Патенты с меткой «сечений»

Страница 3

Способ контроля поперечных сечений изделий

Загрузка...

Номер патента: 958849

Опубликовано: 15.09.1982

Авторы: Деревенчук, Финогенов

МПК: G01B 11/02

Метки: поперечных, сечений

...8, телевизионную трубку 9 и монитор 10, источник 11 питания, а также последовательно расположенные источник 12 красного света, телескопическую систему 13 и поляроид 14,1 о источник 15 света.Способ осуществляется следующим образом.Предварительно импульсом света. от источника 15 света и при напряжении источника 11 питания, равном нулю, производят стирание изображения на транспаранте 7, выполненном из кристалла, обладающего линейным электрооптическим эффектом и фотопроводимостью. Затем после установки системы контролируемых изделии 16 осущесто го вляют запись информации на транспаранте 7. Для этого пучок света от источника 1 синего света, расширенный телескопической системой 2 направляют с помощью цилиндрической линзы 3 на контролируемые...

Контурограф для снятия сечений колодки для обуви

Загрузка...

Номер патента: 991998

Опубликовано: 30.01.1983

Авторы: Жаров, Коваль, Комиссаров

МПК: A43D 1/04

Метки: колодки, контурограф, обуви, сечений, снятия

...сечения.Опорная площадка 6 представляет собой и риз му со шкалой 14 (фиг-. 3) .1 дготовку контурографа к работе и за:,чсь контуров сечений обувной колодки прои водят следующим образом.Е 1 а первом этапе осуществляется бази 1 ованпе колодки 9 относительно опорной плопьэдки 6 в продольном и поперечном направлениях. Для обеспечения совпадения оси следа передней части колодки с осью ОХ (фиг. 2) необходимо пяточный зажим 8 переместить по направляющей 21 (фиг. 1) на определенную высоту, отсчитываемую на шкале 22 указателем 23, и зафиксировать его положение винтом 24. Далее за счет поворота пяточного зажима 8 относительно своей оси осуществляется регулировка положения колодки в поперечном направлении по шкале 4 (фиг. 3) опорной площадки 6,...

Способ закрепления изолированных проводов малых сечений

Загрузка...

Номер патента: 1029281

Опубликовано: 15.07.1983

Автор: Шилин

МПК: H01R 4/02

Метки: закрепления, изолированных, малых, проводов, сечений

...(ЭРЭ) .Известен способ монтажа мягких выводов ЭРЭ к цилиндрическим контактам путем навивки двух-трех витков в изоляции и двух-трех витков луженой жилы на цилиндрический контакт с последующим припаиванием конца жилы к контакту 11.Однако такой способ не обеспечивает достаточной механической прочности монтажа.Известен также способ закрепления проводов малых сечений на контактных штырях, заключающийся в предварительном удалении изоляции с концевой части провода, совмещении неизолированной части проводов с контактным штырем вдоль его продольной оси и в их взаимной фиксации 12.Недостатком этого способа является необходимость применения специальных приспособлений и инструментов, трудоемкость монтажа,Целью изобретения является...

Устройство для определения формы сечений обуви

Загрузка...

Номер патента: 1047462

Опубликовано: 15.10.1983

Авторы: Оржекаускас, Ратаутас, Раяцкас, Юодяле

МПК: A43D 1/04

Метки: обуви, сечений, формы

...рычага закреплена на ведо мом колесе зубчатой передачи по линии его хорды, при этом ведомое колесо зубчатой передачи установлено так, что его ось параллельна направлению перемещения стола, а средство 45 прижима рычага к обуви выполнено в виде отвеса, соединенного с рычагом гибкой связью на участке между щупом и осью вращения рычага, и имеет на - правляющую с отверстием для размещения гибкой связи, установленную под рычагом так, что ее поверхность, обращенная к рычагу, находится на уровне оси ведомого колеса, причем рычаг на свободном плече имеет балансир.55На фиг.1 изображено устройство для определения формы сечений обуви, общий вид; на фиг.2 - разрез А-А на фиг.1 (траектория движения щупа и отвеса). 60Устройство для определения Формы...

