Патенты с меткой «анализа»

Номер патента: 221979

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Линник

МПК: H01J 49/26

Метки: анализа, ионов, массам

...высаживаются на электрод 3, так как при движении от электрода 5 к электроду 4 они проходят большую разность потенциалов, чем тормозящая разность лотенциалов между электродами 4 и 3.Для регистрации определенной массы т на электрод 3 подают короткие симметризующие импульсы с частотой следования. равной частоте колебаний ионов регистрируемой массыгде С - потенциал на центральном электроде;с - константа, определяемая геометриейпространства дрейфа;д - заряд иона.Ионы синхронной регистрируемой массы индуцируют на электроде б переменное напряжение, которое, как и в известном фарвитронном способе, с целью регистрации усиливается широкополосным усилителем. Для регистрации ионов другой массы изменяют частоту следования симметризующих импульсов до...

Номер патента: 221981

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Кутейников, Машкович, Научно, Основе

МПК: G01N 27/26, G01N 27/48

Метки: анализа, вольфрамовойоснове, сплавов, фазового

...алюминия,Предлагаемый способ позволяет проводитьфазовый анализ вольфрамовых материалов,легированных окислами, и состоит в следующем. Навеска ооразца, взятая в виде порошка, анодно растворяется при плотности тока0,002 в ,003 ас,иэ и температуре 20 - 25 С вэлектролите, состоящем из 3 - 6%-ного раствора соляной кислоты и 15 - 20 о 0-ного раствора винной кислоты, взятых в соотношении1: 1. В связи с тем, что вспомогательный анодиз железа и нержавеющей стали корродируетв кислой среде, предлагается осуществлятьконтакт исследуемого порошка с источникомтока путем платиновой пластинки, впаянной вдно стеклянной чашечки.Описываемый сгособ поясняется чертежом,Исследуемый порошок 1 помещается в углубление, образованное бортиками стеклянной чашечки 2 и...

Номер патента: 221984

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Нечаева, Рафальсон, Цымберов

МПК: G01N 1/22, G01N 33/20

Метки: анализа, газов, металлах, реактор, устройства

...откачки, а индукционная катушка размещена в нижней полости вокруг тигля. Это позволяет разделить внутренний объем реактора на область экстракции газа из расплавленного образца металла и область нагрева и плавления образца, что уменьшает загрязнение анализируемого газа газовь 1 мп включениями, выделяемыми из стечок графитовых деталей, и повышает точность анализа.На чертеже изображена принципиальная схема реактора,Он содержит корпус 1, перегородку 2, разделяющую объемы о, и о, также охлаждаемые, графптовый тигель 3, тепловой экран 4 и индуктор 5, охлаждаемый водой. 20 В верхней части корпуса системы находятся устройство б для загрузки образцов, смотровое окно 7, фланцы 8 и 9 для загрузки образцов, В нижней части корпуса расположен...

Номер патента: 221987

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Главин, Карпов, Леей, Маслан

МПК: G01N 29/02

Метки: анализа, газов, металлах

...Кл. 42, 4/1 исоединением заявки1 п ЧП Приоритет Комитет по делам асбретений и открытиЖ при Совете Министров СССР, Главин, Ю. А. Карпов, Л. И. Леви и Л. Б, Маслан явител СПОСОБ АНАЛИЗА ГАЗОВ В МЕТАЛЛ олноту извлечения их, что, в своюовыгцает чувствительность анализа редь,нализа ание в осится к способаи сплавах на содота и водорода.анализа газов вобразца металлаи последующего дм ет и зоб таллах ткачки налива ен Способ аналиплавления обра ляемых газов ичагосссссйся тем, 10 ствительности авергают действи сеталлахоткачкивоп смесиповышениав металл ем алла газ елью расп азву тся от известподвергают воляет ускои повысит пособ отлич лав метал ука. Это п ления газо тли- чувИзобретение отнгазов в металлахних кислорода, азИзвестен способпутем...

