Патенты с меткой «кривизны»

Номер патента: 1355318

Опубликовано: 30.11.1987

Автор: Пасечников

МПК: B21D 7/12

Метки: гибки, кривизны, переменной

...оси 20 в направле 5 нии подачи на некоторую заранее заданную величину и с помощью винта 16, гайки 17 и прижимной планки 18 закрепляют на нем датчик 5 таким образом, чтобы площадка Б кронштейна 15 контактировала с плоскостью торца заготовки 1, а площадка А - с верхней или нижней поверхностью заготовки 1,причем, если ось 20, вокруг которой в процессе гибки разворачивается корпус 19 датчика 6, совпадает с образующей поверхности нижнего валка 3, то площадка А должна совпасть с нижней поверхностью заготовки 1. В этом случае линия Ь, очерчивающая нижнюю границу поперечного сечения заготовки 1, служит Формируемым контуром изделия 1, точка пересечения линии Ь с плоскостью Б - начальной точкой И контура заготовки, 25 точка пересечения...

Номер патента: 1359664

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Поздняков, Тхор

МПК: G01B 9/02

Метки: зеркала, кривизны, крупногабаритного, плоского, поверхности, радиуса, среднего

...зеркала 2. Регистрируют рического зеркалаф иа фиг, 2 - схема З 0 на фотопленку интерференционную карполучения интерферограммы при паде- тину, измеряют астигматизм волнового нии по нормали к контролируемому фронта и определяют радиускривизны плоскому зеркалу параллельного пучка контролируемого плоского зеркала получей. формулергсоз 1 81 пг 1В, цсоз 1 соз 1+1з г2% дИ -ЬНг 81 пг( соя 1+сОБсОБ ( соя 1+81 п цгде К 40 50- радиус кривизны контролируемого плоского зеркала; - световой диаметр контролируемого плоского зеркала - длина волны светового излучения- размах астигматической ошибки в деформации волного фронта в схеме при наклонном падении на контролируемую поверхность расходящегося светового пучка, выходящего изцентра кривизны...

Номер патента: 1379592

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Демешко, Дисковский

МПК: G01B 5/22

Метки: кривизны

...с периферийной обраэующей измеряемой поверхности. Впазу 4 основания 1 установлен отсчетный узел 5 для измерения кривизныповерхности с возможностью возвратнопоступательного перемещения и фиксации вдоль биссектрисы угла, в вершине которого расположена опора 3. Устройство снабжено дополнительным отсчетным узлом 6 для контроля ориентации устройства относительно изме ряемой поверхности, установленным между опорами 2 на пересечении линии, проведенной между опорами, и биссектрисы угла, в вершине которого расположена опора Э.35Устройство работает следующим обпазом.При измерении кривизны сферических поверхностей отсчетный узел 5 закрепляют в точке пересечения высот опорного треугольника. Прибор последовательно устанавливают на...

Номер патента: 1379615

Опубликовано: 07.03.1988

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/255

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической

...4 и 3,где а =А-А, - разность отсчетов в положениях зеркал3 ирасстояние междуотражающими поверхностями зеркал 3и 4;расстояние от точки Р до поверхности зеркала 2,При измерении радиуса кривизны поверхности детали приемлемая точность достигается при смещении зеркал 3 и 4 на величину а, не превышающую 300-400 мм, а диапазон измерений величин К большой. формула изобретения30 Устройство для измерения радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали, содержащее автоколлимационный микроскоп, механизм перемещения и отсчетную шкалу с индекопределяют по резкому автоколлимационному изображению сетки микроскопа 36 1. Затем устанавливают зеркала 3 и 4. Зеркала смещают по направлению к автоколлимациоцному микроскопу 1 до совпадения точки Р...

