G01B 9/00 — Устройства, отличающиеся оптическими средствами измерения

Страница 4

Устройство измерения амплитуды механических колебаний

Загрузка...

Номер патента: 970095

Опубликовано: 30.10.1982

Авторы: Белевитнев, Застрогин

МПК: G01B 9/00

Метки: амплитуды, колебаний, механических

...вибратора 8 и оптического модулятора 9, и Фотоприемник 10 и узкополосный фильтр 11, генератор 12 электрических колебаний и фазовращатель 13.Выход генератора 12 соединен с вхо дом оптического модулятора 9 и вхо 970095дом Фазовращателя 13, .выход которогоэлектрически связан с входом вибратора 8,устройство работает следулщим образом.Составляющие оптического излученияисточника 1, различающиеся направлениями поляризации и частотой навеличину Я , разделяются с помощью/светоделителя 2, Одна иэ составляющих через поляризатор 3 и оптичес Окий модулятор направляется на непод"вижный отражатель б, другая черезполяризатор 4 - на отражающую поверхность 7 подвижной платформы вибратора 8. Отраженные от отражателя би поверхности 7 излучения...

Эндоскоп для контактного наблюдения движущейся поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1067347

Опубликовано: 15.01.1984

Авторы: Ворожцов, Чигорко

МПК: G01B 9/00

Метки: движущейся, контактного, наблюдения, поверхности, эндоскоп

...тем, что в эндоскопе для контактного наблюдения движущейся поверхности, содержащем волоконно-оптический световод, на входном торце которого выполнено углубление в виде полуцилиндра, полый волоконно-оптический цилиндр, установленный с зазором во входном торце световода с возможностью вращения вокруг своей оси, волоконно-оптический цилиндр, установленный коаксиально в полом цилиндре неподвижно относительно входного торца световода, оптические волокна в цилиндрах уложены регулярно и перпендикулярны оси цилиндров, оптические волокна в полом волоконно-оптическом цилиндре направлены радиально, а оптические волокна в волоконно-оптическом цилиндре имеют коническую форму и образуют в поперечном сечении цилиндра пучок, расходящийся в сторону...

Устройство для размерного контроля изделий

Загрузка...

Номер патента: 1125468

Опубликовано: 23.11.1984

Авторы: Михляев, Чугуй

МПК: G01B 9/00

Метки: размерного

...пучка, Лармируемага оптической принци представлен устройства содержит паа черте альная сх Устройс едава 1, апт ия апа ельна установленные лаз 2 фармирава ага световых скую систем го и предме пучка 1 1125468Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и можетбить использовано для контроля размеров изделий сложной формы.Известно устройство для контроляразмеров, состоящее из последовательно расположенных и оптическисвязанных лазера, оптической системыформирования освещающего пучкаконтролируемого объекта, объектива 1 Опрямого преобразования Фурье, голографического фильтра, объектива обратного преобразования Фурье и Аотоприемника И ,Наиболее близким к изобретению 15по технической сущности и достигаемому результату является...

Устройство для изготовления кодирующих дисков

Загрузка...

Номер патента: 1129488

Опубликовано: 15.12.1984

Авторы: Мареш, Михайленко, Парняков, Чередник

МПК: G01B 9/00

Метки: дисков, кодирующих

...изготовление радиальных штрихов, линии краев которых проходят через ось вращения кодирующего диска.На фиг. 1 представлено устройстводля изготовления кодирующих дисков;на фиг. 2 - блок управления устройством для изготовления кодирующих .дисков.Устройство для изготовления кодирующих дисков (фиг. 1) содержит источник 1 излучения, блок 2 управления,блок 3 перемещения, поворотный стол 4,систему, 5 линз для фокусировки излучения 6 корректирующий элемент 7.Заготовка 8 кодирующего диска размещена на поворотном столе.Блок 2 управления (фиг. 2) включает переключатель 9, перфоленту 10,считывающее устройство 11, блок 12подачи перфоленты, одновибраторы 13и 14.Устройство работает следующий образом.Оператор переключателем 9 пс,дключает питание...

