Способ выявления структуры материала
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 990707
Авторы: Кокшарова, Макарова, Плотникова
Текст
аяаител ермский политехнический инстнт(5 1 МАТЕРИАЛА ОБ ВЫЯВЛЕНИЯ СТРУК 1Изобретение относится к инию структуры и фаэного сых покрытий на металле.Для выявления структуры стекламеняют травление химически агрессными средами, где в качестве реагетравления иснольэуют плавиковуюту различных концентраций 1 .Для исследования структуры эмалплавиковая кислота не применяется,как она не выявляет гранины зерен.Бель изобретения - обеспможности выявления структ сследоваостава эмалеечение возуры эмали. о соглас матери роводят ости.в т приечесгуднем нты в г Бель достигается тем, чт способу выявления структуры путем травления, травление и 250-300 С в закрытой емк ние 1-2 ч водно-глицериновь желатина, содержашем компо следукяцем соотношении, вес% Желатин 20-33 Глицерин, 30-33 Воде 34-50П р и м е р 1. Способ выявленияграниц зерен поверхносгн эмалевых покрытий после эакелки изделий. при- Готовят состав травителя: 20 вес.% ив- желатина растворяют при 80-90 фС в нта50% воды и 30% глицерина в течение кисло-3 ч в сушильном шкафу при периодическом помешивании раствора. После поей лучения однородной смеси водно-глицеритак нового раствора желатина исследуемую.оповерхность эмали заливают толщинойслоя 20-30 мм и закрывают емкость,в которой травится образец, на 1,5 чпри250 фС. Затем поверхность обрища Окно лаждают, отмывают от продуктов травпеала ния и исследуют выявленную картину.Исследование ведут визуально, в биоло-.гический микроскоп или металлографический типа МКМв отраженном свете, всветлом поле.П р и м е р 2. Готовится состав водно-глицеринового студня по примеру 1при 70-80 фС, в течение 4-5 ч в.сушильном шкафу или на водяной бане После990707 4швди, замеряют твердость в локальных"я областях, по виду зерен дают оценку цравномерном распределении напряженийв объеме образца о анизотропии свой 5 ств эмали после соответствух 331 его режимма обработки. Составитель О. СамохинаРедактор Г, Еезвершенко ТехредЖ,Квстелевич Корректор Е.Рошко Заки.1 1:1. / 31 Тираж 484 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делм изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская нвб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 1 3приготовления студня образец заливакгг горячим раствором студня толщиной сло в 20 мм. Затем емкость, в которой тра вится образец, закрывают и при 300 С доводят студень ао обугливания. Выявляется структура зерна. Охлаждаю обрщец, отмывают от продуктов травления и исследуог структурное состояние эмали в оптический микроскоп в отраженном свете. 1 ОП р и м е р 3, Выявление границ зерна в образцах после отпуска и в исход ном состоянии.1Готовится состав водно-глицеринового студня желатина цри следующих соотноь 11 шениях кекцонвитов: вес, % желатин ЗЗ, вода 34 и глицерин 33.Желатину дают набухнуть в воде в течение 2-3 ч, затем добавляют глицерин при 80-90 С, перемешивая, получают в течение 3 ч однородный раствор водйо-глицеринового студня желатина. Образец погружают в раствор, закрывают, емкость и при 300 С в течение 1-2 ч травят поверхность эмали. Охлаждают, отмывают от продуктов травления, Исследуют поверхность, замеряя размер зерен, учитывая их количество нвединице плоформула изобретения 1Способ выявления структуры материа- ла путемтравления, о т л и ч а ющ и й с я тем, чгос целью обеспечения возможности выявления структуры эмали, травление проводят при 250-300 С в закрытой емкости в течение 1-2 час водно-глицериновым студнем желатина, содержащем компоненты в следующем соотношении вес. %:Желатин 20-33Глицерин 30-33Вода 34-50 Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Павлушкин Н. М. н др, Практикумцо технологии стекла и ситаллов.М., Стройиздат, 1970, с, 431.
СмотретьЗаявка
3293783, 07.05.1981
ПЕРМСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
МАКАРОВА ЛУИЗА ЕВГЕНЬЕВНА, ПЛОТНИКОВА ТАТЬЯНА БОРИСОВНА, КОКШАРОВА НИНА ГРИГОРЬЕВНА
МПК / Метки
МПК: C03C 15/00
Опубликовано: 23.01.1983
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-990707-sposob-vyyavleniya-struktury-materiala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ выявления структуры материала</a>
Способ получения изолированных алейроновых зерен растений риса
Номер патента: 1117013
Опубликовано: 07.10.1984
Авторы: Вишнякова, Красноок, Лебедев, Шведов
МПК: A01G 7/00
Метки: алейроновых, зерен, изолированных, растений, риса
...этапах центрифугирования надсадочные жидкости соединяются и после отделения центрифугированием клеточных стенок при 2200 .у в течение 10 минут получается фракция алейроновых зерен 1,В результате измельчения и многократйого применения органических растворителей тонкие субклеточные структуры, каКими являются алейроновые зерна, содержащие различные формы белка, ферментов и фитина, претерпевают необратимые изменения - белок частично или полностью денатурируется, а в результате механического воздействия цитоплазматические мембраны разрушаются. В результате выделения препарат загрязняется другими струк турными компонентами клеток, Подобные препараты алей роновых зерен не могут удовлетворить требованиям многих гистохимических реакций. Цель...
