Королев-Коротков

Номер патента: 1806423

Опубликовано: 30.03.1993

Авторы: Долгий, Евтихиев, Есепкина, Королев-Коротков, Лавров, Шестак

МПК: H01L 31/04

Метки: оптоэлектронное

...шайбы 2 меньше размера чувствительных элементов матричного ПЗС-фотоприемника, то свето- волоконная шайба достаточно точно передает распределение излучения светодиодов в пространстве и во времени на матричный ПЗС-фотоприемник.При равенстве поперечного размера полосок светодиодов размеру элементов матричного ПЗС-фотоприемника, и шага полосковых светодиодов шагу элементов матричного ПЗС-фотоприемника, диаметр световолокон должен быть меньше размера чувствительных элементов матричного ПЗС-фотоприемника по крайней мере в три раза. Если поперечный размер полосок светодиодов кратен (т.е, в и раз больше) размеру элементов матричного ПЗС-фотоприемника, а шаг полосковых светодиодов кратен шагу элементов матричного ПЗС-фотоприемника,...

Номер патента: 1801218

Опубликовано: 07.03.1993

Авторы: Долгий, Евтихиев, Королев-Коротков, Шестак

МПК: G01S 13/90

Метки: времени, изображения, корреляционной, масштабе, оптической, путем, радиолокационного, реальном, сигналов, формирования

...распространения акустической волны и оптической оси излучения на ее выходе. Вторая ЦЛ 8, установленная софокусно с первой ЦЛ 5, обеспечивает коллимирование выходного излучения в направлении, перпендикулярном плоскости фокусировки акустооптической ячейки 6. При этом вторая ЦЛ 8 расположена на оптической оси дифрагированного в первый порядок излучения, Таким5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 образом акустооптическая ячейка 6 работает в качестве дефлектора, разворачивающего модулированное излучение ППЛ 2 по поверхности матричного ПЗС фотоприемника 12. Цилиндрический объектив 9, образующая которого параллельна образующей ЦЛ, образованной дефлектором, расположена на оптической оси дифрагированного в первый порядок излучения, Т,к, фокусное...

Номер патента: 1784957

Опубликовано: 30.12.1992

Авторы: Долгий, Евтихиев, Королев-Коротков, Шестак

МПК: G01S 13/90, G06E 3/00

Метки: оптический, процессор

...светоизлучателей для увеличения уровня сигнала, Блок управления в этом случае подает на такие светодиоды одинаковый сигнал,Второй слой 9 может быть выполненнепрозрачным, стракающим излучение, для разделения каналов распространения излучения от отдельных светоизлучателей, Т.к, толщина прозрачного слоя с показателем преломления п 1 составляет десятки микрометров, то углы падения излучения на грани отдельного прозрачного слоя велики вл (0 -п 2 О+ Ф) а интенсивность луча .1, прошедшего в про зра иый слой споказателем преломлени Л 1, по отношейио к исходной интенсивно сти излучения О, составит гк - угол наклона грани клиновидноослойной пластинки,Угол луча, вышедшего из прозрачногс показателем преломления п 1, саста5 10 15 20 25 30 35 40...

Номер патента: 1546185

Опубликовано: 28.02.1990

Авторы: Астафьева, Ашихмин, Ирошников, Коган, Королев-Коротков, Корочанцева, Перепелица, Толпеева

МПК: B21B 27/02

Метки: валковый, комплект, многовалкового, стана

...обеспечивает компенсацию прогиба рабочих валков и выбирается в зависимости от углового расположения опорных валков в пирамиде, а также от величины прогиба рабочих валков Уг и определяется по формуле соя Ыд 1)соя(Т, ф 9) Величина конусности для опорныхвалков 2 первого ряда 1 2 уи ь 0 2 соя. 4соя 9+6)Ь 1)т2 соя Для существующих двадцативалковыхстанов уголсоставляет 3649, а угол ь" - 2230. При этихусловиях разность величин конусностиа Р, и О 0 Ьудет составлять 0,150,8П р и м е р. На двадцативалковомстане осуществляют прокатку лентыиз прецизионного сплава шириной получают зазоры между концевыми частями опорных валков 2 и валка 1, а этоснижает величину дополнительной нагрузки ц, а также нагрузок Ч и Ч.Снижение величины нагрузки Ч позвокляет...