Оптический измеритель перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1249320

Опубликовано: 07.08.1986

Авторы: Дементьев, Порубов, Яценко

МПК: G01B 9/00

Метки: измеритель, оптический, перемещений

...измеритель перемещений содержит источник 1 излучения, вращающийся поляризатор 2, светоделительную оптическую систему 3, поляризационные элементы (поляроиды) 4 - 7, фотоприемник 8 и электронный блок 9 обработки сигнала. Вращающийся поляризатор 2 расположен между источником 1 излучения и фотоприемником 8 так, что полностью перекрывает поток излучения между ними. Светоделительная оптическая система 3 разделяет поток излучения на параллельные и равные по интенсивности пучки 10 - 13. Поляроиды 4 - 7 включены параллельно, каждый из пучков 10 - 13 проходит через соответствующий поляроид, азимуты поляроидов ориентированы различно и составляют, например, углы О, 45, 90 и 135.Устройство работает следующим образом.Излучение от...

Устройство для контроля плоских периодических рисунков

Загрузка...

Номер патента: 1280310

Опубликовано: 30.12.1986

Авторы: Анитропова, Никифорова, Шац, Широков

МПК: G01B 9/00

Метки: периодических, плоских, рисунков

...конденсатор 20, зеркало 9 и микроскоп 21. Вся проекционная система 15 имеет возможность перемещения вдоль оптической оси.Блок 18 сигналов может быть выполнен в виде дифференциального усилителя. Устройство работает следующим образом.Когерентное монохроматическое излучение от источника 1 (Не-Ие-лазер с длиной волны 3 =0,63 мкм) формируется коллиматором 2 в узкий параллельный пучок (диаметром примерно 0,5 мм), попадающий на дефлектор 3, который представляет собой магнитоэлектрический дефлектор, колеблющийся с частотой до 2000 Гц, Далее световой пучок попадает на призменный расщепитель 4 разделяется на два луча равной интенсивности, которые попадают в телескопические системы 5 и 6 соответственно. Далее световые лучи отклоняются клиновыми...

Устройство контроля сферических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1288497

Опубликовано: 07.02.1987

Автор: Власенко

МПК: G01B 9/00

Метки: поверхностей, сферических

...после полупрозрачнойпластины 3 на оси, перпендикулярнойоптической оси осветителя, ножевуюдиафрагму 4, оптически сопряженную,с диафрагмой 2 и выполненную с возможностью смещения перпендикулярнооптической оси и поворота вокруг этой 2оси, телевизионную аппаратуру 5 регистрации, вычислительный блок 6, регистрирующий узел 7, а ножевая диафрагма 4 выполнена из светочувствительного материала и электрически. связана с входом регистрирующего узла7. Регистрирующий узел 7 может бытьвыполнен в виде цифрового вольтметра,Контролируемый элемент со сферической поверхностью 8 устанавливаютна базировочное устройство (не показано) так, что диафрагма 2 осветителя расположена в центре кривизныконтролируемой сферической поверхности,40 Устройство работает...

Способ измерения колебаний объекта и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1315793

Опубликовано: 07.06.1987

Авторы: Бондаренко, Гусаков, Кондратьев

МПК: G01B 9/00

Метки: колебаний, объекта

...другой - отзеркал 3 и 4, Луч, отраженный от зеркала 4 и луч, отраженный от поверхности объекта 13, образуют первую интерференционную картину, которая проецируется на фотоприемник 8, а лучи,отраженные от зеркала 3 и от поверхности объекта 13, образуют вторую интерференпионную картину, которая проецируется на фотоприемник 9, подключенный к системе отрицательной обратной связи, выполненный в виде экстремального регулятора и включающий генератор 14 опорной частоты. При подачена пьезопреобразователь 5 от генератора 14 синусоидального напряжения 5 Ю 15 20 25 30 35 с частотой ы происходит модуляция интенсивности второй интерференционной картины и на выходе фотоприемника 9 вырабатывается синусоидальный электрический сигнал, частота и фаза...

Нуль-индикатор

Загрузка...

Номер патента: 1315794

Опубликовано: 07.06.1987

Авторы: Вербов, Конов, Чигридов

МПК: G01B 9/00

Метки: нуль-индикатор

...фокусе линзы 6, а фото- приемник (не показан) регистрирующего блока Я - в заднем главном фокусе линзы 7 точка Р ), электроды дефлектора 4 и выход регистрирующего блока Я являится соответственно входом 9 и выходом 10 нуль-индикатора,Дефпектор 4 представляет собой биморфную пьезоэлектрическую мембрану, состоящую из пьезоэлектриче .ких пластин 11 и 12.Нудь-индикатор работает следующим образом. В исходном состоянии входное нап - ряжение на входе 9 отсутствует, Пучок излучения от источника 1 делится полупрозрачным зеркалом 2 на два поперечных пчка 1 и 11. Пучок 1 падает на зеркальный отражатель 3, отражается от него и, проходя через линзы 6 и 7, попадаеп на фотоприемник регистрирующего блока 8, Одновременно отраженный от зеркала 2 пучок 11...