Номер патента: 222035

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Бедов, Длин, Самойлов, Скрипников

МПК: G06G 7/52

Метки: анализа, распределения, статического

...моментов первого, второго, третьего и четвертого порядков.Блок-схема устройства дана на чертеже.Устройство содержит блок 1 ввода данных, 20кипп-реле задержки 2, генератор импульсов 3,распределительные кипп-реле 4 - б, блоки 7 -10 задания числа и счетчики-накопители 11 -15 с индикаторами,Принцип действия устройства состоит в 25следующем.Когда в блоке 1 ввода данных замыкаютсяконтакты кнопки номера интервала, в который попадаег значение параметра, распределение по которому исследуется, запускается 30 кипп-реле 2 задержки, и в блоки исывается число, равное соответстепение номера данного интервала.Запуск кипп-реле задержки срывает на время выдержки этого кипп-реле генерацию импульсе в генератором 3. После времени выдержки кипп-реле 2,...

Номер патента: 231193

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Волков, Галимов, Демина

МПК: G01N 11/00, G01N 27/06

Метки: анализа, растворов, электролитов

...(удельная электропроводность, плотность, коэффициент преломления, вязкость и т. д.) при двух разных температурах У и У, то функциональные зависимости Ут, и У от С С Сз различны и однозначно решимы по отношению к С С, С,. Это объясняется тем, что температурные коэффициенты выбранного параметра для каждого из трех компонентов различны, Таким образом, зная функциональные зависимости Ут, и У, от состава смеси,т. е. У, = /4(С 4, Сй, Сз) У =з(СС С) С,+С,+С, = 1, 5 можно двукратным замером одного параметра при двух различных температурах графическим или математическим путем найти искомые концентрации компонентов смеси,В качестве примера приведен способ кон троля состава системы НхО - Н,504 -1 Ча,304, где в качестве измеряемого параметра...

Номер патента: 231194

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Кузнецов

МПК: G01N 21/71

Метки: анализа, спектрального

...в зону электрического ряда,Предложенный способ отличается от известного тем, что введение пробы в зону газоразрядного промежутка производят периодически с частотой, равной частоте вспышек разряда.Это позволяет уменьшить расход пробы при спектральном анализе.Начало и продолжительность введения аэрозоля в газоразрядную зону выбирают таким, чтобы к моменту пробоя облачко аэрозо. ля заполнило пространство между электродами, приблизительно равное объему высокотемпературной зоны разряда.Запаздывание (или опережение) поступления пробы в разрядный промежуток можно устранить, например, путем сдвига режима работы газового коммутатора, с помощью которого аэрозоль подается в аналитический промежуток, по фазе относительно тока дуги. Предмет...

Номер патента: 231199

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Бреслер, Специальное

МПК: G01N 21/25

Метки: анализа, газов, паров

...пропускающего ИК-радиацию материала с зачерненной задней поверхностью). Рабочая камера герметично закрыта окном 5, прозрачным в рабочем интервале инфракрасного спек. тра. На пластину 4 от источника 6 падает поток инфракрасной радиации. На пути потока радиации установлен фильтр 7, с помощью которого из спектра потока выделяется необходимый интервал длин волн, соответствующий максимуму отражения кристаллической фазы анализируемого компонента.При отсутствии кристаллического конденсата на рабочей поверхности пластины 4 только незначительная часть потока радиации, отраь избирательность ие относительного ого компонента в величине парциальоненнта, определяерхности пластины в ата, и по величине Это позволяет повыситанализа газов....

