Структура с неоднородными распределенными

Номер патента: 361474

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Дмитриев, Меркулов

МПК: H01C 7/18, H01G 4/40, H01L 49/02

Метки: rc-структура, неоднородными, параметрами, распределенными

...как вдоль длины ГсС-структ параметром является тольк емкость. С целью увеличения рактеристик, па резист ры нанесена укорочепн которая образует допо цое сопротивление и дл пе диэлектрической п цад цей. На чертеже изображена схема КС-структуКС-структура содержит резистивный слой 1, диэлектрические пленки 2, 3, проводящие пленки-обкладки 4 и 5 и дополнительную резистивную пленку б, расположенную между слоем 1 и диэлектрической пленкой 3.Дополнительная укороченная резистивная пленка 6 уменьшает удельное сопротивление слоя 1 на участке перекрытия, что приводит к образованию по длине неоднородности резистора КС-структуры, причем чем больше неоднородность, тем выше крутизна частотных характеристик КС-структуры,5 Крутизна частотных...

Номер патента: 1498245

Опубликовано: 23.11.1990

Автор: Элер

МПК: G01T 1/32

Метки: вещества, конденсированного, крупномасштабных, надатомных, неоднородностей, пространственной, размеров, состояния, структуры

...Фиг. 1 представлена экспериментальная установка; на Фиг. 2 принцип действия установки по Фиг. 1;на Фиг. 3 - зависимость зФФекта деполяризации от доли рассеянных нейтронов.Установка содержит поляризатор 1,диаФрагму 2, спинФлиппер 3, образецмагнит 5, анализатор 6, детектор7, Распространение белого пучка поляризованных нейтронов происходит ву-направлении. Поляризаторомобра 4эуется целевой пучок, который поляризован н г-направлении. С помощью диаФрагмы 2 пучок ограничивается в гнаправлении. СпинФлиппер 3 позволяетвращать нектор поляризации на угол1. В ттеоднородттотт поле магнита 5 происходит прецессия спицон после рассеяния нейтронов на образце 4. Анализатором 6 анализируется положения спицон после рассеяния и после...

Номер патента: 1597816

Опубликовано: 07.10.1990

Автор: Полканов

МПК: G01W 1/00

Метки: атмосферы, неоднородностей, обнаружения, оптических, структуры

...меньше их исходного числа (без дискриминации). В блоке 13 происходит сортировка этих максимумов и минимумов в две независимые последовательности, генерация нормированной последовательности, отбор интервалов между импульсами нормированной амплитуды (+1 или - 1) их сортировка по величине и суммирование числа интервалов определенной протяженности. В результате по команде с пульта 1 получаем на выходе блока 13 распределение числа интервалов в зависимости от протяженности интервала (спектр интервалов). Следующий этап анализа - анализ зависимости спектра интервалов от уровня дискретизации. Исходный спектр и отфильтрованный сигнал - в блоке 12. С пульта 1 и блока 11 на входы блока 12 поступают команды на выставление уровня дискриминации,...

Номер патента: 1295468

Опубликовано: 07.03.1987

Авторы: Антоненко, Ионов, Колясников

МПК: H01L 39/12

Метки: пленки, сверхпроводящей, структурой

...С жительности испарения состав сдвига-, ется к стехиометрическому в соответствии с формулой А В, и слой кристаллизуется с образованием структуры А 15. Причем кристаллизация происходчт по всему объему пленки беэ определенной направленности, поэтому не наблюдается преимущественной ориентации зерен, а размер зерна оказывается меньшим в сравнении со случаем прямой кристаллизации иэ параВ результате саморегулирования состава, близкого к стехиометрическому и однородного по объему, образующийся слой имеет высокую критическую температуру, узкий температурный диапазон перехода к сверхпроводимости ( 60,1 1 и большую плотность критического тока с меньшей зависимостью от магнитного поля из-эа более высокой концентрации центров пиннинга, Согласно...

Номер патента: 1714419

Опубликовано: 23.02.1992

Авторы: Атавин, Рослик, Фарафонов

МПК: G01N 1/32, G01N 33/20

Метки: деформации, металлах, неоднородности, пластической, распределения, степени

...распределение плотности деформационных линий исследуемой стали, подвергнутой предва- рительноЬ деформации емакро =20. В результате расчета данной гистограммы 50 получены значения р,3221 10 мкм 1 О,6421 10 мкмГрафики (фиг. 2 и 3) устанавливают взаимность микросвойств исследуемой стали, в частности предела прочности тв и отно-. сительного удлинения д, со степенью неоднородности распределения пластической деформации при фиксированном значении р. Каждая точка на этих графиках соответствует образцу с определенными макросвойствами (тв или д) и вычисленным значением дисперсии из гистограммы (фиг. 1). Дисперсия растет при падении прочности и росте пластичности.Таким образом, применение технологии с более равномерной деформацией (например,...