Способ определения пригодности доменосодержащей пленки феррит-граната для магнитооптического управляемого транспаранта

СОЮЗ СО 8 ЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 191 (И) Ю 1 С 11 С 11/14 ОСУДАРСТ 8 ЕННЫЙ КОМИТЕТО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМРИ ГКНТ СССР ЗОБРЕТ ПИСА МИИ 3 Ы".;Лсьй ББ," ОЕ;А(21) 439 (22) 28, (46) 23, (75) В.В (53) 681 (56) Нео т. 22, с ит-граната длявляемого трацдующим Обра -ленку с домецан ым магццтчым ериалы, 19 6, т. 15. СОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРИГОДНОСТИ ДЕРИАЦЕЙ ПЛЕНКИ ФЕРРИТ-ГРАМАГНИТООПТИЧЕСКОГО УПРАВЛЯАНСПАРАНТАбретение относится к вычисли технике и ри разрабправляемы ожет быть испольке магнитооптитранспарантов.упрощение и повыности способа. В ческих Цель из етения шение производител иным способом твии с пре оотв Изобретение относится к вычислительной технике и может быть исполь зовано при разработке магнитооптических управляемых транспарантов.Целью изобретения является упрощ ние и повышение производительности способа.На фиг. 1 и 2 показаны распред ния намагниченностей в подрешетка феррит-граната для случаев М) М и МС 1М + М соответственно.ОсСогласно предлагаемому способу пригодность пленки феррит-граната для магнитооптического управляемого транспаранта определяют следующим образом. Воздействуют ца пленку с тенсиве плоскос и та, проще о ченностью, пар лельцой направ ти,дшег о кулярцоности свс намагнантипарал через памень ллельцой или еению вцеш р его магнитного пог п прцодное. удя х домено олосо и фер х+М ля магццтооцт о транспаранта ната гр ра кого ч Если напра ного поля цеи с возгействе него магцц годовремец 1 влеие це эве.ст м эт поле"ца Рс еч т та возпейг- алоцую мую пленку ф гр; и еврат полем в 1 ют э тм ж 1 1, с.1.327.66(088.8рганические м1530-1533.электроника.16-24. пригодность плецк фер магнитооптического уцр гаранта определяюг сл ом. Воздействуют ца ой структурой гостоя поле, приложенным перпецдкуярноее плоскости. По интесивос ти света,прошедшего через домены с нама.цц-.ченностью, параллельной или ацтипараллельцой направлению внешнего магнитного поля, ц пп ширине полосоныхдоменов судят о пргодности ферртграната для иаитооцтического ц управляемого транспаранта. Гслц направление внешнего магнитного по я цецз"вестцо, то одновременно с воздействием на пленку Феррит-граната постоянным магнитным полем этим же полемна эталонную пленку феррит-граната,причем обе пленки намагничивают доасыщеия. 1 з.п. ф-лы, 2 цл. доменнои структурои постоянным магнитным полем, приложенным перпенди 153116151 О15 20 25 30 35 40 45 пленку феррит-граната, причем обе пленки намагничивают до насыщения.Измерение ширины доменов ие позволйет однозначно судить о пригодности пленки для магнитооптического управляемого транспаранта, поскольку одну и ту же ширину доменов можно получить в пленках с разным соотношением намагниченностей подрешеток в структуре граната. Обычно используют пленки, у которых М 1) М ,+ М , где М -М, и МД-намагниченности тетра-, окта- и додекаэдрической подрешеток граната соответственно. Однако высоким быстродействием обладают пленки с повышенным гиромагнитным соотношением, для которых М,сМ + МДля случаев М,1 ) М+ М и М,сМ+М знаки фарадеевского вращения в одинаково намагниченных пленках противоположны. Таким образом, при одновременном наблюдении в поляриэационном микроскопе доменной структуры в пленках, отвечающих этим двум случаям, действие внешнего магнитного поля Н приводит к затемнению или осветлению доменной картины в зависимости от того, к какой группе принадлежат аттестуемые образцы. Регистрация изменения прошедшего через материал света при этом может быть осуществлена как визуально, так и с помощью фотодатчика. При известном направлении внешнего магнитного поля можно судить о знаке фарадеевского вращения и беэ использования эталонной пленки.П р и м е рПленки помещают в поляризационный микроскоп, магнитное поле прикладывают перпендикулярно плоскости пленок, причем направление поля не меняют. Сортировку пленок осуществляют двумя методами: по изменению доменной картины после прило" жения поля (ее просветлению или потемнению) и по величине скорости на-, сьпцения доменных границ Ч измеренной методом высокоскоростной фотографии. При этом в обоих случаях измеряют ширину доменов Н. Содержание Са в пленках Са 1 т (в атомах на формальную единицу) определяют методом микрорентгеноспектрального анализа. Сравнение данных по двум группам (образцы 1-4 и 5-7) показывает, что использование предлагаемого способа позволяет повысить производительность при выборе доменосодержащей пленки феррит-граната для магнитооптического управляемого транспаранта за счет замены сложной и длительной операции измерения скорости движения доменных стенок в пленке на операцию наблюдения доменной структуры в присутствии постоянного магнитного поля, приложенного перпендикулярно плоскости пленки.формула изобретения1. Способ определения пригодности доменосодержащей пленки феррит-граната для магнитооптического управляемого транспаранта, основанный на измерении ширины полосовых доменов в пленке феррит-граната в отсутствие внешнего магнитного поля, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью упрощения и повышения производительности способа, воздействуют на пленку феррит-граната постоянным магнитным полем, приложенным перпендикулярно ее плоскости, и по интенсивности света, прошедшего через домены с намагни" ченностью, параллельной илн антипараллельной направлению внешнего магнитного поля, и по ширине полосовых доменов судят о пригодности пленки феррит-граната для магнитооптического управляемого транспаранта.2. Способ по и.1, о т л и ч а ю - щ и й с я тем, что одновременно с воздействием на пленку феррит-граната постоянным магнитным полем воздействуют этим же полем на эталонную пленку феррит-граната, причем обе пленки намагничивают до насыщения.1531161 фф Юу ф/1 г Редактор М. Бланар Заказ 7962/53 Тирах 558 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, -35, Раушская наб., д. 4/5 иэводственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 1 О Составитель Ю. РозеТехред М,Дидык ьКорректор С. Черни