Программируемая логическая матрица

ОЮЗ СОВЕТСКИХ ОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИН 1621 О 00 51)5 С 0 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯК А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ нический и 6 ерн ство СССР 00, 1986. 1983, С9 ГИЧЕСКАЯ МАИзобретенительной техпи тносится к вычислии может быть использовано и строе роиств с из обр ет ени вляется сокрание достоверносение времени и пови тестирования.На фиг. 1 приве дена структурнаямат- дных ри ньгх И 2,тав 1 Ка 1 ЛМ 13 госуддРств:нный комитетПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(54) ПРОГРАЖЯРУЕМАЯ ЛОРИПА встроенными средствами тестирования схема программируемои логическои рицы; на фиг. 2 - схема одноразря дешифраторов,Программируемая логическая мат (ПЛМ) содержит группу одноразряд дешифраторов 1, группу элементов первую 3 и вторую 4 группы элеме ИЛИ, первый 5 и второй 6 регистрь сдвига, сигнатурный анализатор 7 элементы И 8, ИЛИ 9, На Фиг. 1 п заны также информационные вхолы 1 10, первые 11 и вторые 12 входы ментов ИЛИ второй группы 4, вха 1 п(57) Изобретение относится к вьгчислительной технике и может быть использовано при построении дискретных устройств с встроенными средствами тестирования. Пелью изобретения является сокращение времени и повышение достоверности тестирования, Пля достижения поставленной цели в программируемую логическую матрицу (ПЛ 1) введенсигнатурный анализатор, информационные входы которого соединены свыходами группы элементов И ПЛМ про -веряется тестовой последовательностьюпостоянной длины, не зависящей от реализуемых в ней функций, 2 ил., 1 таб и выходы 14 элементов И группы 2, первый 15, второй 16 и третий 17 конт рольные выходы ПЛМ, тактовый 18,первый 19 и второй 20 тестовые входыи вход 21 режима работы ПЛМ, а такжеинформационные выходы 22 ПЛМ. Группа Жодноразрядных дешифраторов 1 (Фиг.2) Юсостоит из инверторов 23 и элементов фффффИ 24 и 25, Группа элементов И 2 1, ,и первая группа элементов ИЛИ .3 образуют матрицы И и ИЛИ ПЛМ соответственно.ПЛМ может находиться в рабочемрежиме и в режиме тестирования.В рабочем режиме на входе 21 устанавливается значение логической "1"цля обеспечения передачи сигналов свходов 10.1 - 10.п через группу 1 одноразрядных лешифраторов, Первый регистр 5 сдппга устанавливается в нуле-вое состояние для обеспечения переда 1621020В зависимости от того, в каких элементах устройства появляются описанные неисправности, все множество неисправностей можно разбить на четыре подмножества.В первое подмножество входят все константные неисправности, которые 55 чи сигналов с выходов группы одноразрядных дешифраторов через элементы ИЛИ второй группы 4 на входы матрицы И 2.Второй регистр 6 сдвига устанавли 5вается в единичное состояние для установления на входах 12. 1-12,п единичных значений. В рабочем режиме тактовые импульсы на вход 18 не подаютсяи состояние регистров 5 и 6 не меняется, Значения функций, реализуемыхПЛМ, получаются на выходах 22,1 и 231.,Тестирование ПЛМ осуществляетсяследующим образом,Для подачи последовательности тестовых наборов, приведенных в таблице,используются информационные входыустройства 10.1-10 и и управляющиевходы 19-21, Через управляющие входы19-21 в регистры 5 и 6 заносятся соответствующие части тестового набораи осуществляется тестирование, результаты которого наблюдаются на информационных выходах 22.1-22,1 и контрольных выходах 15-17. 25Последовательность тестовых наборов состоит из пяти подпоследовательностей, Тестовые наборы, относящиесяк одной подпоследовательности, имеютсоответствующее обозначение, состоящее из двух индексов, каждый из которых указывает на номер подпоследовательности, а второй - на номер, тестового набора в данной подпоследовательности. Например, обозначение Тозначает,что данный тестовый набор принадлежитчетвертой подпоследовательности.В ПЛМ возможны следующие виды не-исправностей: контактные неисправности на входах-выходах элементов и нагоризонтальных и вертикальных линияхматриц И и ИЛИ; неисправности точекпересечения, под которыми понимаютсядефекты коммутации в местах пересечения ортогональных проводников1145в матрицах И и ИЛИ, т. е. исчезновение" полупроводникового элементатам, где он должен быть, или "появ ление" полупроводникового элементатам, где его не должно быть, Неисправности точек пересечения в ПЛМназьвают контактными неисправностями. могут появиться в одноразрядных депифраторах 1, в элементах ИЛИ второйгруппы 4, в первом регистре 5 сдвига,на входах 13, в элементе ИЛИ 8, Дляобнаружения всех неисправностей вперечисленных элементах используютсятестовые наборы Т 1-Т 4, причем неисправности типа константного 0 навыходах первого регистра 5 сдвигаобнаруживаются на тестовом набореТ , неисправности типа константно 1 11го 0 на входах 10 - на тестовомнаборе Т, на тестовых