Способ изучения текстуры внутренних поверхностей цилиндрических изделий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОП ИСАИЗОБРЕТЕНИЯ п 463897 Соизэ Советских Социалистических Республик(51) М. вкирисоединениев 23) Прио Государстееннын комитетСовета Министров СССРпо делам изобретенийи открытии,03.75. Бюллетень М та опубликования описания 28.04,7 2) Авторы изобретени И, В, Мацегорин, М Н, А. Соко71) Заявител Московский ордена Т инженерно-ф) СПОСОБ ИЗУЧЕНИЯ ТЕКСТУРЫ ПОВЕРХНОСТЕЙ ЦИЛИНДРИЧЕСКИУТРЕН НИ ЗДЕЛ Ий 2 г, 1 - 3. тгеновучка. СкольИзобретение относится к области рентгеноструктурного анализа.Известный способ исследования текстуры кристаллических тел заключается в том, что на исследуемую поверхность направляют пучок рентгеновских лучей, регистрируют отраженный пучок и по дифракционной картине судят о преимущественной ориентации кристаллов на исследуемом участке поверхности.Известный способ в рамках его обычной реализации неудобен для исследования текстуры внутренних поверхностей цилиндрических изделий, в связи с чем необходимо предварительно производить разрушение изделия. Кроме того, известный способ недостаточно экспрессен.Для повышения экспрессности исследования по предлагаемому способу внутрь изделия вводят источник рентгеновского излучения с широкой расходимостью пучка, и детектор, формируют конусообразный пучок с требуемым углом раствора конуса с помощью, например, экрана, регистрируют детектором отражения от кольцевого участка изделия при перемещении источника, экрана и детектора вдоль трубы.Предлагаемый способ поясняется фи Внутрь трубы 1 вводят источник 2 рен ских лучей с широкой расходимостью п помощью круглого экрана 3 вырезают В, Наумов, А. А. Русаковв и В, Н, Яльцевудового Красного Знамензический институт цевой конический пучок, который облучает кольцевую внутреннюю поверхность изделия.Угол раствора конуса регулируют взаимным перемещением источника 2 и экрана 3. Расстояния между источником, экраном и детектором, а также размер экрана выбираются таким образом, чтобы регистрировать отражения от одного типа кристаллографических плоскостей. Отраженные от исследуемой поверх ности рентгеновские лучи регистрируют детектором 4. Источник 2, экран 3 и детектор 4 перемещают вдоль трубы 1, получая, таким образом, информацию о текстуре всей внутренней поверхности изделия.15 Описанный способ реализован при исследовании ориентированных металлических покрытий внутри металлических трубок различного диаметра от 15 до 30 мм и длиной до 80 мм (указанные размеры не ограничивают способ 20 исследования). Источник рентгеновских лучей(диаметр около 10 мкм) с широкой расходимостью получен с помощью фокусировки пучка электронов на тонкую металлическую фольгу (в рабочей камере электронного микроско па УЭМ),Размер экрана и расстояние его от источника выбраны так, что можно регистрировать отдельно отражения рентгеновских лучей от кристаллографических плоскостей покрытия 30 типа (110) и (200), В качестве детектора це463897 Фиг. 1 4 иг 2 фиг. Д Составитель К. КононовРедактор И. Шубина Техред О, Гуменюк Корректор Л. Котова Заказ 972/7 Изд. Хз 1186 Тираж 902 ПодписноеЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССРпо делам изобретений и открытийМосква, Ж, Раушская наб., д, 45 Типография, пр. Сапунова, 2 лесообразно использовать двумерные детекторы с ионизационной регистрацией. Предмет изобретенияСпособ изучения текстуры внутренних поверхностей цилиндрических изделий, заключающийся в том, что на исследуемый участок направляют пучок рентгеновских лучей, регистрируют отражения и по размытию дифракционной картины судят о параметрах текстуры, отличающийся тем, что, с целью повышения экспрессности исследования, внутрь изделия вводят источник рентгеновского излучения с широкой расходимостью пучка и детектор, формируют конусообразный пучок с требуемым углом раствора конуса с помощью, например, экрана, регистрируют детектором отражения от кольцевого участка изделия при одновременном перемещении источника, экра на и детектора вдоль трубы.
СмотретьЗаявка
1976200, 14.12.1973
МОСКОВСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНЖЕНЕРНО ФИЗИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
МАЦЕГОРИН ИГОРЬ ВАЛЕРЬЯНОВИЧ, НАУМОВ МИХАИЛ ВЛАДИМИРОВИЧ, РУСАКОВ АРТЕМИЙ АРСЕНЬЕВИЧ, СОКОЛОВ НИКОЛАЙ АНДРЕЕВИЧ, ЯЛЬЦЕВ ВАЛЕРИЙ НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 23/20
Метки: внутренних, изучения, поверхностей, текстуры, цилиндрических
Опубликовано: 15.03.1975
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-463897-sposob-izucheniya-tekstury-vnutrennikh-poverkhnostejj-cilindricheskikh-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ изучения текстуры внутренних поверхностей цилиндрических изделий</a>
Рентгеновский спектрометр для исследования структурного совершенства монокристаллов
Номер патента: 894502
Опубликовано: 30.12.1981
Авторы: Имамов, Ковальчук, Миренский, Суходольский, Шилин
МПК: G01N 23/207
Метки: исследования, монокристаллов, рентгеновский, совершенства, спектрометр, структурного
...на собственном поворотном держа" теле 13, установленном на держателе 8.Все держатели 3, 5, 8, 13 снабжены, как это принято в дифрактометричес- фо кой аппаратуре, средствами юстировки кристаллов путем их перемещения в двух взаимно перпендикулярных направлениях, как зто, например, реализовано в известном устройстве, 65 Спектрометр работает следующим образом.Рентгеновский пучок от стационарного источника 1 падает на первый кристалл-монохроматор 2, установленный в отражающее положение, например, с помощью детектора (не показан), Отраженный от кристалла-монохроматора 2 рентгеновский пучок падает на воторой кристалл-монохроматор 4,установленный параллельно монохроматору 2 с помощью поворотной платформы 6 и поворотного держателя 5. При этом...