Оптоволоконный преобразователь перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1320656

Опубликовано: 30.06.1987

Авторы: Мокрецова, Морозов, Чигорко

МПК: G01B 9/00

Метки: оптоволоконный, перемещений

...Москва, Ж - 35, Раугискан иав, .;. ,5Производственно.полиграфическое преднринтие, г. У)кг )р д, елиРк к) нинИзобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения линейных перемещений.Цель изобретения - обеспечение измерения сдвиговых перемещений частей объекта путем изменения светопропускания световода,На чертеже представлена схема предлагаемого преобразователя.Преобразователь содержит излучатель 1, выполненный с переменным сечением, монотонно изменяющимся по его длине, световод 2 с входным 3 и выходным 4 торцами и фотоприемник 5. На чертеже обозначены также поглощенная 6 и прошедшая 7 части света и части 8 объекта, перемещения которых контролируются. Устройство работает следующим образом.Свет от...

Интерферометр

Загрузка...

Номер патента: 1326879

Опубликовано: 30.07.1987

Авторы: Романов, Садов, Шестаков

МПК: G01B 9/00

Метки: интерферометр

...счетчиком 13импульсов,Линза 3 расположена по ходу изл. -чения между линзОЙ 2 и светоде:1 и елем 4 ка расстояншГ2Т.+с 1, ) - Г 3 -Г-Р ",й- (1, +й )2 1-"1+1от перетяжки пучка после ,инзы 2,где Х - ЬокусеЕое ОасстояЕп:е лиЕезе.Б. - конфокалькый параметр 11 учкаапосле линзы 2;Е., - длина пути ее;кон, соответствующая нулевому 11 орядку ентРрферРИ 1 тиис 1 - расстояние от линзыда свеТОДЕЛИ Е РПЯ Интеоферометр работает следую 1 е,иобразом,Выходящий из источника 1 когерентного излучения световой пучок прохс".дит линзы 2 и 3 и разделяется свето -делителем 4 на два пучка, Каждый иэдвух пучков, отразиьпись от отража-:телей 5 и 6, 7 и 8 соответственно,.направляется на светосоедикитель 9,который совмеща.ет Оба пучка и капранляет на фотоприемники 10...

Интерферометрический способ контроля качества оптических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1341495

Опубликовано: 30.09.1987

Авторы: Голубчик, Гуревич, Лелюхин, Лукин, Тартаковский

МПК: G01B 9/00

Метки: интерферометрический, качества, оптических, поверхностей

...светоделителем 7. Этот пучокпроходит компенсирующий объектив 8,отражается от контролируемого зеркаЛа 9; вновь проходит через объектив8 и, отражаясь от светоделителя 7,. объектива 5 и угла 9 достигаютсовмещений осей вращения объектногои опорного пучков с центром интерферограммы в плоскости 10 регистрации.Плоскость 10 регистрации сканируется блоком 11, выход которого соединен с фильтром 12. Этот фильтр подавляет зависимость от угла поворотаМ неоднородностей интенсивности входного пучка и пропускает без искажения интерференционную картину, так как она не вращается.При этом интерферограмма имеет зашумление только с круговой симметрией, которое затем удаляется путем фильтрации логарифма интерферограммы, заключающейся в вычитании в...

Приемный стол для контроля и обработки полупроводниковых пластин

Загрузка...

Номер патента: 1359662

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Баттиг, Диттрих, Оертел, Остерланд, Рюккнагел, Шелер, Шультц

МПК: G01B 9/00

Метки: пластин, полупроводниковых, приемный, стол

...пластину 3, установленную на определенном расстоянии от поверхности стола 1. Полупроводниковая пластина 3 ограниченакоординатами х и у с помощьюупоров 4. Стол 1 представляет собойединый стеклокерамический блок, имеющий на двух ортогональных гранях отражающие поверхности 5 и 6, служащиедля отражения падающих измерительных пучков 7 и 8 лазерных систем 9 и 0измерения пути, Нри помощи лазерныхсистем 9 и 10 измерения пути, которые испускают измерительные пучки7 и 8, центры которых точно находятся в плоскости полупроводниковойпластины 3, возможно позиционирование в двух координатах почти без ошибок. Подложки 2 для полупроводниковой пластины 3 представляют собой всасывающие сопла 11, которые предотвращают скольжение полупроводниковой пластины...

