Способ измерения толщины слоя полупрозрачного материала
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И Е (и) 453564ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистическихприсоединением заявкисударственныи коми вета Министров СС 2) Приорите Опубликовано 15,12.74, БюллетеньДата опубликования описания 18.03.7 53) УДК 531,717,1;531по делам изобретени и открытий) Заявитель ститут газа АН Украинской С(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОЛУПРОЗРАЧНОГО МАТЕРИАЛА 10 вляетсянеста- личиной- г фг К Ей х - толщина контролируем ла 1г - коэффициент отражения ния от отражающей по о матерна. ИК пзлу рхности 6 Изобретение относится к области линейныхизмерений, которая использует тепловое (инфракрасное излучение) контролируемого материала,Известный способ измерения толщины слоя 5полупрозрачного материала, например стеклянной ленты в процессе ее изготовления, заключается в том, что о толщине материаласудят по результату анализа потока, инфракрасного излучения, идущего от него.Недостатком известных способов яих невысокая точность, определяемаябильностями нагрева и конечной векоэффициента температуропроводимости.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что, с целью повышения точности,измеряют поток излучения от участка контролируемого материала на фоне квази абсолютно черного тела и поток излучения от участкаконтролируемого материала на фоне отражающей поверхности с известным коэффициентом отражения и о толщине контролируемогоматериала судят по величине отношения этихпотоков.Предлагаемый способ иллюстрируется чертежом, где 1 - контролируемый материал,2 - корпус, 3 - приемник инфракрасного(ИК) излучения, 4 - приемник ИК,излучений, 5 - квази абсолютно черное тело, 6 -отражающая поверхность 30 Предлагаемый способ осуществляют в следующей последовательности.Контролируемый материал 1 движется между корпусом 2, в котором скопированы приемники 3, 4 инфракрасного излучения, квази абсолютно черным телом 5 и отражающей поверхностью 6.Приемник 3 регистрирует не только прямое излучение материала, но и излучение контролируемого,материала 1, отраженное от отражающей поверхности 6 и прошедшее через контролируемый материал 1. Приемник 4 регистрирует только прямое излучение контролируемого материала. Измеряют величину отножвния этих потоков, по которой и судят о толщине контролируемого материала 1. Формула, связывающая толщину контролируемого материала 1 и величины, характеризующие оптические свойства контролируемого материала 1, имеет вид:453564 4 Предмет изобретения Составитель А. Кузнецов Редактор Л. Василькова Текред Е, Борисова Корректор А. ДзесоваПодписив СССР Тираж 760та Совета Министи и открытийая наб., д. 4/5 Изд. М 1082 осударственного комитпо делам изобретени Москва, Ж, Раушс Заказ 898(3ЦНИИП Сапунова,Типография г - коэффициент отражения ИК излучения от поверхности контролируемого материала 1,К - коэффициент поглощения ИК излучения в контролируемом материале 1. Способ измерения толщины слоя полупрозрачного материала, например стеклянной ленты в процессе ее изготовления, заключающийся в том, что анализируют поток инфракрасного излучения, идущего от материала, о тл и ч а к) щи й с я тем, что, с целью повышения точности, измеряют поток излучения от 5 участка контролируемого материала на фонеквази абсолютно черного тела и поток излучения от участка контролируемого материала на фоне отражающей поверхности с известным коэффициентом отражения и о толщине 10 контролируемого материала судят по величине отношения этих потоков,
СмотретьЗаявка
1476529, 05.10.1970
В. П. Кононко, А. А. Кривоконь, Л. М. Иванова Институт газа Украинской ССР
МПК / Метки
МПК: G01B 15/02, G01N 9/24
Метки: полупрозрачного, слоя, толщины
Опубликовано: 15.12.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-453564-sposob-izmereniya-tolshhiny-sloya-poluprozrachnogo-materiala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения толщины слоя полупрозрачного материала</a>
Устройство для измерения температуры по инфракрасному излучению объекта
Номер патента: 1620860
Опубликовано: 15.01.1991
Авторы: Бараненко, Горбачев, Никифоров
МПК: G01J 5/02
Метки: излучению, инфракрасному, объекта, температуры
...отраженного от него излучения фона.В шестой фазе, как и в третьей, перед окном оптической системы 2 расположен прозрачный сектор 4 прерывателя 3 излучения, а клиновидное зеркало 10 остается в том же положении, что и в пятой фазе. При этом излучение эталонного источника 1, как и в третьей фазе, направлено одновременно и на объект 14 контроля и на обьект-свидетель 8, а выходной сигнал приемника 12 излучения пропорционален потоку излучения, равному сумме собственного инфракрасного излучения объекта-свидетеля 8 и отраженных от него излучений фона и эталонного источника 1.Далее вновь наступает первая фаза, длительность которой равна суммедлительностей пятой и шестой фаз,Когда устройство выполнено с двумя приемниками 12 и 13 излучения, а...