Устройство для облучения изделий пучком электронов
Номер патента: 1190953
Опубликовано: 20.02.1995
Авторы: Дмитриев, Иванов, Овчинников, Свиньин, Федотов
МПК: H05H 5/00
Метки: облучения, пучком, электронов
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБЛУЧЕНИЯ ИЗДЕЛИЙ ПУЧКОМ ЭЛЕКТРОНОВ, содержащее ускоритель электронов с электронной пушкой, подключенный к источнику ускоряющего напряжения, электромагниты развертки, установленные на выходе ускорителя и подключенные к ним генераторы развертки, а также расположенные после электромагнитов развертки поворотные электромагниты постоянного магнитного поля, отличающееся тем, что, с целью повышения однородности дозы облучения изделий и увеличения коэффициента использования электронного тока, в устройство введены дополнительные поворотно-развертывающие электромагниты и подключенные к ним источники постоянного тока и генераторы пилообразного тока, а также модулятор тока пучка, при этом дополнительные поворотно-развертывающие...
Способ измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок
Номер патента: 699487
Опубликовано: 25.11.1979
МПК: G04F 13/00
Метки: длительности, переходных, процессов, пучками, системах, трубок, электроннолучевых, электронными
...точку экрана ЗЛТ, а регулировкой тока источника 14фокусируют откпоненный луч. ОтпираниеЭЛТ осуществляют периодическими импульсами, формируемыми формироватедемимпульсов подсвета 17, работа которогосинхронизирована генератором прямоугопьных импульсов 5. Механизмом перемещения 19 устанавливают микроскоп 18так чтобы световое пятно, формируемое нвэкране ЗПТ оказалось (приблизительно)в центре поля зрения микроскопа. Отмечают положение светового пятна. Поспеэтого переключателями 6 и 7 подсоединяют входы кпючей 9 и 10 к выходу ге 40нератора 5 прямоугольных импульсов,Световое пятно занимает положение,соответствующее началу переходного процесса. Увеличивая задержку при помощиэлемента задержки 16, набпюдвют пе 45ремещение светового пятна в...
Прибор для демонстрирования законов отражения и преломления световых лучей
Номер патента: 88148
Опубликовано: 01.01.1950
Автор: Глазырин
МПК: G09B 23/22
Метки: демонстрирования, законов, лучей, отражения, преломления, прибор, световых
...введением приспособления, выполненного в виде нескольких поворотных зеркал,разбивающих пучок света на несколько лучей, направляемых на линзы под разными углами.На фиг, 1 изображен общин вид описываемого поибора; на фиг. 2 - этот же прибор, впд сзади; на. фиг. 3 в устройст осветителя.Прибор состоит пз диска 1 с градусной шкалой, закрепленного на стойке 2, осветительного устройства 3, монтированного на стержне 4, поворачивающемся вокруг оси 5 и снабженном стопорным винтом б, а также набора линз, зеркал и других приспособлений, монтируемых на диске 1.Осветитель 3 состоит пз источника света 7, линзы 8, шапбы 9 с тремя щелевыми отверстиями и поворотных зеркал 10, монтпрованных в общем кожухе 11.Для демонстрирования законов отражения и...
Устройство для автоматического исследования предметов на пороки с помощью рентгеновских лучей
Номер патента: 49407
Опубликовано: 31.08.1936
МПК: G01N 23/02
Метки: исследования, лучей, помощью, пороки, предметов, рентгеновских
...На этом чертеже цифрой / обозначена движущаяся по рельсам 3 каретка, на которой перемещается перед рентгеновской трубкой 4 исследуемый пред. мет 5, выполненный, например, из двух материалов 5 и 5". Цифрой 2 обозначен составляющий сущность изобретения экран, выполненный из аналогичного с испытуемым объектом материала (в данном частном случае из двух материалов 2 и 2"). Экран 2 перемещается вместе с испытуемым предметом.Цифрой б на чертеже обозначена свинцовая бленда для фокусировки лучей.Принцип действия экрана заключается в том, что он приводит просвечиваемую толщину исследуемого предмета к одной и той же величине. Эта величина равна наибольшей толщине исследуемого предмета (вернее, наибольшему поглощающему сечению предмета), Там,...
Предыдущий патент: Устройство для дефектоскопии на основе просвечивания их гамма излучениями
Следующий патент: Ренгеновский дифрактометр
Случайный патент: Усилитель