Поверхностно-активная добавка для обработки кожевенного сырья на операции отмока
Номер патента: 1832126
Опубликовано: 07.08.1993
Авторы: Батарев, Жиляева, Жуков, Ремизов, Синдеева, Ушакова
МПК: C07D 211/62, C11D 1/88
Метки: добавка, кожевенного, операции, отмока, поверхностно-активная, сырья
...фракции С 1 с-С 18 (ГОСТ 13937-80) и при перемешивзнии при температуре 20 - 250 С в течение 40 мин прибавляют 30 г хпарсупьфснсвай кислоты, Полученную сульфсмассу нейтрализуют при перемешивании и температуре 20 - 250 С в течение 30 мин 604 г папипегтида (ТУ 6-15-04-28-87 "0"), Пспуаат 674 г светло-желтой пасты, Реакционную массу знализируот аналогично примеру 1, В пасте оттитравывается 40 - 45% активнОГО Вещества.Строение поверхностна-активной ДО- бавки гадтверждена ИК-спектроскопией. Подготовку об раз ца для снятия спектра осуществляли следующим образом. Образец, полученный по примеру 2 предлагаемого, изобретения, растворялся в спирте, Тщательно тройной экстракцией петролейнцм эфиром Освобождался ат несульфируемцх соединений. После...
Способ выявления структуры тонкопленочных слоев металлов
Номер патента: 702296
Опубликовано: 05.12.1979
Авторы: Асташева, Карымов, Кочуков, Минеев
МПК: G01N 31/00
Метки: выявления, металлов, слоев, структуры, тонкопленочных
...фотографирование исследуемой поверхности, отличительные признаки которого состоят в том, что и водный раствор дополнительно вводят 5-10 вес,ч, азотнокислого серебра и повторно обрабатывают поверхность перекисью водорода, содержащей 5-10 вес.ч, азотнокислого серебра. П р и м е р, 5 г хлористоаммиачной меди растворяют в 100 мл дистиллированной воды и к раствору добавляют 5 г кристаллической азотнокислой соли серебра. Затем полученным раствором обрабатывают поверхность исследуемой пленки силицида переходного металла и нанесенный на поверхность раствор выдерживают в течение 40 мин. Образовавцтийся прн этом рыхлый осадок азотнокислого серебра смывают водой, Далее на поверхность ттаносят второй раствор, приготовлеттный раст3 702ворением 5 г...
Способ выявления дефектов с повышенными токами утечки в полупроводниковых структурах
Номер патента: 1010997
Опубликовано: 23.11.1985
МПК: H01L 21/66
Метки: выявления, дефектов, повышенными, полупроводниковых, структурах, токами, утечки
...меньшей напряжения отсечки до величины большей напряжения отсечки.Ограничение Оп с Оц обеспечивает стабильность пленки анодного окисла в процессе электрохимического осаждения металла, так как,пленка 3 . 101099 направлении, при котором ток через -11-переход течет только в местах дефектов 4 с повышенной утечкой тока, Силовые линии тока показаны .штриховыми линиями. 5Приведем обозначения величин напряжений, используемых в описании: 0 - напряжение при анодном окислеЦнии 0 - напряжение при электрохиф. ммическом осажцении металла, 0-, напряжение пробоя-Ь-перехода, 0 напряжение отсечки-Ь-перехода.Напряжение Ц 1, прикладываемое к электродам 7 и 8, падает в основном на-Ь-переходе в местах, 15 свободных от утечек. Для того, чтобы не...
Способ подготовки образцов для электронно-микроскопического определения структуры ситаллов
Номер патента: 1774223
Опубликовано: 07.11.1992
Авторы: Дубовик, Ивченко, Непомнящий, Райхел
МПК: G01N 1/28
Метки: образцов, подготовки, ситаллов, структуры, электронно-микроскопического
...дефектами структуры,Облегчающими диффузию, В результате этага на указанных границах возникают сжимающие напряжения: у литийсадержащихситаллав напряжения обусловлены заменойионов Ы- ситалла на ионы Ка+ из расплава,а у магнийсадержащих ситаллав - набивкойсвободных атомов углерода, которые образуются па реакции Будуара при взаимодействии углекислсга газа, выделяющегося приразложении К 2 СОЗ, с УГлерадам смеси,С 02+С (из,превеснага угля)=-2 СО;2 СО=-СО 2+. (свободный атом),Последующая Обработка образцов ситаллав в Водном растворе НГ Обеспечиваетбольшуа скорость .Гаавления на границахкристаллов и увеличение глубины травления па сравнению с остальной поверхностью(эффект Ребиндера), Получаемая затемВ Вакуум 8 Глатина-угольная реплика бал...
Предыдущий патент: Способ защиты поверхности изделий из диэлектрических материалов
Следующий патент: Способ обработки поверхности стекла
Случайный патент: Дисковый фрикционный тормоз