G01J 3/28 — исследование спектра
Способ определения длины волны светофильтра
Номер патента: 549686
Опубликовано: 05.03.1977
МПК: G01J 3/28
Метки: волны, длины, светофильтра
...не позво- б ь характеристики светофильтдиапазоне длин волн,ель достигается те через образец све ляризуют, направля ю пленку, нанесенну ю подложку, и по и яризованного свет льтра.изменяются, Эти изменеомошью анализатора 6 определяют топриемника Измерение пара пленки на кремниев эллипсометра ведут и Я . Для этого с кают через два све метров диэлектрической ой подложке с помощью на двух длинах волн А вет от источника пропустофильтра 2 с известной неизвестной ; находят инои волны 1 и го света, Ь и орые на номограм преломления и фа ам ва етры поляриздля Л и Л2мостей показтолшины пле к зави овой ки от параметров поляри(с Ь) представле(фиг. 2). Найден- и 1 и 2 соответстров пленки П Р 1 длин волк Л и Лна одном участке зованного света: 1ны...
Оптический спектральный прибор
Номер патента: 670827
Опубликовано: 30.06.1979
Автор: Столов
МПК: G01J 3/28
Метки: оптический, прибор, спектральный
...излучения исследуемого источникапроходит входную щель 1 и преобразуетсяколлимир 1 ющим ооъектпвом 2. После кли 10 нового интерференционного фильтра 3 (положение полосы пропуска ния которогоплавно меняется по поверхности) световойпоток разделяется на два пучка растромсветодслителем 4.Пучок, прошедший через одни участкиклинового интерференцпонного фильтраотражается растром-свстодслителем в фокусирующий зеркальньш объектив 5, а пучок, прошедший через другие участки клинового фильтра, проходит сквозь прозрачныс участки растра-свстодслптеля в фокусирующий зеркальный объектив 6. Г 1 учкисвета обоих каналов объединяются в одинпучок зеркальным модулятором 7.Модулятор 7 модулирует свстовыс потоки обоих каналов с одинаковой...
Способ разложения сложного спектра на составляющие
Номер патента: 693125
Опубликовано: 25.10.1979
Авторы: Будянский, Остапенко, Шейнкман
МПК: G01J 3/28
Метки: разложения, сложного, составляющие, спектра
...углов, где проявпяется структурность сложного спектра, величину углового шага целесообразно уменьшить до 1+3 . В этом диапазоне угловонарушается подобие спектра А 1 А) исходному спектру фотопроводимости 4(Л).Выбирают наибопее структурный спектр, Наиболее ясно структурность (неалементарность) сложного спектра проявпяечся, когда спектр ь 4 (Л) имеет области разного знака, Эти длины волн определяют участки спектра, в которых доминирует одна из5 6931полос. По количеству таких участков можно сделать вывод о количестве подполос,которые входят в состав исследуемогоспектра,Если число подполос превышает две,топрименяя внешние воздействия, сводятих количество к двум. В качестве такихвоздействий могут быть выбраны электрические иди магнитные...
Мультиплексный спектрометр
Номер патента: 765668
Опубликовано: 23.09.1980
Автор: Шлишевский
МПК: G01J 3/28
Метки: мультиплексный, спектрометр
...к увеличениюшумов приемника в тГй раз. Таким образом, преимущество теряется. 30 агаемого изобретения явие юстировки прибово.Указанная цель достигается тем,что кодирующая система выполнена в виде маски с зеркальными рабочими элементами.Кодирующая маска с зеркальными рабочими элементами (щелями) сочетает всебе маску обычного типа и автоколлимационную зеркальную систему. Использование маски такого типа в мультиплексном спектрометре значительно упрощает юстировку прибора, так как ска Онирование спектра осуществляется простым перемещением маски в направлениидисперсии.На фиг. 1 представлена оптическаясхема мультиплексного спектрометра, ана фиг. 2 - предлагаемая кодирующаямаска.Предлагаемый мультиплексный спектрометр имеет входную щель 1,...
