G01B 21/30 — для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Номер патента: 1375954

Опубликовано: 23.02.1988

Автор: Горохов

МПК: G01B 21/30

Метки: игольно-платинных, параметров

...Предположим, чтодля контроля дефекта используется боковой канал. В этом случае сигналосветителя 2 отражается от иэделия ичерез полупрозрачное 24 и непрозрачное 25 зеркала попадает в боковойпространственный фильтр 8, пропускающий на выход только те части сигнала,которые являются характерными дляэталона и дефекта, С выхода йильтра 8оптический сигнал разделяется с помощью зеркала 24 на два пучка, одиниз которых направляется в боковойэталонный канал 10, а другой - ви-канальный блок 17 дефектов. Формирователь 12 выделяет из сигнала тучасть света, которая присуща эталону,приемник 14 преобразует ее в электрический сигнал, а нормирователь 16 усиливает этот сигнал. Второй пучок света от зеркала 24 с помощью зер 5 кал распределяется между...

Номер патента: 1379625

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Ефимочкин, Круглов, Шарц

МПК: G01B 21/30

Метки: качества, поверхности

...10, схему ИЛИ 11, усилитель 12 мощности, блок 13 останова ц блок 14 сканиронания. 25Устройство работает следующим образом.Лазер 1 в системе двух эеркал - полупрозрачного 2 и отражающего 3 поцает на исследуемую поверхность 15 ЗО два параллельных когерентных луча под углом предельного зеркального отражения ц, который определяется, например, из формулы35Ь =211 созЧ где Ь - величина неровностей;- длина волны источника излучения;у - угол предельного зеркальногоотражения,Отраженные от поверхности 15 лучипроходят через поляриэационный анали.затор 4, сужающий их диаграммы напранленности. При отсутствии неоднородностей сигналы с выходов фотоприемников 5 максимальны. Производитсясканирование исследуемой поверхностилазерными лучами,...

Номер патента: 1379626

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Грузевич, Сальников, Седова

МПК: G01B 21/30

Метки: асферических, поверхностей

...пространственный период которого Т, а его коэффициент пропускания описывается Ьункцией Амон (хР,у ). При этом центр растра смещен в поперечном направлении вдоль оси Ох, на величину Ъ, Для преобразования энергии отраженного от контролируемой поверхности 7 оптического излучения в электрическую после МАИ 8 помещен ПИ 9, центр чувствительной площадки1 которого совпадает с фокусом Г контролируемой поверхности. Чувствительность квадратной площадки ПИ 9 со стороной 2 с описывается функцией Н(х,УР), а свойства ПИ 9 определяются величиной чувствительности Я , и характеристикой Б(Л)0,., а инерционные свойства ПИ 9 характе0 при остальных 41) Р ( 4). ЧХ / ). аЧ ) / (4 Х сх + /)У г с)ч ) у 1,2М - номер контролиру емого меридианального...

Номер патента: 1388725

Опубликовано: 15.04.1988

Авторы: Клусов, Сорокин, Федоров

МПК: G01B 21/30

Метки: дефектов, обнаружения, поверхности

...процессе изготовления детали, навыходе порогового элемента 9 получают сигнал и по его наличию судят огодности или негодности контролируемой детали.Способ предназначен для обнаружения механических дефектов типа трещин, царапин, складок, плен, характеристические размеры которых сопоставимы с микронеровностями поверхности. Частота обработки поверхностиизделий составляет К = 0,63 мкм, минимальные характеристические размерыопределяемых дефектов составляют:раскрытие - 0,02 мм;глубина0,005 мм,Нормированную корреляционную Функцию коэффициента отражения определяют для группы бездефектных однотипныхизделий методом статистических испытаний. Для этого исследуемую случайную Функцию коэффициента отраженияпредставляют записью множества...

Номер патента: 1422005

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Витман, Гребенюк, Зайченкова, Суминов

МПК: G01B 21/30

Метки: качества, отверстий, поверхности, цилиндрических

...внутри детали контролируется лишь 3/4 периметра. Рассеянный на дефектах цилиндрической поверхности световой поток воспринимается секционным волоконно-оптическим световодом 10 и направля-ется на соответствующие приемники 11 излучения. Сканирование поверхности осуществляется при поступательном перемещении устройства вдоль оси детали, которое обеспечивается любым известным приводом 13. Когда устройство переместится так, что расстояние от фокусируюшей линзы 7 до торца отверстия детали 8 будет равно фокусному расстоянию линзы, что обеспечивается любым известным датчиком 12 положения, блок 9 перемешает луч лау зера 1 параллельно самому себе на входной торец световода 5. Пройдя по свето- воду и сфокусировавшись цилиндрической линзой 7 в...