Номер патента: 1452630

Опубликовано: 23.01.1989

Авторы: Ашихмин, Дедюкин, Королев-Коротков, Кузнецов, Полухин

МПК: B21B 1/22

Метки: прокатки, рулонного

...а хаотична по длине, следовательно, влиять на профиль рулона толщинапрокатываемой полосы закономерно небудет, а будет усредняться по ширине,Продольная профилировка вспомогательной полосы применяется из-за неравномерности радиальных напряженийв сматываемом рулоне - в витках рулона около барабана моталки напряжения на 30-403 больше, чем междувнешними витками рулона, Это можетвызвать неравномерные деформации поширине вспомогательной полоСы вблизи барабана моталки и, вследствиеэтого, изменение профиля рулона, Поэтим причинам передний в направлениимоталки конец вспомогательной полосы должен быть толще на 15-207 зад"него конца, что позволяет выравнитьдеформации вспомогательной полосыпо толщине в рулоне. Продольный профиль вспомогательной...

Номер патента: 1443997

Опубликовано: 15.12.1988

Авторы: Ашихмин, Ирошников, Карцев, Королев-Коротков, Куцанкин, Мирошников, Теплышев, Чиченев

МПК: B21B 27/02

Метки: 20-валкового, валков, комплект, прокатного, стана

...образом. Во-первых, так как участок бочки конусногопервого промежуточного валка ДС дефор.мируется как консоль, то точка В приэтом должна переместиться на величину, равную Х, = 00 х (ВС) 0 С). Кро"ме того, под действием погонной на- ,:грузки, определяемой усилием прокатки,участок АС бочки конусного первогопромежуточного валка будет прогибаться как балка, лежащая на двух опорах(точках А и С). Прогиб точки В приэтом определяют по известной формуле 5 о А Свй 384 Г 1 фгде о - величина межвапкового давления;1А С - расстояние между опорами;Е - модуль упругости материалавалка,Х - момент инерции поперечногосечения валка.Следовательно, чтобы точка В получила необходимо перемещение за счетпрогибов, глубина зазора должна бытьравна ВВ= Х + г,гПри...

Номер патента: 1353541

Опубликовано: 23.11.1987

Авторы: Ашихмин, Коган, Королев-Коротков, Перепелица, Полухин

МПК: B21B 1/22

Метки: полос, прокатки, тонких

...участке длиной, большей или равной ширине полосы, силой, перпендикулярной плоскости перемещения полосы. Такое воздействие на полосу возвращает ей прямолинейную форму на этом участке в направлении, перпендикулярном направлению прокатки, т. е, препятствует потере устойчивости полосы. Воздействие может осуществляться поверхностью, имеющей кривизну в направлении прокатки и размеры, большие или равные ширине полосы. Участок воздействия выбирается вблизи прокатной клети для предотвращения потери устойчивости полосы вследствие каких-либо причин после воздействия.Для участка полосы, выделенного подобным образом, вследствие выполнения принципа Сен-Венана,сглаживаются неравномерности продольных напряжений, Таким образом, на очаг деформации при...

Номер патента: 1247648

Опубликовано: 30.07.1986

Авторы: Бахтин, Зускович, Корнеев, Королев-Коротков, Кудрин, Полухин, Ренне

МПК: G01B 9/025

Метки: голографической, дефектоскопии, слоистых

...частоты вращения объекта, производит малые смещения поверхности в местах отсутствия соединения (0,05 мкм и вьппе), а эти смещения мо" гут быть определены по всему полю исследуемого объекта с помощью голо" графической интерферометрии. Другие методы измерения малых смещений или не позволяют определить смещения по всему полю поверхности объекта или сложны в использовании. Кроме того, в большинстве своем эти методы требуют непосредственного контакта с поверхностью объекта, что может мешать обнаружению аномальных смещений.Голографическая интерферометрия наиболее удобна для измерения малых смещений по всему полю объекта, а в совокупности с изменением частоты вращения объекта вокруг оси параллельной плоскости регистрации голограммы...

Номер патента: 1196702

Опубликовано: 07.12.1985

Авторы: Бахтин, Глухов, Королев-Коротков, Костюченко, Кудрин, Полухин

МПК: G01L 1/08

Метки: напряжений, остаточных

...яовьппение точности . и достоверности определения величины оста. точных напряжений;Способ осуществляется следующим образом;Регистрируют в сходящихся пучках; голограмму объекта. После фотохимической об. работки возвращают фотопластинку, на кото. рой зарегистрирована голограмма, в первона. чальное положение, затем в объекте высвер. ливают отверстие, Это приводит к перераспре-. делению остаточных напряжений.в его объеме и как следствие к перемещению точек поверхности объекта в окрестности высверленного отверствия.После этого освещают объект лазерным пучком, идентичным опорному пучку на стадии регистрации голограммы, при этом волновое поле, рассеянное поверхностью объекта до высверливания и восстановленное на голограмме, и волновое поле,...