Устройство разбраковки изделий радиоэлектроники по инфракрасному излучению
Номер патента: 1036155
Опубликовано: 23.03.1987
МПК: G01J 5/12
Метки: излучению, инфракрасному, радиоэлектроники, разбраковки
...связь пирометра 1 с блоком 6 определения координат осуществляется с помощьюразделительного элемента 7, входящего в состав пирометра 1, В качестве разделительного элемента можетбыть, например, использована полированная пластинка из просветленного германия, пропускающая поток ИКизлучения в пирометр 1 и отражающая поток в видимой области спектра на блок идентификации и определения координат. В свою очередь, блок идентификации определения координат содержит датчик видеосигнала 8, соединенный с видеоконтрольным устройством 9 и блоком 1 О выделения и3 1036идентификации элемеятов, к выходукоторого, подключен блок 11 измерения координат,Контролируемое изделие, установленное на платформе устройства перемещения 4, находится в...
Способ разбраковки изделий электроннойтехники по инфракрасному излучению
Номер патента: 707402
Опубликовано: 07.08.1981
МПК: G01J 5/00
Метки: излучению, инфракрасному, разбраковки, электроннойтехники
...поверхность ко О лосовыхфильтров используется один фототорого нагрета равномерно, а температу- . приемник, имеющий широкую спектральнуюРа" поверхности находится в определенных характеристику в области спектра излученияпределах. В" соответствии с" предлагаемым контролируемых изделий, например пнроспособом для изделия, принятого за эта-электрический болометр. А характеристикилон, по закону Вина определяют длину 15 пропускания фильтров выбиРаются в соотволны 3, на которой спектральная пло- ветствии с Указанными выше требованиями.ф-тйость излучения имеет максимальное эна- Обработка электрических сигналов длячение, Затем выбирают спектральные ди- ( их сравнения .с эталоном в настоящее время"6 пазоны -лежащие в диапазоне длин волн реализована...
Устройство для бесконтактного измерения температуры по инфракрасному излучению
Номер патента: 201727
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Дубсон, Жарков, Кацнепасрн, Лонин, Тульска
Метки: бесконтактного, излучению, инфракрасному, температуры
...схемой проводами 7. Обтюратор 3 с двигателем 8 представляет собой диск из 0 того же материала, чго и поверхность исследуемого объекта 1. Диск имеет секторный вырез 9, угол которого рассчитывается.Излучение 2, представляющее собой суммарный поток от более горячего нагревателя, 5 просвечивающего через исследуемую поверхность и от самой исследуемой поверхно "ти, поглощающей излучение определенной длины волны и нагревающейся при этом, попадает ,на обтюратор, вращающийся с заданной ча стотой, и проходит поочередно через вырез -тогда на болометр 6, помещенный в откаченную ампулу с фильтром, прозрачным для ИК-излучения, попадает суммарный поток излучения 2, или через материал обтюратора, который поглощает ту же составляющую суммарного...
Способ полировки изделий из стекла, частично прозрачного для инфракрасного излучения
Номер патента: 1433917
Опубликовано: 30.10.1988
Авторы: Гулоян, Тютюнник, Фридкин
МПК: C03B 29/04
Метки: излучения, инфракрасного, полировки, прозрачного, стекла, частично
...пирометра 5 бесконтактного Фиксирующего уровень максимальной температуры нагрева поверхности полировки через пирометрический канал 13.Камера ИК-полировки герметизируется, откачивается до слабого разреже" ния с остаточным давлением 5 10 Па воздушной среды. Затем включаются лампы 4, которые посылают излучение с плотностью 12-15 Вт/см в течение 12;15 с на тонкослойное углеграфитное покрытие, которое вследствие контакта с изделием разогревает тонкий поверхностный слой стеклоизделия до температуры жидкотекучести материала изделия, соответствующей динамической вязкости 1100-1600 Пас. Далее изделие переходит в камеру отжига.Кривая А, шкала А-распределение излучения источника, например кварцевых галогенных с собственной цветовой...
Предыдущий патент: Устройство для контроля кинематической точности механизмов
Следующий патент: Ультразвуковой датчикфj г • ч • “i, 1 • •, • ••.; -, •.: « л -5; i,: , ij., i-j. i: , j hju
Случайный патент: Устройство для сортировки плодов