Способ геоэлектрической разведки полезных ископаемых

Номер патента: 468200

Опубликовано: 25.04.1975

Авторы: Лысый, Штельмахов

МПК: G01R 33/00

Метки: анизотропии, длине, магнитных, пленок, поля, тонких, цилиндрических

...намагничиваюшего поля.Если кривую намагничивания вдоль трудной оси представить в виде ломаной линии, первый участок которой проходит через начало координат под некоторым углом, а второй параллелен оси абсцисс, то пересечение обоих участков происходит в точке с координатами, соответствующими полю анизотропии (Нк) и индукции насыщения (ЬС),При воздействии на участке пленки синусоидального намагничивания поля индукции в пленке будет изменяться по гармоническому закону только на линейном участке кривой намагничивания. На втором участке кривой в ее составе появляются нечетные высшие составляющие, из которых максимальной амплитудой обладает третья гармоника. В составе вторичной, д. с, намагничиваюшего тока также повляются гармонические...

Номер патента: 1839890

Опубликовано: 20.06.2006

Авторы: Буравлев, Кобржицкая, Козорез, Левин, Малтинский, Степанов, Чеборин

МПК: G01C 19/24

Метки: взвешивания, катушки, контура, магнитном, поле, сверхпроводящего

Способ взвешивания сверхпроводящего контура в магнитном поле катушки, включающий охлаждение контура до сверхпроводящего состояния в магнитном поле, отличающийся тем, что, с целью упрощения устройств, реализующих способ, после охлаждения контура до сверхпроводящего состояния, уменьшают магнитное поле катушки в зоне сверхпроводящего контура.

Номер патента: 11593

Опубликовано: 30.09.1929

Автор: Москвитин

МПК: G01D 5/28

Метки: записи, кривых, магнитных, осциллографу, полей, проводнике, пространстве, распределения, электрических, электрического

...к осциллографу состоит из бараба 1 га 1 пишущего приспособления осциллографа. па оси которого насажено зубчатое колесо 3. сцендяющееси с рейкой 2, связанной с измерителем, например, со скодьзящи 91 н контактами, измеряющими плотность тока в данной точке сечения проводника, лиоо, как то изображено на . чертеже, с катушвой 4. служащей чая записи кривой распределения иапнитного потока Ф в пространстве твровода от которой подводятся к шлейфу 5 осциллографа.При вращении барабана 1 приводится в движение рейка , а следовательно, в связанная с ней катушка 4, пересекающая прн своем дннкении ма 111 игпные пщп 11 и потока Ф, кривую распределения которого н пространстве трауется получить. Под действием 1 ииуктирующейся в катушке 4....

Номер патента: 467275

Опубликовано: 15.04.1975

Авторы: Абдуллаев, Захидов, Якубов

МПК: G01R 17/10

Метки: контуров, мостов, переменного, развязки, уравновешивания

...оставалась постоянной и равной 90.Это обеспечивает полную развязку контуров уравновешивания моста и достижение максимальной чувствительности по основному измеряемому параметру во всем диапазоне измерения.На чертеже изображена блок-схема автоматического моста переменного тока.Автоматический мост содержит источник напряжения 1 переменной частоты, в частотнозадающую обратную цепь которого включен датчик Л, аналогичный измеряемому датчику Е, квадратурную фазопостоянную 1 Выходные сигналы детекторов равновесияпосле преобразования и усиления управляют соответственно двумя исполнительными элементами 7 и 8, механически соединенными с уравновешивающими элементами моста и пе ременными элементами частотнозадающей цепочки обратной связи источника...

Номер патента: 930382

Опубликовано: 23.05.1982

Авторы: Иевенко, Кожухарь, Ходосов

МПК: G11C 11/14

Метки: доменов, коллапса, магнитных, напряженности, поля, решетки, цилиндрических

...полеНо, и сканирующий узел 5, позволяющий перемещать образец 6 относительно плоского высокочастотного контура 1, который плотно прилегаетк поверхности диска образца 6 состороны исследуемой ТИП,Определение напряженности поляколлапса решетки ЦМД протекает следующим образом.Образец 6 занимает исходное положение в кювете сканирующего узла 5.Высокочастотный контур 1 вводитсяв начальное положение отсчета сканирующего узла 5. Обычно площадь контура выбирается равной площади чйпазапоминающего устройства (ЗУ), Если необходимо аттестовать образец в це.лом, выбирают контур площадью10 -10 мм , равной площади исслед 4дуемого образца. Для аттестации пленки на однородность контур должениметь меньшую площадь ( 1 мм ).В зазоре полюсных наконечников3...