Номер патента: 1388138

Опубликовано: 15.04.1988

Авторы: Ануфриев, Володин, Зайцев, Иванов, Куркин, Саломатов

МПК: B21D 1/08, B21D 3/02

Метки: изделиях, кривизны, местной, полых, правки

...планшайбы 2, При этом ролик 8 совершает возвратно-поступательное движение, оправка 1 с деталью 3 вращается, образуя зигзагообразную траекторию перемещения ролика по поверхности детали,В процессе деформирования происходит раздача металла в радиальном итангенциальном направлениях, увеличи"вается периметр сечения детали 3, устраняя хлопун. Под действием усилия,создаваемого тарельчатой пружиной 6,деталь 3 проседает с постепенным приближением ее контуров к контуру поверхности контрольной оправки 1.Аналогичные операции правки детали производят до тех пор, пока еевнутренняя поверхность полностью неложится на поверхность контрольнойоправки. Отсутствие хлопунов определяют легким постукиванием слесарныммолотком по всей наружной поверхностидетали....

Номер патента: 1397723

Опубликовано: 23.05.1988

Авторы: Королев, Сенаторов

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: асферической, кривизны, поверхности

...на фиг. 3 -наблюдаемая интерференционная картина.Схема контроля содержит высокоточное плоскопараллельное эталонноепробное стекло 1, проверяемую цилиндрическую деталь 2, оптически койтактирующую со стеклом 1 по линиям 3и 4 и так дальше в процессе обкатывания по стеклу 1, и регистрирующийпРибор 5,Способ осуществляют следующим образом,Приводят контролируемую деталь 2в оптический контакт с пробным стеклом 1 и наблюдают интерференционнуюкартину между ними, по которой судят 30о кривизне контролируемой поверхности.Затем обкатывают контролируемую цилиндрическую поверхность детали 2 попроЬному стеклу 1, сохраняя оптический контакт вдоль образующей цилинд 35рической поверхности, При оЬкатке науголлиния контакта перемещаетсяиз положения 3 в...

Номер патента: 1399083

Опубликовано: 30.05.1988

Авторы: Фельдман, Фридман, Юнусов

МПК: B24B 5/12

Метки: вращения, кривизны, переменной, поверхностей, полирования, тел, шлифования

...совпадающих с теоретической поверхностьюНа Фиг. 1 изображена схема, пояс,якщая способ установки сферической .,етали; ца фиг.2 - то же, вид в планеСпособ осуществляют следующим об 5 угольник ащдует, чта ш следовэт пь а,разом.Определяют точку а касания горизонтальной плоскости со сферическойповерхностью обрабатываемой детали 1(фиг.1 и 2), например, с цеховогопортального крана,Через точку а проводят (в пределах 25Оуг .а 360 ) несколько следов верти;,алей (не показаны), например, помечая проекции нити с грузом, подвешенным свободно, проходящие черезточку а . Искомый центр сферическойповерхности располагается на продолжении следов этих вертикалей,На одном из таких следов располагают центр окружности диаметром Й иизмеряют расстояние Ь между...

Номер патента: 1402802

Опубликовано: 15.06.1988

Автор: Ребров

МПК: G01B 9/02

Метки: кривизны, плоской, поверхности

...сравнения.Предложенный способ реализуется с помощью устройства (см. фиг. 1), содержащего точечный источник 1 когерентных пучков лучей, последовательно установленные по ходу лучей точечного источника 1 светоделитель 2, коллиматорный объектив 3, в передней фокальной плоскости которого установлен точечный источник 1, объект 4 сравнения, а также диафрагму 5, оптически сопряженную со светоделительной плоскостью светоделителя 2 в передней фокальной плоскости объектива 3.Контролируемый объект 6 устанавливают между объективом 3 и объектом 4 сравнения так, чтобы их рабочие поверхности были параллельны, а нормали к ним совпадали с оптической осью устройства,При определении дефокусировок используют (см. фиг, 2) интерферометр 7, коллиматорный...

Номер патента: 1411576

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Авдеев, Куренкова, Скрипаль, Тупикин, Усанов

МПК: G01B 11/255, G01B 9/02

Метки: кривизны, объектов, поверхностей, радиуса, сферических

...равная расстоянию между плоскостямиВВи ВВ (Фиг 1),с - скорость света;И - время когерентности;Л - средняя длина волны немонохроматического излучения винтервале длин волн от Л доЛ+д Л,Немонохроматическое излучение можно представить как совокупность когерентных монохроматических компос нент, занимающих некоторый диапазон длин волн от Я до Л+ йЯ, Каждая моно- хроматическая компонента образует свою интерференционную картину. Полная интенсивность в любой точке равна сумме интенсивностей, создаваемых каждой монохроматической составляющей. При использовании немонохроматического источника белого света (диапазон длин волн 0,4 - О, 7 мкм), ш с Л /йЛ 2, интерференционная картина имеет слеетра тину с еренционную кар иус, о т л и ччто, с целью...