Оптический спектрометр
Номер патента: 767560
Опубликовано: 30.09.1980
МПК: G01J 3/28
Метки: оптический, спектрометр
...контура рассматри- ваемых зон (зоны 5).Свет от источника, поступающий нафотопреобразователь, будет поочеред"нопроходить через эоны 5 и б фильтра4, Поскольку суммарные пропусканиядлясплошного равномерного спектразаранее выбраны для обеих зоН одинаковыми, модуляции излучения фоназдесь не произойдет, несмотря на то, - "что среднее значение пропускаемого "спектрального интервала и пиковоезначение формируемого периодическогосигнала будут при этом изменяться.Модуляция фона не произойдет, таккак увеличение интервала спектрального пропускания для эоны б по сравнению с зоной 5 будет компенсированосоответствующим снижением интенсивности пропускаемого излучения вблизимаксимума. В дайном случае модуляцияЖойа отсутствует йри любом...
Способ определения концентрации элементовв пробах горных пород
Номер патента: 830141
Опубликовано: 15.05.1981
Авторы: Алексеенко, Гулецкий, Коренной, Туркин
МПК: G01J 3/28
Метки: горных, концентрации, пород, пробах, элементовв
...цель достигается тем,что согласно спосрбу определения концентрации элементов в пробах горныхйород, заключающемуся в нанесенииисследуемой пробы на графитовый электрод, импульсном испарении золота споверхности электрода и измеренииуменьшения относительной интенсивности резонансной линии в пучке света,проходящем над поверхностью электрода, графитовый злехтрод с пробой передиспарением нагревают до температурыплавления золота с последующим егорастеканием по поверхности электрода,;0затем остатки пробы удаляют с поверхности электрода, производят импульсный нагрев до испарения золотаи измерение уменьшения интенсивностиразочансцой линии в пучке, 25Предлагаемый способ осуществляетсяследующим образом.Навеску порошковой пробы помещаютв углубление в...
Спектрометр миллиметрового, субмиллиметровогои инфракрасного диапозонов
Номер патента: 730065
Опубликовано: 23.06.1981
Авторы: Дивин, Полянский, Шульман
МПК: G01J 3/28
Метки: диапозонов, инфракрасного, миллиметрового, спектрометр, субмиллиметровогои
...внешней памяти в виде перфоратора или накопителя на магнитных лентах, . или дисках. Блок 6 сканирова- " ния представляет собой стабилизированный источник напряжения с защитой от наводок в цепи питания приемника. Он имеет три выхода, один иэ которых регулируемый, а напряжения на двух других про5 7300 1. Спектрометр миллиметрового, субмиллиметрового и инфракрасного диапазонов, содержащий модулятор падающего излучения, блок интегрального преобразо - вания спектрального распределения интенсивности исследуемого электромагнитного излучения с приемником излучения на основе слабосвязанных сверхпроводников, блок сканирования изменяемого параметра, блок синхронного детектирования вы ходного сигнала блока интегрального преобразования,...
Способ измерения спектрального распределения интенсивности излучения
Номер патента: 881538
Опубликовано: 15.11.1981
Авторы: Дивин, Полянский, Шульман
МПК: G01J 3/28
Метки: излучения, интенсивности, распределения, спектрального
...через решеточный монохроматор, настроенный на пропускание излучения с центральной часто 1тойм 20 сю, и направляют на точечный сверхпроводящий контакт из ниобия один иэ видов слабосвязанных сверх- проводников), который имеет сопротивление К =2 б Ом и находится при Т = 4,2 К. Кривая 1 (фиг,1) представляет измеренный откликрЯ)контакта на падающее излучение, как функция напряжения смещения 7 . Напряжение смещения у изменяют в окрестности от нуля до значения большего У ф 0,0621,24 мв до тех пор, пока отношение сигнал/шум уменьшилось до . единицы. Кривая 2 демонстрирует результат применения интегрального преобразования Гильберта к кривой 1, т.е. восстановленный искомый спектр излучения, прошедшего через монохроматор (так называемую...
Способ определения спектрального разрешения спектрометров сметанина е. а.
