Устройство для измерения магнитных полей
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1420559
Авторы: Быстров, Григорьев, Оробинский
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИК 1 4 6 01 К 33/032 ГЯ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ СО ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯМАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ(57) Изобретение относится к магнитнымизмерениям, основанным на регистрациисмещения доменных стенок в чувствительЯО 1420559 ном элементе при введении его в исследуемое поле. Устройство для измерения магнитных полей содержит источник 1 света, поляризатор 2, магнитоодноосную прозрачную пленку 3 с доменной структурой, анализатор 5, фотоприемник 6, непрозрачную маску 4 в виде негативного отпечатка полосовой доменной структуры магнитоодноосной пленки, блок 7 усиления и индикации и катушку 8 поля смещения. Устройство позволяет измерить также и составляющую: магнитного поля, лежащую в плоскости, параллельной плоскости магнитоодноосной пленки. 1 ил.1420559 формула изобретения Составитель А. РомановРедактор С. Лисина Техред И. Верее Корректор А. ОбручарЗаказ 432752 Тираж 772 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная,4 1Изобретение относится к магнитным измерениям, а именно к способам измерения магнитного поля, основанным на регистрации смещения доменных стенок (ДС) в чувствительном элементе при введении его в ис 5 следуемое поле.Цель изобретения - расширение функциональных возможностей путем измерения также и составляющей магнитного поля, лежащей в плоскости, параллельной плоскости магнитоодноосной пленки. 10На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого устройства. Устройство содержит источник 1 света, поляризатор 2, феррит-гранатовую планку 3 с полосовой доменной структурой, маску 4, анализатор 5, фотоприемник 6, блок 7 усиления и индикации и катушки 8 поля смешения.Работа устройства осуществляется следующим образом. 20Выбирают источник 1 света (лазер, светодиод), имеющий длину волны в области окна прозрачности и достаточно высокой магнитооптической добротности кристаллов ферритов-гранатов (0,5 - 5 мкм). Контактным или любым другим методом в поляризо. 25 ванном свете изготавливают маску 4 (например, на фотопленке типа микрат), представляющую собой негативный отпечаток доменной структуры выбранной эпитаксиальной феррит-гранатовой пленки 3. Пленку с30 наложенной на нее маской помещают между поляризатором 2 и анализатором 5 перпендикулярно падающему потоку излучения, прошедшую часть которого регистрируют с помощью фотоприемника 6. Выходной сигнал последнего поступает на блок 7 усиления и 2индикации. Для получения стабильной поло- совой доменной структуры во время изготовления маски и последующих измерений к феррит-гранатовой пленке можно приложить постоянное смешаюшее магнитное поле под небольшим углом (1 - 5) к ее плоскости. Тогда измеряемое поле приводит не только к повороту доменной структуры, но и к изменению ее периода, что также регистрируют с помощью указанной схемы.Необходимая для измерений полосовая доменная структура в пленке реализуется, когда одноосная перпендикулярная анизотропия превалирует над кубической, или при наличии наклона оси легкого намагничивания, или в присутствии поля смещения Н". В последнем случае регулирования Н можно варьировать чувствительность способа. Устройство для измерения магнитных полей, содержащее оптически последовательно расположенные источник света, поляризатор, магнитоодноосную прозрачную пленку с доменной структурой, анализатор, фотоприемник, соединенный со схемой индикации, отличающееся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей за счет измерения составляющей магнитного поля, лежащей в плоскости, параллельной плоскости магнитоодноосной пленки, и повышения чувствительности устройства, в него дополнительно введена непрозрачная маска, выполненная в виде негативного отпечатка полосовой доменной структуры магнитоодно. осной пленки и расположенная между пленкой и анализатором.
СмотретьЗаявка
4101507, 22.05.1986
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ М-5619
ОРОБИНСКИЙ СЕРГЕЙ ПАВЛОВИЧ, БЫСТРОВ МИХАИЛ ВИТАЛЬЕВИЧ, ГРИГОРЬЕВ ВАЛЕРИЙ АНАТОЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 33/032
Опубликовано: 30.08.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1420559-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-magnitnykh-polejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения магнитных полей</a>
Способ формирования параллельной полосовой доменной структуры в магнитоодноосной пленке
Номер патента: 1123060
Опубликовано: 07.11.1984
Авторы: Епанчинцев, Катсон, Силантьев, Шелухин
МПК: G11C 11/14
Метки: доменной, магнитоодноосной, параллельной, пленке, полосовой, структуры, формирования
...цель достигается тем,что согласно способу формированияпараллельной полосовой доменнойструктуры в магнитоодноосной пленке,основанному на воздействии на пленкупеременным магнитным полем, направленным перпендикулярно плоскостипленки, после воздействия на пленкупеременным магнитным полем плоскостьпленки поворачивают параллельно направлению магнитного поля и уменьша-.ют амплитуду переменного магнитногополя до нуля,На чертеже изображено устройстводля реализации предлагаемого способа.Устройство для формирования параллельной полосовой доменной структуры в магнитоодноосной пленке содержит соленоид 1, вставку 2, держатель 3 с кассетой 4, задающий гене 1 ратор 5 тока, образец б.В соответствии с предлагаемымспособом формирование...
