Способ выявления структуры тонкопленочных слоев металлов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Союз СоветскнхСоциалистнческикРеспубпнк ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(22) Заявлено 22.08.77 (21) 2523014/23-2 51)М, КлЯ 01 С 01 присоединением заявки 31/00 33/12 Гасударственный коетите СССР во делает изобретений и открытий23) Приоритет Опубл иков о 05.12.79. Бюллетень РЙ 45 43.06 088.8) 53) УД та опубликования опнсанття 10,12,(72) Авторы изобретения ов и С, С, Астацтева(54) СПССОБ ВЫЯВЛЕНИЯ СТРУКТСЛОЕВ МЕТАЛЛОВ 1 ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ Изобретение относится к способам выявления структуры тонкопленочных слоев металлов и может быть использовано в электронике для выявления микроструктуры в новых резистивных сплавах, применя емых для тонкопленочных резисторов.Известен способ выявления структуры тонкопленочных слоев металлов, заключающийся в том, что образец обрабатывают раствором-травителем и затем исследуемую поверхность фотографируют. В качест ве раствора-травителя применяют водный раствор, содержатций 5-15 вес, ч. хлорис,тоаммиачной меди, 1 тикриновую кислоту и этиловый спирт 11,Однако таким раствором-травителем нельзя выявить микроструктуру тонкопленочных силицидов переходных металлов.Целью изобретения является разработка способа, позволятощет.о производить анализ исследуемой микроструктуры тонкопленочных сипицидов переходных металлов. Цель достигается способом, включающим обработку водным раствором, содержащим 5-15 вес. ч. хлористоаммиачной меди, и последующее фотографирование исследуемой поверхности, отличительные признаки которого состоят в том, что и водный раствор дополнительно вводят 5-10 вес,ч, азотнокислого серебра и повторно обрабатывают поверхность перекисью водорода, содержащей 5-10 вес.ч, азотнокислого серебра. П р и м е р, 5 г хлористоаммиачной меди растворяют в 100 мл дистиллированной воды и к раствору добавляют 5 г кристаллической азотнокислой соли серебра. Затем полученным раствором обрабатывают поверхность исследуемой пленки силицида переходного металла и нанесенный на поверхность раствор выдерживают в течение 40 мин. Образовавцтийся прн этом рыхлый осадок азотнокислого серебра смывают водой, Далее на поверхность ттаносят второй раствор, приготовлеттный раст3 702ворением 5 г азотнокислого серебра в100 мл перекиси водорода,Протравленную пленку высущиваютфильтровальной бумагой. Структуру пленфки изучают при помощи оптического мик5роскопа, Полученную пленку также фотографируют и готовит фотоснимок,Предложенный способ дает воэможностьпроизводить анализ микроструктуры тонких пленок силицидов переходных металлов, что позволяет изучать структуру тон-копленочных резисторов, а в целом рещатьпроблему создания материалов с заранеезаданными свойствами.формула изобретенияСпособ выявления структуры тонкопленочных слоев металлов, включающий об 296работку водным раствором, содержащим 5-15 вес.ч, хлористоаммиачной меди, и последующее фотографирование исследуемой поверхности, о т л и ч а ю щ и й - с я тем, что, с целью анализа микроструктуры тонкопленочных силицидов переходных металлов, в водный раствор дополнительно вводят 5-10 вес,ч. а;ютнокислого серебра и повторно обрабатывают поверхность перекисью водорода, содержащей 5-10 вес,ч. аэотнокислого серебра. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1, Коваленко В, С. Металлографические реактивы, Справочник. М.,50,1973, с, 37 (прототип).Составитель Ю. КуценкоРедактор 3, Бородкина Техред С,Мигай Корректор Н. СтецЗаказ 7580/41 Тираж 1073 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открыти 113035, Москва, Ж, Раушская набд. 4/5 Филиал Г 1 ПП "Патент", г, Ужгород, ул, Проектная, 4
СмотретьЗаявка
2523014, 22.08.1977
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8525
МИНЕЕВ АЛЕКСЕЙ СЕМЕНОВИЧ, КАРЫМОВ ИГОРЬ ПАВЛОВИЧ, КОЧУКОВ ВАЛЕРИЙ ИВАНОВИЧ, АСТАШЕВА СВЕТЛАНА СЕРГЕЕВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 31/00
Метки: выявления, металлов, слоев, структуры, тонкопленочных
Опубликовано: 05.12.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-702296-sposob-vyyavleniya-struktury-tonkoplenochnykh-sloev-metallov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ выявления структуры тонкопленочных слоев металлов</a>
Предыдущий патент: Способ контроля сплошности
Следующий патент: Способ приготовления сорбента для газо-жидкостной хроматографии
Случайный патент: Установка для формования сшитого чулка заготовки обуви