Способ определения загрязненности свеклы
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 249305
Авторы: Ара, Всероссийский, Знаменский, Плаксин
Текст
ОПИСАНИ Еизоьгетения К АВТОРСКОМУ СВЙДЕТЕЛЬСТВУ 2493 О 5 Союз Советских Социалистических РеспубликЗа илсимое от авт. свидетельства-Кл. 89 с, 17 Заявлено 10.Ч,1967 ( 115393828-13) заявкини с присое МПК С 13 д ПриоритетОпубликованоДата опуолик Комитет по делам зобретений и открытий при Совете Министров СССР, Ли Всероссийский ордена Трудового Красного исследовательский институт сахарной саявите Знаменлы и СОб ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЗАГРЯЗНЕИНО 2 Изобретение относится к сахарной промышленности.Известен способ определения загрязненности свеклы, заключающийся в том, что берут ее пробу, взвешивают, чистят, моют, вытирают насухо и втопично взвешивают, Разница в весе до и после мытья пробы дает количество грязи, загрязненность выражают в процентах к весу чистой мытой свеклы.Однако этот способ является тоудоемким, длительным и не дает объективной оценки загрязненности свеклы.Предложеолный способ отличается от известного тем, что через слой свеклы определенной толщины пропуокалот поток у-лучетл, измеряют величину поглощения излучения этим слоем и по этой величине с помощью заранее постороенного графика зависимости степени загрязненности от величины поглощения у-лучей определяют загрязненность свеклы в процентах.Предлагаемый способ осуществляется при помогци установки, схематически изображенной на чертеже.Она содержит источник 1 излучения и жесгко связанный с ними счетчик 2 излучения.Расстояние Н между источником излучения и счетчиком излучения является постоянным Н = Й + Й где Й - постоянное расстояние между источником излучения и дном кузова 3 автомашины и Й, - постоянное расстояние от очетчика излучения до дна кузова автомашины.Через слой свеклы определенной толщины,находящийся в кузове автомашины, пропускают поток лучей в течение, например, 10 сек,измеряют величину поглощения излученияэтим слоем и по этой велпичне с помощью заранее построенного графика зависимости степени загрязненности от величины погчощепия10 у-лучей определяют загрязненность свеклы впроцентах. Степень загрязненности свеклы определяется таким образом в течение 2,5 -3 лиц. Максимальная погрешность определений составляет + 0,14)/, от расчстной всличи 15 ны,Описываемый спосоо определения загряз.пенности свеклы позволяет быстро и точно установить ее степень и тем самым значительнооблегчить работу сырьевым лабораториям са 20 харных заводов. Предмет изобретенияСпособ определения загрязненности свеклы,отличиющийея тем, что через слой свеклы оп ределенной толщины пропускают поток у-лучей, измеряют величину поглощения излучения этим слоем и по этой величине с помощью заранее построенного графика зависимости степени загрязненности от величины поглоще ния у-лучей определяют загрязиеииость свеклы в процентах.Составитель Г. ЛошкареваРедактор А. Бер Техред Т. П. Курилко Корректор Т. А. Абрамова 3 ипография, пр. Сапунова саз 938/1 О Тираж 499 НИИПИ Комитета по делам изобретснпй и открытий при Москва Ж, Раушская наб., д. 4/5Подписное ветс Министров СССР
СмотретьЗаявка
1153938
А. М. Плаксин, В. С. Знаменский, Б. И, Всероссийский ордена Трудового Красного Знамени исследовательский институт сахарной свеклы, ара БИБЛйОГс
МПК / Метки
МПК: G01N 33/02
Метки: загрязненности, свеклы
Опубликовано: 01.01.1969
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-249305-sposob-opredeleniya-zagryaznennosti-svekly.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения загрязненности свеклы</a>
Способ определения толщины упрочненного наклепом поверхностного слоя
Номер патента: 1404879
Опубликовано: 23.06.1988
Авторы: Асеев, Дудкина, Федоров
МПК: G01N 3/00
Метки: наклепом, поверхностного, слоя, толщины, упрочненного
...М.Дидык Корректор О,Кравцов аказ 3094/45В 47 Подписрственного комитета СССРзобретений и открытийЖ, Раушская наб., д, 4/5 ТиражПИ Госудо деламМосква 13 роизводственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проект Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для определения толщины наклепанного поверхностного слоя деталей машин и конструкций.Целью изобретения является повышение точности определения толщины наклепанного поверхностного слоя путем использования составного о ца, одна часть которого имеет пе И териала исследуемой детали изготавливают образец, состоящий из двух частей (фиг; 1); кольца 1 и вкладыша 2, имеющих гладкие поверхности контакта, причем кольцо 1 выполняют переменной толщины путем...