Способ измерения эффективных сечений перезарядки многозарядных ионов

Загрузка...

Номер патента: 776361

Опубликовано: 30.10.1983

Автор: Донец

МПК: H01J 3/04

Метки: ионов, многозарядных, перезарядки, сечений, эффективных

...накапливают две группы подлежащих исследованию ионов, после чего эти группы ионов смешивают в этом же электронно-лучевом источнике путем повышения потенциала с одной из сторондополнительного потенциального барьера.Кроме того, измерения проводят при различных величинах дополнительного потенциального барьера.После завершения накопления ионов по обе стороны дополнительного потенциального барьера энергию электронного луча в источнике предпочтительно снижают ниже порога ионизации исследуемых ионов электронным ударом.На чертеже приведены кривые распределения продольного потенциала в электронно-лучевом источнике многозарядных ионов, где кривая 1- от момента начала накопления до момента его завершения 1 ф кривая 2 от момента 1 р до момейта...

Устройство для обмера периметров поперечных сечений обувных колодок

Загрузка...

Номер патента: 1057001

Опубликовано: 30.11.1983

Авторы: Мысовский, Оршанский

МПК: A43D 1/04

Метки: колодок, обмера, обувных, периметров, поперечных, сечений

...и Фиксации посредством стопораотносительно корпуса. Для регулировки устройства в корпусе и на опорной планке имеются сквозные пазы, выполненные параллельно направлению перемещения планки одинпод другим, в которых размещен стопор е На Фиг. 1 изображено устройство, общий вид; на Фиг.2 - разрез А-А на Фиг,1; на Фиг.3 - разрез Б-Б на Фиг,1.Устройство для обмера периметровпоперечных сечений обувных колодоксодержит корпус 1, в котором на оси 2установлен шкив 3, подпружиненный вобратном направлении намотанной прушиной 4. 1 Ьив 3 жестко насажен наось Й, а пружина 4 закреплена в отверстии 5, имеющемся в корпусе 1 устройства. Гибкий элемент 6 представляет собой капроновую жилку диаметром 0,3-0,4 мм, намотанную на шкив 3.К одному торцу шкива 3...

Прибор для демонстрации образования плоских сечений поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1064291

Опубликовано: 30.12.1983

Авторы: Завидский, Любенко, Утишев

МПК: G09B 23/04

Метки: демонстрации, образования, плоских, поверхностей, прибор, сечений

...секущей плоскости 11). 15Известный прибор не позволяет одновременно демонстрировать образованиее поверхностей вращения и их плоских сечений.Цель изобретения - расширение дИ" 20дактических вОэможностей прибора.Поставленная цель достигаетсятем, что в приборе для демонстрацииобразования плоских сечений поверхностей, содержащем набор объектов,имитирующих поверхности вращения,каждый из которых выполнен в видеустановленного на смонтированной свозможностью вращения оси тела, иимитатор секущей плоскости, имитатор секущей плоскости состоит изгибкого кронштейна, закрепленногона нем светонепроницаемого кожухас.прямолинейной щелью и установленного внутри кожуха источника света, акаждое тело выполнено в виде проволочного контура.На чертеже...

Способ измерения эффективных сечений неупругого взаимодействия ионов

Загрузка...

Номер патента: 1012775

Опубликовано: 23.07.1984

Автор: Беляев

МПК: H05H 1/00

Метки: взаимодействия, ионов, неупругого, сечений, эффективных

...разделение их на две группы,отличающиеся :о энергиям, невозможно,Целью изобретения является измерение эффективных сечений неупругоговзаимодействия двух одинаковых ионов,Указанная цель достигается тем,что в известном способе измеренияэффективных сечений неупругоговзаимодействия ионов по скоростиобразования вторичных частиц, возникающих в результате столкновения ионов, формируют полый пучок монокристаллических ионов, а их столкновения осуществляют фокусировкой пучка,На чертеже представлена схематраекторий ионов пучка 1 в районефокуса 2 конечных размеров. Стрелкойуказано общее направление движенияионов в пучке, Сплошными линиямиобозначены траектории, участвующиев создании изображения точек Фокуса 3, 4, 5, б. Пунктирные...

