Диттрих

Номер патента: 1820273

Опубликовано: 07.06.1993

Авторы: Боде, Диттрих, Пауль, Улеманн, Штурм

МПК: G01M 13/04

Метки: зазоре, масляном, обнаружения, пары, скольжения, частиц

...Визбаден, 1978.Штурм А, и Улемзнн Ш. Диагностика пар скольжения звукоэмиссионным анализом. Мааиненбаутехник 34, 1985. Выпуск 3. Изобретение используется встроении,вчастности.длядиагносшипников скольжения.Цель изобретения - повышенверности контроля и классификацяния трения,На фиг.1 представлены диагралюстрирующие диагностику понз фиг.2 - блок-схема устройства,кйцего способ. 5 Ц 1820273 А 1(54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ЧАСТИЦ В МАСЛЯНОМ ЗАЗОРЕ ПАРЫ СКОЛЬЖЕНИЯ(57) Использование: в машиностроении для диагностики подшипников. скольжения, Сущность изобретения: с помощью измерительного известного устройства регистрируется плотность импульсов ультразвуковых сигналов, испускаемых парой скольжения. Плотность импульсов подается на вход...

Номер патента: 1705729

Опубликовано: 15.01.1992

Авторы: Грюснер, Диттрих, Поллаковски

МПК: G01N 27/333

Метки: сравнения, электрод

...ионов серебра врастворе сравнения. Цель достигается тем, что в электродах сравнения, состоящих из металлического серебра либо из серебра, покрытого сульфидом серебра, погруженного в насыщенный труднорастворимой солью серебра водный раствор, солью серебра является сульфид серебра, а водный раствор дополнительно насыщен веществом, отдающим ионы сульфида таким образом, что оба вещества образуют осадок, В качестве вещества, отдающего ионы сульфида, преимущественно используется труднорастворимый сульфид металла, имеющий большую величину растворимости по сравнению с сульфидом серебра, например сульфид цинка либо сульфид марганца (П), но могут быть использованы и органические соединения серы, в частности тиомочевина,Отдающее ионы сульфида...

Номер патента: 1359662

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Баттиг, Диттрих, Оертел, Остерланд, Рюккнагел, Шелер, Шультц

МПК: G01B 9/00

Метки: пластин, полупроводниковых, приемный, стол

...пластину 3, установленную на определенном расстоянии от поверхности стола 1. Полупроводниковая пластина 3 ограниченакоординатами х и у с помощьюупоров 4. Стол 1 представляет собойединый стеклокерамический блок, имеющий на двух ортогональных гранях отражающие поверхности 5 и 6, служащиедля отражения падающих измерительных пучков 7 и 8 лазерных систем 9 и 0измерения пути, Нри помощи лазерныхсистем 9 и 10 измерения пути, которые испускают измерительные пучки7 и 8, центры которых точно находятся в плоскости полупроводниковойпластины 3, возможно позиционирование в двух координатах почти без ошибок. Подложки 2 для полупроводниковой пластины 3 представляют собой всасывающие сопла 11, которые предотвращают скольжение полупроводниковой пластины...