Номер патента: 1413402

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Линдер, Отто, Очередько

МПК: G01B 5/213

Метки: кривизны, радиусов

...внутренних по верхностей при контроле изделий.Цель изобретения " повышение точности измерений и расширение номенклатуры измеряемых деталей.На фиг. 1 представлено устройство, 10 общий вид; на фиг.2 - разрез А-А на фиг. 1; на фиг, 3 - разрез Б-Б на фиг. 1.Устройство содержит корпус 1 и три размещенных в нем стержня 2-4. Все стержни имеют в средней части зубчатую 15 нарезку, взаимодействующую с зубчатой шестерней 5, имеющей шкалы 6 и 7 и стрелки 8 и 9. В опорной пластине 10 выполнены отверстия, в которые установлены боковые стержни 3 и 4, охва тывающие стержень 2 с противоположных сторон, Стержень 2 снабжен индикато-ром 11 касания.Устройство работает следующим образом. 25Перед началом работы устройство настраивают по эталону,...

Номер патента: 1413403

Опубликовано: 30.07.1988

Авторы: Ветчинов, Новиков, Поляков, Тихонов

МПК: G01B 5/22

Метки: кривизны, отклонений, поверхности, радиуса, сферической

...с ним осевого перемещения, а продольные осинаконечников расположены под острымуглом одна к другой. Составитель Р,Жальнерович Редактор А,Маковская Техред. М.Ходанич Корректор Л.ПатайЗаказ 3765/40 Тираж 680 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике,Целью изобретения является повышение точности и производительности измерения.На чертеже представлено устройстводля измерения радиуса кривизны и отклонений поверхности от сферической,общий вид.10Устройство содержит корпус 1, накотором установлены центрирующая опора2 и державка Э. На державке 3 закреплен...

Номер патента: 1415031

Опубликовано: 07.08.1988

Авторы: Бессараб, Верховский, Ковалышин, Лозинский, Мамедов, Михайлив, Никифорук, Степнов, Чекмарев

МПК: G01B 5/22

Метки: внутренней, кинескопа, кривизны, поверхности, экрана

...которых ЛК, х квивалецтцо выражениюау-(В,)-1 =0; тельной установке, называемую номинальнойсферой, с радиусом К+о; и реальную сферус центром О, и радиусом К + ЬК . Центр О,реальной сферы всегда смещен относительно центра О. Выбираем систему координатс началом в точке О и расположением осей,показанных на фиг. .Вьразив церез параметры номинальнойсферы координаты произвольной точки Кюлучаем следующие зависимости10 Х,= (К+6;) Яп".), Сов(,;Р,=(К+6,) Япй )пг,;2= (К+6) Совйгде ХЯ Х;координаты точки К измеряемой внутренней поверхностиэкрана кинескопа;К -- расчетный радиус внутреннейповерхности экрана, заданнойчертежом;), . приращение радиуса измеряемой поверхности экрана изцентра цоворта измерительного преобрзователя;О . угол наклона...

Номер патента: 1415044

Опубликовано: 07.08.1988

Автор: Гриев

МПК: G01B 7/13

Метки: кривизны, объектов, радиуса, электропроводных

...4-5, к 25которым подключен блок питания и индикации, включающий в себя источник6 питания и усилительный блок 7 синцикаторными лампами 8, например,различного цвета. Контакты 2-5 элек Отроизолированы от калибра 1 (возможно выполнение калибра 1 из электро -изоляционного материала) и высту -пают над его поверхностью, образуяучастки эталонной поверхности, приводимой в процессе контроля в контакт с поверхностью объекта 9 контроля. Контакты 2-3 первой пары установлены на меньшем расстоянии между собой, чем контакты 4-5 второй пары и 40размещены в промежутке между ними,Форма калибра 1 зависит от формы подлежащего контролю объекта 9, благодаря чему данное устройство может 45 быть использовано для контроля отверстий или канавок (фиг. 2) и для...

