Патентно. j f5 техличесгдя bhsjlhotetfa
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОЛИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 263930 Союз Советских Социалистических Республик. 42 п, 20/01 25)1247744/2 Заявлено 13.Л.196 Комитет по делам ПК б 013 открытий обретени ри Совет С.1970 ата опубликовал описания Авторыизобретения Заявитель ОНОХРОМАТОР С ДИФРАКЦИОННОЙ ДИСПЕРГИРУЮЩЕЙ СИСТЕМОЙпричем скоросги вращ ркал) и дифракционно вязаны таким образом рефракции пропорцион а, выходящего из моно вукр атной дифр акци е волны должен менять я света на решетку.угловая дисперсия, оп(рсшеток) снус угла д,волны светВ случае днально длитл а п адениПри этомформулой относится к области спектральроения,монохроматорах с дифракционующей оистемой, выполненных ой или несколькими дифракциками, кривизна спектральных от длины волны. Изображене ой щели имеет вид параболы с изны при вершине, равным етение бор ост стных пергир с одн решет ависит но узккривспектра;рихов решетки на 1 лтлт;фракции,но пропорционально длинеус кривизны спектральныхот 7 так как- л = - сопз 1. Й - порядок- число ш Р - угол ди ется обраыХ,ирад й не записи расстояниеколлим ато гд ра,ифракционной ре тл ов ая ди спер мен вол лин шетки;л - длина вол Это приводит к олосы пропускан о, к спикекию е ны света, расширению с я прибора и, с о разрешающеи пектр альнои ледователь- способнобр Н однона оптическая схема риантов предлагаемосверху (а) и вид сбоа чертеже изгоз возможонохроматор(б) ных в а, вид В предл агаемом хоохроз атор во кривнэпы спектральных ли 1 вается во всем его рабочем диа тигается это введением в состав д щей системы монохрэматора одн скольких поворотных зеркал, вр вокруг оси, параллельной штрих ку ступ ающии щель 1 нер альный объекается и па в моно зложе тив 2 аллел г,о Изоор ного при В изве ной дис по схеме онными лициний з бесконеч радиусос присоединением заявки МПриоритет постоянстй обеспечиазоне. Дос- испергируюого или неащающихся ам решетки 3 евфия этого й решетками что косилен длине хроматора. пропорциося косинус хроматор через вход- нный свет попадает на входного коллиматора, ьным пучком падает на263930 Предмет из обр етен и я оставитель Е. А. АфанасьевТехрсд А. А, Камышникова Корректор А. М, Гла, Г, Михайл дактор Заказ 1395/13 Тираж 500 Подписио ЦНИИП 1 Л Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров ССС 1 Москва Ж, Раушская н., д. 415Типография апупова,плоскую дифракционную решетку 3 под углом я падения,После первичного дифрагирования под углом р световые пучки падают на поворотное зеркало 4, отразившись от которого снова попадают на решетку 3, но уже под углом р падения, Дифрагируя вторично на решетке 3, пучками лучей уходят от нее под углом сс дифракции к зеркальному объективу 5 второго коллиматора, который фокусирует их в плоскости выходной щели б, Сканирование спектра осуществляется одновременным вращением решетки 3 и зеркала 4 вокруг общей оси, проходящей параллельно штрихам решетки и делящей пополам ее рабочую поверхность. При этом скорости поворота зеркала 4 и решетки 3 связаны таким образом, что косинус угла ск пропорционален длине волны выделяемого излучения.Для всех длин волн, пропускаемых монохроматором, соблюдается условие постоянства кривизны спектральных лициний и становится возможным произвести одновременную егокомпенсацию во все диапазоне длин волн. Монохроматор с дифракционной диспергирующей системой, выполненный по схеме с одной или несколькими дифракционными ре щетками, отличающийся тем, что, с цельюполучения постоянной кривизны спектральных линий для всех длани волн, в прибор введено одно или несколько зеркал, вращающихся вокруг оси, параллельной оси вращения ре щетки (решеток), причем скорость вращенияэтого зеркала (зеркал) связана со скоростью вращения решетками (решеток) таким образом, что кооинус угла дифракции (угла падения света на решетку в случае двукратной дифрак циси) пропорционален длине волны света, выходящего из прибора.
СмотретьЗаявка
1247726
К. И. Тарасов, К. Н. Чиков Ленинградский институт точной механики, оптики, ЙСЬС ОШЗйЛЯ
МПК / Метки
МПК: G01J 3/12
Метки: bhsjlhotetfa, патентно, техличесгдя
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-263930-patentno-j-f5-tekhlichesgdya-bhsjlhotetfa.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Патентно. j f5 техличесгдя bhsjlhotetfa</a>
Спектральный источник света
Номер патента: 974142
Опубликовано: 15.11.1982
Авторы: Розенблит, Хуторщиков
МПК: G01J 3/10
Метки: источник, света, спектральный
...среды 10 -10 Па.На фиг. 1 приведено конструктивное исполнение спектрального источника света, колба спектральногоисточника размещается непосредственно в вакуумном пространстве рубашки на фиг, 2 - то же, вакуумнаярубашка охватывает колбу, но самаколба находится вне вакуума.Колба спектрального источника 1размещается внутри вакуумной рубашки 2. Колбу источника охватываетиндуктор возбуждения 3. Внутри вакуумной рубашки находится насыщенный пар вещества 4 с упругостьюпаров в рабочем диапазоне от 10до 10 Па,Разряд в колбе 1 возбуждается иподдерживается индуктором 3. Приповышении температуры среды, одновременно повышается и температуравнешней стенки вакуумной рубашки 2,Давление паров вещества 4 возрастает.Рост давления конденсируемогогаза...
