Устройство для аттестации штриховых мер

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1 ц 505005 Сосе Советских Саниалнстнческнх Республик(51) М Кч г О 02 В Государственный комнте Совета Министров ССС(23) Приоритет публиковано 28. ата опубликова Бюллетеньпсания 26.04,772) Авторы изобретения анилов и А, А. Мутовкин 1) Заявите еверо-Западный заочный политехнический институт 4) УСТРОЙСТВО ДЛЯ АТТЕСТАЦИИ ШТРИХОВЫХ МЕ асти прибором ля аттестаНа черсхема прУстрой1 содержсвета (лапосредств1 паралл Изобретение относится к облстроения, а именно к устройства дции штриховых мер длины,Известны устройства для аттестации мер длины (штриховых), содержащие регистрирующую систему с фотоприемниками и эталонный элемент, служащий для компарации.Цель изобретения - упрощение конструкции устройства, повышение его точности и создание возможности аттестации штриховых мер в процессе нарезания их на делительной машине.Это достигается тем, что эталонный элемент выполнен в виде диафрагмы с двумя щелями, расстояние между которыми равно единице масштаба нарезаемой штриховой меры, а два фотоприемника регистрирующей системы установлены напротив щелей диафрагмы для регистрации положения дифракционных минимумов от щели и аттестуемого штриха,еже представлена принципиальная длагаемого устройства,тво для аттестации штриховой меры т источник 2 монохроматического ера), оптическую систему 3, В ненной близости от нарезаемой меры льно ее плоскости расположена образцовая диафрагма 4, имеющая две щели 5, расстояние между которыми выдержано строго в соответствии с масштабом нарезаемой меры и равно шагу подачи стола делительной 5 машины. За щелями 5 диафрагмы 4 установлены два фотоприемника 6 с частотным выходом, что обеспечивается использованием лампового мультивибратора с положительным смещением на сетке (на чертеже не показан).10 Перед фотоприемниками размещены диафрагмы 7, обеспечивающие прохождение накатод (не показан) фотоприемника светового потока в зоне первого минимума дифракционной картины. Обработка сигнала с фотоприемников 6 15 происходит в дифференциальном усилителе 8и частотомере 9.Штриховая мера 1 перемещается вместе состолом (не показан) делительной машины при нарезании очередного штриха, освещается ис точником 2 монохроматического света. Лучлазера расширяется и коллимируется оптической системой 3. Далее фотоприемники 6 регистрируют манимумы дифракционной картины от щели 5 и аттестуемого штриха 10.25 Сигналы с фотоприемников поступают на усилитель 8 и далее на частотомер 9. Таким образом, симметричное расположение штрихов меры относительно центра диафрагмы 4 и,505005 Формула изобретения Составитель В. ВанторинРедактор И. Грузова Текред М, Семенов Корректор Л. Орло1155 Тираж 654ственного комитета Совета Министрелам изобретений и открытийосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5 ПодписноСР Заказ 831/17 Из ЦНИИПИ Госуд по 113035, ипография, пр. Сапунова,кроме того, относительно центра прорезей диафрагмы соответствует номинальному размеру между штрихами, т. е. погрешность аттестованных штрихов равна О, В этом случае сигнал на выходе системы также равен нулю. Любое смещение штриха меры в прорези диафрагмы 4 вызывает изменение дифракционной картины в плоскости диафрагмы 7, т, е, смещение порядков дифракционной картины. Это обусловливает появление на выходе системы сигнала, пропорционального данному смещению. При этом погрешность из-за нестабильности подачи стола делительной машины не влияет на точность аттестации, поскольку регистрирующая система дифференцирует смещение каждого штриха относительно своей прорези, выдавая на выход дифференциальный сигнал. Устройство для аттестации штриховых мер,содержащее регистрирующую систему с фо топриемниками и эталонный элемент, служащий для компарации, отличающееся тем, что, с целью упрощения конструкции устройства, повышения его точности и создания возможности аттестации штриховых мер в про цессе нарезания их на делительной машине,эталонный элемент выполнен в виде диафраг.мы с двумя щелями, расстояние между которыми равно единице масштаба нарезаемой штриховой меры, а два фотоприемника регист рирующей системы установлены напротив щелей диафрагмы для регистрации положения дифракционных минимумов от щели и аттес.туемого штриха.