Номер патента: 972254
Опубликовано: 07.11.1982
МПК: G01J 3/28
Метки: разрешения, сметанина, спектрального, спектрометров
...1 импульсов,светодиод 2, конденсор 3, фильтр 4, спект рометр 5, регистратор 6.Способ осуисествляют следующим образом.Светодиодом 2 генерируют световые импульсы с частотой и длительностью, кото 972254формула изобретекия О рые задаются генератором 1 импульсов. Конденсором 3 формируют импульсный расходящийся поток излучения от светодиода 2 в параллельный, который пропускают через фильтр 4, при этом получак)т дискретную форму спектрального сигнала и по ней определяют разрешение спектро метр а 5 по формуле К = Ь 1/п,где К - разрешение прибора;ЬА - полоса пропускания фильтра;п - количество регистрируемых линий. Регистратор 6 фиксирует то количество линий, которое проходит через фильтр 4 и спектрометр 5 с учетом всех характеристик последнего,...
Способ измерения частотных характеристик излучения лазера
Номер патента: 560480
Опубликовано: 15.11.1982
Авторы: Гнатовский, Данилейко, Недавний, Рождественская, Федин
МПК: G01J 3/28
Метки: излучения, лазера, характеристик, частотных
...исследуемого лазера и дополнительного, то получают двечастотные метки, частотное расстояниемежду которыми равно удвоенному значению их частоты), Из радиочастотногосигнала биений выделяют частотныеметки,Устанавливают частоту меток такую,чтобы расстояние между ними было равно ширине исследуемой части спектрагенерации лазера, в пределах от 1 кГц1до 300 мГц и по известному значениючастоты меток, а следовательно и расстоянию между ними, получают сведения оширине исследуемой части спектра генерации лазера непрерывного действия.На фиг. 1 дана схема устройствадля реализации предлагаемого способа;на фиг. 2 осциллограмма зависимостивыходной мощности исследуемого лазераот частоты и частотные метки,Устройство для реализации предлагаемого...
Устройство для измерения спектров испускания
Номер патента: 1117460
Опубликовано: 07.10.1984
Авторы: Большов, Егоров, Журавлев, Мезенцев, Тюрин
МПК: G01J 3/28
Метки: испускания, спектров
...для измерения спектровиспускания,Поставленная цель достигаетсятем, что в устройство для измеренияспектров испускания, включающее источник возбуждающего излучения, систему сбора вторичного излучения в 6 Овиде системы конфокальных зеркал свыходной щелью, сопряженный со щельюрегистрирующий прибор, введено зеркало с селективно-отражающим покрытием, причем источник возбуждения че рез указанное зеркало сопряжен с выходной щелью системы конфокальныхзеркал.Увеличение чувствительности устройства достигается за счет повышения эффективности использования возбуждающего излучения при его многократном пропускании через зондирующий объем с помощью той же системыконфокальных сферических зеркал, которая используется для сбора...
Способ голографического измерения спектрального состава модулированного оптического излучения
Номер патента: 1053575
Опубликовано: 15.10.1985
Авторы: Боркова, Зубов, Крайский, Султанов
МПК: G01J 3/28, G03H 1/00
Метки: голографического, излучения, модулированного, оптического, состава, спектрального
...Это обстоятельство снижает динамический диапазон и дифракционную зф 45 фективность. Формирование спектра в плоскости голограммы на фоне постоянных засветок усложняет считывание его, так как требуется использование оптической системы и фильтрации.50Целью изобретения является расширение динамического диапазона, увеличение дифракционной эффективности и упрощение считывания,Цель достигается тем, что в спо собе голографического измерения спектрального состава модулированного оптического излучения, заключающемся в записи голограммы сигнальнойволны лри помощи опорной волны сизменяющейся по сечению частотой,последующем восстановлении голограммы плоской волной и считывании спектра, в каждой точке опорной волныосуществляют дополнительное...
