Способ обнаружения металлических включений в широкозонных полупроводниках и диэлектриках

Номер патента: 1570476

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Винценц, Сизов

МПК: G01N 25/18

Метки: металлов, полупроводников, температуропроводности

...образцаосуществляют вне нагреваемого участка, т,е, аг , где а - радиусгауссового распределения интенсив- ЗОности греющего луча, Расстояше ггыбирают иэ условия аг5 а. Внутрп этого интервала расстояний болеепредпочтительными являются значенияк о (1,5-3,0)а, посколькУ пРи мень 35ших значениях то начинает сказыватьсяконечная длительность импульса и конечный размер зондирующего пятна (ведет к потере точности определенияМ),а при больших расстояниях г значительно уменьшается максимум Фототермического смещения поверхности,образца, что приводит к уменьшению вы-ходного сигнала. В результате поглощения части импульсного излучения в 115нагреваемой области образца 13 происходит импульсное Фототермическоесмещение. поверхности с частотой повторения...

Номер патента: 166841

Опубликовано: 01.01.1964

Авторы: Александров, Йсессю

МПК: C30B 1/08

Метки: металлов, монокристаллов, полупроводников

...при со температуры и давлен зия таким условиям = 22 000 кг/см 2 и 1 = 19 р = 40 000 кгсл 2, г = 2 здании определеннои я, Например, для цесоответствуют р = 7 С, для рубидия - 0 С мого способа является о производят при давсоответствующих эквой плавления или криорф ного превращения вещества. При этих усия или полиморфное ят без изменения объеазование врожденных дме обретен Способ получени лов и полунровод сталлизацией расп цией в твердой фаз с целью получения сталлов, кристалли ленин и температ ремальной точке к тической точке по перекристаллизуем и ла е, лым числом дислокапособу могут быть пороцессе зонной переодписная гргггпа16 Известен сметаллов и пдислокацийрасплава илфазе.Отличием описываето, что кристаллизацилении и...

Номер патента: 146418

Опубликовано: 01.01.1962

Автор: Миллер

МПК: G01N 27/00

Метки: величины, заряда, ионов, металлах, полупроводниках

...нии исследовать электроперенос, то на диффундирующие ионы будет действовать только электрическая сила, вызванная действием поля Холла. Действие же электронов проводимости на ионы в поперечном направлении будет равно нулю, поскольку в направлении электрического поля Холла нет результирующего электронного потока.По диффузии исследуемого вещества в глубь образца в возникающем электрическом поле Холла судят о подвижности ионов, а заряд- ность ионов г определяют на основании уравнения Эинштейна:г - У в , гдеКТ1 Эе146418 Предмет из о бр етения Способ определения величины заряда ионов в металлах и полупроводниках, основанный на исследовании процесса диффузии ионов в металлах или полупроводниках под воздействием электрического поля, о т л...

Номер патента: 662785

Опубликовано: 15.05.1979

Авторы: Акимов, Пекшева, Струков

МПК: F27B 5/06

Метки: каталитического, металлов, оксидирования, полупроводников

...параметры оксидного слоя в процессе его роста. - . - - Целью изобретепия является усовершенствование механизма прижима катализатора к окисляемому образцу и определение величины ЭДС и тока в окисной йленке непосредственно в процессе каталитического роста.Поставленная цель достигается тем, что механизм прижима катализатора к окисляемому образцу помешают внутри трубы из кварца и выполняют в виде двух металли ческих штанг, имеющих электрический контакт с катализатором и образцом и обеспечивающих токосъем на измерительный прибор через контактные устройства на противоположных концах штанг, при этом одна из штанг закреплена неподвижно, а перемещение другой в диэлектрической заглушке регулируется пружиной.На чертеже представлена блок-схема...

Номер патента: 102159

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Черепнин

МПК: H01J 7/42

Метки: внутрь, металлических, попадания, предохранения, приборов, частиц, электровакуумных

...поийиппкя СВ;Ц)ОППК ГЫН,ССКОВ Н 1 Ь,П 1)Н 5 трн Вйеу 5 )пык нрибс)ровметал;1 нчссеой ООО- ло кой пр;Яплстся металлический экРйн (ИПЦ)ПМСР. КОЛЬЦО), ОтлслсПОЩИй МССТО ЕОНТснТс 011 СВЦ)КИ ОТ 1 ЯЕУУ)1 ИОИ састи прибора и номеи)емый у ОСИ 013 йння ЦИ;ПЦиЧССКОИ И 1 СТН 1 ИЯССИ, ИОЕРЫВс)ТЬ слое)1 изо;5 ниц. иск;почаоиим проко;кдс 11 ис тока сСРсз 5 кйзйннь 1 ЯЕРйн, НО)1 имо МЕСТЯ, СВЯРКИ.Раоотй тя;Ого экран (ко;пн поясняется Фиг. 1 - 3.На Фнг. 1 показано иолкение ео.нца перед сжатием деталей сварочными хи)етродами. Прп сжатии сварпвйе)пк рантов колбы п шасси электродами сварочной машины до включения тока иропскодит сжатие ко;п,ца, которос нрн этом полностьо закрывает зазор между колбой и шасси, как это показано на фпг. 2, В мо Снт...