Номер патента: 1159431

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Бондаренко, Еремина, Макаров

МПК: G02F 1/37

Метки: волнового, гауссовых, импульсных, кривизны, лазеров, пучков, радиуса, сферического, фронта

...РР2 Р,где Р - минимальная величина мощкрности, при которой наблюдается самофокусировка пучка, координаты точекеамофокусировкй вдоль направленияраспространения пучка составляют некоторую область. При этом дальняяграница области совпадает с центромкривизны входного лучка. Таким образом, расстояние Ь от входной плоскости среды до дальней границы области равно радиусу Кзкривизныволнового фронта пучка на входной плоскости среды (К1 /и ),Точность предлагаемого способаизмерения радиуса К кривизны волнового фронта зависит от точности аЬопределения дальней границы области,связанной с конечным продольным раз"мером нелинейного фокуса.Эксперименты по изучению продольной структуры поля в точке самофокусировки в реальной среде (стекле)показали, что...

Номер патента: 1421990

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Ларионов, Лукин, Маврин, Мустафин, Рафиков, Федорова

МПК: G01B 9/02

Метки: кривизны, оптических, поверхностей, радиусов

...держателяобразцовый оптический элемент 8 иустанавливают в держатель контролируемый оптический элемент 11, после чего перемещают держатель в положение, при котором обеспечиваетсяавтоколлимационный ход лучей в устройстве, при этом контраст интерференционных полос на экране регистрирующего блока будет максимальным,после чего снимают второй отсчетизмерителя 9 перемещений, По разности двух отсчетов определяют знаки величину отклонения радиуса кривизны контролируемой поверхности отноминального значения,/Установка корригирующей голограммы 7 позволяет уменьшить сферическую аберрацию телескопической системы 4, что приводит к повышению контраста интерференционной картины, аследовательно, и точности измерения за счет повьюпения точности продольной...

Номер патента: 1428902

Опубликовано: 07.10.1988

Автор: Алексеев

МПК: G01B 5/20

Метки: кривизны, прокатывании, трубы

...трубыхиХ " расстояние от направляющеи Составитель В.СыроватскийТехред М,Дидык Корректор Л.1 атай Редактор А,Шандор Заказ 5111/35 Тираж 680ВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий13035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Подписное Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение относится к контрольно-измеритейьной технике и может быть использовано при определении кривизны бурильных труб на автоматических сортировальных устройствах.Целью изобретения является повьппение точности определения кривизны.Способ определения, кривизны трубы при прокатывании осуществляют следующим образом.Трубу размещают на двух наклонных направляющих симметрично относительно ои, а направляющие...

Номер патента: 1446468

Опубликовано: 23.12.1988

Авторы: Дашкиев, Козынко, Михлевский, Никитин, Пушкин, Тесленко, Филатов

МПК: G01B 13/24

Метки: измеритель, кривизны, пневматический

...2 сопла 3, подводящую и отводящую трубки 4 и 5 соответственно. Стакан 1 жестко закреплен на деформируемой поверхности фтрубы 6 нагрева парового котла, Вднище стакана 1 выполнено колиброванное отверстие 7. Сопла 3 размещеновнутри стакана у его днища соосноотверстию и скреплено с открытым торцем стакана.Деформируемый стакан 1 с радиусом кривизны Урасположен на изогнутой трубе 6 диаметром П с радиусом кривизны р, . Линия ас изобра Ожает положение оси сопла 3. По трубке4 подводится сжатый воздух, которыйотводится по трубке 5,При изменении кривизны поверхноститрубы 6 происходят деформация стакана и перемещение заслонки 2 относительно сопла 3 в направлении, перпендикулярном его оси на величину аа,изменение проходного сечения выходного...

