, разлетаются в первом приближении изотропно и часть из них, двигаясь вдоль дрейфового участка; попадает сначала в фокусирующее поле иммерсионной линзы, включающую электроды б и 7, и далее в тормозящее поле рефлектора, ограниченного сетками 3 и 8. Отраженные ионы, вновь двигаясь вдоль дрейфового участка, испытав воздействие фокусирующего поля иммерсионной линзы и пройдя сквозь сеточную сборку 2. попадают на детектор 1. Взаимное расположение мишени 5, подложки 4 и электродов б и 7. а также напряжение на них можно подобрать такими, что ионы, вылетающие внутри угла ЗОО, фокусируются на защитную подложку, а на детектор попадают ионы прсимущественно одной кратности.Возможны...

Номер патента: 867219

Опубликовано: 15.05.1992

Авторы: Держиев, Иванов, Комаров, Мищенко, Олейников, Рамендик, Сысоев

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...опроса и считывания,а распределитель содержит блок задания ширины каналов по закону Ь Ь 1/й.Структурная электрическая схемапредлагаемого устройства представленана цертеже.Устройство состоит из истоцникаионов 1, включающего разрядные электроды 2, сетку 3 и оптицескую систе"му ч, времяпролетного масс-анализа-тора 5, детектора 6, блока 7 питанияисточников ионов, усилителя-генератора 8, вакуумных насосов 9 и блокарегистрации 10, содержащего распреде.литель 11 с блоком задания шириныканалов, аналого-цифровые преобразо .тели 12, интеграторы 13 и блок 11опроса и считывания, причем сетка 3подключена ко входу усилителя-генератора В и расположена в источникеионов 1 между оптической системой 1и разрядными электродами 2, подключенными к блоку 7...

Номер патента: 1737560

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Миловзоров, Шерозия, Шишлаков

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетной, масс-спектрометрии

...частицы приобрели .большэнергию. Отражающая система 5 сост ит из сетки 6, через которую проходят ионы, и пластины 7, на кото,ны пакета до отражения Дт и после него ДС , можно определить велицину разброса цастиц по энергиям ДЕ, который необходимо создать для фокусировки частиц в плоскости детектора.(Рассмотрим общий случай, когда длина дрейфового пространства Ьь до системы отражения и длина Ь дрейфового пространства от системы отражения до детектора не равны. В этом случае Так как длина бесполеяого дрейфового пространства должна быть вйбрана с. условием, что временной промежуток между пакетами, образующийся в процессе дрейфа, должен быть большем, чем временная протяженность пакета в области фокусировки, т,е. йп1 ОДе=- ----2" Р"...

Номер патента: 1758705

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Шерозия, Шишлаков

МПК: H01J 49/40

Метки: ионов, масс-анализа

...компоненты ионного пучка.На фиг. 1 схематически представлено устройство, реализующее предлагаемый способ исследования масс-спектра непрерывного ионного пучка; на фиг. 2 - временная диаграмма ионного тока на мишени,Устройство состоит из ионного источника 1, системы 2 импульсного отклонения ионного пучка 3 от первоначальной траектории 1 роль системы 2 в ионных пушках могут выполнять отклоняющие электроды, на которые подается импульс напряжения), мишени. 4 устройства (роль мишени 4 в аналитических и технологических установках может выполнять распыляемый источником 1 образец), в которое встроен ионный источник 1, системы 5 регистрации ионного тока, которая может быть обычной системой регистрации времяпролетных спектрометров, источника 6...

Номер патента: 1760577

Опубликовано: 07.09.1992

Авторы: Егоров, Иванов

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...(М = 1,2). Однако и для них оно на практике не превышает +10 нс.Указанной стабильности времен пролета ионов, достигнутой благодаря совокупности перечисленных отличительных признаков, достаточно для того, чтобь 1 в течение длительной работы масс-спектрометра (практически постоянно) настройка ИАП оставалась оптимальной. Это обеспечивает достаточную точность измерения амплитуды пиков масс-спектра в течение длительного времени.Заявляемая совокупность признаков не известна, Введение во времяпролетный масс-спектрометр и подключение указанным образом измерителя интервала времени между фактическим и установленным при настройке временем пролета ионов реперного компонента является новым и применено впервые. Б результате появилась возможность...

