ZIP архив

Текст

ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 4 2533 Союз Советских Социалистицесних Республикависимое от авт. свидетельства-М. Кл. 6 01 п 21/О 6924/22-1) влено 24,1 Ч,197 присоединением заявкиГосударстаенный комитет Совета Министров СССР по делам изобретений и открытийПриорите 620.186. убликовано 25,1.1974. Бюллетень3 Дата опубликования. описания 20 Л.19 второбретения В, К. Кузи Заявител нтральный научно-исследовательский институт технологиимашиностроения НОГО УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАЛИЗА СТР СОСТАВА ВЕЩЕСТВА конструкции устанализа структурИзобретение касаетсяройств для количественногоного состава веществ.Известно устройство для анализа структурного состава вещества по фотографии его микроструктуры, включающее пластину - основание и вспомогательную пластину, которая вместе с укрепленной на ней фотографией микроструктуры .и линейкой с делениями может двигаться в двух взаимно перпендикулярных направлениях по пластине-основанию.Перемещения вспомогательной пластины фиксируются на соответствующих шкалах.Количественные соотношения между структурными элементами определяют методом отрезков.Цель изобретения - интенсифицировать процесс анализа структурного состава.Это достигается тем, что вспомогательная пластина выполнена из прозрачного материала, на ее поверхность нанесено ограниченное рамкой поле меток, равноудаленных друг от друга.На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство; на фиг. 2 - то же, с фотографией исследуемой микроструктуры.Предлагаемое устройство состоит из пластины-основания 1, вспомогательной йластины 2 из прозрачного материала с равномерно нанесенными метками в виде треугольников,Количество меток на единицу площади выбирается исходя из допустимой погрешности исследования. Поле с метками ограничено непрозрачной рамкой. Метки и рамка наносятся 5 на поверхность пластины 2 со стороны пластины-основания 1. Пластины 1 и 2 соединены между собой двумя парами винтов 8 и гаек 4.Структурный анализ исследуемого сплавапроводят следующим образом.Между пластинами 1 и 2 вставляется фотография б исследуемой микроструктуры. Фотографию устанавливают через прорезь на ,пластине 1 в такое положение, чтобы снимок полностью располагался в рамке пластины 2 и фиксируют с помощью винтов и гаек 8 и 4.Анализ проводят точечным методом. Подсчитывают количество меток, попадающих на каждый из определяемых структурных элементов. Затем вычисляют процентное соотношение меток каждой структуры.Полученное соотношение соответствуетпроцентному содержанию структурных элементов во всем объеме сплава. Для фиксации изучаемого участка фотографии может быть 25использован магнитныи движок-указатель, пеиремещаемый вручную по пластине 2.В этом случае пластина 1 изготавливаетсяиз магнитного материала, например стали.Для большего сцепления с поверхностью Опластины 2 на движок-указатель б наклеива, Харьк, фил. пред. Патент ют прокладку 7 из материала, увеличивающе- го коэффициент трения, например:из резины. 5Устройство для анализа структурного состава вещества по фотографии его микроструктуры, включающее пластину-основание и1 вспомогательную пластину, отличающееся тем, что, с целью интенсификации анализа, вспомогательная пластина выполнена из прозрачного материала, на ее поверхность нанесено ограниченное рамкой поле меток, равноудаленных друг от друга, а пластина-основание изготовлена с прорезью для установки фотографии.

Смотреть

Заявка

1776924, 24.04.1972

МПК / Метки

МПК: G01N 21/01

Метки: 412533

Опубликовано: 25.01.1974

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-412533-412533.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">412533</a>

Похожие патенты