Колодиева

Номер патента: 1777132

Опубликовано: 23.11.1992

Авторы: Колодиева, Парамонова, Шмерко, Янушкевич

МПК: G06F 7/00, G06F 7/04

Метки: булевых, вычисления, дифференциалов

...элементов вектора г("х = хо+с(Х 1)(.20. Вычислительная ячейка 1 (г = 2,п, М =2,2 ) обеспечивает вычисления в соответствии с математической моделью (8) вида1 сг - г 1)(Хь тХр е, Хт-е тХтт 1 Х251 а Ь М(п(х,хт )Х т в (р дд(т 4ГДЕ К 1. К 2, Кп - ДВОИЧНОЕ ПРЕДСтаВЛЕНИЕпараметра К хр = хп, х означает отсутст 1 О30 вие переменной хв (а = 1,г - 1) в векторепеременных (х 1, х 2, .хг).Элемент задержки 2 обеспечивает задержку сигнала, поступающего на его вход,на один такт (период времени 1 = 11 - то).35 вычислительная ячейка 11 ( = 1,п, ) =1,2 ) имеет особенности схемотехническихрешений и функционирования,Вычислительная ячейка 1 содержит(см. фиг.2) первый 20 и второй 21 сдвиговые40 регистры, первый 22, второй 23 и третий 24коммутаторы,...

Номер патента: 1672398

Опубликовано: 23.08.1991

Авторы: Буцевицкий, Иванов, Колодиева, Курчинская, Родионов, Троняк

МПК: G02B 9/62

Метки: объектив, фотографический

...выполнен в виде положительного мениска 6, обращенного вогнутостью к пространству предметов, что обеспечивает получение увеличенного заднего фокального отрезка(5 г =70 мм).Для исправления кривизны изображения и астигматизма, а также сферической аберрации широких наклонных пучков между апертурой диафрагмой и четвертым компонентом 6 объектива помещены одийочные положительный 4 и отрицательный 5 мениски, обращенные вогнутостью к пространству предметов.Отношение сил /21,4 этих менисков выбрано экспериментально и обеспечивает исправление астигматизма в средней части поля.Для исправления хроматических аберраций, особенно хроматизма увеличения и сферической аберрации для точки на оси все положительные мениски выполнены из стекла с...

Номер патента: 375726

Опубликовано: 05.08.1976

Авторы: Бутузов, Голиков, Колодиева, Любимов, Романов, Фотченков, Хаджи, Шапошников, Ярославский

МПК: H01L 21/66

Метки: качества, пьезокварца

...в качестве этих кристаллов. Из каждогокристалла приготовляют пьезоэлементы в виде полированных двояковыпуклых линз АТ - среза наосновную частоту 1 мгц, их добротность Я.измеряется по декременту затухания колебаний. ЗначенияЯ,как показали измерения, для подобранной серикбкристаллов лежат в пределах от 0,2 10 ф до 8 10,10 Значения О. откладываются по оси ординат.Из тех же кристаллов приготовляют шлифованные плоские диски Ъ - среза диаметром 15 мми толщиной 1,3 мм . На этих образцах при темпераотуре 330 С измеряют диэлектрические потери за 15 висимости от частоты. Измерение дК осуществляется обычным мостовым методом. Для каждогообразца получают зависимости 1) о (см.фиг. 2).Значения утг частоты, при которой...

Номер патента: 336772

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Бондаренко, Всесою, Колодиева, Фотченков, Шапошников

МПК: H03H 3/00

Метки: качества, кристаллов, пьезокварца

...тангенса угла диэлектрических потерь от содержания в кристаллах пьезокварца неструктурной фазы, определяющей его пьезоэлектрические и радиофизические свойства, в том 5 числе и добротность, причем значение этойтехнературы Т,;, от технологических и других факторов изготовления и обработки образцов не зависит, а определяется лишь коеством неструктурной фазы в кристаллс".0 чем больше неструктурной фазы в кристалле,тем меньше подвижность ионов-релаксаторов, тем больше время релаксации, тем выше температура положения релаксационного максимума Т5 Для определения качества кристаллов могут быть использованы образцы произвольных размеров и формы и произвольной ориентации, так как температурно-частотная диспер сия диэлектрических потерь,...