Способ получения шлифов для микроструктурного анализа стеклопластиков

Номер патента: 1582098

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Косячков, Трилецкий, Черепин

МПК: G01N 23/203

Метки: анализа, атомной, поверхности, структуры

...комбинат Патент, г. Ужгород, ул. Гагарина, 1 О,(111), равное 4,47 А, что хорошо соответствует объемному значению 4,44 А в этом же направлении, Ошибка при определении д составляет 0,03 А при точности определения критического угла скольжения 0,25.При исследовании атомной структуры поверхности Мв (111) известным способом из-за неопределенности в выборе уровня нахождения критического угла скольжения 0,5 - 0,9 от максимальной интенсивности ,значение а, (170) меняется от 49 до 52, При этом возникает неопределенность в измерении д,+0,2 А. При измерении того же расстояния предлагаемым способом с учегом того, что точность определения критических углов скольжения составляет 0,25, ,из-за неопределенности в выборе уровня в...

Номер патента: 938113

Опубликовано: 23.06.1982

Авторы: Андреева, Хапачев

МПК: G01N 23/20

Метки: анализа, дифракционного, монокристаллов, структуры

...состоящем втом, что направляют на поверхность крис талла рентгеновский луч, измеряют интенсивность луча, дифрагированного через грань кристалла, непараллельную его поверхности, глубину исследуемого слоя изменяют при постоянном угле дифракции путем поворота кристалла вокруг двух взаимно перпендикулярных пересекающихся друг с другом и с подающим лучом 13 4осей, лежащих в плоскости поверхности кристалла, одна из которых лежит в плоскости, проходящей через падавший луч и нормаль к поверхности кристалла.Кроме того, при изменении угла падения излучения в плоскости, параллельной поверхности кристалла, в условиях некомнланарной геометрии эксперимента фиксируются различные порядки отражения. Регистрация дифрапгрованной волны осуществляется...

Номер патента: 731358

Опубликовано: 30.04.1980

Авторы: Бободжанов, Жбанков, Иванова, Марупов, Шишко, Юсупов

МПК: G01N 21/00

Метки: анализа, структуры, целлюлозы

...ЭПР и определяют изменение относительного содержания неупорядоченных областей целлюлозы в зависимости от условий гидролиза. Оценку изменения относительного содержания неупорядоченных областей проводят по соотношению приведенных интенсивностей компонент ЭПР-спектров (1 е/1+4) анализируемого образца по отношению к исходному образцу (см. фиг. 1).Расчет проводят по формулеК -100 О:.А4 исхВ таблице приведены данные о значениях относительной интенсивности центральной и низкопольной компоненты изученных образцов.На фиг. 1 приведены спектры ЭПР гидролизованной при различных температурах целлюлозы с эталоном марганца.Значения параметров относительной интенсивности центральной компоненты к левой компоненте ЭПР-спектра (1 о/1+) и показатель...

Номер патента: 780008

Опубликовано: 15.11.1980

Автор: Белозерский

МПК: G06F 17/18

Метки: анализа, двоичных, последовательностей, структуры

...данного набора значений. Эта информациязаписывается в счетчики 8 и 9 соот- Щ ветственяо, после чего сигнал теку"щего значеййя"последовательности,присутствующий на шине 13, поступаетна вход счетчика 8, а блок 6 управления вырабатывает синхронизирующий сигнал 17, поступающий на входсчетчика 9. В счетчиках 8 и 9 про. "изводится-суммирование, т.е. корректировка частоты появления значения"1" после данного набора. Затем блокб управления вырабатывает на шине 30 16 сигнал Запись, благодаря которому информация со счетчиков 8 и 9" зайисывается в соответствующую ячейку блока 7 памяти.Таким образом, производится форми рование распределения частот появления будущих значений, равных "1",, в зависимости от предыдущих значений предсказываемой...

Номер патента: 1035484

Опубликовано: 15.08.1983

Авторы: Жбанков, Фирсов

МПК: G01N 21/62

Метки: анализа, структуры, целлюлозы

...аммиаком; кривая д спектр. образца древесной цеппюпозы.Обнаружено, что в спектре микрокриотаппической целпюпоэы (высокоупорядоченная цеппюлоэа) присутствует пишь 40 НзС СН)с поспедующим опредепением степениструктурной упорядоченности методомЭПР 2,Недостатки этого способа необходи 45мо инкубировать смесь исспедуемой цеппюпозы с раствором спин-метки в течение 12-15 ч цри комнатной температуре,затем смесь црогревают в течение 3 чпри 60:.Далее модифицированные образцы отмывают от непрореагировавшвго радикала в спедующей поспедоватепьности:вода, спирт, вода, ацетон, вода. И, наконец, тщательно отмытые образцы сушатпри комнатной температуре и затем помещают в ЭПР-спектрометр, Кроме затрат времени и реактивов необходимоучитыватьи то,...