Номер патента: 1425445

Опубликовано: 23.09.1988

Авторы: Воробьев, Гальбурт

МПК: G01B 21/30

Метки: качества, поверхности

...хранящегося в бло"ке 11. В случае, если значение сигнала, поступившего с блока 9, меньше хранящегося в блоке 11 опорного напряжения, на выходе компараторв 12 формируется сигнал. В этом случае на выходе компаратора 12 сигнал соответствует бездефектному элементу участка поверхности. По сигналу с выхода компаратора 12 осуществляется занесение координат бездефектного элемента поверхности в регистр 13. Содержание регистра 13 через элемент 15 задержки поступает на вход компаратора 16, на второй вход которого поступают текущие координаты с блока 8. Задержка на элементе 15 соответствует длительности перемещения механизма 2 на один шаг. В результате этого на второй вход компаратора 16 поступают текущие координаты изображения того же участка...

Номер патента: 1427180

Опубликовано: 30.09.1988

Авторы: Белов, Бочкарев

МПК: G01B 21/30

Метки: поверхности, шероховатости

...светового потока дополнительного источника света на до- полнительный фотодиод происходило, например, только в моменты попадания зеркальной составлянией отраженного светового потока на фотоприемник. Для этого необходимо, во-первых, чтобы ширина пластины 18, укрепленной на торце цилиндрического модулятора 8, была равна или несколько превышала3 1427 размер отверстий модулятора 2; вовторых, для синхронизации работы ключевого блока 13 разделения сигналов зеркальной и диффузной составляющей необходимо совместить отверстия 9 и 10 модулятора 8 с пластиной, а дополнительные источник света 14 и фото- диод 15 разместить эквидистантно оси модулятора 8 от основания 1, 1 ОУстройство работает следующим образом.Лампа 4 накаливания создает пучок света,...

Номер патента: 1430751

Опубликовано: 15.10.1988

Автор: Борзых

МПК: G01B 21/30

Метки: дефектов, поверхности, цилиндрических

...идет сверху вниз) диск 8с прорезями, связанный с приводомнращения изделия 3, оптро нан пара 9,Формирователь 1 импульсон, вход которого подклкче к оптронной паре 9,я выход к так".авм Входам регистровсдвига, блок , ан;иза, все входыкоторого, кроме сдиого, подключеныко всем, кроме - о, .=(к+)2, выходам последних разрядов регистров 7сдвига, инверто 1 2, вход которогоподключен к выхцу посседнего разряца,". - :о регистр с,;ви а, а выход к бло -ку анализа.Устрсйст о рабстает следующимобразом,Привод врщас"т контролируемоеиздс:пие 3 вохру оси. Изце:ие 3освещается широким коллимированнымпучком света т .светителяпрошедыим через свето,.еитессьный элементПоверхность эе;ин 3 роецируетс.я объективам 4 на с:инейку аотопримни;он 5. Н них попадает свет,...

Номер патента: 1441202

Опубликовано: 30.11.1988

Авторы: Грузевич, Сальников, Седова

МПК: G01B 21/30

Метки: децентровки, оптических, поверхностей

...части 40попарно по ортогональным осям Х иУ. Поток,. разделенный светоделительным блоком 5, после первой отражательной призмы 6 попадает на ПИ 10,после отражения от втоРой призмы 7- 45на ПИ 11, после отражения от третьейпризмы 8 - на ПИ 12 и, отражаясь отпризмы 9, попадает на ПИ 13.Перед ПИ расположен радиально-секторный растровый модулятор 14 (МАИ),который вращается с постоянной угловой скоростью.Если отсутствует децентровка, топоток излучения пересекает МАИ 14 вчетырех точках на диаметрально про 1,тивополажных участках растра а и аК и К, расположенных по окружностисканирования МАИ 14 через Я/2, Электрические сигналы с ПИ 10-13 послеусиления (усилителями 16-18) подаются на Фазовый детектор 19. Разностьфаз сигналов на выходе ПИ 10 и...

