Способ определения качества пьезокварца

ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик(45) Дата опубликования описания 03,12,76(51) М, Кл.з Н 01 1. 21/66 Н 03 Н 3/02Государственный камнтет Совета Мннистров СССР по делам изобретений и открытий(72) Авторы В, П. Бутузов, Л, А. Любимов, А. А, Шапошников, Л. Н. Романов,изобретения С. В. Колодиева, А. А, Фотченков, М. И. Ярославский, В. Е, Хаджии М. И. Голиков Всесоюзный ордена Трудового Красного Знамени науцно-исследовательский институт синтеза минерального сырья и Научно-исследовательский институтпьезотехники(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПЬЕЗОКВАРЦА Изобретение относится к технике определениякачества пьезокварцевого сырья, широко применяющегося во многих отраслях промышленности,в частности в радиотехнике и электротехнике,Известен способ определения качества пьезокварца по температурно-частотной дисперсии диэлектрических потерь, основанный на измерениитангенса угла диэлектрических потерь на образцахпроизвольной ориентации, произвольных размерови формы. Недостатком известного способа являются значительные затраты времени на проведениеиспытаний,Цель изобретения - упрощение процесса измеренийС этой целью при фиксированной температуреопределяют частоту релаксационного максимуматангенса угла диэлектрических потерь,График зависимости предлагаемого параметраоценки качества пьезокварца от,добротности 3.кварцевых пьезоэлементов АТ - среза, измереннойна основной частоте 1 мГц, представлен на фиг. 1;на фиг. 2 - график зависимости величины диэлек.трических потерь от частоты.Первый график получен следующим образом.Подбирается серия кристаллов синтетического кварца, параметры роста которого варьируются вшироких пределах, что обусловливает значительныеразличия в качестве этих кристаллов. Из каждогокристалла приготовляют пьезоэлементы в виде полированных двояковыпуклых линз АТ - среза наосновную частоту 1 мгц, их добротность Я.измеряется по декременту затухания колебаний. ЗначенияЯ,как показали измерения, для подобранной серикбкристаллов лежат в пределах от 0,2 10 ф до 8 10,10 Значения О. откладываются по оси ординат.Из тех же кристаллов приготовляют шлифованные плоские диски Ъ - среза диаметром 15 мми толщиной 1,3 мм . На этих образцах при темпераотуре 330 С измеряют диэлектрические потери за 15 висимости от частоты. Измерение дК осуществляется обычным мостовым методом. Для каждогообразца получают зависимости 1) о (см.фиг. 2).Значения утг частоты, при которой достигаетсямаксимальное значение ,С 1 усредняется по 1520 образцам для каждого кристалла, и эти усредненыезначения откладываются по оси абсцисс в соответствии с величинами добротности пьезоэлементов.Из графика, изображенного на фиг. 1, видно,что в интервале добротностей (8-0,2) 10 зави 6И симостьяф ) прямолинейна,Составитель Э. Гилинска ректор Т. Крь;лепко ехред Н, Ан едактор Т. Л чу Тираж 963 ПИ Государственного комитета Сове по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб, Подписное та Министров СССРз 5055/423 Н Филиал ППП "Патент", г, Ужгород,ул. Проектная,Необходимо отметить, что температура испытаний образцов предлагаемым способом, равная 330 С, является оптимальной, так как с понижением температуры величинами также значительно уменьшается, достигая при комнатной температуре значений менее 0,01-0,001 Гц. Это не только усложняет методическую и аппаратурную часть испытаний, но и существенно увеличивает время их проведения. Проведение испытаний при температурах выше 330 С нецелесообразно по двум причинам.оВо-первых, значительный нагрев может вызвать необратимые изменения в свойствах образцов. Во-вторых, с увеличением температуры испытаний величины у закономерно возрастают, амплиту 4ды максимумов Сд 8 нада.от, что затрудняет процессизмерения,Формула изобоетения5 Способ определения качества пьезокварца по тем -пературно - частотной дисперсии диэлектрических павтерь, основанный на измерении релаксационного максимума тангенса угла диэлектрических потерь на образцах произвольной ориентации, произвольны. раз 1 О меровиформы,отличающийсятем,что, сцелью упрощения процесса измерений, определяютчастоту релаксационного максимума тангенса угладиэлектрических потерь при фиксированной тесцз,.ратуре,