Кастров

Номер патента: 1618821

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Борткевич, Варданян, Кастров, Петров

МПК: E02B 7/06

Метки: грунтовых, плотина

...материалов вместо специального дренирующего материала применяют глинистый грунт пониженной влажности. После отсыпки последующего слоя из переувлажненного глинистого грунта влага из него будет постепенно перераспределяться в слои глинистого грунта с пониженной влажностью. Оптимальное соотношение толщин слоев равно соотношению механической прочности грунтов в этих слоях. Фильтрационно-суффоэионная прочность плотины повышается благодаря сцеплению частиц глинистого грунта, упрочнению слоев и отсутствию порового давления консолидации.Отсыпка слоев глинистого грунта с влажностью выше оптимальной произво1618821 Составитель Н.ПалкинТехред М.Моргентал Корректор М.Пожо Редактор С.Пекарь Заказ 26 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного...

Номер патента: 1539537

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Бибикова, Кастров

МПК: G01J 1/04

Метки: фотометрический, шар

...установки образца 4 и ввода излучения. На внутреннюю поверхность корпуса 1 нанесено светоотражающее покрытие 5. Кроме того, в корпусе 1 имеется отверстие 6 для фотоприемника. Возможен МЗ Игдедостигает 0,98 и- % 50,1 помимо своего вклада в общую освещенность стенок, создает непосредственный световой сигнал угол между нормалью к площадке фотоприемника и направлением на освещенную площадкуна стенке фотометрическогошара;интенсивность светового потока в направлении нормалик освещенной площадке настенке Фотометрического шара;площадь блика;площадь приемной площадкиФотоприемника;диаметр Фотометрического шара. Существенно, что величина этого светового потока зависит от угла Ч т,е. от местонахождения блика на внутренней стенке Фотометрического...

Номер патента: 1472153

Опубликовано: 15.04.1989

Авторы: Бернштейн, Кастров, Лобанов, Оганесов, Попов, Рассказов, Рубачев

МПК: B07C 5/342

Метки: кристаллов, сортировки

...путем отсеивания ряда размерных фракций на ситах с калиброванными отверстиями, однако и просеянный материал имеет значительный разброс размеров объектов внутри ситовых классов, При просеивании, например, алмазов применяются сита с относительным шагом диаметров отверстий около 0,2: Ф 1,2 мм; ф 1,6 мм, ф 2,0 мм; 62,4 мм и т.д. Нужно учитывать и несовершенство самой процедуры просеивания. Практически в каждом ситовом классе встречаются кристаллы, отличающиеся по размерам более чем в два раза, а по объему - в восемь раз.В связи с этим показатель ослабления вещества кристалла определяется с очень низкой точностью.1472153 налы, пропорциональные массе каждого сортируемого объекта. Затем объекты проходят через фотодатчик 3.Сигналы с датчиков 2...

Номер патента: 1359869

Опубликовано: 15.12.1987

Автор: Кастров

МПК: H02M 3/335

Метки: маломощный, однотактный, постоянного, постоянное, регулируемый

...8 и базовую обмотку 4 соединенас вторым входным выводом и через за -пускающий резистор 9 - с первым входным выводом; эмиттер через эмиттерный резистор 10 соединен с вторымвходным выводом шиной, при этом первый вывод вторичной обмотки 5 черезвыпрямительньп диод 11 соединен спервым выводом конденсатора 12, авторой - является общим для вторичной цепи и цепи размагничивания, сос тоящей из последовательно соединенных обмотки 6, диода 13 и регулирующего транзистора 14, база которого тером; между коллектором регулирующего транзстара и перньп,выводом конденсатора 12 включен диод 17,Устройство работает следующим образам.При подклоцении преобразователя к источнику постаяннога напряжения транзистор 7 антогенератора 1 открывается протекаюпим...

Номер патента: 1097387

Опубликовано: 15.06.1984

Авторы: Бернштейн, Вахидов, Казаков, Кастров, Кузнецова, Кушниренко, Лапшина, Лобанов, Наседкин, Нестеров, Оганесов, Петросян, Попов, Рубачев, Уваров

МПК: B07C 5/342

Метки: алмазов, сортировки

...потоком моно- хроматического излучения с последую". щим определением показателя поглоще ния излучения в качестве потока излучения используют поток деполяризованного монохроматического излучения, а показатель поглощения потока излучеНия определяют по следующему соотно щению где 1 - показатель поглощения потокаизлучения;- фотометрическая толщина алмаза;5 - сечение потока излучения;Р - коэффициент, учитывающий потери, на отражением6 - площадь проекции алмаза;Фо - опорный поток излучения;ф в ,рабочий ноток излучения;Устройство для осуществления спосо. ба, содержащее источник монохроматичес кого излучения, на оптической оси кото. рого установлены диафрагма и фотометрическая камера внутри которой размеЭ50 щен фотоэлемент, электрически...

Номер патента: 134453

Опубликовано: 01.01.1960

Авторы: Кастров, Роговой

МПК: G01C 19/20

Метки: гироскоп, жидким, ротором

...жидкости освещается осветителем б через прозрачные окна 7 в корпусе камеры. Осветитель расположен на стабилизированной платформе в экваториальной плоскости камеры. Он фокусирует световой пучок в жидкости на глубине 1 - 2 м,и от поверхности в точке А. Возбужденная осветителем фосфоресценция образует светящееся кольцо в плоскости, перпендикулярной оси вращения жидкости. Считывание положения фосфоресцирующей полосы производится в точке Б с помощью микроскопа 8, расположенного в той же плоскости, что и осветитель, но с противоположной стороны камеры. Регистрация положения светящейся полосы производится фотоэлектронной системой 9, объединенной с микроскопом. Смещение фосфоресцирующей полосы в поле зрения микроскопа (на величину Б -...

Номер патента: 38802

Опубликовано: 30.09.1934

Авторы: Гуревич, Кастров

МПК: G01J 1/10, G01W 1/00

Метки: воздуха, прибор, прозрачности

...от бипризмы до изобра жения и преломляющие углы бипризмы,рассчитаны таким образом, чтобы изо бражение белого экрана, отклоненноеодной половиной бипризмы, совпало сизображением черного экрана, отклоненным другой половиной бипризмы.При атом каждое из совпадающих ме жду собой изображений должно закрывать целиком выходной зрачок а прибора. Если наблюдатель через зрачокприбора а будет смотреть на бипризму О, то он увидит одну ее половинусветлой, .а другую - темной.Совершенно такую же картину наложения изображений белого и черногоэкранов на выходной зрачок приборадает и объектив О., от близко расположенной пары экранов. Совмещение пучков света, идущих через объектив О,и Опроисходит при помощи призм ы Ри полупрозрачного зеркала...