Номер патента: 231202

Опубликовано: 01.01.1968

Автор: Харитонов

МПК: G01N 30/30

Метки: анализа, смесей, хромотермографического

...смесь непрер мотографическую бентом, отличают рощения кон струк ба, периодически потока смеси на рмографического ров, в котором ан вно пропускают ч колонку, заполне ийся тем, что, с ц тивного воплощен производят прогр входе в колонку анализа ализируеерез хроную сорелью упя спосов части Изобретение относится к способам хромотографического анализа с применением движу. щегося температурного поля,Известен способ х ром отер мографического анализа газовых смесей, в котором анализируемую смесь чепрерывно пропускают через хромотографическую колонку, и периодически вдоль колонки перемещают печь с градиентом температур, создающую перемещающееся вдоль слоя сорбента в колонке температурное поле, в котором происходит концентрирование компонентов...

Номер патента: 257148

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Агаронов, Варшамов, Дынкин, Телемеханики

МПК: G06F 7/38

Метки: анализа, полиномов, приводимости

...от 0 до и,то номера замкнутых контактов должны совпадать со степеняии х, коэффициенты при которых отличны от нуля. Тумблерами регистров 5 и б устанавливают длину этих регистров, равную (и+1), и в регистр 5 вводят подряд коэффициенты полинома(х), стоящие при четных степенях аргумента (т. е. через один), начиная со старшего, Блок 2 управления, построенный из стандартных элементов, приводится в исходное состояние. При подаче тактовых импульсов с генератора 1 устройство начинает действовать (назовем совокупность (2 п+1) импульсов циклом). В первом цикле блок 2 управления подает на блок 3 умножения и регистр 5 тактовую частоту, а на регистр б - полутактовую, Ключ 4 при помощи блока 2 управления пропускает в регистр б лишь коэффициенты...

Номер патента: 257848

Опубликовано: 01.01.1969

МПК: G01N 30/60

Метки: анализа, газах, примесей, хроматограф

...прямоугольный керамический корпус П-образной формы. На,внутренней поверхности корпуса сделаны углубления - каналы, параллельные оси корпуса, в которые укладывается нагревательный элемент. Степень нагрева регулируется автотрансформатором.Для предварительного охлаждения части хроматографической колонки, перед поступлением ее в ванну с хладагентом применен электровентилятор 19. При анализе тяжелых микропримесей надобность в хладагенте отпадает, а электровентилятор обеспечивает охлаждение хроматографической колонки до комнатной температуры.Хроматограф подсоединяется к анализируемому баллону 20 с помощью входного устройства, обеспечивающего быструю продувку, необходимую при смене анализируемых баллонов. Входное устройство соединено с...

Номер патента: 232591

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Салль

МПК: G01J 3/427

Метки: анализа, газового

...накала источников). Для уменьшения погрешностей сравнительную камеру можно также заполнить поглощающей излучение смесью, содержащей анализируемый компонент.Предложенный способ отличается тем, что, с целью повышения точности анализа производят изменение количества молекул в газовых смесях, находящихся по пути одного илц обоих потоков радиации, цлц одновременное изменение количества молекул анализируемого компонента по пути обоих потоков радиации таким образом, что сигнал, возникающий5 на выходе дифференциального приемника радиации, поддерживается равным нулю. Концентрация анализируемого компонента в смеси определяется однозначно по измененшо количества молекул, поглощающих радиацию ц10 находящихся по пути потока (цлц...

Номер патента: 233799

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Карасев, Митрофанов, Сорокин

МПК: G01V 5/02, G01V 5/12

Метки: анализа, поисков, разведки, руд

...в предлагаемом устройстве источник, детектор и проба (и;и руда в естестВснном залеГаиии) цсподвикны и в качестВС 1 детектора п)зцецець Один или несколько з 1 ноГосекционны. счетиков, содержащих резонансные и церсзоцансиье секи;1 и,112 чертеже цзООр 2 же 1 а принципцал схема устройства.Детекторы 1 и 2 р:сположеи 1 На нскот расстоянии от источникагамма-лучейветствующего элемента (например, для о.11э и), защшценного свинцовым мма-лучи источника излучения рассеиваются рудой илц пробой. Резонансные и цсрезоиаисць 1 с секции подклОчены к двум счетным устройствам 5 и 6 цлц одному реверсивному.,:Резонансные секции регистрируют гаммаквацты резонансного рассеяния и фоц, нерсзонансцые - только фон. По величине разности отсчетов можно...