Машина полунепрерывного литья слитков крупных сечений

Загрузка...

Номер патента: 1126362

Опубликовано: 30.11.1984

Автор: Кучковский

МПК: B22D 11/14

Метки: крупных, литья, полунепрерывного, сечений, слитков

...из крышки 5 и корпуса 6 с дном.На внутренней поверхности корпуса 6 гидроцилиндра со стороны затравки 2 установлен упор 7, ограничивающий ход крышки 5 в сторону кристаллизатора 1. Внутренняя поверхность корпуса 6 гидроцилиндра защищена от воздействия теплового изучения и окалины охлаждаемым телескопическим экраном 8, закрепленным одной стороной на крышке 5, а другой - за упор 7. Поршень 4 и крышка 5 имеют уплотнения 9, предотвращающие перетечки рабочей жидкости.иэ штоковой полости 10 гидроцилиндра в поршневую полость 11. В корпусе 6 гидроцилиндра предусмотрены отверстия 12 и 13 для подвода и слива рабочей жидкости.Для охлаждения получаемого слитка на верхнем торце гидроцилиндра в подставке 14 установлена поддерживающая роликовая секция 15...

Прибор для определения формы и размеров сечений пространственного тела

Загрузка...

Номер патента: 1181620

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Великанова, Гришко, Медзерян

МПК: A43D 1/04, B44B 1/02

Метки: прибор, пространственного, размеров, сечений, тела, формы

...прижимания скобами 8 фторопластовых трубок 9, удерживающих измерительные стержни 6 от выпадания. На кольцевом измерителе нанесены риски 11для определений величин выдвиженияизмерительных стержней 6 по миллиметровым шкалам 7. Кольцевой измеритель 4 для установления и свободного перемещения по прямолинейнымнаправляющим 3 имеет отверстия 12На каждой стогке 2 с воэможностью вертикального перемещения с помощью болта 13 крепится держатель в виде планки 14, в которую ввинчи -ваются иглы-держатели 15 для установки и закрепления измеряемого тела в приборе в круговых направляющих 16. Для более надежной фиксации в приборе измеряемого теласложной конфигурации предусмотренавозможность использования восьми игл-держателей 15, четырех...

Способ подготовки поперечных сечений образцов для электронной микроскопии

Загрузка...

Номер патента: 1182322

Опубликовано: 30.09.1985

Автор: Родионова

МПК: G01N 1/36

Метки: микроскопии, образцов, подготовки, поперечных, сечений, электронной

...микроскопа с отверстием в середине (фиг. 16) и покрываютзащитным слоем (лаком, клеем, парафином), не взаимодействующим с травителем, в котором утоняется образец (фиг.1 в). В защитном слое проделывают окно (фиг.1 г) и помещают образец в травитель. По мере утоненияобразца защитный слой, нависая надкраямгг утоняемой области, препятствует ее травлению (фиг.1 д). Удаляязащитный слой у исследуемой области(фиг. 1 е, получают равномерно утоненный участок, содержащий приповерхностную область образца, Защитный слой растворяют фиг.1 ж).Предлагаемый способ используютдля исследования границы раздела,А 1-8, На подложку кремния путемтермического испарения в вакууменаносят пленку алюминия толщинойо500 А. Из структуры подложка-пленкавырезают образцы...

Устройство для контроля профиля сечений

Загрузка...