Номер патента: 1441203

Опубликовано: 30.11.1988

Авторы: Пузырев, Юрлов

МПК: G01B 21/30

Метки: отклонения, прямолинейности

...световое пятно, полученное в результате первого переотражения, будет отстоять на фотоприемнике на расстоянии 2 ЛХ отцентрального светового пятна, второе переотраженное световое пятно будет отстоять от центрального светового пятна на расстоянии 4 в Х и т.д, Последнее световое пятно, полученное после Н-го переотражения, будет отстоять на расстоянии 2 ЮХ от центрального светового пятна, где И - число переотражений. Фотоприемник 6 осуществляет считывание оптического изображения путем развертки его по времени по сигналу от блока 9. При этом каждое световое пятно отображается в виде импульса, Форма которого соответствует распределению интенсивности света в данном случае. Количество импульсов, равное количеству световых пятен,...

Номер патента: 1444620

Опубликовано: 15.12.1988

Автор: Борзых

МПК: G01B 21/30

Метки: дефектов, поверхности

...10 измерительный интервал, соответствующий поперечнику детали 2 в данный строке и занимающий часть этой строки, заполняют импульсами тактового генератора блока 8 и подсчитывают их, измеряя его длину, выраженную числом импульсов. Полученным числом импульсов после окончания измерительного интервала адресуют обращение к постоянному запоминающему устройству (ПЗУ) блока 8. В ПЗУ предварительно (перед началом контроля) помещают наборы пмас/2 чисел для каждого числа (У) импульсов, выражающего длину измерительного интервала. Числа для набора вычисляют по формулеОЛl;= - ( 1 - соя( ),где 1=1, 2 пмас/2, и округляют до ближайшего целого числа.Видеосигнал, преобразованный в двоичную форму, запоминают в блоке 8 в регистре сдвига, управляемом...

Номер патента: 1518781

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Самедов, Щербинский

МПК: G01B 21/30, G01N 29/04

Метки: изделия, неровностей, однонаправленных, поверхности, ультразвукового, характеристик

...распространякщихся нэаимно перпендикулярно, с помощью тари 1518781ццчцой зависимости определяют шерохоцатсть поверхности изделияСпособ УЗ-контроля характеристик 5 одцоцапранпеццых неровностей поверхности изделия реализуется следующим образом,Иа поверхности изделия устанавли воют ца фиксированной базе, равной, например, 60 мм, два ориентированных один навстречу другому наклонных преобразователя, угол призм которых выбран из условия возбуждения в изделии 15 поверхностных УЗ-колебаний. Акустические оси преобразователей ориентируют перпендикулярно гребням неровностей, Одним из преобразователей возбуждают импульс поверхностных УЗ-колеба ний, например, с частотой заполнения 4,3 Г 1 Гц, и принимают этот импульс другим...

Номер патента: 1522038

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Белов, Бочкарев, Капцан

МПК: G01B 21/30

Метки: изделия, параметров, поверхности, прибор, шероховатости

...состоит из основания 1 с отверстием, оптически связанных рас положенных последовательно на основании 1 источника 2 света, коллиматора 3, регулируемой щели 4 и полупрозрачного зеркала 5, цилиндрического модулятора 6 с четырьмя щелями, параллельными оси модулятора 6, установленного на основании 1 с возможностью вращения вокруг своей оси, объективов 7 и 8, расположенных внутри модулятора 6 таким образом, что их фокусы,совпадают и находятся на оси модулятора 6, зеркала 9, оптически связанного с зеркалом 5 и объективом 8 и расположенного вне модулятора 6, фотоприемника 10, расположенного в фокусе объективов 7 и 8, блока 1130 синхронизации, вход которого подключен к выходу, фотоприемника 10, пиковых детекторов 12 и 13, входы которых...

