Способ градуировки магнитного поля
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
/ )таЙ"б"АМФ О ПИЗОБРЕТЕНИЯ 249468 Сове Соеетскиз Социалистилескил РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 01,Ч 11.1968 ( 1252654/18-1 21 е соединением заявкиМПК б 01 г риоритет Комитет ло делен изобретений и открыт ори Совете отинистро 621,317,4 (088.8 публиковано 05.Ч 111.1969. Бюллетеньата опубликования описания 15,Х 11.196 Авторыизобретения М. Клюк брик явител ПОСОБ ГРАДУИРОВКИ ИТНОГО ПОЛ Изобретение относится к области магнитных измерений и предназначено для градуировки напряженности магнитных полей, создаваемых постоянными магнитами и электромагнитами.Известные способы градуировки магнитного поля с помощью эталона либо не обеспечивают достаточно высокой точности градуировки, либо связаны с использованием сложной аппаратурыы.Предлагаемый способ градуировки отличается от известных тем, что эталон, в качестве которого использована тонкая ферромагнитная пленка с полосовой доменной структурой, на которую нанесен магнитный коллоид, намагничивают под определенным углом к направлению силовых линий градуируемого поля, освещают его светом и наблюдают диффрагировавший на эталоне луч света. Затем увеличивают градуируемое поле до величины, при которой исчезает наблюдаемый луч, и сопоставляют эту величину с известным значением поля переключения эталона.Это обеспечивает сравнительно высокую точность градуировки при использовании портативной аппаратуры.На чертеже приведена схема, реализующая описываемый способ.Эталон 1, представляющий магнитную пленку с полосовой доменной структурой, на которую нанесен магнитный коллоид, образующий на ее поверхности диффракционную решетку, намагничивают с помощью вспомогательных катушек 2 в направлении 3, составляющем определенный угол с направлением 4 силовых 5 линий градуируемого поля, Свет от источникаб через,конденсор б и светофильтр 7 падает на эталон и диффрагирует на нем, Диффрагировавший луч 8 попадает в глаз наблюдателя 9. Включив традуируемое поле, увеличиваюг 10 его до значения, .при котором происходит переориентирование доменов, смещающее наблюдаемый луч в новом направлении 10. Наблюдатель фиксирует исчезновение луча из поля зрения. В результате того, что переориен тировка доменов происходит скачком при точно известном значении поля, обеспечивается точность градуировки порядка 0,13% .Предмет изобретения20 Способ градуировки магнитного поля с по.мощью эталона, отличающийся тем, что, с це.лью повышения точности и упрощения процесса традуировки, эталон, в качестве которого использована тонкая ферромагнитная пленка с 25 полосовой доменной структурой, на которуюнанесен магнитный коллоид, намагничивают под определенным углом к направлению силовых линий градуируемого поля, освещают его светом и наблюдают диффрагировавший на 30 эталоне луч света, затем увеличивают градуи249468Составитель В. Н. ФетинаРедактор Т. В. Иванова Техред Т, П. Курилко Корректор О. Б. Тюрина Заказ 3292/2 Тираж 480ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр, Сапунова, 2 руемое поле до величины, при которой исчезает наблюдаемый луч, и сопоставляют эту величину с известным значением поля переклю.чения эталона.
СмотретьЗаявка
1252654
Л. М. Клюкин, В. А. Фабрикой
МПК / Метки
МПК: G01R 33/05
Метки: градуировки, магнитного, поля
Опубликовано: 01.01.1969
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-249468-sposob-graduirovki-magnitnogo-polya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ градуировки магнитного поля</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения напряженности магнитного поля
Следующий патент: Измерительное устройство
Случайный патент: Строительный подъемник