Способ исследования распределения нормальных перемещений поверхности плоских объектов

Загрузка...

Номер патента: 1397716

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Бахтин, Костюченко

МПК: G01B 9/00

Метки: исследования, нормальных, объектов, перемещений, плоских, поверхности, распределения

...2 Ы.Гвен М,(х) =,где ьс - угол поворота; г - расстояние от оси поворота до 25исследуемого сечения; 9 - длина волны;х - текущая координата сечения. Привозниконовении нормальных перемещениййорядок интерференционных полос в сечении 302 Г Ч 2 с 1(х)(знак + означает, что нормальные пере,мещения Й (х) могут как совпадать си"фиктивными" перемещениями г, обус,ловленными изменением угла наклонаосвещающего пучка, так и быть проти воположными ему по направлению), Таким образом, разница порядков полосы,представляющая собой отклонение И,(х) 10полосы от прямолинейности, равна2 й(х)И (х) - М,=+т.е. искривление формы полосы с точностью до постоянного множителя 2 Исовпадает с эпюрой распределения нормалыщх перемещений д (х) вдоль исследуемого...

Устройство для измерения перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1397717

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Акопян, Артемьев, Иванцов, Левин, Федоров

МПК: G01B 9/00

Метки: перемещений

...,где о - относительная деформациясветовода,ЬР - относительное изменение светового потока,а - постоянная, зависящая от35типа используемого свето-,вода,п - показатель степени, зависящий от типа используемого световода 5, описываю 40щий изменение световогопотока в зависимости от деФормации световода,Лепестки конуса вставлены в соответствующие пазы обжимного стакана 7 45свободно, но без люфта, перемещающегося в осевом направлении по цилиндрическим поверхностям упора 3 и корпуса 1. Осевое перемещение стакана 7ограничено упорами 2 и 3, а самовоэврат при прекращении внешнего воздействия обеспечивает упругий эле-:мент 8, опирающийся на шайбу 9. Вращение обжимного стакана относительнооси устройства предотвращает направляющая 10. Источник 11...

Оптический способ измерения линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1404809

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Гладырь, Голыгин, Иванов, Степанов

МПК: G01B 9/00

Метки: линейных, оптический, перемещений

...полупрозрачного зеркала 3 получают опорный пучок 7, с помощью зеркала 4 и отражателя 5 - 30измерительный пучок 8, фаза которого изменяется пропорционально линейному перемешению объекта 6. Опорный и измерительный пучки совмещают один с другим подуглом у= ул 72 и, выбирают решетку 1 О с ша.гом штрихов, равным бр= 2 СГ, которую 35ориентируют таким образом, чтобы угол Омежду интерференционными полосами иштрихами решетки 10 был равен углу у,с помощью фотоприемников 11 и 12 анализируют изменение освешенности муаровой 40картины и по числу периодов электрическогосигнала судят о величине перемещения объ-екта 6.Шаг полос анализируемой интерференционной картины 9 определяется как6=1/2з 1 п б,у/2,Видно, что при интерференционно-растровом сопряжении...

Система для измерения размеров и индекса формы яиц

Загрузка...

Номер патента: 1412683

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Зелянин, Костяшкин, Москвитин

МПК: A01K 43/00, G01B 9/00

Метки: индекса, размеров, формы, яиц

...строба корректирующего измерения поступают через блок 8 конъюнкторовна накапливающий сумматор 9. К концу действия строба корректирующего измерения Бна выходе накапливающего сумматора 9 формируется код, пропорциональный средней яркости видеосигнала, т.е. пропорциональный окраске скорлупы, Этот код поступает на вход запоминающего устройства 10, на выходе которого формируется код необходимого для данной окраски скорлупы порога измерения длительности видеоимпульсов, Преобразователь 11 вывыдает на первый вход компаратора 12 напряжение порога, пропорциональное поступающему с выхода постоянного запоминающего устройства 10 коду.После прихода с датчика 1 второго кадрового синхронизирующего импульса распределитель 5 импульсов снимает сигнал...

Способ определения отклонения размеров объекта от номинального

Загрузка...