Номер патента: 1539529

Опубликовано: 30.01.1990

Автор: Степчук

МПК: G01B 21/30

Метки: поверхности, шероховатости

...1 формирует параллельныйпучок света, имеющий .форму круга всечении, и направляет его под угломна контролируемую поверхность 21, Зеркально отраженный от поверхности 21пучок света попадает на фотоприемник2, а диффузно отраженное излучениерегистрируется фотоприемником 3. Зеркально отраженный от поверхности 21пучок света, имеющий в сечении формуэллипса, формирует на светочувствительных элементах 5-8 фотоприемника2 световое пятно.Сигналы со светочувствительных элементов 5-8, пропорциональные освещенной площади каждого из них, поступают на четыре независимых преобразователя 10-13.Сигнал, пропорциональный диффузноотраженному излучению, с фотоприемника 3 поступает на вход преобразователя 9. Выходные сигналы с преобразователей 10-13...

Номер патента: 1548669

Опубликовано: 07.03.1990

Авторы: Морозова, Мясников, Солодов

МПК: G01B 21/30

Метки: оптический, профилометр

...4, и информационный, который через фокусирующую линзу 5 попадает на координатно- чувствительный фотоприемник, состоящий из пластины 6 с линейным изменением оптической плотности, установленной в фокальной плоскости фокусирующей линзы 5, и широкополосного фотоприемника 7. Выходы опорного и координатно-чувствительного фотопри емников соединены с соответствующими входами блока 8 деления. При этом светоделитель 3 и фокусирующая лин, за 5 представляют оптическую систему отраженного излучения. 30Профилометр работает следующим образом.Излучение источника 1 фокусирует ся на поверхности измеряемой детали о бъективом 2 отраженное от поверхР35 , ности излучение собирается этим же объективом 2 и с помощью светоделителя 3 разделяется на два...

Номер патента: 1562834

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Калиберда, Кучеренко, Спольник, Чегорян

МПК: G01B 21/30, G01N 27/82

Метки: качества, образца, поверхности

...кусочки диамагнитной липкой ленты (не показана), Таким образом отделяют порошок от образца. Кусочки с порошком помещают поочередно в спектрометр ЭПР й измеряют интенсивность линии ЗПР. Интенсивность линии однозрачно характеризует качество по,верхности образцов. 10П р и м е р. Испытания эффективности предлагаемого способа проводились на образцах из алюминия размером 1 О х 5 х 1 мм, Испытуемые образцы были разделены на три серии.Первая серия образцов (точка 5 нафиг.2) подвергалась обработке на шлифовальной бумаге с размером зерна20 мкм, вторая (точка 6, фиг.2) обрабатывалась на шлифовальной бумаге с 20размером зерна 7 мкм, третья (точка7 на фиг.2) электрополировалась,После обработки образцы укладывались на предметный столик,...

Номер патента: 1564492

Опубликовано: 15.05.1990

Авторы: Калачиков, Кобылев, Меркулов, Эцин

МПК: G01B 21/30

Метки: отклонения, прямолинейности

...Датчик 5 линейных смешений (в качестве которого может быть использован квадрантный фотоприемник, подключенный к преобразователю аналоговых сигналов) установлен по ходу отраженного лазерного пучка9. Датчик 6 угловых смешений также расположен по ходу отраженного лазерного пучка. Датчик 8 линейных смещений, входящий в состав датчика б угловых смешений, установлен в фокальной плоскости объектива 7 и может быть выполнен аналогично датчику 5 линейных смешений. Вход дискриминатора 9 нулевого уровня соединен с выходом датчика 6 угловых смещений, блок 10 выборки имеет два входа - сигнальный вход 20, который соединен с выходом датчика 5 линейных смещений, управляющий вход 21, который соединен с выходом дискриминатора 9 нулевого уровня....

Номер патента: 1578471

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Антонов, Бутенко, Дудник, Зелинский, Федоров, Хвалов

МПК: G01B 21/30

Метки: оптико-электронный, профилометр

...И 27, входы которой подключены к выходам моновибратора 23 и инвертора 37, схемы И 28, входы которой подключены к выходам моновибратора 20 и компаратора 17, схемы И 29, входы которой подключены к выходам моновибратора 21 и инвертора 37 соответственно, схемы И 30, входы которой подключены к выходам моновибратора 19 и инвертора 22, схемы И 31, входы которой. подключены к выходам моновибратора 23 и компаратора 18, схемы ИЛИ 32, входы которой подключены к выходам схем И 24-27 схемы ИЛИ 33, входы которой подключены к выходам схем 28"31, реверсивного счетчика 34, входы которого подключены к выходам схем ИЛИ 32 и 33 соответственно, и последовательно соединенных цифроаналогового преобразователя 35, вход которого подключен к выходу счетчика 34,...

