Электронный микроскоп для исследования процессов молекулярно-лучевой эпитаксии

Номер патента: 1772702

Авторы: Асеев, Вырыпаев, Красильников, Латышев

ZIP архив

Текст

союз сОВетскихСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ 72702 РЕСПУБЛИК Й 23/225 АВТО Из тронно ованоГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБ КОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Институт физики полупроводников Сибирского отделения АН СССР(56) Авторское свидетельство СССР М 1069030, кл, Н 01.3 37/26, 198.Крошков А,А, и др, Устройство для диф- ференциальной сверхвысоковакуумной откачки электронного микроскопа. - ПТЭ, 1985, М 1, с,199 - 202 (прототип);(54) ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОПДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОЦЕССОВ МОЛЕКУЛЯРНО-ЛУЧЕВОЙ ЭПИТАКСИИ(57) Изобретение относится к технике электронной микроскопии и может быть исполь- . зовано в технологии полупроводников, Целью изобретения является повышение оперативности и качества электронномикобретение относится к технике элекй микроскопии и может быть использ в технологии полупроводников,Целью изобретения является повышение оперативности и качества электронно- микроскопических исследований процессов молекулярно-лучевой эпитаксии непосредственно в приборе за счет обеспечения более чистых условий взаимодействия молекулярного пучка с образцами и вариации этих условий без нарушения сверхвысокого вакуума, в зоне исследований. Сущность изобретения иллюстрируется чертежом, на котором показан разрез микроскопа,сЕНИЯ, .;,,роскопических исследований процессов молекулярно-лучевой эпитаксии непосредственно в приборе за счет обеспечения более чистых условий взаимодействия молекулярного пучка с образцами и вариации этих условий без нарушения вакуумных условий в зоне исследований, Электронный микроскоп содержит полый цилиндр с отверстиями в торцевых крышках и в боковой стенке. Стенки цилиндра охлаждаются до криогенных температур. На оконечной части по. движного штока шлюзового устройства установлен источник молекулярного пучка и предусмотрено посадочное место для сменного объектодержателя, Оконечная часть штока по форме и размерам в поперечном сечении идентична отверстию в боковой стенке цилиндра и может служить заглушкой для этого отверстия. В результате обеспечивается быстрая смена образца и/или источника пучка.и более чистые условия исследований. 1 с,п.ф, 1 з,п,ф 1 ил. Электронный микроскоп содержит систему дифференциальной криогенной откачки, которая представляет собой полый цилиндр 1, установленный по оптической оси микроскопа. Боковые стенки цилиндра выполнены с внутренними каналами 2, которые соединяются с источником хладагента, например жидкого азота. В торцевых крышках цилиндра выполнены осевые отверстия 3 для входа и выхода электронного пучка. Внутри цилиндра размещен образец 4 на объектодержателе 5. В боковой стенке цилиндра напротив образца выполнено отверстие 6. которое в поперечном сечении идентично по форме и размерам оконечной части 7 штока 8 шлюзового устройства 91772702 Составитель В.ГаврюшинТехред М,Моргентал .Корректор Л,Ф актор Заказ 3841 ВНИИПИ Гос Подписноепо изобретениям.и открытия-35, Раушская наб, 4 И Тиражственного комите113035, Москва и ГКНТ СССР изводственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул на, 101 микроскопа, На торце указанной части 7 установлен источник 10 молекулярного пучка и может быть выполнено посадочное место объектодержателя,Микроскоп работает следующим абра зом. После откачки колонн в каналы 2 цилиндра 1 подается жидкий азот для вымораживания остаточных газов в полости цилиндра. Образец закрепляется в объектодержателе и через шлюзовое устройство с 10 помощью штока 8 устанавливается внутри цилиндра. При этом оконечная часть 7 штока 8 проходит через отверстие 6 насквозь. При движении штока в обратном направлении оконечная часть штока устанавливается 15 в отверстии 6, выполняя роль заглушки и обеспечивал квазизамкнутость внутреннего объема цилиндра. При необходимости возможна индивидуальная схема источника 10 молекулярного пучка или образца через 20 шлюзовоеустройство или одновременно того и другого., Это позволяет обеспечить с одной стороны оперативность исследований различных процессов на разных образцах в одинаковых условиях, а с другой - 25 исключить влияние элементов конструкций, условий вакуума и др, за счет расположения источника молекулярного пучка непосредственно в зоне сверхвысокого вакуума вблизи исследуемого образца.Формула изобретения 1. Электронный микроскоп для исследования процессов молекулярно-лучевой эпитаксии, содержащий установленный по оптической оси полый цилиндр с отверстиями в торцевых крышках и боковой стенке и с выполненными в стенках каналами, соединенными с источником хладагента, шлюзовое устройство с подвижным штоком, источник молекулярного пучка и обьектодержатель, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения оперативности и качества электронномикроскопических исследований непосредственно в приборе, источник молекулярного пучка установлен на оконечной части штока шлюзового устройства, причем оконечная часть в поперечном сечении идентична по форме и размерам отверстию в боковой стенке цилиндра.2, Электронный микроскоп по п.1, о тл ич а ю щ и й с я тем, что оконечная часть штока шлюзового устройства снабжена посадочным местом объектодержателя.

Смотреть

Заявка

4786413, 26.01.1990

ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ СИБИРСКОГО ОТДЕЛЕНИЯ АН СССР

ЛАТЫШЕВ АЛЕКСАНДР ВАСИЛЬЕВИЧ, КРАСИЛЬНИКОВ АНДРЕЙ БОРИСОВИЧ, ВЫРЫПАЕВ ВЛАДИМИР АНДРЕЕВИЧ, АСЕЕВ АЛЕКСАНДР ЛЕОНИДОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 23/225

Метки: исследования, микроскоп, молекулярно-лучевой, процессов, электронный, эпитаксии

Опубликовано: 30.10.1992

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1772702-ehlektronnyjj-mikroskop-dlya-issledovaniya-processov-molekulyarno-luchevojj-ehpitaksii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электронный микроскоп для исследования процессов молекулярно-лучевой эпитаксии</a>

Похожие патенты