Устройство для измерения отклонений формы поверхности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 560132
Авторы: Белоусов, Лицын, Селютин, Черномордик
Текст
О П И С А Н И Е56032 союз Советских Социалистических Республик(23) ПриоритетОпубликовано 3 осударственный комитет Совета Министров СССР ДК 531.717(088,8 5.77, Бюллетень2 делам изобретен рытий ата оп бликования описания 04.07.7(72) Лвторы изобретения Е. В. Белоусов, Н ицын, В. В. Селютин и В, А. Черномордик Заявител Пермский политехнический институ(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИИзобретение относится технике и может быть исп троля формы поверхности видов обработки.Известны устройства дл по напряжению пробоя, со тор возрастающего напря блок регистрации. к измерительной льзовано для конпосле различны;,ны с выводами измерительных электродов, а выходы подключены к управляющим входам ключевых элементов, блоками памяти, подключенными к выходам ключевых элементов, и блоком деления, входы которого соединены с выходами блоков памяти, а выход подключен к входу блока регистрации.На чертеже представлена блок-схема предлагаемого устройства,Устроиство содержит генератор 1 возрастающего напряжения, подключенный к измерительным электродам 2 и 3, образующим измеряемый и эталонный зазоры. Выводы измерительных электродов подключены через формирователи 4, 5 к управляющим входам ключевых элементов 6, 7 и к сигнальным входам этих же элементов. Выходы ключевых элементов 6, 7 подключены к входам блоков 8, 9 памяти, выходы которых соединены с входами блока 10 деления. Выход блока 10 деления подключен к входу блока 11 регистрации.Устройство работает следующим образом, На измеряемый и эталонный зазоры подается возрастающее напряжение с генератора 1. При определенных уровнях напряжения происходит пробой соответствующих зазоров. Формирователи 4, 5 управляющих сигналов при скачкообразном изменении тока, сигнализнрующем о пробое в соответствующем зання зазора 5 ие генераэлсктрод и я изме держа жения Наиболее б изобретению рения отклон жащее измер щие эталонну стающего на мерительным лизким теявляетсяений форьительныео поверхнпряжения,электрол ническим решени стройство для и ы поверхности, со электроды, обра ость, генератор во подключенный к ам, и блок реги змедер- зую- зра- из- трастроиства имею вленную тем, чт т не только от измеряемой пов словий (темпера Однако эти ность, обусло пробоя зависи электродами и и от внешнихсти и пр.). Цель изобре измерения. Это достига жено ключевь входы которых рительных эле равляющих синизкую точнапряжение азора между 20рхностью, но уры, влакнония - повыш е точнос тся тем, что устр ми элементами, соединены с вы тродов, формиро налов, входы кото оиство снаосигнальные одами измеателями упых соедине56032 Формула изобретения Составитель А. Куликов Техред О. Тюрина Редактор О. Юркова Корректор Н. Аук Заказ 1392/2 Изд.498 Тираж 907 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раугпская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 зоре, открывают соответствующий ключевой элемент 6 или 7, и напряжение пробоя записывается в блоке 8 или 9 памяти. 0 величине зазора судят по отношению напряжения пробоя измеряемого зазора к напряжению пробоя эталонного зазора. Эта операция осуществляется в блоке 10 деления.Несколько измерительных электродов могут образовывать эталонную поверхность, относительно которой определяются отклонения формы измеряемой поверхности. Устройство для измерения отклонений формы поверхности, содержащее измерительные электроды, образующие эталонную поверхность, генератор возрастающего напряжения, подключенный к измерительным электродам, и блок регистрации, отличающееся тем, 5 что, с целью повышения точности измерения,оно снабжено ключевыми элементами, сигнальные входы которых соединены с выводами измерительных электродов, формирователями управляющих сигналов, входы которых 10 соединены с выводами измерительных электродов, а выходы подключены к управляющим входам ключевых элементов, блоками памяти, подключенными к выходам ключевых элементов, и блоком деления, входы которого 15 соединены с выходами блоков памяти, а выход подключен к входу блока регистрации,
СмотретьЗаявка
2163729, 08.08.1975
ПЕРМСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
БЕЛОУСОВ ЕВГЕНИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, ЛИЦЫН НАТАН МОИСЕЕВИЧ, СЕЛЮТИН ВИКТОР ВАСИЛЬЕВИЧ, ЧЕРНОМОРДИК ВЛАДИМИР АБРАМОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/34
Метки: отклонений, поверхности, формы
Опубликовано: 30.05.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-560132-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-otklonenijj-formy-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения отклонений формы поверхности</a>
Предыдущий патент: Устройство для бесконтактного измерения угла наклона
Следующий патент: Устройство для измерения перемещений
Случайный патент: Способ получения масел