Способ измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок

(22) Заявлено 08.02.78(21) 2577510/18-1 рнсоединениеи заявки,% Гвсудерстаанньй канатат СССР аа делам лэабретеилл в аткрмтайОпубликовано 25,11.79. Бюллетень И 4 Дата опубли кования описания 2 8, 1 1. 79 2) Авторыизобретен(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИТЕЛЬНОСТИ ПЕРЕХОДНЫХ ПРОЦЕССОВВ. СИСТЕМАХ УПРАВЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОННЫМИ ПУЧКАМИЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВЫХ ЧРУБОК фронИзобретение относится к измеритепьной технике и может быть использованопри исследовании процессов отклоненияи фокусировки,Известен способ опредепения длительности переходных процессов в эпектромагнитной отклоняющей системе, основанный на наложении изображений, высвечиваемых при прямом и обратном ходепуча 11,Недостатками этого способа являютсясравнитепьно низкая точность и сложность измерения. Эти недостатки вызваны сложностью опредепения точки пересечения линий прямого и обратного ходалуча.Цепь нзобретенФ - повышение точности измерений и расширение функциональных возможиостей.Дпя этого по предлагаемому способупредварительной регулировкой величинуправпяюших сигналов в статическом режиме устанавпивают требуемые значенияпараметров следа электронного пучка на экране эпектроннопучевой трубки, послечего подают в исспедуемые цепи управпяюшие сигнапы в виде периодическихимпульсов прямоугольной формы, причемдлитепьность импульсов устанавливаютбольше ожидаемой дпитепьности переходного процесса, а амппитуду - равнойзначению, установленному в статическомрежиме, электроннолучевую трубку отпирают периодическими импульсами, длительность которых меньше длительностиимпульсов управляющих сигналов, периодические импульсы формируют синхроннос импульсами управляющих сигналов сзадержкой относительно их переднихтов,На чертеже изображена структурнаясхема установки, реализующей предлагаемый способ,Установка содержит электроннолучевую трубку 1, откпоняюшую систему 2,системы динамической фокусировки 3 истатической фокусировки 4, генераторпрямоугольных импульсов 5, перекпю3 699чатели 6, 7 и 8, электронные ключи 9,10 и 11, регулируемые источники тока12-15, регулируемый эпемент задержки16, формирователь импульсов подсвета 17, микроскоп 18, механизм 19 пе,ремещения микроскопа, шины нулевогопотенциала 20 и опорного напряжения 21.Способ осуществляют следу 1 ошим образом,Переключателями 6, 7 и 8 подкпючвют 10входы ключей 9, 10 и 11 к шине 20 ну,левого потенциала. При атом выходы источников тока 12, 13 и 14 отключаютсяот отклоняющей системы 2 и системыдиНамической фокусировки 3. Регупировкой источника тока 15 фокусируют неотклоненный луч, после чего переключателями 6, 7 и 8 подключают входы ключей9,10 и 11 к шине опорного напряжения.При этом кпючи 910 и 11 подключают 20источникит тока 12, 13 и 14 к катушкамотклоняющей системы 2 и системы динамической фокусировки 3. Регулировкойтока источников 12 и 13 обеспечиваютотклонение луча в заданную точку экрана ЗЛТ, а регулировкой тока источника 14фокусируют откпоненный луч. ОтпираниеЭЛТ осуществляют периодическими импульсами, формируемыми формироватедемимпульсов подсвета 17, работа которогосинхронизирована генератором прямоугопьных импульсов 5. Механизмом перемещения 19 устанавливают микроскоп 18так чтобы световое пятно, формируемое нвэкране ЗПТ оказалось (приблизительно)в центре поля зрения микроскопа. Отмечают положение светового пятна. Поспеэтого переключателями 6 и 7 подсоединяют входы кпючей 9 и 10 к выходу ге 40нератора 5 прямоугольных импульсов,Световое пятно занимает положение,соответствующее началу переходного процесса. Увеличивая задержку при помощиэлемента задержки 16, набпюдвют пе 45ремещение светового пятна в поле зрения микроскопа. Определяют положениерегулятора элемента задержки 16, прикотором пятно с заданной точностью устанавпивается в попожение, определенное50в статическом режиме, и отклонение отэтого гЬложения не увеличивается придальнейшем увеличении задержки.По показаниям шкалы элементе задержки 16 определяют дпательность переходного55процесса отклонения. Аналогичным образом определяют длительность переходного процесса в системе динамическойфокусировки., Переключателями 6, 7 и 8 487 4подкпючают входы ключей 9, 10,11 кшине 20 нулевого потенциала и регулировкой тока источника 15 фокусируютлуч. После этого переключатепями 6,7и 8 подключают входы кпючей 9, 10. и11 к шине опорного напряжения 21 ирегулировкой тока источника 12, 13 и14 обеспечивают требуемое положениеи размер светового пятна, Затем переключателем 8 подключают источник тока14 к генератору 5 и, увепичивая задержку, добиваются размеров пятна, установленных в статическом режиме. Нлитепьность переходного процесса определяютпо показаниям шкалы элемента задержки.Способ применим также для определения длительности переходных процессов в системахдинамической коррекции астигматизма.Формула изобретения,Способ измерения длительности переходных процессов в системах управленияэлектронными пучкачи электроннолучевых трубок, основанный на формированиипериодических импульсов управляющихсигналов в исследуемых цепях фокусируюше-отклоняющей системы и наблюдении за величиной соответствующего параметра следа электронного пучка нвакране электроннолучевой трубки, о тл и ч в ю щ и й с я тем, что, с цельюповышения точности и расширения функциональных возможностей, предваритепьной регулировкой величин упрввпяюшвхсигналов в статическом режиме устанавливают требуемые значения параметровследа алектронного пучка - положения,размеров, формы - нв экране электроннолучевой трубки, после чего подают в исследуемые цепи управляющие сигналы ввиде периодических импульсов прямоугольной формы, причем длительностьимпульсов устанавливают бопьше ожидаемой длительности переходного процесса, а амплитуду - равной значению,установленному в статическом режиме,электроннолучевую трубку отпирают периодическими импульсами, длительностькоторых устанавпивают меньше длительности импульсов управляющих сигналовв исследуемых цепях, периодическиеимпульсы формируют синхронно с импульсами управпяюших сигналов в исследуемых цепях с задержкой относительно их передних фронтов.Источники информации,принятые во внимание при акспертизе1, Вопросы радиоэлектроники, серия Техника телевидениями, вып. 3, 1970, с, 53-5 5.699487 ль Г. Виногр ос 25/51 Тнраж 502БНИИП И Государственного комитетапо делам,изобретений н о гкрытий 13035, Москва, Ж-ЗБ, Раушская н ПодписноеССР диад ППП "Патент, г. Ужгород,ная едактор Т. Иванова Техред О. Андрейко корректор Е. Папп