Способ определения количественных характеристик карбидов в структуре металла
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(19) (11) 2 3 1)5 С 0 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ ДЕТЕЛЬСТВУ ВТОРСЙОМУ ли Изобретени носится е о еделениятик карбид Цель и арак с колич твен ов в структуре метобретения - повышеезультатов . досто вер оличетвенныйалях типа 25 Хматического(ААИ) "Кванодготовленньтравят спиазотной кисл Пров карбидо с помощ ализ 10 Г 1 ЗЛ дят к с и анализ ат тимет 72 е обычным товым растты в течео-.0" ю авто ажений 800. П ра иэоб система порядко вором 4 Х-но ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМРИ ГКНТ СССР(21) 4301486/23-02,(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЛИЧЕСТВЕННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК КАРБИДОВ В СТРУКТУРЕ МЕТАЛЛА(57) Изобретение относится к металлургии и может быть использованодля определения количественных ха- .рактеристик карбидов в структуре мегии и может быть использован талла, Цель изобретения - повышение достоверности результатов . Проводят количественный анализ карбидов в сталях типа 25 Х 4 и 110 Г 13 Л с помощью автоматического анализатора изображе" ний. Подготовленные шлифы подвергают глубокому травлению в 4 Х НЮО в течение 3 мин, На оптическом микроскопе производят фотосъемку микроструктуры в 15 полях зрения, Фотографии устанаввают на эпидиоскоп, передающий изображение с помощью сканирующего устройства на процессор автоматического анализатора изображений и проводят программный анализ и распечатку результатов . Предложенный способ позволяет повысить достоверность получа- ф емых результатов при огределении количественных характеристик карбидов и других структурных .составляющих, тре- С, бующих интенсивного (глубокого ) травления. 1 з.п. ф-лы. ние 3 мин, добавляя несколько раз за Юэто время новые порции реактива. На Ммикроскопе "БеорЬой" производят феефотосъемку микроструктуры в 15 поляхзрения с увеличением в 500 раэ, Иолученные фотографии устанавливают назпидиоскоп, передающий иэображениес помощью сканирующего устройствас использованием видиконовой трубки фффффна процессор ААИ, производят програм- .мный анализ и распечатку результатов.Для получения истинных размеров карбидов линейные размеры, выданные анализатором, необходимо уменьшить в 50015 б 1021Составитель М. ШелагуровРедактор Л, Пчолинская Техред Л.Олийнык Корректор Н. Ревская Заказ 975 Тираж 498 Подписное БНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 11303 5, Москва, Ж, Раущская наб., д. 4/5 Производственно-иэдатепьский комбинат фПатент", г,ужгород, уп. Гагарина,101 раз (увеличение микроскопа), а площади в 500 раз.При применении известного способа, включающего сканирование поверхности металлографического шлифа, фокусировка не может быть осуществлена с достаточной резкостью, чтобы было произведено считывание нли же оно происходит, но с большой погрешностью, возникающей,за счет того, что считывание осуществляется только ,с одной плоскости, на которую удается сфокусировать сканирующее пятно,Таким образом, предложенный способ позволяет повысить достоверность получаемых результатов при определении на автоматическом анализаторе изображений количественных характе,ристик карбидов и др. аналогичных структурных составляющих, требующихинтенсивного (глубокого) травления.Формула изобретения 51, Способ определения количественных,характеристик карбидов-в структу"ре металла, включающий приготовлениешлифов, травление, сканирование микроструктуры и анализ ее посредством 10 автоматического анализатора изображений, о т л и ч а. ю щ и й с я тем,что, с целью повышения достоверностирезультатов, проводят глубокое травление шлифа, после чего его фотографи руют, а сканированию подвергают фотографическое изображение структуры,2, Способ по п,1, о т л и ч а ющ и Й с я тем, что глубокое травление проводят в 47.-ном растворе БЯОзв течение 3 мин.
СмотретьЗаявка
4301486, 24.06.1987
КРАМАТОРСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И ПРОЕКТНО ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ МАШИНОСТРОЕНИЯ, ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ "НОВОКРАМАТОРСКИЙ МАШИНОСТРОИТЕЛЬНЫЙ ЗАВОД"
ФЕЛЬДМАН ВЯЧИСЛАВ ЕВГЕНЬЕВИЧ, АНТОНОВ ВИКТОР ВАСИЛЬЕВИЧ, ШАЛАМОВА ОЛЬГА БОРИСОВНА, БЕЛКИН ВЛАДИМИР МИХАЙЛОВИЧ, БЕЛКИН ЛЕОНИД МИХАЙЛОВИЧ, СТАРОВ АЛЕКСАНДР АНАТОЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 1/32
Метки: карбидов, количественных, металла, структуре, характеристик
Опубликовано: 30.04.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1561021-sposob-opredeleniya-kolichestvennykh-kharakteristik-karbidov-v-strukture-metalla.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения количественных характеристик карбидов в структуре металла</a>
Устройство для количественного анализа результатов поверки электрических счетчиков на автоматической установке
Номер патента: 128936
Опубликовано: 01.01.1960
МПК: G01R 35/04, G05B 19/02, G06M 3/06
Метки: автоматической, анализа, количественного, поверки, результатов, счетчиков, установке, электрических
...и передаюг 1 х для регистрации на электромеханические счетчики ЭС и ЭС:. в конце цикла поверки. Каждое поверочное гнездо связано со своим запоминаю Ы 128936щпм, уз.нЬ. На выходе запомингпощих узлов линии информации одного смысла объединяются в сдну общую линию. Таким образом, на общемзвыход всех запоминаощих узлов имеется столько же линий связи, сколько вбЛбв информации передается на элсктромеханеские счетчики. Включыщзаохинасщих узлов в работу производится при установке счетчика для поверки, Выдача информации с них осуществляется в момент снятия счетчика после поверки.Коммутатор информации КУ предназначен для переключения линий передачи информации на электромсханические счетчики того или иного регулировочного стенда в...