Номер патента: 1185048

Опубликовано: 15.10.1985

Авторы: Булгаков, Мягков, Петрова, Фомичев

МПК: G01B 11/00, G01B 5/00

Метки: профиля, сечений

...светового пучка размещена штриховая пластина 12 с набором профилей 13 контролируемогообъекта, выполненными в масштабе1:1. Штриховая пластина размещенав рамке 14, смонтированной на промежуточной гильзе 15, которая подивжна относительно пиноли в осевом направлении и соединена с нейхрамовым механизмом 16. Шаг храпового механизма равен расстояниюмежду смежными профилями, нанесенными на штриховой пластине. Для перемещения промежуточной гильзы относительно пиноли служит реечнаяпередача 17. Для регулировки положения рамки относительно гильзыслужит кольцевая оправка 18 с микровинтами 19, 20 и шарнир 21 с микровинтом 22. Масса вертикальноподвижных частей уравновешена противовесом 23. Поворотный стол снабжен фиксатором 24, позволяющимзакреплять...

Прибор для измерения продольно-осевых сечений стопы или колодки

Загрузка...

Номер патента: 1214075

Опубликовано: 28.02.1986

Авторы: Аверина, Медзерян, Павлин

МПК: A43D 1/00

Метки: колодки, прибор, продольно-осевых, сечений, стопы

...измерительных гребенок 8-10.дляопределения осевого профиля стоп иликолодок, осевого сечения продольновертикального профиля, а такжевсех возможных профилей сечений пятки. Для измерения осевого профиля плантарной поверхности служит гребенка-измеритель 8, которая установлена под опорной площадкой прибора и укреплена посредством двух скоб держателей 11. Гребенка 8 состоит из двадцати шести прыгающих измерительных пальцев 12 и соответствующего количества измерительных столбиков-противовесов 13 служащих шкалой отсчета производимых измерений и связанных с прыгающими измерительными пальцами системой свободно качающихся коромысел 14, укрепленных в точке оси качания коромысел к основанию гребенки посредством неподвижных вилок 15, Рабочее...

Способ определения сечений ионизации положительных ионов релятивистскими электронами

Загрузка...

Номер патента: 1068855

Опубликовано: 07.07.1986

Авторы: Кузнецов, Перельштейн, Ширков

МПК: G01T 1/34

Метки: ионизации, ионов, положительных, релятивистскими, сечений, электронами

...процессов, Расчетным путемпоказано, что в ионизации положительных ионов электронным ударомрелятивистскими электронами домини -рующими являются два механизма - прямая ионизация с удалением электронов из атома или иона в континууМ ивозбуждение или ионизация внутреннихатомных оболочек с последующим испусканием Оже-электронов, т.е.Ожеионизация, причем зависимости сечений этих ионизационных процессов отзарядности ионов сильно различаются,55 К недостаткам известного способа относятся разрушение электронно- ионного пучка при анализе, необходимость проведения многократных . измерений с целью получения полной картины эволюции спектра зарядностей ионов и ограниченный энергетиТаким образом, сечение иониэации положительных ионов электронным...

Устройство для определения минимальных сечений

Загрузка...

Номер патента: 1249527

Опубликовано: 07.08.1986

Автор: Колесник

МПК: G06F 15/173

Метки: минимальных, сечений

...и в случае равенства весов вьщает на выход "Равно" сигнал, поступающий на управляющий вход ключа 12. Вследствие этого номер текущего сочетания с выхода счетчика 11 поступает на информационный вход блока 1.3, который запоминает каждый поступающий номер,Если вес, поступающий с выхода регистра 16 на первый информационный вход блока,14, меньше веса, поступающего на его второй информационный вход, блок 14 вьщает сигнал на выход "Меньше", который через элемент ИЛИ 18 проходит на вход формирователя 19 импульсов. Тот вьщает на выход прямоугольный импульс, который поступает,во-первых, на вход очищения блока 13 и стирает всю хранящуюся информацию, во-вторых, на вход записи регистра 15, который запоминает вес, поступающий на его информационный...

Устройство для определения контуров сечений челюстно лицевой области

Загрузка...