Номер патента: 234733

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Кузнецов

МПК: G01J 3/28

Метки: анализа, аэрозолей, спектрального

...3 в предварительно вакуумировапную форвакуумным насосом 6 замкнутую камеру 7 (с целью снижения уровня заражения газовых коммуникаций и уменьшения потерь Известны способы спектральногоаэрозолей, согласно которым исслелщество вводят в своболногорящее плси горючего газа с окислителем и реют спектр излучения, пробы.Предложенный способ отличается оных тем, что газовую смесь с пробойют в замкнутый объем и сжигают (впри давлении выше атмосферного. Эляет повысить чувствительность и эность анализа. О После заполнения камеры и замыкания ееобъема кранами смесь зажигается запальной свечой 8 и управляемым импульсным источником 9 высокого напряжения, Излучение аналитических линий отбирается через кварце вое окно камеры 10 и регистрируется...

Номер патента: 234735

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Серебр

МПК: G01N 27/60, H01J 49/44

Метки: анализа, заряженных, массе, однородных, частиц, энергетического

...а частицы определеннойэнергии проходят в выходную щель 4 н попадают на коллектор б. 25 1. Устройство для энергетического анализаоднородных по массе заряженных частиц, содержащее источник и коллектор заряхкеццых 30 частиц и цилиндрический конденсатор, от.гггДанное устройство относится к области исследований состава потоков нерелятивистских зарякенных частиц при изучении вторичной эмиссии, термо- и автоэлектронной эмиссии, процессов взаимодействия потоков заряженных частиц с веществом, электромагнитными полями и т. д.Известны устройства для энергетического анализа заряженных частиц, содержащие источник и коллектор заряхкенных частиц и цилиндрический конденсатор,Такие устройства характеризуются небольшой дисперсией по энергии,...

Номер патента: 234739

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Назаренко

МПК: G01N 25/30

Метки: анализа, горючихгазов, термокаталитического

...способа.Устройство содержит термореакционную камеру 1 датчика с принудительным газообменом, чувствительный 2 и компенсационный 3термоэлементы датчика, мосты 4 и б. авторегуляторов, поддерживающих постоянную тем,пературу термоэлементов; усилители б и 7 свысокими коэффициентами усиления авторегуляторов, поддерживающих постоянную температуру термоэлементов; релейно-измерительное устройство 8 и источник питания 9. Работает устройство следующим образом.При отсутствии метана в анализируемомвоздухе величины напряжений на термоэлементах 2 и 3 и на их мостах 4 и 5 равны, а 5 поскольку они включены по отношению к релейно-измерительному устройству 8 встречно, то на входе последнего напряжение равно нулю (или устанавливается начальный...

Номер патента: 234741

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Вигдергауз, Физической

МПК: G01N 30/30

Метки: анализа, хроматографического

...в промежутке между двумя последующими анализами изменяют в интервале температур между температурами фазовых переходов сорбента. Это обеспечивает возможность анализа широкого круга веществ с использованием одной и той же колонки.Примером осуществления предлагаемого способа может служить анализ с использованием смешанного сорбента, включающего сквалан и полиэтиленгликоль. При температурах ниже 70 С гликоль находится практически в твердом состоянии и сравнительно слабо удерживает в колонке разделяемые вещества. Поэтому определяющим влиянием на разделение будет влияние неполярцой фазы сквалана, и сорбент в целом проявит себя как неполярный сорбент. При повышении тех пературы гликоль, перешедший в жидкое состояние, будет оказывать...

