Способ обнаружения дефектов в нелинейных средах

Номер патента: 1630478

Автор: Строганов

Описание

Способ обнаружения дефектов в нелинейных средах, заключающийся в пропускании сфокусированного оптического излучения через нелинейный кристалл и сканировании объема кристалла с последующей регистрацией прошедшего излучения на частоте оптических гармоник, отличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности к дефектам, малым по сравнению с когерентной длиной взаимодействия, оптическое излучение пропускают под углом к оптической оси кристалла нелинейной среды, не равным c, где c - угол между оптической осью кристалла нелинейной среды и направлением, для которого K( c) = 0, где K - волновая расстройка синхронизации, а о наличии дефектов судят по интенсивности излучения на частоте оптических гармоник.

Заявка

4621035/25, 16.12.1988

Хабаровский институт инженеров железнодорожного транспорта

Строганов В. И

МПК / Метки

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектов, нелинейных, обнаружения, средах

Опубликовано: 20.10.1999

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1630478-sposob-obnaruzheniya-defektov-v-nelinejjnykh-sredakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ обнаружения дефектов в нелинейных средах</a>

Похожие патенты