Номер патента: 1421989

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Бахтин, Бахтина, Сарычев

МПК: G01B 9/00

Метки: номинального, объекта, отклонения, размеров

...совпадают, торазмер объекта меньше номинального,т.е. исследуемая поверхность находится за номинальной по ходу пучка излучения (этот случай приведен на чертеже); в) если направления смещения исследуемой поверхности 6 и элементов7, 8 спекл-структуры противоположны,то.размер объекта больше номинального, т.е. исследуемая поверхность находится перед номинальной.После определения наличия и знакаотклонения определяют величину отклонения Р по соотношению скоростей ч ич перемещения единичных элементов 7 и8 спекл-структуры, расположенных нарасстояниях 1, и 1 от исследуемойповерхности б, по формулеЧ,1, - . Ч 1,Определение величины отклонения основано на результатах экспериментальных исследований, которые показали,что при фокусировке...

Нуль-индикатор

Загрузка...

Номер патента: 1441187

Опубликовано: 30.11.1988

Авторы: Вербов, Ревин, Цеханович, Чигридов

МПК: G01B 9/00

Метки: нуль-индикатор

...луч падает на зеркальный отражатель 9, отражается от него и, про 55ходя через линзы 5 - 8, попадает навход регистрирующего блока 4, Одновременно второй луч также попадает на вход регистрирующего блока. Так каклучи когерентны, то на фотоприемникерегистрирующего блока наблюдаетсяинтерференционная картина, причемкогда входное напряжение неизменно(равно нулю), то интерференционнаякартина неподвижна,Когда на вход 10 подается опре,деленное напряжение, в результатеотклонения дефлектора 3 на некоторыйугол ф от проявления обратного пьезоэффекта, на такой же угол отклонитсялуч 1, а в процессе отклонения лучаизменится его длина пути, вследствие чего изменится и разность ходалучей,Таким образом, на входе регистрирующего блока 4...

Муаровый датчик перемещений и способ определения перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1462096

Опубликовано: 28.02.1989

Авторы: Воронов, Орлов

МПК: G01B 9/00

Метки: датчик, муаровый, перемещений

...муаровых полос, -М.: Машиностроение, 1969, с. 42,(54) МУАРОВЫЙ ДАТЧИК ПЕРЕМЕЩЕНИЙ ИСПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЙ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ(57) Изобретение относится к конт -анием муарового датчика 1 ий осуществляется следую -3 14620964наблюдателю и под осью - при пере- аналогично сопоставляют направление мещении от наблюдателя. навивки пружины, форму и количествоПри жестком закреплении датчика 1 полос муара с перемещением объекта 3, и угловом повороте объекта 3 возни 5кают С-образные полосы по обе сторо- ф о р м у л а и з о б р е т е н и я ны Б или 2-образной нулевой полосы( Б ). Дпя пружины с правой навивкой 1. Применение винтовой цилиндринулевая полоса имеет Я-образную фор- ческой пружины с шагом навивки, прему при повороте закрепленных концов 1 О...

Способ контроля формы зеркала

Загрузка...

Номер патента: 1490462

Опубликовано: 30.06.1989

Авторы: Коряковский, Марченко, Прохоров

МПК: G01B 9/00

Метки: зеркала, формы

...расположения транспаранта;Р - период транспаранта;Р - Фокусное расстояние опорной поверхности;- длина волника;Н - номер плоскости воспроизведения (целое число).Выполнение этого условия означает, что плоскость воспроизведения совпадает с плоскостью расположения транспаранта, Выберем в качестве опорной поверхности сферу с радиусом 2 Р, Тогда, если поверхность контролируемого зеркала совпадает с опорной по 1490462ности контролируемого зеркала отопорной поверхности, Для регистрации контрастных: пятен могут быть использованы, например, фотоэмульсияф 5нанесенная на непрозрачные участкиповерхности транспаранта, обращенной к зеркалу, матрицы фотоприемников, помещенные там же и т.д. В случае использования матричных фотоприемников повышается...

Устройство для определения положения точек на поверхности объекта

Загрузка...