Способ измерения допплеровского смещения спектральных линий
Номер патента: 1186963
Опубликовано: 23.10.1985
Автор: Дружинин
МПК: G01J 3/28
Метки: допплеровского, линий, смещения, спектральных
...ющее отверстие диафрагмы поочередно попадают электроны, соответствующие средним участкам крыльев СЛ (фиг, 1 фрагмент 17, а, б, в и г). Эти электроны усиливаются динодной системой и попадают на анод.Для опроса крыльев обоих изображений, разведенных по высоте, на ОС подают сигнал 19 5 уо,.к прЯмоугольной фОРмы,отклоняющий поток электронов перпендикулярно направлению дисперсии, Частота Я, в два раза меньше частоты Я, . Сигналы 8 хотмли Ьоокх форМИруЮтСЯ В бЛОКЕ 15 унраВ- ления ОС по сигналам с блока 14 синхронизации.В динамике крылья изображений 6 и 7опрашивают поочередно: в соответствии с Ьхоткл ОПраШИВаЮт КрЫЛЬя ИЗОбражЕНИя 6 СЛ в первый полупериод Ь,оа во второй полупериод 5,опрашивают крылья изоб ражения 7, далее все...
Устройство для определения спектрально-энергетического состава оптического излучения
Номер патента: 1224605
Опубликовано: 15.04.1986
Автор: Окороков
МПК: G01J 3/28
Метки: излучения, оптического, состава, спектрально-энергетического
...(указана пунктиром на фиг. 3)О Ь 9 порядка или больше шага сдвигакрая полосы поглощения последующегоэлемента коллектора бЙ то величина1 дага сдвига ЬЯ, фактически, по аналогии с известными спектральнымиприборами, является аппаратной функцией и определяет разрешение по спектруДля определения спектральногоположения узких (ъЪ сьевьЬ ) линийизлучения существенным является наличие ненулевой проекции спада У;(И О).11 аименьшее число элементов 1; иупрощение системы регистрации дасти 2 гается прц ЬЪ, = Ь Ъ,Прц перестройке длины волны узкой линии излуче 1 ц 1 я (указана пунктиромна фиг. 3) относительное изменениеотеплоьыделения И, /,Т И;, где 1;1;:, 1 1Зд теплсвыделение в элементе коллектора1;, показано ца фиг. 4. Отсюда ясно,что суммарное...
Способ спектрометрии
Номер патента: 1354041
Опубликовано: 23.11.1987
Авторы: Казачевская, Мищенко, Ребо, Трилесник, Тумаркин
МПК: G01J 3/28
Метки: спектрометрии
...5 и 6 секции 1 и детекторами 7 и 8 секции 11, составит, соответственно3054041 з13 ло ступеньки характеризует энергию Е этой группы, т.е, частоту соответствующей ей спектральной линии исследуемого излучения, а ее высота Д 1иас в конце участка роста, соответствуюЕщего Б = - связана с интенсив 1+уностью этой спектральной линии соот- ношением Таким образом, предлагаемый способ регистрации спектральной интенсивности изменяет форму сигнала, превращая ступенчатые области роста 4 1 в соответствующие линии, ширина которых определяется величиной , Таким образом появляется возможчость изменяя величинуоптимальным образом подбирать10 разрешение и чувствительность исходяд 1 макс с 1 . (5)максЕслис(1, 41. = с 1(б)Сигнал, регистрируемый на выходе...
Устройство для дозирования порошкообразных проб при спектральном анализе
Номер патента: 1392383
Опубликовано: 30.04.1988
МПК: G01G 7/02, G01J 3/28
Метки: анализе, дозирования, порошкообразных, проб, спектральном
...управления, который производит отключение элек-, тромагнитов 5 и 9, При этом .толка- тель 3 отводится в исходное положе ние, контейнер 2 с остатками пробы выпадает из приемника и отводится в накопитель. Освободившееся место в выводном проеме занимает следующий контейнер, скатывающийся по наклонно 25 установленному магазину. Одновременно включаются источник 24 возбуждения спектров и источник 23 высокочастотной искры, возбуждающий разряд на концах микроэлектродов 21. Воздуш- ЗО ные колебания, создаваемые разрядом в глухом отростке 20 искрового распылителя, сбивают с лотка 18 весовой чашки 17 порошок пробы и распыляют его. Образовавшийся аэрозоль под35 действием вентиляционного отсоса через сопло искрового распылителя вводится в источник...
