Способ снятия диаграмм отражения и прозрачности образцов на свч

Номер патента: 1753409

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Ананьев, Иливанов, Цымбалист

МПК: G01N 29/20

Метки: акустического, затухания, коэффициента, сигнала

...подключенным к излучателю.На чертеже представлена структурная схема устройства для измерения коэффициента затухания акустическогО сигнала.Устройство для измерения коэффициента затухайия акустического сигнала содержит излучатель 1, установленные наразных расстояниях от него приемники 2 и 3, соединенные с ними усилители 4 и 5, усилитель 6 возбуждающего сигнала излучателя 1, схему 7 сравнения и соединенный с ней источник 8 опорного напряжения, вторую схему 9 сравнения, вторым выходом .соединенную с выходом усилителя 5, индикатор.10, который соединен с выходом схемы 9 сравнения, Позицией 11 обозначенакойтролируемая среда;Устройство работает следующим образом;Ультразвуковые колебания от излучателя 1 проходят в контролируемой среде 11...

Номер патента: 121825

Опубликовано: 01.01.1959

Автор: Мировицкий

МПК: G01R 27/06

Метки: диэлектрических, коэффициентов, образцов, отражения, прозрачности

...3 подают на детекторную секцию 4, усиливают усилителем б и измеряют измерительным прибором б. Линия передачи поверхностной волны 7 служит для искусственного сжатия пучка электромагнитной энергии, которая распространяется вдоль ее поверхности. Линию выполняют в виде круглого или прямоугольного стержня из органического стекла или искусственного диэлектрика. В разрыв линии передачи помещают исследуемый образец 8. Часть энергии отражается от образца О и возвращается обратно по линии 7. При помощи направленного ответвителя 9 отраженный сигнал подается на детекторную секцию 10, усиливаЖ 121825 Предмет изобретения Устройство для измерения коэффициентов отражения и прозрачности диэлектрических образцов, отличающееся тем, что, с целью...

Номер патента: 1737361

Опубликовано: 30.05.1992

Авторы: Головков, Кузнецов, Осипов, Приходько

МПК: G01R 27/06

Метки: входа, отраженного, параметров, свч-элемента, сигнала

...отражения от исследуемого СВЧ-элемента 8 в секциях измерительной линии 6 устанавливается режим смещенных волн. Луч когерентного света, генерируе 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 мый лазером 1, в делителе света 2 делится на три луча равной интенсивности, которые поступают на оптические входы каждого датчика. После прохождения системы коллимирующих линз 18 и поляризатора 19 линейно поляризованный луч света поступает в фазовую ячейку 20, представляющую собой первую секцию измерительной линии 6, свет в которой распространяется в направлении, параллельном направлению распространения СВЧ-волны,Поскольку диэлектрические подложки секций 20 измерительной линии 6 выполнены из кристаллов, обладающих электрооптическим эффектом, то после их...

Номер патента: 1125558

Опубликовано: 23.11.1984

Авторы: Ветров, Грудина

МПК: G01R 27/28

Метки: волны, измерителя, индикатор, коэффициента, ослабления, панорамного, свч, стоячей

...ячейки), формируемого счетчиком 12 адресов. Изымаемая из блока 8 памяти информация в виде двоич ного кода преобразуется циАроанллоговым преобразоватегем 7 в ступенчато изменяющееся напряжение. Это напряжение интегрируется по времени интегратором 5.Для синхронизации работы осциллограАа и СВИП-генератора используется пилообразное напряжение, изменяющее частоту сигнала СВИП-генераторл (Аиг.2 а). Оно подается в качестве напряжения 30 развертки изображения на осциллограф 4 и генератор-формирователь 13. Генератор-Аормирователь 13 вырабатываетл импульсы внутренней синхронизациивременное положение и длительность ко - З 5 торьм совпадают с обратным ходом частоты СВИП-генератора (Аиг.2 б).Импульсы внутренней синхронизации поступают на...

Номер патента: 53519

Опубликовано: 01.01.1938

Авторы: Калиняк, Остроумов

МПК: G01N 21/47, G02B 1/11

Метки: коэффициента, оптических, отражения, поверхностей, прозрачных, уменьшения

...ления котор ниям теори я способн ается в нес качества и ть с исправ аносить на ости слои р П редмет изобретени. Зак. 2032 в 4 ип. Печатньп Известно, что нанесение на ность оптической детали тонко вещества с показателем прело меньшим, чем показатель прело детали, значительно понижает циентотражения. Для этой цел предложены различные вещества и различные методы получения из них пленок на поверхности оптических деталей. Предлагаемый авторами сухой способ нанесения прозрачных пленок как на металлические, так и на всякие другие, и в частности, на стеклянные поверхности, аналогичен методу, указанному Стронгом, и отличается от него подбором веществ и нанесением пленок из разных веществ как одно. временно, так и в последовательном порядке:...