Номер патента: 1516766

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Воробьев, Дегтярев, Нефедов

МПК: G01B 9/00

Метки: объекта, поверхности, положения, точек

...шар, одна точка которого контактирует с объектом 8, а другая точка используется для ориентации лазерного луча светодальномера 1 пер 30 пендикулярно сферической поверхности. Ориентация лазерного луча перпендикулярно сферической отражающей поверхности наконечника 5 производится по максимальной мощности отраженноГо луча, попадающего в светодаль- З 5номер, 1. Положение лазерного луча,совмещенного с нормалью к сферическому сегментному наконечнику 5, измеряют измерителем углов поворота (непоказан) и, в результате, определяютугловые координаты 0, ц 1 центрашарнира 6, находящегося на расстоянии К от объекта 8.Устройство работает следующим образом.Устанавливают наконечник 4 в точку А на объекте 8, Нормаль сферического сегментного наконечника...

Устройство для стабилизации энергетической оси пучков излучения

Загрузка...

Номер патента: 1548662

Опубликовано: 07.03.1990

Автор: Соколов

МПК: G01B 9/00

Метки: излучения, оси, пучков, стабилизации, энергетической

...в перпендикулярной плоскости от крыши призмы и оборачивается таким образом в обеих плоскостях.Отклоненный светоделительной призмой 6 пучок излучения последователь= но проходит через прямоугольную призму 9, первый компенсатор 11, поляризатор 13, полуволновую пластинку 14, второй компенсатор 12, прямоугольную призму 10, попадает в светоделительную призму 7 и, частично отразившись от разделительной грани призмы 7, вместе с пучком, прошедшим через призму Аббе 8, поступает на фотоприемник 15.Поляризатор 13 служит для точного выравнивания мощностей разделенных пучков излучения, так как при его повороте мощность проходящего черезформула изобретенияУстройство для стабилизации энергетической оси пучков излучения, содержащее основание,...

Устройство для измерения перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1550314

Опубликовано: 15.03.1990

Авторы: Курзнер, Носаль, Федоров

МПК: G01B 9/00

Метки: перемещений

...параметрическсго преобразователя проводится следуюшим образом. Заслонка 12 перекрывает световой пучок, выходящий из первого резонатора Фабри -Перо (зеркала 5, 4), открывая доступ в Фотоприемник 10 излучению, прошедшему чеэеэ второй резонатор Фабри-Перо (зеркала 5, 6), ",канируя зеркало 5 с помощью узла / сканирования, измеряют значения параметра преобразователя в моменты, когдаФотоприемник 10 регистрирует интер -Ференционные максимумы, По измеренному счетчиком 11 числу интерФеренционных полос и известному значению дли -ны волны лазераполуча от зависимость параметра преобразователя отмикроперемещения зеркала 5 относит ельно зеркала 6 (коэФФициент К) .Измерение перемещения объекта осуществляется следующим обра зои Заслонка...

Способ измерения профиля внутреннего диаметра внешнего трубчатого проводника коаксиального кабеля

Загрузка...

Номер патента: 1587577

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Тян, Хренков, Чостковский

МПК: G01B 9/00

Метки: внешнего, внутреннего, диаметра, кабеля, коаксиального, проводника, профиля, трубчатого

...9, информационный вход которого подключен к выходу АЦП 8, блоки 10 и 11 памяти, входы которых подключены к выходам ключа 9, и последовательно соединенные блок 12 разности, накапливающий сумматор 13 и регистратор 14,Устройство работает следующим образом.В исследуемый образец вводится внутренний проводник 3, на который устанавливается эталонный отрезок 2, а затем к концам исследуемого образца присоединяют. ся эталонные образцы 1 коаксиального кабел я.Полученная линия зондируется рефлектометром 4 и на его первом выходе получают рефлектограмму волнового сопротивления, которая поступает на информационный вход АЦП 8.Одновременно линейно-нарастающее напряжение с выхода реклектометра 4 поступает на компаратор 5, который при срабатывании на...

Оптический анализатор изображений

Загрузка...

Номер патента: 1597526

Опубликовано: 07.10.1990

Авторы: Афанасьев, Землянов, Качанова

МПК: G01B 9/00, G02B 27/30

Метки: анализатор, изображений, оптический

...аеличины ошибки вопределении положения светового штриха для диафрагмы, прозрачные окна которых содержат различное число (И)треугольников. 30Оптический анализатор изображенийсодержит диафрагму, выполненную спрозрачным окном в виде прямоугольных треугольников 1-5 (фиг, 2), у каждого из треугольников 1-5 один из ка 35тетов расположен на общеи для данныхкатетов прямой, параллельной продольной оси светового штриха (оси У). Каждые два смежных треугольника 1 и 2,2 и 3 и т.д. имеют общую вершину, исуммарная длина всех катетов, расположенных на общей прямой, не превышаетдлины Ь светового штриха 6,Анализатор изображений работаетследующим образом, 45При перемещении светового штриха 6в плоскости анализа по оси Х происходит изменение величины...