Номер патента: 235193

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Чайковский, Яловенко

МПК: G01R 23/00

Метки: анализа, безрезонаторного, полосовых, сигналов, спектра

...на конечном интервале времени и измерении продукта интегрирования в конце интервала обработки сигнала, необходимо использовать устройство перемножения сигналов, которое даже при умеречных требованиях к точности перемножения и динамическому диапазону входных сигналов достаточно слокно. Описываемый способ спектральн исключает необходимость перемн следуемого и опорного сигналов, более простой в техническом выпо рацией периодической выборки (к мгновенных значений исслс,ОемогОписываемый способ безрезона лиза спектра заключается в после выполнении следующих операций ской выборки мгновенных значений исследуемого сигнала, последовательного суммирования этих мгновенных значений с постоянным весом и фиксации текущего значения этой суммы в...

Номер патента: 236846

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Боровский, Лукирский

МПК: G01N 23/20, G01T 1/36

Метки: анализа, бескристального, рентгеноспектрального, химического, элементов

...интенсивность излучения, регистрируемая счетчиком, булет приблизительно равна236846 10 Прсдмст изобретения Составители Л, Н, Линник1 зсдактор Л. К. Ушакова Тскрсд Л. К. Малова Корректор Е. Н. Миронова Заказ 1842/19 Тираж 480 ПодписноеЦ 11 ИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Мгпистров СССР Москва, Центр, пр. Серова, д. 4 Типография, пр. Сапунова, 2 где У(; г) - интсгральная интенсивность ли,нии характеристического спектра, Йу( ) - коэффициент отраженгя зеркала с номером 1, Т (/ г) - эффективность счетчика для излучения с тои же длиной волны, равная произведенио коэффициента пропускания излучения входным окной,счетчика и коэффициента поглощения излучения в рабочем объеме счстчика. Более точное выражение для...

Номер патента: 238679

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Горн, Ильин, Иоффе, Крапивин

МПК: G01N 23/20, G01T 1/36

Метки: анализа, изотопного, многокомпонентных

...в том случае, если условия регистрации эталонного и исследуемого спектров одинаковы; изменение условий измерения каждый раз требует набора новой картотекн эталонных спектров. Кроме того, для реализации способа требуется боль шое количество сложного оборудования.Предлагаемый способ сочетает в себе широкие методические возможности проведения анализов, некритичность к изменениям условий измерения, а также, простоту аппаратур ной реализации.На чертеже показан спектр среды, содержащий три гамма-излучателя, где 1, 2, 3 - фотопики, соответствующие энергиям Еуь Еу., Еу 4, 5 - участки под фотопиками Еуа 15 и Еуе и 6, 7 - участки, примыкающие к участкам под фотопиками,Предлагаемый способ изотопного анализапо энергиям гамма-излучения реализуется...

Номер патента: 238863

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Гриненко, Неорганической, Суховерхов, Устинов

МПК: G01N 33/00

Метки: анализа, выделения, изотопного, минералов, солей, элементов

...аген МеВгГт, где я элементов ного анализа продукта,прощения и гестве фторп типа МеВгГвыделегпчя изотоп исходного с целью сса, в ка зуют солгКЬ, Сз. ниВгГ,. 2 тор,Изобретение относится к способам выделения элементов из минералов и солей для изотопного анализа.Известен способ выделения элементов изминералов для изотопного анализа путем фторирования исходного продукта. В качествефторирующего агента используют фторидьксенона. Однако при разложении минераловэтим способом требуется продолжительноевремя (1,0 - 1,5 час) и применение специаных боксов, так как фториды ксенона гидрозуются на воздухе, Кроме того, трудно разлагаются указанным способом соли - фосфатысульфаты и другие стойкие материалы.Для упрощения и интенсификации...

