Устройство для контроля качества объективов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1649345
Автор: Черных
Текст
(51)5 С 01 М 11/02 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(5 б) Горшков В,Амеханическая про др. Оптикоенность. 1980,ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР У 21 с. 42,(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОБЬЕКТИВОВ(57) Изобретение относится к контролю качества оптических систем и может.быть использовано для быстрогоконтроля качества объективов по ихоптической передаточной Функции. еизобретения - сокращение временй иповышение точности контроля за счетисключения необходимости использова ния микрообъектива, Изображения тестобъекта 2 строятся коллиматорным 3н испытуемым 6 объективами с помощьюполупрозрачного 4 и отклоняющего 5зеркал в контролируемых точках центра и угла поля зрения Фокальной плоскости объектива и аналитизируются спомощью модулятора 7 и Фотоприемников 8, 12 и 13Модулятор равномерно вращается с помощью двигателя 11,одновременно осуществляя глубинноесканирование изображений за счетустановления его на оси вращения подуглом к ней, Обработка сигналов и поиск Фокальной плоско"ти осуществляется с помощью измерителя 1 О угла поворота положения модулятора в злек".тронном блоке 9. 4 ил,1649345 испытуемого объектива доконтролируемой точки полязрения;51 - длина щели на диске модулятора;К - расстояние от оси вращенйямодулятора до оптическойоси испытуемого объектива,На двух дорожках модулятора с радиусами К/ и Кз направление каждой изщелей составляет угол 45 с направлением на ось вращения модулятора иоугол 90 друг с другом, в третьей 15 с радиусом К направление щелей составляет угол С с направлением наось вращения модулятора, гдеФ5 испь бъект 2 выполнен пластины, на ко- взаимно-перпендизрачные щели на 4 , .На диске модуля- и прозрачные дорож- Фоне, представупность равноотсто-, узких прозрачных по концентричесрадиусами К этом тестгстеклянной нанесены дв тору куля непр рные узкие проозрачном /Фоне7 нанесены та непрозрачномщие собой совопараллельныхй, нанесенныхокружностям сд ч/ + 2 К231 и ящих щеле ким. С 08 180 ЦсГ 2 созе.1 1 1 Рм(агссоз //Ч мери ти СО 8 Изобретение относится к контролю качества оптических систем и может быть использовано для быстрого конт.роля качества серийных фотоббъекти" вов.Цель изобретения - сокращение времени и повышение точности контроля,На Фиг,1 представлена принципиальная схема устройства для контроля качества объективов; на фиг.2 - схема расположения модулятора относительно оси вращения; на Фиг.3 - модулятор; на Фиг,4 - тест"объект,Устройство для контроля качества объективов содержит (фиг,1) источник 1 света, тест-объект 2, коллиматорный объектив 3, полупрозрачное зеркало 4, отклоняющее зеркало 5, испытуемый объектив 6, модулятор 7, фотоприемники 8, 12 и 13, электронный блок 9 измеритель 1 О угла поворота модулятора, двигатель 11 вращения модулятора. Устройство работает следующим образом.Источник 1 света освещает тестобъект 2, два изображения которогос помощью коллиматорного 3,туемого 6 объективов, полупроэрач"ного зеркала 4 и отклоняющего зеркала 5 строятся в Фокальной плоскостииспытуемого объектива 6. Модулятор 7равномерно вращается с помощью двигателя 11, Световые потоки, прошедшие через модулятор 7, преобразуются в электрические сигналы с помощью трех фотоприемников 8, 12 и 13,сигналы с которых поступают в триидентичных канала электронного блока 9. где у - расстояние в плоскости мо / дулятора от оптической ос 1 причем модулятор установлен на вращения под не , ,е,Ы= агКлгде Д 1. - погрешность положения Фо"кальной плоскости испытуе-мого объектива 6,ось вращения модулятора параллельна .оптической оси и расположена так,что угол в плоскости диска модулятора о вершиной в. контролируемой точкеполя зрения между бсью вращениямодулятора и оптической осью ббъек 5 тива 6 равен 45 , Измеритель 10 угфла поворота модулятора 7 подает пропорциональный ему сигнал в электронный блох 9,После начала измерения за первыйО оборот модулятора в электронномблоке 9 по максимуму сигнала, поступающего с,фотоприемника 8 цейтра по-,ля зрения, Фиксируется соответствую".щий ему угол м поворота модулятора .5 и вычисляются моменты времени,прикоторых следует производить измерения соответственно в сагитальной имеридиональной плоскостях:О с . - 135 -Ч+1 фсатиттт мИзмерения производятся над сигналами, поступающими с фотоприемдиков 12 и 13Процесс измерений в конечном счете необходим для сравнения измеренных значений с пороговыми значениями. Если хоть один иэ. трех суммарных сигналов окажется меньше порогового значения, испытуемый объектив считается негодным и электронный блок подает соответствующий сигнал.МФормула иэобретенияУстройство для контроля качества объективов, содержащее последова" тельно расположенные источник света, тест-объект, коллимвторный объектив, отклоняющее зеркало, блок анализа изображения, включающий дисковый модулятор и фотоприемник, электронный блок, содержащий измерительный и логический блоки и индикатор годности, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью сокращения времени и повышения точности контроля, перед отклоняющим зеркалом под углом 45 ф и оптической оси коллиматорного объектива установлено полупрозрачное зеркало, тест-объект выполнен в,виде стеклянной пластины, на которую нанесены две взаимно перпендикулярные прозрачные щели нв непрозрачном фоне, в блоке анализа изображения введены 3 фотоприемника и измеритель угла поворота модулятора, на диске, . модулятора нанесены три прозрачные дорожки на непрозрачном фоне, представляющие собой совокупность равфъ ноотстоящих параллельных узких прозрачных щелей, нанесенных по концентрическим окружностям с радиусами К 12э ргде =акса )причем модулятор установлен на осивращения под углом К к ней, т.е,Ь ."30 рС агсрК 1где Д 1. - погрешность положения фо-кальной плоскостмого объективаось вращения модулятора параллельна оптической оси и расположенаотносительно ее так чтобы угол вплоскости диска модулятора с вершиной в контролируемой точке поля эре 40 -ния между осью вращения модулятораи оптической осью испытуемого объектива был равен 45 , фотоприемникирасйоложены эв плоскостью диска модулятора вблизи соответствующих до" 5 рожек, а электронный блок включаетв себя три идентичных канала, связанных с соответствующими фотоприем и испытуевми где у - расстояние в плоскости мо 5 дулятора от оптической осииспытуемого объектива до,контролируемой точки полязрения;101 - длина щели на диске модулятора;К - расстояние от оси вращениямодулятора до оптическойоси испытуемого объектиФпричем в двух дорожках модулятора срадиусами К и Кэ направление каждой иэ щелей ориентировано под углом45 в к направлению на ось вращения мо"дуляторв и под углом 90 друг к другу в третьей с радиусом К направле"ния щелей составляет угол С с направлением нв ось вращения модулятора,
СмотретьЗаявка
4471412, 05.08.1988
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4046
ЧЕРНЫХ ИГОРЬ ВАЛЕНТИНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01M 11/02
Метки: качества, объективов
Опубликовано: 15.05.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1649345-ustrojjstvo-dlya-kontrolya-kachestva-obektivov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для контроля качества объективов</a>
Предыдущий патент: Устройство управления положением модели в аэродинамической трубе
Следующий патент: Способ измерения продольной жесткости приводных ремней преимущественно с кордом в виде металлической ленты или металлотросов и устройство для его осуществления
Случайный патент: Способ синхронизации в одночастотных многоканальных адресных системах с временным разделением каналов