Патенты с меткой «реплики»

Номер патента: 299801

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Государственный, Грибко, Научно, Холодный

МПК: G01N 21/01

Метки: бетонного, образца, поверхности, прицельной, реплики

...это тем, что последний перед маркировкой раскалывают, выбирают участок, поверхность излома которого находится к поверхности шлифа под углом )90, и наносят прицельную реплику на этот участок и на граничащую с ним поверхность излома.Сущность способа заключается в следующем,Из исследуемого образца портландцементного клинкера готовят шлиф, полируют его, протр авливают.Затем шлиф раскалывают под любым углом к его полированной поверхности и для исследований выбирают ту часть образца, угол между поверхностью излома и поверхностью шлифа которого равен или больше 90. Под световым микроскопом на участке шлифа, граничащем с поверхностью излома, отмечают анализируемый участок с помощью твердоме ра ПМТ-З, в котором алмазная пирамидка...

Номер патента: 308358

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Государственный, Грибко, Научно, Холодный

МПК: G01N 33/38

Метки: выбранного, изготовлении, локализации, прицельной, реплики, участка

...тем, что, с це точности исследован сор азрешающей при ер угольной, метку вом. частка путемуемого ью поия при ельной аносят Способ локал при изготовлени нанесения метки образца, отликао зобретения - повышениеследования при получениией прицельной реплики, н Цель иточности исразрешающутольной.Достигаетскрасящим вещНа острие тепени коко- ример гашения степен лученпи высо пликп, наприм расящим вещсст это тем, что меткуством.металлической иглы аносят аносят . Предлагаемое изобретение относится к технике электронно-микроскопических исследований и может быть использовано в цементной промышленности для минералогических исследований цементного клинкера и камня. 5Известен способ локализации выбранного участка при получении прицельных...

Номер патента: 405073

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Вител, Малинин, Серов

МПК: G01N 33/38

Метки: одноступенчатой, реплики

...образца в киотличающийся тем, что, с целыразца для повторных исследовния качества получаемой реплна образец угольную пленку нчатои реплики образца путемобразец угольстворением часслом растворе, о сохранения обаний и улучшеики, нанесенную укрепляют расИзобретение относится к исследованию с помощью микроскопии материалов, имеющих низкую механическую прочность и пористую структуру, например цементного камня.Известны способы получения одноступенчатой реплики с поверхности исследуемого образца путем предварительного нанесения на образец угольной пленки с последующим растворением частиц материала образца в кислом растворе. 1 ОЦель изобретения - обеспечение сохранности образца для повторных исследований и улучшение качества получаемой...