Способ определения загрязненности свеклы
Номер патента: 474309
Опубликовано: 25.07.1976
Автор: Полковников
МПК: G01N 33/02
Метки: загрязненности, свеклы
...свеклы и личины поглоеляютзагрязненстепени щения ность св Известный способ не обеспечивает точности определения загрязненности, Это объясняется тем, что степень поглощения излучения слоем свеклы зависит не только от ее загрязненности, но и от объема пустот между корнямисвеклы, то есть от степени их уплотнения, при этом при меньшем,уплотнении корней свеклы меньше и поглощение излучения при прочих равных условиях.По предлагаемому способу для повышения точностиопределениязагрязненностипустоты между корнями заполняют водой, а измерение величины поглощения излучения ведут по вели- рО чине поглощения смесью свеклы и воды и по этой величине с .помощьюзаранее построенного графике зависимости степени загрязненности ,от величины...
Способ определения толщины поликристаллической пленки, возникающей при обработке монокристалла
Номер патента: 949439
Опубликовано: 07.08.1982
МПК: G01N 23/20
Метки: возникающей, монокристалла, обработке, пленки, поликристаллической, толщины
...рентгеновских лучей Йотмонокристаллов МаС с различйойплотностью дислокаций р , где кри-,вые.1,2 и 3 относятся к излучениямМоК и рефлексу (600), СцКи рефлексу (400) и РеК, рефлексу(200) соответственно. П р и м е р. Из различных монокристаллов МаС 1 выращенных методомКиропулоса на воздухе, выкалывают поспайности (100 образцы размером 20 х 20 х 10 мм. С помощью травления на дислокации подбирают образцы с различной плотностью дислокаций Я Изменение величины Р от образца к образцу выбирают в диапазоне от 10 см до 10 см . На этих.монокристаллах измеряют значения интегрального коэффициента отражения рентгеновских лучей Й, Такие зависимости получают для излучений МоК 11, рефлекс (500) 1 СцКЯ 1 рефлекс (400). и РеК,урефлекс (200) .Из...
Способ измерения толщины слоя полупрозрачного материала
Номер патента: 453564
Опубликовано: 15.12.1974
Авторы: Иванова, Кононко, Кривоконь
МПК: G01B 15/02, G01N 9/24
Метки: полупрозрачного, слоя, толщины
...отражения и о толщине контролируемогоматериала судят по величине отношения этихпотоков.Предлагаемый способ иллюстрируется чертежом, где 1 - контролируемый материал,2 - корпус, 3 - приемник инфракрасного(ИК) излучения, 4 - приемник ИК,излучений, 5 - квази абсолютно черное тело, 6 -отражающая поверхность 30 Предлагаемый способ осуществляют в следующей последовательности.Контролируемый материал 1 движется между корпусом 2, в котором скопированы приемники 3, 4 инфракрасного излучения, квази абсолютно черным телом 5 и отражающей поверхностью 6.Приемник 3 регистрирует не только прямое излучение материала, но и излучение контролируемого,материала 1, отраженное от отражающей поверхности 6 и прошедшее через контролируемый материал 1. Приемник...
Прибор для частичного поглощения ультрафиолетовых лучей
Номер патента: 27141
Опубликовано: 31.07.1932
Автор: Шлезингер
МПК: A61N 5/06
Метки: лучей, поглощения, прибор, ультрафиолетовых, частичного
...окруженного кольцевой цилиндрической полостью, образованной концентрическими сосудами 1 и 2, выполненными из прозрачного для ультрафиолетовых лучей стекла и примыкающими снизу к кольце- образному резервуару 4 и сверху - к такому же резервуару б. Резервуар 4 служит для жидкости, помощью горелки 5 обращаемой в пары, а резервуар б предназначен для охлаждения этих паров после прохождения их в полости между сосудами 7, 2. Между сосудами 7, 2 расположены кольцеобразные наклонные перегородки 3, 3 н За, За, не доходящие до одной из противоположных стенок и предназначенные для удлинения пути яроходящего в пространстве между стеносудов 7, 2 пара и для стекання конденсата. Трубка 8 служит для наружу излишка не сконденсироося пара. Провода 9...
Предыдущий патент: Способ аварийного снижения мощности гидротурбины
Следующий патент: Механическая флотационная машина
Случайный патент: Вибрационный теребильный аппарат