Способ дефектоскопии поверхности изделий

Номер патента: 1617342

Автор: Борзых

ZIP архив

Текст

для максимума и минимума. Каждое последующее вычисленное значение сравнивают с запомненными. В случае пре, вышения значения, хранящегося в ячеике максимума, записывают в нее5 , новое значение, При меньшей величине вновь измеренного значения дис персии по сравнению с хранящимся в ячейке минимума новое значение запи; сывают в нее. В конце цикла развертки в ячейках запоминаются максимальное и минимальное значения из всехвычисленных, Для проверки допустимости отношения максимума к ми; нимуму либо умножают в К раз (К - пороговое соотношение) минимальную дисперсию, либо делят в К раз максимальную дисперсию, а затем данные величины сравнивают с помощью компаратора. В случае недопустимо большого отношения максимума к минимуму направляют изделие в брак, Значение К задают путем пробных пусков де, Фектоскопа (в режиме сортировки потока изделий) и определения процен; тов ошибочной перебраковки изделий.Минимальное значение дисперсии соответствует заведомо бездефектному участку поверхности. Вероятность присутствия локальных дефектов на всех участках развертываемой поверхности и, соответственно, ошибочного признания дефектного изделия годным в большинстве случаев контроля весьма мала, В зависимости от ее значения выбирают количество участков, накоторые делят поверхность.Устройство для осуществления способа содержит центрирующий Фильтр 1,вход которого подключен к выходу фотодатчика или усилителя сигнала Фотодатчика (не показаны), блок 2 вычисления дисперсии, состоящий изквадратора и интегратора, вход кото 45рого подключен к выходу центрирующегоФильтра 1, первый и второй пиковыедетекторы 3 и 4, выполняющие Функцииячеек памяти соответственно для максимального и минимального значенийдисперсии, входы которых объединенычерез резисторы 5 и 6 и подключены квыходу блока 2, масштабный усилитель7 на выходе пикового детекторастробирующий компаратор 8, сигнальный вход которого подключен к выходу детектора 3, а опорный вход - квыходумасштабного усилителя 7, Устройство содержит также цепи управления: генератор 9 импульсов, синхронизированных с вращением (разверткой) контролируемой поверхности,две линии 10 и 11 задержки, перваяиз которых (10) включена на выходегенератора 9, делитель 12 частоты,включенний между выходом линии 1 О задержки и входом линии 11 задержки,а также электронные ключи 13-16.Ключ 13 включен между входом детектора 3 и общим проводом, ключ 14между входом детектора 4 и положительным полюсом источника питания+Е, ключ 15 - между выходом детектора 3 и общим проводом, ключ 16между выходом детектора 4 и положительным полюсом источника питания+Е, Входы ключей 13 и 14 соединеныс выходами генератора 9 импульсов(цепи согласования уровней не показаны), входы ключей 15 и 16 соединены с выходами второй линии 11 задержки, С выходом первой линии 10 задержки соединен вход сброса интегратора блока 2 вычисления дисперсии. Квыходу делителя 12 частоты подключен вход стробирования компаратора8. Пиковые детекторы 3 и 4 состоятсоответственно из операционных усилителей 17 и 18, кремниевых диодов19 и 20 и конденсаторов 21 и 22 смалыми утечками. Операционные усилители 17 и 18 должны иметь МОП-транзисторы на входы, входы масштабногоусилителя 7 и компаратора 8 такжедолжны быть высокоомными, в ключах13-16 должны быть использованы кремниевые транзисторы,Устройство работает следующим образом.В момент поступления дважды задержанного импульса с выхода линии11 задержки открываются электронныеключи 15 и 16, Конденсатор 21 разряжается, а конденсатор 22 заряжаетсяпочти до напряжения источника пита-ния. Данные уровни являются исходными. С этого момента начинается интервал вычисления дисперсии блоком 2.В момент поступления импульса с выхода генератора 9 ключи 13 и 14,обычно открытые и шунтирующие входыдетекторов 3 и 4, запираются. Выходное напряжение блока 2 поступает навходы пиковых детекторов 3 и 4 и,поскольку оно заведомо больше нулевого напряжения на выходе детектора3 и заведомо меньше напряжения на1 б выходе детектора 4 (почти равного на 1пряжению пита ния ), повторя ется наконденсаторах 21 и 22. Диоды 19 и20 на время переходного процесса открываютсяПосле этого задержанныйимпульс с выхода линии 10 сбрасывает в "0" интегратор блока 2 вычисления дисперсии, Каждый следующий импульс с выхода генератора 9 пропускает выходное напряжение блока 2на входы детекторов 3 и 4, однакоих выходные напряжения изменяютсялишь в том случае, если оно оказывается больше запомненного конденсатором 21 или меньше запомненного конденсатором 22. В других случаях диоды 19 и 20 остаются запертыми. Призавершении развертки последнего участка поверхности в детекторе 3 записывается максимальное значение дисперсии из всех вычисленных, а в детекторе 4 - минимальное, При этом однократно задержанный импульс с выхода делителя 12 частоты поступаетна вход стробирования компаратора 8,который выдает информацию о качестве издели: на исполнительный механизм. Дважды задержанный импульс свыхода линии 11 вновь записывает исходные уровни в конденсаторы 21 и22, после чего цикл вычисления можетбыть повторен,17342оИзобретение повышает достоверностьконтроля поверхностных дефектов эасчет исключения погрешности от изменения параметров дефектоскопа и 5упрощает техническое обслуживаниедефектоскопа за счет исключения процесса наладки его по образцовым иэделиям,10 Формула изобретенияСпособ дефектоскопии поверхностиизделий, заключающийся в том, чтоконтролируемую поверхность освещают,придают ей движение развертки и регистрируют отраженный свет фотодатчиком, при этом цикл развертки поверхности электрически делят на несколь ко периодов, соответствующих различным участкам поверхности, для каждого участка вычисляют дисперсию сигнала, полученные значения запоминаюти сравнивают, о т л и ч а ю щ и й - 25 с я тем, что, с целью повышения достоверности контроля поверхностныхдефектов, запоминают и в конце цикларазвертки сравнивают межпу собой максимальное и минимальное значения дисперсии из всех полученных, а по соотношению максимального и минимальногозначений дисперсии судят о годностиизделия.1617342 17 ф тель Т.ТоропкинаМеДидык Корректор Н.Король еда гар Тираж 508венного комитета113035, Москва, Ж Подписное ГКНТ СССР роизводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Га аказ 4115НИИПИ Государс Соста Техре изобретениям и открытия Раущская наб., д. 4/5

Смотреть

Заявка

4600916, 31.10.1988

Б. А. Борзых

БОРЗЫХ БОРИС АНДРЕЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 21/88

Метки: дефектоскопии, поверхности

Опубликовано: 30.12.1990

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1617342-sposob-defektoskopii-poverkhnosti-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ дефектоскопии поверхности изделий</a>

Похожие патенты