Патенты с меткой «поглощения»

Номер патента: 1367766

Опубликовано: 15.08.1994

Авторы: Бугров, Иванов, Кочетков, Литвинов, Яльцев

МПК: F16F 7/12, H01J 5/02

Метки: нагрузок, поглощения, прибора, ударных, электровакуумного

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОГЛОЩЕНИЯ УДАРНЫХ НАГРУЗОК ДЛЯ ЭЛЕКТРОВАКУУМНОГО ПРИБОРА, содержащее корпус, снабженный цилиндрической камерой с крышкой, соосно размещенные под крышкой зажимное кольцо и защитную рамку и размещенный на дне камеры опорный элемент с амортизирующей прокладкой для установки электровакуумного прибора, отличающееся тем, что, с целью повышения эффективности гашения ударных знакопеременных нагрузок электровакуумного прибора с двумя торцовыми рантовыми спаями, опорный элемент выполнен в виде цилиндрической втулки с кольцевым уступом на внешней части торцовой поверхности, высота которого превышает толщину амортизирующей прокладки, а защитная рамка выполнена в виде кольца, снабженного внутренним и внешним фланцами и установленного с...

Номер патента: 1220475

Опубликовано: 27.06.1995

Авторы: Бураков, Михнов, Хулугуров, Чепурной, Шкадаревич

МПК: G02F 1/35

Метки: затворах, коэффициента, кристаллов, окраски, основе, остаточного, пассивных, поглощения, центрами

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОСТАТОЧНОГО ПОГЛОЩЕНИЯ В ПАССИВНЫХ ЗАТВОРАХ НА ОСНОВЕ КРИСТАЛЛОВ LIF С F-2 -ЦЕНТРАМИ ОКРАСКИ в спектральной области 0,9 1,15 мкм, включающий просвечивание кристалла излучением, измерение пропускания, отличающийся тем, что, с целью упрощения и удешевления способа, просвечивают кристалл излучением от стабилизированного источника, измеряют пропускание на длине волны 1,15 1,04 мкм, а коэффициент остаточного поглощения Kн определяют по формулеKн Al-1lnT-1,где l длина кристалла;A эмпирический коэффициент;T период.

Номер патента: 1774689

Опубликовано: 10.01.1996

Авторы: Горбунов, Рогова, Старковский

МПК: E21B 33/138

Метки: водопритока, зоны, изоляции, поглощения

СПОСОБ ИЗОЛЯЦИИ ВОДОПРИТОКА И ЗОНЫ ПОГЛОЩЕНИЯ путем закачки в пласт состава, содержащего полимер, жидкое стекло, кислоту и воду, отличающийся тем, что, с целью увеличения прочности геля и тыльной части его оторочки при повышенном давлении нагнетания, состав закачивают одновременно-раздельно в виде двух потоков, один из которых содержит полимер, жидкое стекло и воду, другой - водный раствор кислоты, а после смешения потоков дополнительно закачивают водный раствор кислоты с концентрацией, равной концентрации кислоты второго потока, в количестве 5 - 35% от общего объема состава, при этом в качестве полимера в составе используют гипан при следующем соотношении компонентов, мас.%:Гипан - 0,01 - 1,00Жидкое стекло - 2,0 - 6,0

Номер патента: 1646371

Опубликовано: 27.11.1998

Авторы: Думеш, Швецов

МПК: G01J 5/58

Метки: веществе, излучения, поглощения, электромагнитного

Способ измерения поглощения электромагнитного излучения в веществе, включающий пропускание через анализируемый образец импульсно-модулированного излучения и регистрацию посредством термометра тепла, выделившегося в образце в результате преобразования поглощенного излучения, отличающийся тем, что, с целью расширения видов исследуемых объектов, анализируемый образец размещают в сверхтекучем гелии, с помощью акустического резонатора концентрируют тепловые волны, возникающие в гелии в результате преобразования поглощенного образцом излучения, на термометр, измеряют их интенсивность и по ней судят о поглощении излучения исследуемым образцом.

Номер патента: 1505166

Опубликовано: 10.01.2000

Авторы: Дикаев, Лысогоров, Миргородский, Ревенко, Сандомирский

МПК: G01N 21/39

Метки: коэффициента, оптического, поглощения

Способ измерения оптического коэффициента поглощения материала, включающий последовательное облучение исследуемого участка материала пучками оптического излучения с рабочей p и калибровочной к длинами волн, промодулированными по амплитуде с одинаковой частотой, и измерение на этих длинах волн величин мощности P1 и P2 падающего излучения, отличающийся тем, что, с целью расширения класса исследуемых материалов и диапазона длин волн рабочего излучения и повышения точности, при облучении последовательно регистрируют...

Номер патента: 1394899

Опубликовано: 27.07.2000

Авторы: Киселев, Козленко, Легостаев, Овчаров

МПК: G01N 21/17

Метки: короткоживущего, лазерных, материалах, поглощения, фотоиндуцированного

1. Устройство для измерения фотоиндуцированного короткоживущего поглощения в лазерных материалах, содержащее облучатель и источник зондирующего излучения в виде импульсных ламп, монохроматор, фотоэлектрическую схему регистрации, блоки управления и питания, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и расширения временного диапазона измерений, источник зондирующего излучения выполнен в виде прямой импульсной лампы, в одном торце которой расположен катод, а другой торец, служащий выходным окном, выполнен в виде плоскопараллельной пластины, прозрачной в диапазоне длин волн от 190 до 1000 нм, при этом анод расположен перпендикулярно разрядному каналу со стороны выходного окна и выведен...

Номер патента: 915594

Опубликовано: 27.01.2002

Авторы: Косвинцев, Кушнир, Морозов, Терехов

МПК: G01T 1/34, G01T 3/00

Метки: материалах, нейтронов, поглощения, сечения, ультрахолодных

Способ определения сечения поглощения ультрахолодных нейтронов в материалах, состоящий в облучении исследуемого материала потоком тепловых нейтронов и измерении количества ультрахолодных нейтронов, образовавшихся при взаимодействии тепловых нейтронов с материалом, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения сечения поглощения, исследуемый материал облучают импульсами тепловых нейтронов и измеряют изменение во времени количества нагретых ультрахолодных нейтронов после облучения, по которым вычисляют искомое сечение.