Прибор для спектрального анализа света, отраженного от рудных минералов, углей и т. п. объектов
Номер патента: 134048
Опубликовано: 01.01.1960
Авторы: Ионин, Лукин, Марьенко, Пономарева
МПК: G01J 3/02
Метки: анализа, минералов, объектов, отраженного, прибор, рудных, света, спектрального, углей
...рамка со щелями требуемых размеров.Основные детали конструкции прибора показаны на чертеже. Здесь.1 - осветительное устройство; 2 - нижняя часть полярцзационного микроскопа; 3 - подвикный столик; 4 - Г-образный тубус; 5 - откидной окуляр; 6 -- дцспергирующая система и 7 - фотоумножитель.Нияя ас 2 поляризационного микроскопа заканчивается диафрагмой (не показано на чертеже) и откидным окуляром 5, установленным перед щелью дцспсргирующей системы 6, что 1 юзволяет вести п." риодцческий визуальныи контроль поступающего в дцспсргцрующую систему света, За диспсргируюшей системой 6 перед фотоумножителем 7 в приборе установлена подвижная окулярная рамка (не показана ця чертеже) с передвигаемой в ней пластинкой со щелями требуемых...
Датчик определения угла положения в пространстве координатных осей телп относительно источника света
Номер патента: 625134
Опубликовано: 25.09.1978
Авторы: Глиберман, Летин, Пименов, Тюркин
МПК: G01B 19/56
Метки: датчик, источника, координатных, осей, относительно, положения, пространстве, света, телп, угла
...резисторы.На фиг, 1 схематически изображен общийвид предлагаемого датчика в аксонометрической проекции; на фиг. 2 - электрическаяпринципиальная схема.Датчик имеет затеняющий элемент 1, вокруг которого концентричными кольцами 2расположены на плоском круглом основании3 последовательно соединенные фотоэлектри.ческие преобразователи 4,Выходы с каждого кольца фотоэлектрических преобразователей параллельно подключены к общей активной нагрузке 5 через регу.лировочные резисторы 6,Датчик при измерении угла высоты источ.ника света работает следующим образом.При затенении и в результате измененияугла падения светового потока на плоскостьфотоэлектрических преобразователей, располо.авниых по кольцамнаосновании, происходит пропорциональное...
Способ определения относительной интенсивности дефекта спектрального изображения, образуемого дифракционной решеткой
Номер патента: 949348
Опубликовано: 07.08.1982
Авторы: Куинджи, Саамова, Совина, Стрежнев
МПК: G01J 3/40
Метки: дефекта, дифракционной, изображения, интенсивности, образуемого, относительной, решеткой, спектрального
...путем наклона апертурной диафрагмы, установленной перед решеткой, относи", тельно направления ее штрихов до разделения дефекта спектрального изображения от изображения вторичных дифракционных максимумовизмеряют интенсивность дефекта, выделяют вто ричный дифракционный максимум, рав" ный по интенсивности дефекту спектрального изображения, определяют положение этого максимума относи"8 фтельно спектральной линии, а относительную интенсивность 1 ь дефекта спектрального изображения вычисляют по формуле где х - расстояние между положениемвыделенного вторичного дифракционного максимума и спектральной линии;А - ширина заштрихованной поности решетки;1 - длина штрихов заштрихованной поверхности;3 - угол дифракции света от решетки;- фокус...
Способ определения длины волны в максимуме концентрации энергии дифракционной решетки
Номер патента: 1497605
Опубликовано: 30.07.1989
Авторы: Куинджи, Саамова, Стрежнев
МПК: G02B 5/18
Метки: волны, дифракционной, длины, концентрации, максимуме, решетки, энергии
...от клина 2, Затем поворачивают решетку 3 вокруг оси, 10 параллельной ее штрихам, до совмещения пучка 6, отраженного от решетки в К-м порядке спектра, с пучком 5. Перемещением клина 2 в направлении изменения его плотности уравнивают 15 интенсивности пучкой 5 и 6 и по градуировочной кривой фотометрического клина 2 определяют его плотность РГкф соответствующую положению уравнивания интенсивности пучков 5 и 6, Затем 20 поворачивают решетку 3 вокруг оси9 параллельной ее штрихам до совмещения пучка 7, отраженного от решетки 3 в К+1-м порядке спектра, с пучком 5. Перемещением клина 2 уравнивают интенсивности пучков 5 и 7 и по градуирЬвочному графику фотометрического клина определяют его плотность г к+сДлину волны Л, в максимуме...
Предыдущий патент: Устройство для плавной перестройки частоты оптического сигнала
Следующий патент: 263931
Случайный патент: Способ изготовления обуви с подложкой