Способ создания образцов сравнения для лазерного и вторично ионного масс-спектрометрического количественного анализа примесей на поверхности кремния и структур на его основе
Номер патента: 1756827
Опубликовано: 23.08.1992
Авторы: Изидинов, Назаров, Разяпов
МПК: G01R 1/00
Метки: анализа, вторично, ионного, количественного, кремния, лазерного, масс-спектрометрического, образцов, основе, поверхности, примесей, создания, сравнения, структур
...и (2)величинами концентрации примеси в интервале 10-10 5 мас.0 в исходном расгворе.Предлагаемый способ характеризуютследующие свойства:простота операций, общедоступностьлабораторного оборудования и оснасткидля создания ОС;простота и точность регулирования впределах не менее 4 порядков содержайиястандартизируемого элемента-примеси;возможность высокой точности прогнозирования содержания примеси и направлейного его изменения на основе простогосоотношения, параметры которого мотутбыть найдены путем простых расчетоввследствие высокой восп роизводймостисвойств матрицы из СПК;тонкая структура и равномерное распределение микропор (обусловливает равномерное распределение примеси пообъему СПК);большая толщина СПК (100 - 200 мкм);что позволяет...
Способ количественного анализа эмульсий
Номер патента: 184512
Опубликовано: 01.01.1966
Автор: Новиков
МПК: G01N 21/01
Метки: анализа, количественного, эмульсий
...покрытую тонким слоем эмульсии. Полученное изображение слоя эмульсииувеличивают с помощью микроскопа 4 и фиксируют на экран электроннолучевой трубки(видикона) 5. Электроннолучевая труока 5соединена с выпрямителем О, развертывающим устройством 7, усилителем-ограничителем 8, суммирующей накопительной схемой 9,самопишущим потенциометром 10, синхронизатором (1, приводным устройством сменыпрепарата (проб эмульсии) 12, корректоромкратности И. Кроме того, прибор содержитванну 14 с эмульсией и ванну 15 с растворителем эмульсии.Таким образом определение интегральнойплощади пятен автоматически решается электронной схемой, преобразующей оптическоеизображение в электрические импульсы и выдающей на вход самопишущего потенциометра конечный сигнал...
Фотометрическое устройство для количественного анализа текстильных красителей в жидкой среде
Номер патента: 669825
Опубликовано: 30.06.1983
МПК: G01J 1/44
Метки: анализа, жидкой, количественного, красителей, среде, текстильных, фотометрическое
...оптическую систему Формирования потока излучения (на чертеже не показана), кювету 3, механизм 4 циклическогоизменения толщины слоя анализируемойжидкости, блок 5 синхронизации, фотоприемник б, усилитель 7 и синхронный детектор 8, образующие Фотопреобразователь пороговые элементы9 и 10, коммутирующее устройство 11и задающий генератор 12, счетчикимпульсов 13, вычислительное устройство 14, блок 15 цифровой индикации и устройство 16 управления. Одноиз смотровых окон 17 кюветы 3 выполнено подвижным и связано с механизмом 4 циклического изменения толщины слоя среды, который содержитходовой винт с ползуном, приводимыйв движение ренерсинным синхроннымэлектродвигателемна чертеже не показаны), что позволяет осуществитьлинейное изменение толщины...
Способ время-пролетного масс-спектро-метрического количественного анализа
Номер патента: 832622
Опубликовано: 23.05.1981
Авторы: Кудрявцев, Никоненков, Потапов
МПК: H01J 49/40
Метки: анализа, время-пролетного, количественного, масс-спектро-метрического
...пролета, каждый испаряющийимпульс налагают на дополнительныйпредварительный импульс, длительностькоторого больше. времени пролета ионовь пространство дрейфа, а постоянноенапряжение при этом понижают на величину амплитуды предварительного импульса.На фиг, 1 изображена схема времяпролетного атомного зонда,на фиг, 2 - .эпюры напряжений на образце.Время-пролетный атомный зонд содержит высоковольтный блок питания1 к которому подключают образец 12,экранирующий электрод 2 и детекторионов 3, размещенные в вакуумной камере 4, сумматор 5, таймер 6, интенсиометр 7, дополнительный генератор8 высоковольтных импульеов, генератор 9 испаряющих импульсов, блок 10задержки, задающий генератор 11,Работа зонда происходит следующимобразом.С помощью...
Предыдущий патент: Способ определения железа ( ) в железорудных неофлюсованных окисленных окатышах
Следующий патент: Реактив для выявления макроструктуры высокопрочных алюминиевых сплавов
Случайный патент: Способ регулирования выходного напряжения преобразователей постоянного напряжения в постоянное