Способ электромагнитной дефектоскопии

Номер патента: 834495

Авторы: Тетерко, Учанин

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 1 б 0579 (21) 27 б 7390/25-28 присоединением заявки йо 01 Я 27/9 осударственный комнте СССР по делам изобретений и открытий(72) Авторы изобретен ьь В.Н.Учанин и А.Я.Тетерко(71) Заявител изикоичес 4) СПОСОБ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ДЕФЕХТОСКОПИИ ся . нераэрушаюбыть испольэотров дефектов относ може па а нитной в том, возбужт поло танген Фекта мами бине ктро ющий здел реде ально поля макс а и агя я л предл агаемому яется споскопии, контровихревыующего авляющиео наличи глубиефект то в ждают льтир сост судят ости известные способы не обес измерения угла наклона тре верхности контролируемого- обеспечение и она плоскости тр изобретенияие угла накл е,изме Изобретение ищему контролю и твано для оценки р мтипа трещин.Известен способ эле, дефектоскопии, заключчто в контролируемомдают вихревые токи, ожение максимумов нормциальной составляющихи по расстоянию междусудят о наличии дефек,его залегания (1.Наиболее близким кпо технической .сущноссоб электромагнитнойзаключающийся в том,лируемом изделии возбтоки, выделяют из резэлектромагнитного полполя дефекта и по нимдефекта, его протяженне 2 .Однакопечиваютщины к поиэделия. институт АН Украинской, ССР,"ВФМ АИ щины к поверхности контролируемогоизделияПоставленная цель достигается тем,что измеряют амплитуду составляющейполя дефекта или ее градиент в направлении, перпендикулярном направлению трещины, определяют отношениеминимального знаМения амплитуды кмаксимальному ее значению и по полученному отношению определяют угол наклона плоскости трещины.к поверхности,контролируемого иэделия,Способ осуществляется следующимобразом.15 В контролируемом иэделии возбуждают вихревые токи и., сканируя поверхность иэделия, выделяют из результирующего электромагнитного поля ортогональные составляющие поля дефекта20 или его градиент, но которым судят оналичии трещины; ее. протяженности иглубине.Определив протяженность трещины,скаййруют контролируемую поверхйостьв .окрестности дефекта в направлении,перпендикулярном направлению трещины.В процессе сканирования измеряют максимальноеи минимальное значения амплитуды ортогональной составляющейЗО или градиента неортогональной состав834495 формула изобретения Составитель В. Рыкова Редактор А.Лежнина Техред М. Голинка Корректор,М.ДемчикЗаказ 4058/65 Тираж 907 .: Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП ффПатентфф, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 ляющей электромагнитного поля, обусловленного трещиной. Определяют отношение минимального значения амплитуды к максимальному ее значению и по полученному отношению с помощью экспериментальных диаграмм определяют угол между плоскостью трещины и контролируемой поверхностью.Задача определения угла наклона, . в частности поверхностной трещины, ,имеет важное техническое значение, так как позволяет дать более объективную оценку дефекта с позиций механики разрушения, а также, решить вопрос о целесообразности устранения трещины в оболочках путем сошпифовки слоя металла определенной толщины. Способ электромагнитной дефектоскопии, заключающийся в том, что в контролируемом изделии возбуждают 4вихревые токи, выделяют иэ результирующего электромагнитного поля составляющие поля дефекта и по ним судято наличии дефекта, его протяженностии глубине, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью обеспечения и измерения угла наклона плоскости трещинык поверхности контролируемого изделия,измеряют амплитуду составляющей полядефекта или ее градиент в направлении,перпендикулярном направлению трещины,определяют отношение минимального значения амплитуды к максимальному ее значению и .по полученному отношению определяют угол наклона плоскости трещины к поверхности контролируемого15 изделия.Источники информации,принятые во внимание при экспертизеАвторское свидетельство СССРР 599201, кл. 6 01 М 27/86, 1976.20 2. Авторское свидетельство СССРР 632946, кл. 6 01 Ю 27/86, 1977.

Смотреть

Заявка

2767390, 16.05.1979

ФИЗИКО-МЕХАНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ АН УКРАИНСКОЙССР

УЧАНИН ВАЛЕНТИН НИКОЛАЕВИЧ, ТЕТЕРКО АНАТОЛИЙ ЯКОВЛЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектоскопии, электромагнитной

Опубликовано: 30.05.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-834495-sposob-ehlektromagnitnojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ электромагнитной дефектоскопии</a>

Похожие патенты