Способ измерения поля магнитной анизотропии тонких магнитных пленок
Номер патента: 966631
Опубликовано: 15.10.1982
Авторы: Подлесный, Службин, Темерти
МПК: G01R 33/12
Метки: анизотропии, магнитной, магнитных, пленок, поля, тонких
...вектора намагниченности с оптической осью и определяют поле магнитной аннзотропии из соотноше 1 ния 5Н (СЯд чиК соР "где Н - напряженность внешнегомагнитного поля09 - напряженность насыщения;- угол между осью легкогонамагничивания и направлением магнитного поля,- угол между осью легкогонамагничивания и оптической осью.На чертеже представлена функциональная схема устройства, реализующего предлагаемый способ.Устройство содержит образец 1 (тонкую магнитную пленку), распо ложенную между полюсами электромаг- нита 2 с возможностью вращения, По одну сторону образца 1 размещен. источник 3 поляризованного света, по другую сторону вдоль оптической 25 оси - анализатор 4 и фотоприемник 5, соединенный с регистрирующим приборсм б...
Устройство для измерения напряженности поля анизотропии доменосодержащих структур
Номер патента: 1657004
Опубликовано: 20.12.2005
Авторы: Грязев, Нестеренко, Талуц
МПК: G01R 33/05
Метки: анизотропии, доменосодержащих, напряженности, поля, структур
Устройство для измерения напряженности поля анизотропии доменосодержащих структур, содержащее последовательно оптически соединенные источник поляризованного света и поляризационный микроскоп, источник переменного магнитного поля, ориентированный вдоль оптической оси поляризационного микроскопа, источник постоянного магнитного поля, ориентированный вдоль фокальной плоскости поляризационного микроскопа, управляемый источник постоянного тока, согласующий элемент, цифровой вольтметр, измерительный вход которого подключен к выходу согласующего элемента, вход которого подключен к выходу источника постоянного магнитного поля, вход которого подключен к выходу управляемого источника постоянного...
Устройство для регистрации энергетических характеристик концентраторов лучистой энергии
Номер патента: 775542
Опубликовано: 30.10.1980
Авторы: Байрамов, Гурбанязов, Корпеев, Лискер, Язлиев
МПК: F24J 2/46
Метки: концентраторов, лучистой, регистрации, характеристик, энергетических, энергии
...тепловой экран 11 с отверстием 12, расположенный снаружи камеры 2 со стороны окна 3. Тепловой экран 11 снабжен заслонками 13 для перекрытияотверстия 12, установленными с возможностью синхронного поворота.Заслонки 13 посредством шестерней14 и взаимосвязанных рычагов 15 и 16соединены со вторым тросиком 17.Тросики 7 и 17 соединены посредством заключенной в направляющий корпус 18 подпружиненной клавиши 19 стретьимтросиком 20, через которыйосуществляется связь со спусковыммеханизмом 21.Намагничивающая пластина изготовлена из немагнитного материала иразмеры ее рабочей поверхности больше чем регистратора.Магнитная пленка получена термическим напылением в вакууме исходного Ферромагнитного вещества, например 83 И 17 Ре, на...
Способ изготовления источника магнитного поля смещения в запоминающем модуле на цилиндрических магнитных доменах
Номер патента: 1410099
Опубликовано: 15.07.1988
Авторы: Дударенко, Канатчиков, Соловьев
МПК: G11C 11/14
Метки: доменах, запоминающем, источника, магнитного, магнитных, модуле, поля, смещения, цилиндрических
...параллельность поверхностей наконечников, Трудоемкостьизготовления Г-образных пластин посравнению с корпусом типа "пенал"снижается. Формула изобретения 10 Составитель Ю.Розенталь Редактор А,Лежнина Техред М.Ходанич Корректор Г,РешетникЗаказ 3485/48 Тираж 590 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открырий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Нроктая, 4 Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при изготовлении запоминающих устройств на цилиндрических магнитных 5 доменах (ЦИД).Целью изобретения является упрощение способа и повышение надежности изготовления источника магнитного поля смещения.На чертеже показана...
Предыдущий патент: Способ отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем
Следующий патент: Способ измерения индукции магнитного поля
Случайный патент: Перистальтический насос