Номер патента: 1587340

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Швыркова, Шифрин

МПК: G01B 21/30

Метки: дефектоскоп, фотоэлектрический

...2, проецируемого оптико-механическим развертывающим устройством 4 на этот фото- диод, конечны, а световое отражение от дефектной площадки всегда меньше, чем от соответствующей по площади бездефектной поверхности, т.е, оптического фона,При наличии крупных дефектов на поверхности 2 контроля, когда приемная площадь фотодиода 5 и площадь проекции дефекта на фотодиод соизмеримы (фиг.2 а),интегральное значение света, попадающего на фотодиод 5, при сканировании дефектного участка значительно меньше, чем при контроле бездефектного участка, равного по площади дефекту, а фронт измерения сигнала от дефекта значительно круче, чем В данном случае при любом значении постоянной времени дифференцирования в блоке 11 импульс от дефекта на выходе...

Номер патента: 1612209

Опубликовано: 07.12.1990

Авторы: Сусский, Эйзнер

МПК: G01B 21/30

Метки: качества, образца, поверхности

...И З . СцРТ СВОЙСтва ЭЛЯС ИЧ. нос 1 ;:= -1 ч Г,бцатох," ,)в)се в" элеменТа 11;. Л.; Я,) 1 Л ЯЛ ВПИтЫВЯС СЯ, СОЗДЯВа я : Г" " ,)С И " ТГМРТ 1 КГ Ива)ОП(РЙ фоп ц 1 с пе Рм.Й Говеохно(ти 1 сляныЙ отис ч 1: Го, с,)падя 10 и) и Й и(. 1)л 01(яд Г с м я сл я; м и-)1 с ., :1;Я 06 рсзпе. 11)ц Гере 150 се Гбча. того .".";, Р)т; зо, ви уял 1)ого )ззмереия ГЧОНяЧя КЗ (яСЛяОО ПИТ 1 я Ня ГЪ 6- Ч ТО 1;- ,1), с: ц)1 .це. ВЙ(Т ВЯ ГГРЛ ГГ.ТГ ГОС.,Яс НЛ 11(Т СВОИ) 1 СРВГ Я. Чал 1, ссорл(л 1 ОвеХ 1(ОСТЬ с)1 СМРТ счатка визуально. Чяпимер(, с 11МО)11 ь)О м.1). него стекль:яка с нанесенной ня нем милли. метровой сеткой.11 о и.,ве.тнгй с)ори)лг вычисли)о" мас(11.- емкость кр) Волиней)к)й поверхости Обра(;ц:,у(. - ) 2Где. М -- мзслоемкость повер)Ость глГ(12(...

Номер патента: 1658207

Опубликовано: 23.06.1991

Авторы: Андреев, Богатырев, Бутаев, Вашкевич, Коннов, Кучин

МПК: G01B 21/30, G11B 7/26

Метки: дисков, информации, накопителей, оптических

...измерениязначения уровня напряжения Б для каждой основы диска ипи для каждой партии основ дисков.Разностный сигнал 8 с выхода втоРрого дифференциального усилителя 10поступает на опорный вход регулируемого делителя 12 напряжения, в качествекоторого может быть использован перемножающий цифроаналоговый преобразователь с информационным регистром, в котором делимое напряжение, т.е. разностный сигнал 8 р, подается на входопорного напряжения, а коэффициентделения задается кодом, поступающим,по информационным шинам из вычислительного устройства 20 на информационный регистр цифроаналогового преобразователя. Значение коэФФициентаделения определяется произведениемдвух величинК=К К1 С 1где К- хоэффициент пропорциональности между величиной...