Номер патента: 238870

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Васин, Зев, Прибылков, Садковский, Соколов, Хрульков

МПК: G01N 15/00

Метки: анализа, воздуха, микрочастиц, прибор, содержание

...1 с помощью винта 2 с маховичком 3 в направляющих 4 перемещается кассета. 5, имеющая сквозной продольный паз. В иассету вставляется предметное стекло б, смазанное клейким составом. К корпусу прибора прикреплен сепарирующий насадок 7, включающий щелевое сопло 8, два цилиндрических канала 9, установленных под углом 90 друг к другу, патрубок 10 и регулировочную втулку 11 с прозрачным диском-заглушкой 12.Оптическая система прибора состоит из осветителя 13, конденсатора 14 и тубуса 15, в котором установлены объектив 1 б и окуляр 17.Внутренняя полость корпуса прибора с помощью патрубка 18 соединена с вентилятором 19, установленным на валу электродвигателя 20. Питание электродвипателя осуществляется,от сухих элементов, устанавливаемых в каосету...

Номер патента: 239641

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Гринберг, Гурвич, Латексных, Научно, Проворов, Фришман, Шарпанова

МПК: G01N 21/78

Метки: анализа, вулканизации, сульфенамидных, ускорителей

...бромид-броматом, устанавливать количество основного вещества, 2Отличием предлагаемого способа являетсято, что для повышения точности и быстротыанализа в качестве органического растворителя применяют диметилформамид и измеряют плотность полученного раствора при длинах волн юг=275 ммк п 12=330 ммк.П р и м е р. Навеску сульфенамида БТСМ(1 ч-мочевина-бензотиалсульфенамид) около0,01 г (взятую с точностью до 0,0002 г) растворяют при комнатной температуре в диме тилформамиде и в мернои колбе емкостью 100 лг.г разбавляют диметилформамидом до полного объема. 10 юг полученного раствора переносят пипеткой в мерную колбу емкостью 50 лгл и разбавляют диметилформамидом до полного объема,Полученным раствором заполняют кварцевую кювету...

Номер патента: 239643

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Льсов

МПК: G01B 9/04

Метки: анализа, морфометрического

...Последний должен находиться в центре. Способ морфометри пользованием Оптичес С.ч тем, что, с цел змерсний, объект ил сывают в геометричсс иую двумя парами п пенных с отсчетным и с 1 вами. ческого анал ого прибора, ью упрощенияего изображ кую фигуру, о одвижных нит вычислительнь за с исОт.1 аЮпроцесса ение впи- бразовансй, соедпм стройВ настояшес время в различных ограслях естественных наук, особснно в геологии, намсг 1 лся 1 псворот в сторону количественных ха 11 аткс 1 ст 11 к Объектов изучения. Так, при решении мног 1 х проблем генетического порядка точное знание 1 тазмсра и формы минсральных индивидов необходимо.Известные спссобы хОрфометричсского анализа объектов с 1 Опользованием оптических пр 1:боров сводятся к тому, что под...

Номер патента: 239644

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Льсов

МПК: G01B 11/02

Метки: анализа, морфометрического

...ряды контактов, шаг которых соответствует масштабу измерения, а на другом - ключи для замыкания отсчетной цепи, состоящей из счет циклов, показывающих число измерений, отношение размеров и их частоту. Кроме того, в предложенном устройстве две нары подвижных нитей могут быть заменены шторками и диафрагмами, а контакты могут быть размещены на пластинах, поступательно перемещаемых одна относительно другой.На фиг. 1 изображен общий вид устройства для морфометрического анализа, тде 1 - поле зрения опти:геской системы, 2 - сдве пары подвижных нитей, 8 - диски, 4 - токоподводящая шина, 5 - ключи.На фиг. 2 дан общин впд расположения рядов контактов н диске.5 1. Устройство для морфометрического ана.:иза, содержащее оптическую систему,...

Номер патента: 240326

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Баскин, Голубев

МПК: G01N 30/08

Метки: анализа, газов, хроматографического

...150 - 600 ял/,вин из устройства 1 для подготовки газа поступает через переключающее устройство 7 В колонку 3, проходит переключающее устройство 7 и через устройство 1 сбрасывается в атмосферу. Одновременно анализируемый,газ пз устрогства 1 через детектор 2, переключающее устройство 7, колонку Т, переключающее устройство 7,поступает со скоростью 15 - 60,цл/лин в хроматографнческую колонку 4, затем, проходит детектор 2 и через устройство,для подготовки газа также сбрасывается в атмосферу. После накопления достаточного количества примесей в колонке З,по сипналт командного устройства 6 с помощью перекгцочающих устройств 7 и 7 происходит переключение ко240321 з Составитель И. КэндранкаяРедаксор Б. С. Нанкнна Техред Л. и, Левина...