Номер патента: 1255855

Опубликовано: 07.09.1986

Авторы: Арефьев, Безруков, Васильева, Жилкин, Зайцев, Ипполитов

МПК: A61B 5/10, G01B 9/02

Метки: контуров, лицевой, области, сечений, челюстно

...датчик 22 угла поворотаНа столе 3 с помощью крепежно-юстировочных механизмов 23-25 закреплен подголовник 26, предназначенный для размещения на нем головы пациента, причем с помощью крепежно1255855 10 50 юстировочных механизмов обеспечивают такое положение головы, чтобы приповороте шарнирно-рычажных параллелограммов вокруг оси стержня 1 внаправляющих 2 и 2 вправо и влевоона= + 90 относительно плоскости симметрии головы лазерный пучокпопадал соответственно на правую илевую козелковые точки головы пациента.Устройство для определения контуров сечений челюстно-лицевой области используют следующим образом.Пациента располагают на столе 3,затем голову пациента укладывают на 15подголовник 26 и при помощи крепежно-юстировочных механизмов...

Устройство для визуализации сечений неоднородностей

Загрузка...

Номер патента: 1269076

Опубликовано: 07.11.1986

Авторы: Платонов, Серенко

МПК: G02B 27/50

Метки: визуализации, неоднородностей, сечений

...пучок, сформированный осветительной системой, последователь-но проходит узел 5 трех нитей 6, исследуемую неоднородность, отражаетсяот зеркала 7 и еще раз проходит через исследуемую неоднородность. Светящееся рассеянным светом сечениенеоднородности фотографируется фоторегистратором 8.Совмещение оси вращения зеркала3 с плоскостью этого зеркала и с фокальной плоскостью объектива 4 автоматически обеспечивает параллельноесмещение световой плоскости при вращении зеркала 3. Совмещение фокальных 25 плоскостей цилиндрической линзы 2и объектива 4 обеспечивает коллимирование плоского светового пучка поширине. Пересечение плоским коллимированным по ширине световым пучкомнитей 6 приводит к образованию трехреперных теней в виде прямых...

Устройство для штамповки деталей из профильных заготовок полузакрытых сечений

Загрузка...

Номер патента: 1319973

Опубликовано: 30.06.1987

Авторы: Белоглазов, Дунаев, Комаров, Пупынин, Шалавин

МПК: B21D 22/10, B21D 26/02

Метки: заготовок, полузакрытых, профильных, сечений, штамповки

...пре еваКорректор А. Обр чаПодписноеизобретений и открытийб., д. 45жгород, чл. Проектная, 4 СР по дела Раушская нприягие, г. У Изобретение относится к обработке металлов давлением и может быть использовано во всех отраслях народного хозяйства для изготовления деталей из прессованных профилей полузакрытых сечений с постоянной или переменной малкой, с прямыми или косыми подсечками.Целью изобретения является повышение качества изготавливаемых деталей и расширение технологических возможностей.На фиг. 1 изображено устройство, общий вид; на фиг. 2 - гибкий вкладыш, сечение; на фиг. 3 - то же, в момент штамповки; на фиг. 4 - сечение А-А на фиг. 3.Устройство включает контейнер 1 с эластичной средой 2, оправку в виде гибкого вкладыша 3 из...

Способ правки переменной продольной кривизны проката прямоугольных сечений

Загрузка...

Номер патента: 599417

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Асанов, Химич

МПК: B21D 3/02, B21D 3/14

Метки: кривизны, переменной, правки, продольной, проката, прямоугольных, сечений

...преобразовать переменную по величине и направлениюпродольную кривизну, сообщенную про 5кату предварительно в холодном состоянии, достаточно все его участкиобработать таким изгибом в одном каком-либо направлении, чтобы его радиус был не больше радиуса кривизныпредварительного изгиба участка проката с наибольшей кривизной. Послетакого изгиба остаточная кривизнастанет постоянной кривизной одногознака.Если после предварительных изгибов прокат претерпевает отжиг, т.е.характер остаточных напряжений претерпевает большие изменения, для преобразования требуется изгиб с нес 20 колько большей кривизной, котораяможет быть учтена числовым коэффициентом.Таким образом, для преобразова 25 ния исходной переменной по величинеи направлению кривизны...

