Устройство для измерения поверхности рефлектора

Номер патента: 1457022

Авторы: Борисов, Парщиков

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИК 01 15/14 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ(56) АУ 4913АвтВ 1285 егуус" У 5уманаА.А.Пар88.8)етельст1/00,ельствоО 1/00 лир уемь тановл лектор нира 8 основа ков о СССР1972.СССР1985.ИН ПОВЕРХ 10. ВнВВ 4,реткойвой на(54) УСТРОЙСТВО ПЛЯНОСТИ РЕФЛЕКТОРА МЕР ора 1 ес пе О, а ается ему т(57) Изобретени ной технике и о точности измер лектора и упрощ го шаблона (НШ лен на опорно- Устройство сод нтене относится к беспечивает п ния поверхнос ение выставкиРефлектор 1 оворотном мех ржит корпус 3 выше ни ти ре ности верхно чивает меряют рефлек ножево- установанизме 2.вертик,Р К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ В) 4, размещенный внутри корпу НШ 5, двуплечий рычаг 6 с р м противовесом 7Корпус 3 ен в центральном отверстии реф а 5 посредством шарового шари опирается нижним концом на ние 9 посредством подпятника утренний конец НШ 5 соединен с а наружный конец снабжен ка, установленной на кольцеправляющей 15 по краю рефлекПри установке ВВ 4 и НШ 5 их редается только на подпятник рефлектор 1.,при этом не нагруи не деформируется, благодаря очность измерения его поверх- повышается. При измерении пости рефлектора 1 НШ 5 поворася вместе с ВВ. При этом из зазоры между НШ 5 и точками тора 1. 2 з.п. ф-лы, 3 ил.Изобретение относится к антенной технике и может быть использовано для измерения рефлекторов радиотелескопов.5Целью изобретения является повышение точности измерения поверхности рефлектора, упрощение выставки ножевого шаблона.На фиг. 1 дана схема предлагаемого устройства; на Фиг.2 - конструкция вертикального вала; на фиг.3 - конструкция подпятника..Рефлектор 1 установлен на опорно- поворотном механизме 2 и при измере нии поверхности ориентирован в зенит. Устройство для измерения поверхности рефлектора 1 содержит корпус 3 с размещенным внутри него вертикальным валом 4, ножевой шаблон 5, двуплечий 20 . рычаг 6 с регулируемым противовесом 7. Корпус 3 посредством шарового шарнира 8 установлен в центральном отверстии рефлектора 1 с возможностью вертикального перемещения и оперт . 25 нижним концом на основание 9 угломестной части радиотелескопа посредством подпятника 10, который выполнен сферическим и снабжен винтовым домкратом 11 и регулировочными винтами 30 12 в двух направлениях в горизонтальной плоскости. Вертикальный вал 4 установлен в корпусе 3 посредством подшипников 13. Центр шарового шарнира 8 установлен в вершине А рефлектора 1. Ножевой шаблон 5 внутренним концом шарнирно соединен с вертикальным валом 4, причем ось шарнира перпендикулярна плоскости ножевого шаблона 5 и проходит через вершину А 40 рефлектора 1. Наружный конец ножевого шаблона 5 снабжен кареткой 14, установленной на кольцевой направляющей 15 по краю рефлектора 1. На верхнем конце вертикального вала 4 шарнирно 45 закреплен двуплечий рычаг 6, одно плечо которого соединено посредством серьги 16 с серединой ножевого шаблона 5, а на другом плече которого размещен регулируемый противовес 7,Монтаж устроиства для измерениян50 поверхности рефлектора производится в следующеМ порядке.Рефлектор 1 устанавливают в зенит посредством опорно-поворотного мехаФ 55 низма 2, в вершине А рефлектора 1 монтируют шарнир 8, через отверстие которого сверху опускают корпус 3 в сборе с вертикальным валом 4 и опирают его на подпятник 1 О. Регулировкой высоты домкрата 11 совмещают центр шарнира 8 с вершиной А рефлектора 1, а с помощью регулировочных винтов 12 выставляют вертикальный вал 4 по оси рефлектора 1. После этого устанавливают ножевой шаблон 5 и двуплечий рычаг 6 с регулируемым противовесом 7При установке вертикального вала 4 и ножевого шаблона 5 их вес передается только на подпятник 10, а рефлектор 1 при этом не нагружается и не деформируется, вследствие чего точность измерения его поверхности повышается.В процессе измерения поверхности рефлектора 1 ножевой шаблон 5 поворачивают вместе с вертикальным валом 4 и замеряют зазоры между ножевым шаблоном 5 и точками рефлектора 1 с помощью щупов или других датчиков. В соответствии с измеренными зазорами выставляют поверхность рефлектора 1.Формула изобретения1. Устройство для измерения поверхности рефлектора, содержащее вертикальный вал, установленный по оси рефлектора, и ножевой шаблон, внутренний конец которого закреплен на вертикальном валу посредством шарнира, ось которого перпендикулярна,плоскости ножевого шаблона и проходит через вершину рефлектора, а внешний конец ножевого шаблона снабжен кареткой, установленной на кольцевой направляющей по краю рефлектора, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения, вертикаль-. ный вал закреплен в центральном отверстии рефлектора с возможностью вертикального перемещения и оперт нижним концом на основание посредством подпятника.2Устройство по и, 1, о т л и - ч а ю щ е е с я тем, что на верхнем конце вертикального вала закреплен введенный двуплечий рычаг, одно плечо которого соединено посредством серьги с серединой ножевого шаблона, а другое плечо снабжено регулируемым противовесом.3. Устройство по п.1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью упрощения выставки ножевого шаблона, вертикальный вал закреплен в центральном отверстии рефлектора посредствомз 14570224шарового шарнира, центр которого сов- жен винтовым домкратом и регулировочмещен с вершиной рефлектора, а под- ными винтами в горизонтальной плоспятник выполнен сферическим и снаб- кости.1457022 оставитель А.Самоцветов ктор А.Шандор Техред М.Ходанич Корректор М.Демч 61 Заказ Подпи НИИ ул. Проектная, 4 Пронэворственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгоро 556/50 Ти осударственного коми113035, Мос ета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССРа, Ж, Раушская наб., д. 4/5

Смотреть

Заявка

4188031, 27.01.1987

МВТУ ИМ. Н. Э. БАУМАНА

БОРИСОВ АРКАДИЙ АЛЕКСЕЕВИЧ, ПАРЩИКОВ АЛЕКСЕЙ АРКАДЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: H01Q 15/14

Метки: поверхности, рефлектора

Опубликовано: 07.02.1989

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1457022-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-poverkhnosti-reflektora.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения поверхности рефлектора</a>

Похожие патенты