Способ работы воздухоохладителя

Номер патента: 917690

Опубликовано: 30.03.1982

Автор: Джозеф

МПК: B63B 35/12

Метки: груза, ледокольное, льда, поверхностью, полуподводное, судно, транспортировки

...части корпусотносительно подводной части.На фиг. 1 схематически изображпредлагаемое судно в аксонометрикой проекции,. на Фиг. 2 " то же,разгрузке в порту.Надводная часть 1 прледокольного судна соде3 91769цилиндры 2 и 3, которые своими штоками 4 и 5 связаны с колоннами 6 иКолонны 6 и 7 поворотно закреплены на штангах 8 и 9, проходящих черезподводные части 10 и 11 ледокольногосудна. Подводные части 10 и 11 соединены между собой стабилизаторами12 и 13 и снабжены движителями 14.На колоннах 6 и 7 смонтированывращающиеся механизмы 15 для раскалы ования льда.Судно эксплуатируется следующимобразом.При работе движителей 14 ледо-кольное судно перемещается, при этом 15подводные части О и 11 постояннонаходятся под водой.Колонны 6 и 7 пересекают...

Номер патента: 433570

Опубликовано: 25.06.1974

Авторы: Митрофанов, Смирнов, Чеховской

МПК: H01L 21/304

Метки: выступающих, дефектов, поверхности, слоев, удаления, эпитаксиальных

...удаляя выступающие дефекты, могутповредить эпптаксиальный слой.Цель изоорстения - создание способа, позволяющего повысить качество поверхностиэпитаксиальных слоев, т. е. удалить острые10 выступающие дефекты без влияния на остальную поверхность эпитаксиального слоя,Это достигается тем, что предварительновсю поверхность эпитаксиального слоя окисляют, а шлифование осуществляют с по 15 мощью плоского полировальника с канавкаНа чертеже схематически представлена полупроводниковая пластина с эпитаксиальнымслоем на операции обработки с помощью20 плоского полировальника,По предлагаемому способу после эпитаксиального выращивания слоя 1 на полупроводниковой пластине 2 всю поверхность эпитаксиального слоя 1 окисляют. Окисел выполня 25 ет функцию...

Номер патента: 1576348

Опубликовано: 07.07.1990

Авторы: Догадин, Жуков, Калинин, Козлов, Стебунов, Филатов

МПК: B29C 59/10, H01T 19/00

Метки: поверхности, полимерных, разрядом, электрическим

...образом.При подаче напряжения 5 - 15 кВ часто той 50 Гц от источника 5 на полосах электрода 1 возникает стримерный разряд, Под- ( питка разряда осуществляется реактивным р током, протекающим между электродами 1 ( и 2 через толщу диэлектрика 3. Расстояние между электродами 1 и 2 по поверхности диэлектрика 3 исключает пробой между электродами 1 и 2 по поверхности диэлектрика 3.Полимерная пленка 4 перемещается над электродом 1 со скоростью 0,1 - 20 м/мин (в зависимости от обрабатываемого материала). В результате обработки стримерным электрическим разрядом поверхность пленки приобретает нужные адгезионные свойства.Расстояние пленки от поверхности заземленного электрода 1 не превышает 3 см. Уве1576348 Составитель В. ГомзинРедактор С....

Номер патента: 1045785

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Грибковский, Зубрицкий, Яблонский

МПК: G01N 27/62, H01L 21/66

Метки: кристаллографической, поверхностей, полупроводников, полярности

...поскольку используе -мые жидкости - серный эФир., этилоВый эФир уксусной кислота. и ацетонимели диэлектрическую проницаемость4, 2, 6 и 20 соответственно,Поверхностные стримерные разрядывозникают либо на основе 1, атомовметалла при отрицательной полярностилибо на стороне 8 атомов металлоицапри положительной полярности импульсов подаваемого напряжения т,е, поместочоложению наблюдаемой визуально картины поверхностных стримерньгх,разрядов судят о кристаллограФической полярности полупроводников.Реальная поверхность получаетсяв результате обработки кристалла1045в химически полирующем травителеили химико-механическим способом, В качестве диэлектрической жидкостииспользуют этиловый эфир уксусной кислоты.П р и м е р,...

Номер патента: 1550388

Опубликовано: 15.03.1990

Авторы: Довгялло, Ермоленко, Лазарева, Савастенко

МПК: G01N 21/88

Метки: высокочастотном, дефектоскопии, металлической, поверхности, поле, электрическом

...дисперсного синего К, или дисперсного розового ЖТ, подают напряжение 5 кВ при частоте 25 кГц в течение 5 мин. На материале появляется изображение дефекта.В таблице приведены значения оптической плотности изображения дефекта (Д ) и разность (Д-Д) оптической пЛотности пленки (Д) и оптической плотности изображения дефекта, которая характеризует контраст изображения дефекта исследуемой металличес- кФЙ поверхности, сформированного на полимерной пленке. Как видно из данных таблицы, предлагаемый способ пО сравнению с известным позволяет увеличить контраст изображения дефектов в 3-7 раз.Фо р м у л а и з о б р е т е н и яСпособ дефектоскопии металлическфй поверхности в высокочастотном электрическом поле путем формированйя изображения...