Способ определения дефектов на поверхности изделия

(9)5 6 01 й 21/88//6 01 В 11/30 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР НИЕ ИЗОБРЕТЕНИ РСКОМУ СВИДЕТЕЛЬС 2(56) Заявка Великобританикл, 6 01 й 21/88, 1974. диффузно отраженн скольких характерн рассеяния,преобра сигналы, усредняют ют по амплитуде в 1 з, 1 Э 1 " 1 Э1 Эй, ОДН ские сигналы запом рованияи преоб определяемому из у ыи све ых точк зуют и во вре после овреме инают разую словия институт.Л.Чистяков,М 1350189 1 при 4 =1 э 1= =1 а 1 =". =1 аи2 при 1 з =1 а 1= =1 а 1 ан:1( при 1 з =1 а 11 а1 а и:П) ПрИз 131 "1 а 11 дй где й -номер алга зеркальной комп тового потока; 1 Э диффузных компо тенсивность 3 женного свентенсивность енного светодля данного уют дефекты ти. 1 ил. ритма; 1 з-и ненты отр1 д 1 Э 4 нент отраж арактерному у регистрир й поверхнос вого потока, по х алгоритма сигнал на контролируемо изо ажена принципиальля реализации спосоктов на поверхности тение относится к измерителье и может быть использовано для ия дефектов на деталях в маши- и в гибких автоматизированных твах.изобретения является повышеерности определения дефектов кения влияния чистоты обработеских свойств контролируемойти в конкретных условиях контств де ит излучатель 1, фоои составляющеи отфотоприемник 3 ей отраженного свеом преобразователяоторый выходом ельному блоку 5, свяостоянной памяти и о содерж зеркальн вета и тавляющ ес вход 4, к ычислит ком 6 и(57) Изобретеной технике иопределенияностроении впроизводствася повышенидефектов за собработки ируемой поверконтроля. Нанаправляют сзеркально от ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ОСТИ ИЗДЕЛИЯние относится к измеритель- может быть использовано для дефектов на деталях в маши- гибких автоматизированных . х. Целью изобретения являете достоверности определения чет снижения влияния чистоты оптических свойств контролихности в конкретных условиях контролируемую поверхность ветовой пучок, регистрируют раженный световой поток и Изобреной техникопределенностроенипроизводсЦельюние достовза счет сники и оптичповерхносроля. На чертежная схема устрба определенизделия.Устройствтоприемник 2раженногодиффузной сота,соединеннкомпараторподключен к взанному с бл товой поток в неах индикатриссы х в электрические мени и ранжирудовательность 1 з, нно эти электричена время ранжит по алгоритму, 1619145блоком 7 регистрации результатов контроля.Способ осуществляется следующим образом.На поверхность вращаемого (переме щаемого) контролируемого изделия 8 направляют световой поток от излучателя 1.Фотоприемники 2 и 3 регистрируют соответственно зеркально и диффузно отраженные световые потоки в точках, 10 равноудаленных (для исключения влияния на отношение их амплитуд потерь в среде распространения и точной аппроксимации формы индикатриссы рассеяния) от точки падения светового потока на изделие 8 и 15 между собой. Амплитуды отраженных световых потоков в каждой точке, преобразованные в электрические сигналы фотоприемниками 2 и 3, усредняют во времени и сравнивают с амплитудами световых 20 потоков остальных точек в преобразователе-компараторе 4. По результатам сравнения амплитуд вычислительный блок 5 выбирает из блока 6 постоянной памяти программу, по которой определяют дефек ты на поверхности изделия 8.Программа реализует алгоритм преобразования зеркальной и диффузной составляющих отраженного света, который обеспечивает наибольшую помехозащи щенность контроля в конкретных условиях. Мерой оценки конкретных условий контроля, определяемых чистотой обработки поверхности контролируемого изделия 8 и оптическими свойствами его поверхностя ми, служит соотношение амплитуд отраженных световых потоков. Результаты контроля поверхности отображаются в блоке 7 регистрации,Алгоритм определения дефектов на по верхности изделия 8 находится из условия 1 при 1 з файфд =файфдфф 1 дй2 при 1 з =1 д = . = 1 Эдй1 при 1 з = 1 д 11 д1 дйавфе пз при 1 з 1 д" 1 а 1 дй: где й - номер алгоритма преобразования;1 з - интенсивность зеркальной компоненты отраженного потока;1 э 1, эь 1 ай - интенсивность диффузных компонент отраженного потока в точках регистрации.Сравнение амплитуд отраженных световых потоков в каждой точке регистрации с амплитудами световых потоков остальных точек позволяет определять дефекты на поверхности по оптимальному для конкретного изделия алгоритму, снижающему влияние на результаты контроля чистоты обработк и оптических свойств поверхности иэделия 8, что повышает достоверность определения дефектов.Формула изобретения Способ определения дефектов на поверхности изделия; заключающийся в том, что направляют на контролируемую поверхность световой поток, регистрируют зеркально и диффузно отраженные световые потоки и определяют дефекты на поверхности изделия, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что. с целью повышения достоверности определения дефектов, регистрацию зеркально и диффузно отраженных световых потоков производят в нескольких точках, равноудаленных от точки падения светового потока на изделие, сравнивают амплитуды отраженных световых потоков в каждой точке с амплитудами световых потоков остальных точек, а дефекты на поверхности определяют по результатам сравнения амплитуд.1619145 оставитель Л. Лобэоехред М.Моргентал Редактор Л. Гратилл ректор О. Кравцова Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 10 аказ 42 Тираж ВНИИПИ Государственного ко 113035, Мотета по изобрет а, Ж, Раушск Подписноеям и открытиям при ГКНТ СССРнаб., 4/5