Номер патента: 1449842

Опубликовано: 07.01.1989

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/27

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической

...образом. 20По ходу излучения за объективом 1устанавливают измеряемую деталь 2так, что излучение, выходящее из объектива 1, фокусируется в вершину 0измеряемой детали 2. При этом опреде 25лявт положение А детали 2. Затем деталь 2 смещают вдоль оптической осиобъектива 1 до тех пор, пока излучение, выходящее из объектива 1, послеотражения от поверхности измеряемои30детали 2 не сфокусируется в центркривизны С поверхности объектива 1,обращенной к измеряемой детали 2, иопределяют положение А детали 2.Точность фокусировки в обоих случаяхопределяется по резкому изображениюсетки микроскопа или соответствующейкартине в интерферометре, выходнымоптическим элементом которых является объектив 1. Определив разность заФиксированных отсчетов в...

Номер патента: 1453155

Опубликовано: 23.01.1989

Авторы: Гуревич, Киселев

МПК: G01B 5/22

Метки: кривизны, поверхностей, радиусов

...- расширение диаг 1 азона измерения и обеспечение воз 5ложности считывания результата измерения непосредственно со шкалы отсчетйой головки,На чертеже изображено устройство,сбщий вид.10 Устройство состоит из отсчетной головки 1 с гильзой 2, внутри которой оходит измерительный стержень с нанечником 3. Устройство снабжено умя соосно установленными втулками и 5, первая из которых закреплена а гильзе 2, а вторая - на измериельном стержне, Баэирующий элемент ыполнен в виде двух наконечников б, 20 симметрично расположенных относительо измерительного стержня, на которых шарнирно закреплены тяги 7 и 8., связывающие наконечники с втулками 4 и 5 Соответственно. Тяги закреплены на 25 втулках шарнирно, В зависимости от гого, выпуклая либо вогнутая...

Номер патента: 1460598

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Сойту, Трегуб

МПК: G01B 11/27, G01B 9/02

Метки: интерферометр, кривизны, отражающих, поверхностей, радиусов

...поверхности совпадал с центром кривизны высокоточной поверхности сравнения мениска 7. Отра зившись от контролируемого объекта 1 световой поток, не измеяя своего сферического волнового фронта (при качественном изготовлении контролируемого объекта), возвращается в строго обратном направлении и на высокоточной поверхности сравнения мениска 7 интерферирует с вторым световым потоком, образуя интерференционную картину, которая при помощи линз 6 и 4, светоделительной пластины 3 и окуляра 5 рассматривается в поле зрения окуляра 5.Микросмещени-. ем контролируемого объекта 11 в направлении, перпендикулярном оптической оси, добиваются наличия в цоле зрения окуляра 5 определенного (в зависимости от метода обработки интерференционной картины)...

Номер патента: 1460600

Опубликовано: 23.02.1989

Авторы: Бакеркин, Контиевский

МПК: G01B 11/255

Метки: кривизны, оптических, поверхностей, радиуса, сферических

...1 фокусируют на контролируемую поверхность 2 40 (положение автоколлимационного микроскопа показано пунктирными линиями) и измеряют расстояние между двумя положениями .автоколлимационного микроскопа 1. По измеренному 45 расстоянию между двумя положениями автоколлимационного микроскопа 1 оп-. ределяют радиус кривизны контролируемой поверхности 2. При фокусировке автоколлимационного микроскопа 1 на контролируемую поверхность 2 экран б убирают, а плоскопараллельную пластину 4 смещают по направлению к автоколлимационному микроскопу 1 или выводят иэ хода лучей. Если плос. копараллельная пластина 4 остается55 в ходе лучей, то радиус кривизны контролируемой поверхности 2 равен расстоянию между двумя положениями автоколлимационного микроскопа...

Номер патента: 1474457

Опубликовано: 23.04.1989

Автор: Деомидов

МПК: G01B 11/25, G01B 11/255

Метки: кривизны, локальной, поверхности

...отрезка ООПусть поверхность О С - контролируемая поверхность 5 подложки с неизвестным радиусом кривизны К ,. Лучи,идущие по нормали к поверхностиО С, собираются в точке Е на оптической оси объектива 3, причем расстояние РЕ определяется по формулеНьютона 1 г РЕ = -- й кИз подобия треугольников ЕАЭ и35 ЙЕСО получают ЕЭ=Р -- (по аналогииХосс эталонной поверхностью). 40 Хов Е ос). (1) 1Х ос 45 На Фиг,1 обозначены регистрируемая (и+2)-я полоса 6, видимая на фоне контролируемой поверхности 5;полоса 7, видимая на фоне поверхности 4 (на данной схеме может быть зарегистрирована при отсутствии.подложки) регистрируемая (и+1)-я полоса 8, видимая на фоне поверхности 5, регистрируемая и-я полоса9 видимая на фоне поверхности 5.Из подобия...