Номер патента: 1666922

Опубликовано: 30.07.1991

Авторы: Ковалев, Салий

МПК: G01B 21/30

Метки: отклонения, поверхности, прямолинейности

...2, который делит луч источника 1 на два пучка, параллельных первоначальному, и щелевой экран 15 на фотоприемники 3 и 4,Предварительно устройство настраивают так, чтобы оба пучка, проходя через щель экрана 15, попадали на фотоприемники 3 и 4, сигналы с которых равнялись бы нулю,При перемещении измерительной платформы по контролируемой поверхности в зависимости от ее профиля щелевой экран 15 перекрывает часть светового потока, что приводит к смещению светового пятна, например в фотоприемнике 3, и сигнал, отличный от нуля, от фотоприемника 3 через 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 усилитель 16 поступает на привод 7, который перемещает в плоскости, перпендикулярной контролируемой поверхности, опору 9 до тех пор, пока сигнал от фотоприемника...

Номер патента: 1681169

Опубликовано: 30.09.1991

Авторы: Водолагин, Нестеров, Хазан

МПК: G01B 21/30

Метки: поверхности, формы

...12 имеет вид О - ОосозЛ 1 р + - Х2 Л 2 ЛГ(3)30- ;- Х 1 зп щ 1 т,2 Л где )1(-Х 1) - функция Бесселя 1-го поряд Л 35 ка,Для получения максимального сигналаЛпервой гармоники подбирают Х 1" - , при2 Лэтом величина Л (-р-Х 1) достигает своего 40максимального значения.Сигнал с выхода узкополосного усилителя 13 и сигнал с генератора 16 поступают на вход фазового детектора 14, где выделяется разность их фаз.Сигнал с выхода детектора 14 подаетсяна модулятор 6 через усилитель 15 постоянного тока и может быть представлен в вид О,(4) где Ь О - напряжение. поступающее на модулятор 6;К - коэффициент пропорциональности, постоянный для данного модулятора:й - изменение оптической длины опорного плеча.В результате наличия обратной связи зеркало 5...

Номер патента: 1714363

Опубликовано: 23.02.1992

Авторы: Коваль, Левченко

МПК: G01B 21/30

Метки: поверхности, шероховатости

...первые входы второго, (К+4)-го, (2 И+1)-го сумматоров 10, 54-59, к выходу второго масштабирующего усилителя 47 присоединены вход второй ячейки 8 памяти, к выходу которой присоединены параллельно вторые входы первого, (8+4)-го, , (1,5 И+1)-го сумматоров 9, 54 - 55, кроме того, к выходу второй ячейки 8 памяти присоединены через третий инвертор 66 параллельно вторые входы сумматоров с (1,5 К+ 2)-го по (2 М+1)-й 56 - 59, к выходу каждого из масштабирующих усилителей с третьего по И-й 48 - 53 присоединен вход соответственно (И+7)-й, , (2 М+4)-й ячейки 60 - 65 памяти, выход которой присоединен параллельно соответственно к третьему, , (М/2)-му входу второго сумматора 10, а выход ячейки памяти с (1,5 К+5)-й по (2 й+4)-ю 62-65...

Номер патента: 1747899

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Гришко, Дудник, Федоров, Хвалов

МПК: G01B 21/30

Метки: микрогеометрии, поверхности

...и фотоприемный узел, подключенный к входам независимых усилителей. Имеются вычислительный и регистрирующий узлы. Выходынезависимых усилителей связаны с функциональным преобразователем, фиксирующим отношение их интенсивностей,, который связан через ключ с генераторомлинейно изменяющегося напряжения, генератором тактовых импульсов и счетчиком, 40определяющим высоту микронеровностейпо сигналу нуль-органа; индиь 1 ированномуна индикаторе.На фиг.1 изображены микрснеровностис отрицательным и нулевым углом; на фиг,2 45- форма распределения энергии: на фиг.Зфункциональная схема устройства для кон.троля микрогеометрии,Пример конкретной реализации предлагаемого способа контроля микрогеометрии поверхности эталонных мер настройкии...

Номер патента: 1755050

Опубликовано: 15.08.1992

Авторы: Краснер, Темнов, Хомич

МПК: G01B 21/30

Метки: поверхности, рельефа

...из условия равенства интенсивностей на регистраторе 11 предметного и опорного лазерного импульсов и определяются по заданному числу отраже 5 10 ний от объекта. В экспериментальном стенде для пяти отражений от объекта коэффициенты отражения светоделителей 5, 6 и 7 составляют 0,5; 0,1 и 0,45 соответственно, величины которых формируются пу 20 тем вакуумного напыления по стандартной технологии. Эталонное зеркало 9 имеет коэффициент отражения порядка 0,98 и подобрано из комплекта металлических зеркал, прилагаемых к установке УИГ - 22 М. Расстояние между светоделителем 7 и отражающим объектом 8 в изготавливаемомэкспериментальном стенде составляет4 мм. 25 зом.Лазер 1 с блоком формирования коротких импульсов генерирует излучение в...