Реласкопическо-перечислительный способ определения текущего прироста суммы площадей поперечных сечений деревьев

Загрузка...

Номер патента: 1376985

Опубликовано: 28.02.1988

Автор: Подмаско

МПК: A01G 23/00

Метки: деревьев, площадей, поперечных, прироста, реласкопическо-перечислительный, сечений, суммы, текущего

...за предварительно выбранный периодвремени. Древостой в целом в этом случаехарактеризуют с той или иной вероятностью лишь среднестатические данные оприросте пробной партии деревьев. Значение2 " получают в результате многостадийныхматематических преобразований, включающих не только средние значения радиального прироста, но и еще целый ряд величин,Отличие в использовании радиальных образцов древесины в предлагаемом способеуже в том, что величина радиального прироста, точнее ширина древесного слоя конкретного дерева, у которого взят радиальныйобразец древесины, заранее рассчитываетсяпо известному критическому отношению круговой реласкопической выборки В. Биттерлиха.По радиальным образцам в реласкопическо-перечислительном способе...

Способ определения распределения размеров плоских сечений зерна металлографических образцов

Загрузка...

Номер патента: 1397832

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Даниленко, Лезинская

МПК: G01N 33/20

Метки: зерна, металлографических, образцов, плоских, размеров, распределения, сечений

...плоских сечений зерна по известному (б) и предлагаемому (а) способам.Способ осуществляется следующим 15 образом. Изготавливают металлографическийшлиф, выявляют на шлифе эерецнуюструктуру металла, находят зерно смаксимальным сечением и фотографируютего, На полученные фотоотпечатки зерна под углом сь друг к другу наносятгруплы параллельных секущих АА, ВВ,СС и т.д, (фиг.1), при этом каждая25группа должна пересечь всю площадьзерна, а количество групп должно бытьне менее восьми и не более двадцати.Количество групп менее восьми не обеспечивает полноту информации о распределении размеров хорд, поскольку вэтом случае це могут быть в достаточной мере учтены особенности, вносимыев это распределение формой плоскогосечения, Использование...

Устройство для разметки сечений цилиндрических и призматических поверхностей

Загрузка...

Номер патента: 1413015

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Ветлугина, Воячек, Гринина, Кирин, Широков

МПК: B43L 11/00

Метки: поверхностей, призматических, разметки, сечений, цилиндрических

...наосях поверхности, как правило, вы1бираются как опорные, Точки 1 - 161 - 16" находятся в проекционнойсвязи,Далее закрепляют шарнир 4 в месте пересечения направляющей 1 с55секущей плоскостью А, Штангу 2поворотом по оси шарнира 4 совмещают со следом с секущей плоскости и фиксируют, например, гайкой относительно шарнира. Затем шарнирыползуны 3 вместе с полуосями 5 ус 11 и танавливают в точках 1 - 16 фронтальной проекции поверхности и одновременно устанавливают полуоси 5 вдоль оси поверхности параллельно линиям связи, проходящим через точки 1-16 (фиг. 1).Далее шарнир 4 освобождают от Фиксации и перемещают его вместе со штангой 2 (без изменения ее угла наклона относительно оси поверхности) вдоль направляющей на горизонтальную проекцию...

Способ измерения относительной дисперсии сечений капилляров

Загрузка...

Номер патента: 1415060

Опубликовано: 07.08.1988

Авторы: Арчаков, Ефименко, Малахов, Науменко, Попов, Романов, Солдатов, Чертилина

МПК: G01B 13/00

Метки: дисперсии, капилляров, относительной, сечений

...в капиллярах однозначно связан с разбросом площадей сечения капилляров. Это обс тоятельство позволяет из дисперсии времен прохождения каналов веществом меткой однозначно получить относитель. ную дисперсию площадей сечений каналов. 5Скорость движения вязкой среды в капилляре подчиняется закону Пуазейля: 1 1йз ю Ч АБ( щв) Ю (ее еввевв) ( ) б, 1, Б 2,35 е,. (4) относительную дисперсию проходных сечений капилляров в пучке. Здесь 5/.- Б - относительная дисперсия, 3,полуширина пика на полувысоте.П р и м е р. Для измерения используют хроматограф ЛХ 1-80, Вязкая сре да аргон, вещество-метка метан,детектор 5 пламенно-ионизационный.Пучок 4 из 200 капилляров внутренним диаметром100 мкм включают между устройством 2 ввода и детектором 5, создают...

