Способ измерения оптического коэффициента поглощения материала

Описание

Способ измерения оптического коэффициента поглощения материала, включающий последовательное облучение исследуемого участка материала пучками оптического излучения с рабочей p и калибровочной к длинами волн, промодулированными по амплитуде с одинаковой частотой, и измерение на этих длинах волн величин мощности P1 и P2 падающего излучения, отличающийся тем, что, с целью расширения класса исследуемых материалов и диапазона длин волн рабочего излучения и повышения точности, при облучении последовательно регистрируют сигналы U1 и U2, пропорциональные амплитудам тепловых волн, возбуждаемых в материале пучками оптического излучения с длинами волн p и к, при этом значение к выбирают из условия полного поглощения в материале вошедшей в него части излучения с длиной волны к и при облучении исследуемого участка материала пучком оптического излучения с длиной волны к дополнительно регистрируют мощность P20 части этого излучения, отраженной от поверхности материала, а величину оптического коэффициента поглощения K рассчитывают по формуле

Заявка

4321049/25, 09.09.1987

Дикаев Ю. М, Лысогоров О. С, Миргородский В. И, Ревенко В. И, Сандомирский В. Б

МПК / Метки

МПК: G01N 21/39

Метки: коэффициента, оптического, поглощения

Опубликовано: 10.01.2000

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1505166-sposob-izmereniya-opticheskogo-koehfficienta-pogloshheniya-materiala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения оптического коэффициента поглощения материала</a>

Похожие патенты