Номер патента: 1479148

Опубликовано: 15.05.1989

Авторы: Буйняченко, Равич

МПК: B07C 5/342

Метки: кривизны, плоских, поверхностей

...что с его помощью среди прочих неровностей на поверхности предмета можно определять неровности с заданными параметрами, например какие-либо символы. Кроме того, способ дает возможность осуществлять контроль поверхности предметов, перемещаемых непрерывным потоком и с большой скоростью,Устройство для осуществления предлагаемого способа включает транспортер 1 для перемещения банок 2, установленный над ним датчик 3 для измерения изменений высоты на поверхности банки, датчик 4 для определения положения банки относительно датчика 3, передатчик 5, коммутатор 6, формирователь 7 диаграммы направленности, приемник 8, исполнительный механизм 9 для отбраковки неправильно ориентированных банок. Датчик 4 дает разрешение на работу приемника 8 при...

Номер патента: 1480922

Опубликовано: 23.05.1989

Авторы: Абудаев, Мухин, Попереченко, Русаков

МПК: B21D 5/14

Метки: двойной, кривизны

...пружинения материала должен обеспечить поперечный радиус гибки г заготовки, и глубина внедрения Н., обеспечивающая гарантированное сопряжение заготовки с жестким валком 2. Гибка по этой схеме обеспечивает формообразование заготовки с поперечным радиусом кривизны, большим заданного на готовой детали, приближающимся к радиусу кривизны жесткого валка, и характеризуется высокой точностью и стабильностью, так как позволяет исключить влияние на точность радиуса гибки таких факторов, как отклонение от номинальных значений радиуса валка с эластичным покрытием К, толщины покрытия К глубины внедрения Н,. Приэтом происходит изменение метрики поверхности заготовки до заданной на готовой детали величины.Настройку машины на второй и третий переходы...

Номер патента: 1490454

Опубликовано: 30.06.1989

Авторы: Глядчишина, Коваль, Негода, Пряник

МПК: G01B 7/06

Метки: вихретоковых, влияния, кривизны, основания, отстройки, покрытий, радиуса, толщиномеров

...представить в виде графиков зависимости поправки от радиуса кривизны и толщины покрытия. Затем перед измерением устанавливают вихретоковый преобра 45 зователь на плоский образец основаВния с минимальной толщиной покрытия, определяют требуемую величину поправки для заданных толщины покрытия и радиуса кривизны основания, С помощью регулирования компенсирующих блоков толщиномера изменяют на егоиндикаторе величину на значение поправки. Аналогичные операции проделывают для максимальной толщиныпокрытия, изменяя показания индикатора путем регулирования коэффициента усиления и эмерител ьно го канала,Формула изобретения1, Способ отстройки вихретоковыхтолщиномеров покрытий от влияниярадиуса кривизны основания, заключающийся в том, что с...

Номер патента: 1497585

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Бугров, Шишов

МПК: G01R 27/26

Метки: емкостный, имеющих, кривизны, неметаллических, поверхности, различной, сложной, твердых, формы

...Сердечник имеет5 Опрофильную часть 17. Между корпусам 12 и сердечником 16 находится упругий элемент 18, который выталкивает сердечник из корпуса, Пружина 19сжимает рычаги 3 и 6 и заставляет выступы 20 и 21 рычагов опираться напрофильную часть 17 сердечника,Преобразователь работает следующим образом,Сердечником 16 прикасаются к цилиндрической поверхности изделия 22и нажимают на корпус 12, При опускании корпуса 12 сжимается упругий элемент 18 и корпус увлекает эа собойрычаги 3 и 6. Поскольку выступы 20 и21 рычагов опираются на профильнуючасть 17 сердечника, та в зависимостиот характера профильной части концырычагов, к которым прикреплены электроды 1 и 4, могут салижаться илиудаляться друг ат друга,Рельеф профильной части долженбыть...