Способ контроля геометрических параметров элементов изделий с периодической структурой

Загрузка...

Номер патента: 1605139

Опубликовано: 07.11.1990

Автор: Христич

МПК: G01B 9/00

Метки: геометрических, параметров, периодической, структурой, элементов

...близким илиравным 90 О, проволоки0,03 мм,проводят напыление, например, углерода при остаточном давлении не выше4 .10 ГПа, убирают трафарет.На поверхности МКП останутся двепересекающиеся полосы без покрытия,С помощью микроскопа необходимо выбрать один канал, находящийся в центре перекрытия полос, и определитьего контрольные параметры с учетомвсех погрешностей. Нижний пределширины полос, свободных от поглощающего покрытия, объясняется необходимостью иметь в центре перекрестияне менее одного полного контролируемого микроэлемента при случайном расположении теневого трафарета, еслимикроэлементом считать отдельнуюструктурную единицу; либо канал(сердцевину), либо перемычку (оболочку), Верхний предел - не болеедвух полных микроэлементов,...

Способ определения радиуса кривизны участка релятивистской орбиты пучка электронов в синхротроне

Загрузка...

Номер патента: 1615895

Опубликовано: 23.12.1990

Авторы: Квочка, Конев, Макулькин

МПК: G01B 9/00, H05H 13/04

Метки: кривизны, орбиты, пучка, радиуса, релятивистской, синхротроне, участка, электронов

...а, а, а- координаты точек, в которых излучение регистрируют приемниками, при этом угловая величина участка МИ релятивистской орбиты (1 (рад) равна агссгд К- агссге К 1, а линейный размер участка )1 Н рачен (К.П р и м е р, Проводят теоретическую и экспериментальную проработку предлагаемого способа со следующей аппаратурной реализациеи; синхротрон типа рейстрек на 680 Мэв фИьН с длительностью цикла ускорения О, с и четырьмя поворотными магнитными с максимальным полем 11500 э, каналом СИ;плоскость с диафрагмами ч плоскость с приемниками излучения и механизмами для их перемещения вдоль плоскости; механизмы для юстировки плоскостей в канале СИ; аппаратура для обработки сигналов, зарегистрированных приемниками.Выбор и оценку...

Фотоэлектрический преобразователь перемещения

Загрузка...

Номер патента: 1619013

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Антиповский, Веденисов, Гермогентова, Киселев

МПК: G01B 9/00

Метки: перемещения, фотоэлектрический

...если условно принять фототок с фотоприемника 5 завхп, то фототок с фотоприемников 6 8соответственно сов, сов и вьп, мемедуфотоприемниками и второй. решеткой,содержащий четыре последовательностиштрихов с шагом, равным шагу первойрешетки,Преобразователь работает следующим образом,При перемещении подвижной решетки3 относительно неподвижной решетки 4растровые сопряжения модулируют поток излучения источника:1В результате на выходе фотоприемников 5-8 образуются электрическиесигналы с частотой, пропорциональной,скорости перемещения, и амплитудой,пропорциональной величине световогопотока, падающего на светочувстви"тельную площадь фотоприемников,Таким образом, с фотоприемников5-8 снимаются фототоки соответственно А в 1.п Ой, А сов (91 +Ф)А сов...

Устройство для измерения линейных перемещений

Загрузка...

Номер патента: 1652809

Опубликовано: 30.05.1991

Авторы: Гладырь, Кулешов, Степанов

МПК: G01B 9/00

Метки: линейных, перемещений

...12, вторично проходят светоотделитель 4 и совмещаотся друг с другом под теми же углами, что и после дифракции на неподвижной решетке 10, Модулятор 11 с дифракционной структурой, выполненный, например, в виде движущеися дифракицонной решетки и помещенный в плоскости пересечения опорной и измерительной осей интерферометра, с одной сто, роны заставляет каждый из пучков вторично дифрагировать с образованием новой совокупности пучков, а с другой меняет фазу волны в пучках ненулевого порядка дифракции с частотой ЧдстотОЙ гетеродинирования), пропорциональной скорости движения дифракционной структуры пог,ерек направления падающего луча, Период этой структуры выбирается равным шагу неподвижной дифракционной решетки 10, изза чего пучки.,...