Патенты с меткой «анализе»

Номер патента: 1827592

Опубликовано: 15.07.1993

Авторы: Ларкина, Энгельшт

МПК: G01N 21/67

Метки: анализе, возбуждения, спектра, спектральном, эмиссионном

...30, Расстояние между верхней и нижней группами электродов - 20 мм, В качестве источника питания использован высоковольтный двенадцатифазный трансформатор 13 с Опик = 10 кВ и фзз = 0,1 А. К фазам 1 -12 трансформатора 13 электроды подсоединены через индуктивные балластные сопротивления 14 таким образом, что к двум последующим фазам подключены соответствующие верхний и нижний электроды: к фазеподключен электрод 1, к фазе 2- электрод 7, к фазе 3 - электрод 2, к фазе 4 - электрод 8, к фазе 5 - электрод 3, к фазе 6 - электрод 9 и т.д. Расстояния между электродами Цмм) в каждой группе и между группами Н (мм) связаны с фазовым током фаз, (А) соотношениемЙ = - 5 фаз, ( = 1.00 мм/А,НСпособ осуществляют следующим образом,На концы электродов...

Номер патента: 1838778

Опубликовано: 30.08.1993

Авторы: Гильмутдинов, Горбачев

МПК: G01N 21/74

Метки: анализе, атомно-абсорбционном, концентрации, химического, элемента

...следующим образом,Производится атомизация анализируемой пробы, образуемый при этом атомный пар просвечивается посредством источника света излучающего на характеристической длине волны, при этом измеряется величина абсорбционного сигнала, Производится измерение температуры излучающего слоя в просвечивающем источнике и температура поглощающего слоя атомов Т регистрируются (определяются) контур линии испускания(ж) и контур линии поглощения К(щ) . С использоваяием этих данных производится преобразование измеренной величины абсорбционности А (инструментальный параметр) в число поглощающих атомов й (физический параметр), создающих эту абсорбционность и затем построение градуировочного графика в новых переменных М = Р(С) причем...

Номер патента: 1194138

Опубликовано: 10.09.1999

Авторы: Гражулене, Карандашев, Попандопуло

МПК: G01N 1/28, G01N 30/48

Метки: cdxhg1-xte, анализе, многоэлементном, отделения, примесных, элементов

Способ отделения примесных элементов при многоэлементном анализе CdTe и CdxHg1-xTe, включающий сорбцию матричных элементов в экстракционно-хроматрографической колонке, заполненной сорбентом с неподвижной фазой, и элюирование примесных элементов соляной кислотой, отличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности и числа отделяемых примесных элементов, в качестве неподвижной фазы используют смесь три-н-октиламина и три-н-бутилфосфата в соотношении (1 - 2) : 1, а элюирование проводят 2 - 6 М : соляной кислотой.