Устройство для измерения периметров поперечных сечений легкодеформируемых изделий

Загрузка...

Номер патента: 1460599

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Борисов, Логачев

МПК: G01B 11/02, G01B 11/24

Метки: легкодеформируемых, периметров, поперечных, сечений

...валиков ипо другую сторону от валиков относительно источника излучения, фото"приемник оптически связан с источником излучения через щелевую диафрагмуи винтовую прорезь цилиндра, а выходфотоприемника подключен к электроннойизмерительной схеме. ра 2 с винтовой прорезью, на которойнанесены масштабные метки, и фотоприемники 3, размещенные внутри цилиндра 2 источник 4 излучения, преобразователь 5 положения направляющих валикови электронную измерительную схему 6, к входам которой,подключены выходы фотоприемника 3 ипреобразователя 5. Источник 4 излучения предназначен для освещения валиков 1, которые установлены так, чтоих оси параллельны, а образующими ва"ликов 1 сформирована щеленая диафрагма в потоке излучения от источника 4.1460599...

Прибор для вычерчивания сечений поверхностей вращения

Загрузка...

Номер патента: 1511155

Опубликовано: 30.09.1989

Авторы: Чуб, Яблонский

МПК: B43L 11/00

Метки: вращения, вычерчивания, поверхностей, прибор, сечений

...комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г,Ужгород, ул. Гагарина,10 3 151115Изобретение относится к чертежным приборам для воспроизведения кривых, в частности сечений поверхностей вращения, и может быть использовано, например, в учебном процессеВУЗов.Целью изобретения является расширение диапазона воспроизводимых кривых. 1 ОНа чертеже показан прибор, общий вид.Прибор имеет установленную на основании 1 стойку 2 с линейной шка" лой 3, установленной на стойке 2 пол эун 4 с фиксатором 5 и лимбом 6. На ползуне 4 Фиксатором 7 закреплен кронштейн 8, на котором смонтирован поворотный зажим 9 с лимбом 10. В зажиме 9 с помощью Фиксатора 11 зак реплена...

Реласкопическо-перечислительный способ определения текущего прироста суммы площадей поперечных сечений деревьев

Загрузка...

Номер патента: 1544286

Опубликовано: 23.02.1990

Автор: Подмаско

МПК: A01G 23/00

Метки: деревьев, площадей, поперечных, прироста, реласкопическо-перечислительный, сечений, суммы, текущего

...коэффициенте 1 с, при 11,0 с =2,0,Значение текущего периодического прироста суммы площадей поперечных 20 сечений деревьев (в м /га) будет равно количеству учтенных деревьев, т.е. обмеренных деревьев, для которых верны приведенные неравенства. В техгслучаях, когда 5 (й,-1; )г, деревья 25 учитываются два за одно, т,е, каждое такое дерево учитывается за 0,5 м /га,2 П р и м е р. В 45-аетнем сосняке 1 класса .бонитета у 30 деревьев раз Юличных ступеней толщины было взято по одному керну. Отбор кернов осущест- . влялся буравом Пресслера, Бурение производили на высоте груди (1,3 м) в произвольном направлении. Отбор де- З 5 ревьев был случайным и производили равномерно но диагональному ходу, пересекающему весь таксируемый древостой. Керны...

Способ определения глубины горизонтальных сечений в подземном резервуаре при звуколокационной съемке

Загрузка...

