Способ сортировки кристаллов

, 147 И 9) 07 С 5/342 ПРИОПИК АВТО И 14В. Н. Попов,Рубачев, А. В. Раси В, В. Кастров ьство СССР 5/342, 1984. 2 Изобретение процессов разд ческим свойств вано в устройст объектов, напри Цель изобре ти сортировки. Необходимо сы кристаллов образом. При сортир а кте истикаатизации по опти- использо- штучных к автоериаловет бытьртировкалло в.овышен относится ления мат м и мож вах для с мер крис тения -е точнос Р =1 д СУДАРСТВЕНКЫЙ КОМИТЕТ ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ГКНТ СССР ИЕ ИЗОБР ОМ,/ СВИДЕТЕЛЬСТ(56) Авторское свидете1097387, кл. В 07 С ь учета размеров или масожно показать следующим овке объектов по оптическим хра р м материалов выходным параметром служит оптическая плотностьР = 0,43 а 1, (1)где а - показатель поглощения среды;1 - геометрическая длина пути светового луча в среде,Основной характеристикой материала является показатель поглощения а, или уровень прозрачности, отражающий степень чистоты материала или его состав. Поэтому при проведении сортировки объектов по оптическим характеристикам, помимо изменения светового потока внутри объекта 4) СПОСОБ СОРТИРОВКИ КРИСТАЛ ЛОВ(57) Изобретение относится к автоматизации процессов разделения материалов по оптическим свойствам и может быть использовано в устройствах для сортировки кристаллов. Изобретение позволяет повысить точность сортировки за счет учета массы (размера) обрабатываемого объекта, для чего кроме регистрации интенсивности падающего и рассеянного излучения определяют массу сортируемых кристаллов. Степень прозрачности определяют по соотношению,приведенному в описании изобретения. 1 ил. Ч - падающий световой поток;Р - рассеянный световой поток, необходимо учитывать и фактическую толщину исследуемого объекта 1. С этой целью для исследований приготавливают образцы заданной толщины.При сортировке природных кристаллов изготовление образцов нецелесообразно. Возможное ограничение различий размеров обьектов производят путем отсеивания ряда размерных фракций на ситах с калиброванными отверстиями, однако и просеянный материал имеет значительный разброс размеров объектов внутри ситовых классов, При просеивании, например, алмазов применяются сита с относительным шагом диаметров отверстий около 0,2: Ф 1,2 мм; ф 1,6 мм, ф 2,0 мм; 62,4 мм и т.д. Нужно учитывать и несовершенство самой процедуры просеивания. Практически в каждом ситовом классе встречаются кристаллы, отличающиеся по размерам более чем в два раза, а по объему - в восемь раз.В связи с этим показатель ослабления вещества кристалла определяется с очень низкой точностью.1472153 налы, пропорциональные массе каждого сортируемого объекта. Затем объекты проходят через фотодатчик 3.Сигналы с датчиков 2 и 3 поступают в блок управления 6 исполнительным механизмом 4, который направляет объект в соответствии с принятыми сигналами, по одной из возможных траекторий устройства вывода объектов 5. 10 Формула изобретения Способ сортировки кристаллов, включающий поштучную их подачу в зону контроля, облучение кристаллов световым потоком, регистрацию интенсивности падающего и рассеянного излучения и разделение кристаллов по степени их прозрачности, отличающийся тем, что, с целью повышения точности сортировки, дополнительно измеряют массу кристаллов и степень прозрачности а опреде О ляют по следующему соотношению:а =2,31 дср з уОгде сР - интенсивность падающего светово вого потока;сР - интенсивность рассеянного светового потока;1 о - ПЛОтНОСтЬ ВЕЩЕСтВа КРИСтаЛЛа; т 14- масса кристалла. Составитель Г. ТихоТехред И. ВересТираж 542 Редактор Н. ГорватЗаказ 1540/10ВНИИПИ Государстве113035Производственно-изд ного комитета по изобретенияМосква, Ж - 35, Раушска тельский комбинат Патент,зГеометрическую длину пути светового луча в среде (ь) можно приближенно найти на основании измерения объема или массы объектов 1 иУ =Гф",У(3)где У- объем объекта;Фи- масса объекта;у - плотность вещества объекта.Тогда искомый показатель поглощениясреды или уровень прозрачностиа е 2,3.Я в = 2,3(д - 1/ . (4(Ю Вариация массы объектов приводит к пог решности определения а. Например, двух- кратное отклонение массы объекта от номинала вызывает 26-процентную погрешность показателя поглощения,На чертеже представлена блок-схема устройства, реализующего способ.Устройство содержит узел подачи 1, датчик массы 2, фотодатчик 3, исполнительный механизм 4, узел выхода объектов 5. Датчик массы 2 и фотодатчик 3 соединены с блоком управления 6.Устройство работает следующим образом.Узел подачи 1 подает объекты к датчику массы 2, формирующему электрические сигвоваКорректор С. ЧерниПодписноеи открытиям при ГКНТ СССРнаб., д. 4/5