Фурье-спектрометр
Номер патента: 1622775
Опубликовано: 23.01.1991
Авторы: Васильев, Копылов, Холодилов
МПК: G01J 3/28
Метки: фурье-спектрометр
...измерения сп.ктра поглощния, Эначительный сдвиг ьд-.ы возникает при снятии спектра фотопроеодимости,20 Рходовые напряжения синхро нь.х детекоров 2 и 28 несут в себе информацию о фдз поскольку эти напряжения прогор- ипндльны косинусу и синусу екущей фазы.Выходное напряжение Осл первого 25 синхронного детектора (после фильтод)определяетсяОсл - - . ( Осеп (Ч / о)с 1 Ч2 т о30--ОсзЬ(Чт у;о)с 3 Ч (1)2 тг гдетл начальное зндцеие фазы полезного сигнала, посту гающего на первый синхрон ный детектор;Чт - значение фазы полезого сигнала; Ос - напряжение полезного сигнала, Для второго синхронного детекторазначение фазы опорного сигнала сдвинуто0 Лна 90, т,е. на ,.Выходное напряжение второго синхронного детектора (после фильтра) опреде-...
Фурье-спектрометр
Номер патента: 1681171
Опубликовано: 30.09.1991
Авторы: Васильев, Копылов, Холодилов
МПК: G01J 3/28
Метки: фурье-спектрометр
...функционировать. В начальный момент с второго выхода блока 35 определения сдвига фазы на вход блока управления сдвигом фазы фаэовращателя 28 (фиг. 1) поступает сигнал управления, соответс 1 вующий нулевому сдвигу фазы. Затем осуще ствляется пошаговое изменение сдвига фазы путем соответствук)щего изменения сигнала управления, На второй вход блока 35 определения сдвига фазы (фиг. 2) поступает сигнал с выхода аналого-цифровяо преобразователя 30(фиг. 1). Он записывается (запоминается) для каждого шага, Изменение фазы производится от 0 до 360 с шагом 1-2 О. Большая дискретизация не при водит к значительному повышению точности измерений, а меньшая дискретизация снижает точность.После записи сигнала для каждого шагадискретизации...
Устройство для измерения длины волны в световодных системах связи и передачи информации
Номер патента: 1805303
Опубликовано: 30.03.1993
Авторы: Гаврилов, Грязнов, Ложкин, Малкин, Частов, Щербакова
МПК: G01J 3/28, G01J 7/00
Метки: волны, длины, информации, передачи, световодных, связи, системах
...спектральной характеристики. Таккак спектральные характеристики приемников различны и сильно зависят от длины 25волны в диапазоне измерений,то отношение фотоответов приемников К/К такжезависит от длины волны излучения, но не отего мощности, Отношения сигналов фотоприемников измеряется в блоке обработки ЗОи индикации 1 и индицируется на цифровомтабло.Размещение приемника с расположением фоточувствительной площадки под углом к оптической оси, позволяет выбрать 35оптимальный вариант распределения потоков излучения на фотоприемниках, например, пополам, а также скорректироватьразброс чувствительностей фотоприемников выбором этого угла и следовательно изменение распределения пофотоприемникам,Численное значение угла выбирается...
Устройство для контроля частотно-контрастной характеристики оптико-электронных приборов
Номер патента: 1572185
Опубликовано: 10.03.2000
Автор: Гербин
МПК: G01J 3/28
Метки: оптико-электронных, приборов, характеристики, частотно-контрастной
Устройство для контроля частотно-контрастной характеристики оптико-электронных приборов, содержащее линейку одинаковых отражающих элементов и два источника излучения, расположенных под углом к этим элементам так, что отраженный лучистый поток каждого из источника излучения оптически связан с своей одноименной поверхностью элемента, отличающееся тем, что, с целью повышения оперативности и достоверности испытаний, каждый элемент устройства представляет собой призму, имеющую в своем основании правильную "трехгранную звезду" и закрепленную на общей раме с возможностью вращения относительно вертикальной оси, причем вогнутые грани призмы выполнены с разными коэффициентами отражения и возможностью...