Номер патента: 1571226

Опубликовано: 15.06.1990

Авторы: Лебедева, Пузырев, Чигиринский

МПК: E21B 47/04

Метки: глубины, горизонтальных, звуколокационной, подземном, резервуаре, сечений, съемке

...можно составить аналогичные уравнения и для угловых перемещений гребенки регистратора(2) Изменение характера регистрируемыхна диаграмме сигналов происходит в мо 5 157глубин до прохожденияснарядом башмака колонныДля определения Ь , соответствующей Н , производят перемещение скважинного снаряда в пределах интервалаглубин, включающего башмак колонны,Направление перемещения (вверхили вниз) определяется исходным положением скважинного снаряда передначалом движения. Если в начальныймомент скважинный снаряд находилсявыше башмака колонны (Ь 1 с Ь ) то онперемещается вниз до отметки Ь , которая будет ниже башмака колонны(Ьг ) Ь). Если в исходный моментскважинный снаряд находился ниже башмака колонны, то перемещение егоосуществляется вверх,...

Кантователь заготовок прямоугольного и квадратного сечений на 90

Загрузка...

Номер патента: 1576217

Опубликовано: 07.07.1990

Авторы: Васильев, Гасилин, Крупский, Ларин, Шарипов, Шумских

МПК: B21B 39/22

Метки: заготовок, кантователь, квадратного, прямоугольного, сечений

...заготовок, имеющих кривизнуК в пределах установленных допусков. 35 ФВ известном решении при движениитележки кантователя на расстояние,равное ширине одной из разложенныхперед ним заготовок, осуществляется 40процесс кантовки другой заготовки,подошедшей к задней грани клина. Приэтом скантованная заготовка падаетна освободившееся место, равное величине перемещения клина. При идеально ровных квадратных заготовках процесс кантовки может идти успешно,При имеющейся кривизне Й, характерной для прокатных заготовок, и допускаемой, например до 10 мм на 501 пог.м (что составляет стрелу прогиба 40 мм при четырехметровой длинезаготовки), а также в случае кантовки проката прямоугольного сечения сузкой грани на широкую, освободившегося места...

Устройство для контроля контура тоннелей круглых сечений

Загрузка...

Номер патента: 1085312

Опубликовано: 07.11.1990

Авторы: Горовиц, Жидкин, Менакер, Осипов

МПК: E21C 35/24

Метки: контура, круглых, сечений, тоннелей

...за про- ,движением забоя выработки, чтобыустанавливать проектные размеры светового кольца,Целью иэооретения является повышение точности и снижение трудоемкости контроля, 15Поставленная цель достигаетсятем, что устройство для контроля контура тоннелей круглых сечений, содержащее оптический источник излучения и объектив расположенные на одной,оптической оси, входную и выходную пентапризмы, установленные с возможностью их совместного соосноговращения с помощью привода таким образом, что ось вращения входной пентаприэмы совпадает с оптической осьюоптического источника излучения и объектива, снабжено окуляром, установленным между оптическим источникомизлучения и входной пентапризмой, авыходная пентапризма установлена свозможностью...

Устройство для контроля контура тоннелей круглых сечений

Загрузка...

Номер патента: 659054

Опубликовано: 07.11.1990

Авторы: Виселев, Жилкин, Зацарипный, Левитин, Менакер, Осипов, Смирнов

МПК: E21C 35/24

Метки: контура, круглых, сечений, тоннелей

...контроля контура, оноснабжено входной и выходной пентапризмами, установленными с воэможностью их совместного соосного вращения, причем ось вращения входнойпснтапризмы совпадает соптическойосью источника излучения и объектива.659054 Корректор Л. Бе Техред Л,Сердюкова дактор Л.Письм Заказ 4349 Тираж 391 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 мбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 10 ственно-издательский Прои.Иа чертеже приведена оптико-кинематическая схема устройства.Устройство состоит из оптического (лазерного) источника 1 излучения, оптической системы 2, включающей входную 3 и выходную 4 пента- призмы, объектив 5. Источник 1 излучения и...