Номер патента: 2003199

Опубликовано: 15.11.1993

Авторы: Бочкарев, Колесников, Семкин

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

...упр. поля а,чь= ч /аг(с) б 1 (2)ат - ускорение иона на участке 0 привозврате иона,ч - скорость на выходе ускоряющегопромежутка ба,50 55 времени) и каждый раз включается источник ионов 1. В динамическом режиме обеспечивается обработка задаваемых блоком управления 12 диапазонов масс с разрешающей способностью на 1 - 2 порядка более высокой, чем в статическом режиме, Это достигается за счет формирования генератором 10 управляющего переменного во времени поля в промежутке о 1, Закон управления синтезируется из условия компен сации разброса, времен прихода ионов с одинаковой массой в плоскость приемника 7, а также с учетом требования обеспечения постоянства ускорения, действующего на ионы на возвратном участке траектории 15 сбе 1, Это...

Номер патента: 1713385

Опубликовано: 28.02.1994

Авторы: Дубенский, Кудрявцев, Никоненков, Шмикк

МПК: H01J 49/40

Метки: атомный, времяпролетный, зонд, ионов, кинетических, компенсацией, разброса, энергий

ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ АТОМНЫЙ ЗОНД С КОМПЕНСАЦИЕЙ РАЗБРОСА КИНЕТИЧЕСКИХ ЭНЕРГИЙ ИОНОВ, содержащий камеру дрейфа, в которой размещены держатель образца и детектор ионов, источник регулируемого постоянного напряжения и генератор испаряющих импульсов регулируемой амплитуды, подключенные к держателю образца, отличающийся тем, что, с целью улучщения массогабаритных характеристик, упрощения процесса юстировки ионного пучка и расширения класса исследуемых материалов, в него введен отражатель ионов, отражающий электрод которого соединен с выходом источника регулируемого постоянного напряжения, а держатель образца подключен к средней точке дополнительно введенного делителя напряжения, состоящего из двух резисторов, один из выводов которого подключен к...

Номер патента: 1443686

Опубликовано: 30.03.1994

Авторы: Мамырин, Новикова, Шмикк

МПК: H01J 49/40

Метки: времяпролетный, масс-спектрометр

ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР , включающий источник ионов, детектоp и камеpу дpейфа, внутpи котоpой вдоль всей ее длины коаксиально установлены электpоды в виде тел вpащения, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности путем увеличения коэффициента тpансмиссии ионов пpи сохpанении pазpешающей способности, внутpенней электpод выполнен из электpически соединенных эквидистантно pасположенных одинаковых стеpжней, пpичем входной и выходной тоpцы внутpеннего электpода pасположены в области выходного отвеpстия источника и входного отвеpстия детектоpа соответственно и соpазмеpны с ними, пpи этом максимальный попеpечный pазмеp стеpжней d удовлетвоpяет выpажениямd

Номер патента: 1612859

Опубликовано: 10.02.1996

Авторы: Галль, Саченко

МПК: H01J 49/40

Метки: анализа, веществ, масс-спектрометрического

1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ВЕЩЕСТВ, содержащее электростатический анализатор в виде двух коаксиальных электрически изолированных электродов, соединенных с блоком питания, источник ионов и детектор, соединенные с импульсным блоком питания и обращенные рабочей поверхностью в пространство между электродами анализатора, отличающееся тем, что, с целью повышения разрешающей способности и расширения энергетической полосы пропускания при сохранении габаритов анализатора и одновременном упрощении его конструкции, внутренний и внешний коаксиальные электроды анализатора выполнены с уменьшающимися в направлении вылета ионов радиусами поперечных сечений, а оси источника, детектора и электродов анализатора пространственно...

Номер патента: 1825231

Опубликовано: 10.03.1996

Авторы: Кудрявцев, Никоненков

МПК: H01J 49/40

Метки: атомный, времяпролетный, зонд

ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ АТОМНЫЙ ЗОНД, с компенсацией разброса кинематических энергий ионов п

Номер патента: 1259887

Опубликовано: 27.07.1997

Автор: Рязанский

МПК: H01J 49/40

Метки: анализатора, гиперболоидного, ловушки, масс, спектрометра, типа, трехмерной

1. Способ изготовления анализатора гиперболоидного масс-спектрометра типа трехмерной ловушки путем выполнения торцовых и кольцевого электродов с отверстиями для ввода и вывода заряженных частиц и взаимного закрепления их один относительно другого с помощью изоляторов, отличающийся тем, что, с целью повышения разрешающей способности и чувствительности анализатора за счет увеличения точности его изготовления анализатора, а также упрощения его производства, уменьшения массы и увеличения вибропрочности, изготавливают две осесимметричные разборные модели, соответствующие половине электродной системы анализатора, причем внутренний профиль первой модели повторяет профиль изготавливаемой электродной системы, а внутренний профиль области кольцевого...