Способ дефектоскопии движущихся изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1285363
Автор: Слепак
Текст
(З)4 60 7 9 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТ А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(71) Магнитогорский металлургический комбинат им. В. И. Ленина(56) Инструкция по эксплуатации листоисдытательной установки типа ЮРВВ б/390фирмы Ч.Т.А. Ьо 11 пдеп, ФРГ.(54) СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ ДВИЖУЩИХСЯ ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может быть использовано в испытательных установках для непрерывного контроля протяженных изделий. Цель изобретения - повышение точности контроля за счет устранения зависимости результатов обработки выходного сигнала статического дефектоскопа от скорости движения контролируемого изделия. Для этого измеряют амплитуду выходного сигнала статического дефектоскопа через равные отрезки длины изделия, запоминают значения амплитуд выходного сигнала статического дефектоскопа, определяют разность амплитуд текущего и запомненного выходных сигналов статического дефектоскопа и по указанной разности определяют наличие дефектов в контролируемом изделии. 2 ил,1Изобретение относится к неразрушаюшим методам контроля и может быть использовано преимущественно в металлургической промышленности в испытательных установках для непрерывного контроля протяженных изделий.Цель изобретения - повышение точности контроля за счет устранения зависимости результатов обработки выходного сигнала статического дефектоскопа от скорости движения контролируемого изделия. 10На фиг. 1 изображен дефектоскоп, реализующий способ дефектоскопии; на фиг. 2 - диаграммы сигналов, поясняющие способ дефектоскопии,Дефектоскоп содержит импульсный датчик 1 перемещений контролируемого объекта 2 относительно зонда 3 статического дефектоскопа 4, регистрирующее устройство 5, подключенное к выходу статического дефектоскопа 4 через конденсатор 6, выполняющий роль аналогового запоминающего устройства. Параллельно регистрирующему устройству 5 включен ключ 7, управляемый импульсами с импульсного датчика 4 перемещений.Способ дефектоскопии движущихся электропроводяших изделий осуществляется 25 следующим образом.При движении контролируемого объекта 1 относительно зонда 3 статического дефектоскопа 4 импульсы Ч 4 с выхода импульсного датчика 1 перемещений периодически включают ключ 7. При этом конденсатор 6 заряжается до значения амплитуды напряжений 13 з на выходе статического дефектоскопа 4 (фиг. 1). В момент паузы между импульсами 134 ключ 7 размыкается и на регистрирующее35 устройство 5 поступает сигнал 0 ь, равный разности текущих значений сигнала Уз на выходе статического дефектоскопа 4 и напряжений заряда конденсатора 6 (фиг; 2). При плавном изменении мешающих факторов (электромагнитных параметров и толщины объекта, расстояния между зондом и поверхностью объекта и т.п.) на регистрирующее устройство 5 поступают пилообразные импульсы 13, амплитуда которых меньше амплитуды импульса, поступающего на регистрирующее устройство 5 при появлении дефекта под зондом 3 статического дефектоскопа 4. При изменении скорости движения объекта 2 изменяется частота следования импульсов 134, частота включения ключа 7 и, следовательно, частота повторения операции вычитания запомненного и текущего значений выходных сигналов статического дефектоскопа 4. Однако амплитуда пилообразных импульсов аз по-прежнему меньше импульса от дефекта. Тем самым достигается независимость результатов контроля от изменений скорости движения контролируемого объекта 2 и других мешающих факторов.Формула изобретенияСпособ дефектоскопии движущихся изделий, заключающийся в том, что измеряют выходной сигнал статического дефектоскопа, анализируют его с учетом скорости движения контролируемого изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, измеряют выходной сигнал статического дефектоскопа через равные отрезки длины контролируемого изделия, запоминают измеренные значения выходного сигнала статического дефектоскопа, определяют разность текущих и запомненных значений выходного сигнала и по указанной разности определяют наличие дефектов в контролируемом изделии.витель А. ТычИ. Верес776ССР по деламРаущская ндприятие, г. У Соста Техред Тираж омитета С Ж - 35,еское пре Редактор А. Сабо Заказ 7589/45 ВНИИПИ Государственного к 113035, Москва Производственно-полиграфи
СмотретьЗаявка
3882428, 09.04.1985
МАГНИТОГОРСКИЙ МЕТАЛЛУРГИЧЕСКИЙ КОМБИНАТ ИМ. В. И. ЛЕНИНА
СЛЕПАК ВЛАДИМИР СОЛОМОНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/90
Метки: движущихся, дефектоскопии
Опубликовано: 23.01.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1285363-sposob-defektoskopii-dvizhushhikhsya-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ дефектоскопии движущихся изделий</a>
Предыдущий патент: Антенна для измерения влажности почвогрунтов и сыпучих материалов
Следующий патент: Устройство для контроля дефектов в ферромагнитных изделиях
Случайный патент: Гидромашина