Номер патента: 1500824

Опубликовано: 15.08.1989

Автор: Рафаилов

МПК: G01C 11/00

Метки: взволнованной, кривизны, моря, поверхности

...-ти определяют искомую кривизну взвол -нованной поверхности моря.ил. Способ осуществляют следующим образом.Определяют приблизительное значение ожидаемой средней кривизны взволнованной поверхности по априорным данным о скоростях ветра (ожидаемых) над водной поверхностью, Для случайной гауссовой поверхности величина средней кривизны определяется моментом 4-го порядка спектра возвышений. Для области основного максимума спектра при скорости ветра 5 м/с величина кривизны СК) = 41 ОсмВремя с экспозиции определяют согласно формуле С = (21 Н + К 1 Н)/ВГР, гдеч и Н - скорость и высота полета;1 - длина штриха смаза, соответствующего ожидаемой средней кривизне. Такдля высоты полета 50 м, скорости10 м/с, фокусного расстояния аппарата Г,= 200 мм...

Номер патента: 1502274

Опубликовано: 23.08.1989

Авторы: Александров, Еремеев, Котляр, Лавров, Михайлова

МПК: B24B 23/02

Метки: виде, вращения, зачистки, кривизны, переменной, тел

...9. Устройство 10 для регулируемого прижатия зачистной головки 11, приводимое во вращение электродвигателем 12, изготовлено на базе секторного моментного цилиндра, состоящего из цилиндра 13, лопасти 14, оси 15, штуцеров 16 для подвода сжатого воздуха к цилиндру 17 и для подачи отработанного воздуха в отсек 18 корпуса 19 зачистной головки, в котором расположен электродвигатель 12. На оси 15 цилиндра 13 закреплены коромысла 20, соединенные жестко скорпусом 19 зачистной головки, а кпротивоположным концам коромысел 20подвешен контргруз 21.1Установка работает следующим образом,Основание 2 перемешается вдольпродольной оси иэделия 1 и устанавливается на заданном расстоянии отизделия 1. Посредством электрическойлебедки 8 перемещается тележка 4...

Номер патента: 1502956

Опубликовано: 23.08.1989

Авторы: Махлина, Полукарова, Юрасов

МПК: G01B 5/22

Метки: вогнутых, выпуклых, кривизны, поверхностей, радиусов, сферических

...где к радиус кривизны выпуклойконтролируемой поверхности;г - радиус кривизны соответст 2вующей вогнутой эталоннойповерхности. 15 пЬ, - Ь 2ф радиус кривизны вогнутой контролируемой поверхности; радиус кривизны соответствующей выпуклой эталоннойповерхности; где К,ь,и Ь - перемещения контролиру 2емой детали относительно Составитель Е. РодионоваТехред И,Дидык Корректор Н. Король Редактор Н. Рогулич Заказ 5076/52 Тираж 683 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб ц. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,101 1. Способ измерения радиусов кривизны вогнутых и выпуклых сферических поверхностей, заключающийся в сравнении...

Номер патента: 1523913

Опубликовано: 23.11.1989

Авторы: Колесов, Кофман, Шепельский

МПК: G01B 13/08

Метки: гидравлическое, кривизны

...дляконтроля износа шеек коленчатых валов,Цель изобретения - повышение точности измерения радиуса, кривизны,На фиг. 1 представлено устройство, общий вид; ца фиг, 2 - схемаизмеренияГидравлическое устройство для измерения кривизны содержит корпус 1 супорами 2 и камерой 3, герметизцрованной гибкой оболочкой 4, винт 5 исильфон 6. Камера выполнена в выемке7 корпуса, в которую вогнута оболочка 4 по радиусу максимально возможного радиуса контролируемого диапазона. Камера сообщена каналами 8 с сильфоном 6 и запорцыми элементами 9 и10, перекрывающими каналы. Элемент 9служит для заправки камеры жидкостью,а к элементу 10 подсоединяется узелотсчета (не показан),Перед измерением устройство настраивают по эталону с радиусом кривизны поверхности...