Номер патента: 241056

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Агаджан, Литинска

МПК: G01N 21/01, G02B 21/00, G02B 21/26 ...

Метки: анализа, микроскопического, ограниченного, препарата, участка

...зеркалом на поверхность диска У, в плоскости которого;получается увеличенное действительное изображение препарата.В диске имеется 18 отверстий диаметром 0,3 лтл, расположенных на одном радиусе, При вращении диска двигателем 8 отверстия 5 поочередно пересекают поле изображения.Свет, проходящий через отверстие, фокусируется линзой 9 на катод фотоэлектронного умножителя 1 О.Каждое отверстие пересекает изображение 10 препарата вдоль строки, которая смещаетсяотносительно предыдущей в результате перемещения препарата при движении столика.Движение столика ограничивается концевыми выключателями. Одновременно концевые вы ключателп подают блоку управления сигналдля реверса движения столика и поперечного его смещения. Ширина просматриваемой...

Номер патента: 241094

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Опытный, Природного

МПК: G01N 30/08

Метки: анализа, газах, примесей, хроматограф

...к,нижнему. Змеевик вместе с отводами заполнен сорбеятом, например молекуляряыми ситами 13 Х. Колонка перемещается из ван,ны с жидким азотом,в нагреватель и обратно. При движении колонки каждый ее,виток лоследователыно подвергается действию температурного,поля с интервалом от температуры жидкого азота до необходимой для регенерации слоя, Таким образом осущеспвляется движение вдоль слоя сорбента переменного температурного поля от - 196 до 300 С,Колонка приводится в,движение электродвигателем с редуктором. Число оборотов регулируется,напряжением питания, а направление вращения - подачей напряжения ва соответствующую обмотку. Напряжение яа мотор, снимается с выпрямителя, собранного на четырех диодах по мостиковой схеме.С редуктора...

Номер патента: 241793

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Березкин, Гуревич, Литвин, Чижков

МПК: B29D 23/00

Метки: анализа, жидкого, элюата

...детектор, включенный в одно пз плеч моста, в другое плечо которого включен основной детектор.Это позволяет обеспечить непрерывное детектирование элюата при градиентном или ступенчатом элюировании путем использова ния, например, дополнительной колонки, включенной параллельно основной, на которой осуществляется разделение исследуемых соединений.Сущность предлагаемого способа поясняется чертежом.Схема включает устройство 1, предназначенное для перемещения проволоки с постоянной скоростью, циркулирующий виток проволоки 2, два испарителя 3 и 4, два пламенно-ионизационных детекторов 5 и б и устройство 7 для очистки проволоки от исследуемых соединений.Жидкий элюат нке А на поверхнос241793 Составитель И. Кеидрацкая Тскред...

Номер патента: 243022

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Других, Проектного, Синельников, Украинское, Хоз

МПК: H02H 7/26

Метки: анализа, согласования

...распределительная сеть любой конфигурации, Для уменьшения габаритных размеров декад ных сопротивлений питание устройства производится напряжением повышенной частоты от генератора 2.Последовательно с декадами сопротивлений1 в точках, соответствующих местам установ ки реальных реле защит и предохранителей враспределительной сети, включаются полупроводниковые аналоги 3 реле защит и предохранителей, каждый из которых имеет выходные контакты. Для установки требуемых характе ристик срабатывания реле защит и перегора.ния предохранителей используются перфокар.ты или шаблоны с обозначенными фиксированными положениями регулировочных элементов аналогов для каждой из воспроизво 20 димых характеристик.Полупроводниковые аналоги 8...