наборах Тобнаруживаются константные " 1" напервых входах элементов 25 и 24, неисправности типа константного "0"на входах-выходах элементов 24на тестовом наборе Т 4 , неисправности типа константного "0" на входах-выходах элементов 25 - на тестовом наборе Т 4 . Остальные неисправности данного подмножества обнаруживаются двумя и более тестовыми наборами из Т-Т 4, Наличие неисправностей наблюдается на выходе 15,Во второе подмножество входят всеконстантные неисправности, которыемогут появиться на вертикальных линиях 14, на выходах второго регистра6 сдвига и элемента ИЛИ 9. Для обнаружения указанных неисправностей используют тестовые наборы Т ь и Т,причем на тестовом наборе Т 4, обнаруживаются любые неисправности типаконстантной "1", а на тестовых наборах Т - все неисправности типа константного "0"Наличие неисправностейнаблюдается на выходе 16.В третье подмножество входят всенеисправности .точек пересечения вматрице И, Для обнаружения неисправности данного типа используются тестовые наборы Т, причем на каждомтестовом наборе из Тз активизируетсятолько одна горизонтальная линия вматрице И. При подаче тактового импульса информация о наличии и отсутствии связей в точках пересеченияв матрице И заносится в сигнатурныйанализатор 7. После подачи всех наборов из Т в сигнатурном анализатореполучаем сигнатуру, которую затем(на тестовых наборах Т 4 и Т) последовательно выводим через выход 17,где осуществляется контроль неисправностей точек пересечения матрицы И.В четвертое подмножество входятвсе неисправности точек пересечения5 162 матрицы ИЛИ, Для обнаружения этих неисправностей используются тестовые наборы Ту, причем на каждом тестовом наборе активизируется только одна вертикальная линия в матрице ИЛИ, Наличие и отсутствие связей в точках пересечения матрицы ИЛИ контролируется на выходах 22 устройства.Так как.условия активизации неисправностей разных подмножеств в некоторых случаях совпадают, то стало возможным объединение тестовых наборов для различных подмножеств в общие группы. Это позволяет одновременно обнаруживать неисправности разных подмножеств на одних и тех же тестовых наборах по разным выходам, что ведет. к сокращению числа тестовых наборов и, следовательно, к сокращению времени тестирования./1В ПЛМ сигнатурный анализатор 7 позволяет .обнаружить любые неисправности точек пересечения в матрице И. Так как на тестовых наборах из Т на каждом также активизируется только одна строка матрицы И, то на входах сигнатурногоанализатора 7 каждый раз устанавливается двоичное слово, соответствующее расположению связей в точках пересечения выбранной строки, Это слово на каждом такте записывается в сигнатурный анализатор 7, Любая неисправность приводит к изменению значения. на входах сигнатурного анализатора 7, что в конечном итоге отразится на выходной сигнатуре.Таким образом, любые неисправности точек пересечения в матрице И предлагаемого устройства в отличие . от прототипа могут быть обнаружены. 1 О 2 О 6Формула изобретенияПрограммируемая логическая матрица, содержащая группу элементов И,первую и вторую группы элементов ИЛИ,элемент И, элемент ИЛИ, первьпг и второй регистры сдвига и группу одноразрядных дешифраторов, информационггггеи управляющие входы которых являютсясоответствующими информационными входами и входом режима работы программируемой матрицы, а выходы соединеныс первыми входами соответствуюгцггхэлементов ИЛИ второй группы, вторыевходы которых соединены с соответствующими выходами первого регистрасдвига, информагпгоггные и тактовыевходы первого и второго регистровсдвига являются соответственно пер-,20 вым и вторым тестовымг входами итактовым входом программируемой логической матрицы, выходы элементовИЛИ второй группы соединены с соответствующими входагпг элементов И25 группы и элемента И, выходы элементов И группы соединены с соответствующими выходами второго регистра сдвига и с входаьпг элементов ИЛИ первойгруппы и элемента ИЛИ, вг,осодг 1 г элеменго тов ИЛИ первой группы и вьгходы элементов И и ИЛИ являются соответственно информационными выходами и первыми вторым контрольггггьпг ггыходагпг програмьпгруеыогг логической матрицы, о т35л и ч а ю щ а я с я тем что с цес 3 1лью сокращения времени и повышениядостоверности тестирования программируемой логической матрицы, в неевведен сигнатурный анализатор, инфор 40 мационные входы которого соединеныс выходами соответствующих элементовИ группы, тактовый вход - с тактовымвходом первого регистра сдвига, авыход является третьим контрольнымвыходом пр огр аммируемой л огич ес койматрицы,1 б 21020 Корректор Т. Малец Редакт аковск Тираж арственного комитета по изобретениям 113035, Москва, Ж, Раушская нПроизводственноиздательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарин каз 4247НБИПИ Гос оставител ехред Д,С Дерююкова Подписноеоткрытиям лри ГКд. 4/5