Номер патента: 1768977

Опубликовано: 15.10.1992

Авторы: Гришко, Дудник, Федоров, Хвалов

МПК: G01B 21/30

Метки: оптико-электронный, профилометр

...ности т,е, повысить точность, непосредственно и через блок дифференциПоставленная цель достигается тем, что рования 13 и через квадратор 14 с блоком в известном оптико-электронном профило умножения 15, подсоединенным к сумматометре, содержащем оптически связанные с ру 16.объектом контроля источник излучения, оп- Выход сумматора 16 подключен к притическую систему и первый фотоприемный воду схемы слежения 17 например, выполузел, а также последовательно включенный ненным в виде линейного вычислительный узел и регистрирующий 45 электродвигателя), подвижная часть которо- узел, подвижный первый фотоприемный го с размещенным на нем фотоприемником узел, а также узел слежения эа лучом, под перемещается на воздушной подушке.ключенныйк...

Номер патента: 1782314

Опубликовано: 15.12.1992

Авторы: Андрианов, Болотин, Захаров, Скачков

МПК: G01B 21/30

Метки: дефектов, поверхности

...расчета параметров аномалий качества контролируемой поверхности.На фиг, 1 изображена схема способа автоматического контроля"дефектов поверхности деталей и изделий; на фиг. 2 - бинарные изображения световой полоски с привязкой к фотоматричной структуре для бездефектного и дефектного участка поверхности; на фиг. 3 - структурная схема алгоритма программной обработки информации о параметрах дефектов; на фиг. 4 - иллюстрация влияния отражательных характеристик контролируемой поверхности расфокусировки изображения световой полоски на точность контроля параметров дефектов поверхности для предложенного способа и прототипа.Сущность предложенного способа иллюстрируется схемой, представленной на фиг. 1. На сканируемой поверхности 1 формируют...

Номер патента: 1795277

Опубликовано: 15.02.1993

Авторы: Бережной, Голуб, Гулин, Кривошеев, Лаврова

МПК: G01B 21/30

Метки: измерительный, комплекс, поверхностей, шероховатости

...поворота 11 обеспечивает поворот механизма сканирования в диапазоне от 0 до 60 с шагом 0,5блок светофильтров 4 состоит иэ диска 24 с отверстиями, выполненными на равном расстоянии друг от друга по окружности, светофильтров 25 с различными коэффициентами пропускания, размещенными в отверстиях диска 24 и привода вращения 26, состоящего из двигателя, выходной вал которого связан через зубчатую передачу (на рис. не показана) с осью диска 24.Блок поляризации 5 состоит из полуволновой пластины и поляроида (на рис. не показаны) и обеспечивает излучение линейно-поляризованного излучения, необходимого только для контроля многослойных поляризационных зеркал,Фотоприемное устройство 8 размещено на кронштейне 27, смонтированном на стойке 23 и...

Номер патента: 1807311

Опубликовано: 07.04.1993

Авторы: Глушко, Григоров, Демиховский

МПК: G01B 21/30

Метки: дефектов, обнаружения, покрытий, цилиндрических

...дефектов грунтовочного пульсы попадают на О-триггер 9, который покрытия происходит следующим обре- делит количество строчных импульсов на зом. два. В процессе пробегания трубы лучом отИсточником 2 света освещают повер- верхней до нижней кромки в регистр 8 по-. хность трубы 1 на фоне экранного отра ступаюттолькочетные(илинечетные)строчжателя 3 света с калиброванными по ные импульсы, которые суммируются и отражательной способностиполосами. От- запоминаются в регистре 8. В следующем, раженные от поверхности трубы 1 и отража- втором полупериоде О-триггер 11 переклютеля 3 лучи света попадают в телекамеру 5 чается в новое положение и строчные имв поле зрения электронно-лучевой трубки 40 пульсы, также отражающие состояние (на фигурах не...