Устройство для измерения магнитных полей

Номер патента: 67224

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Лебедев

МПК: G01M 11/02

Метки: аберрации, зонам, коллиматорного, оптических, прибор, систем, типа, фокусировки

...удаления естественного или искусственного бесконечно удаленного предмета. Аберрации эталонного объектива предварительно измеряются путем определения удаления предмета приразличных положениях диафрагмы 2. 1 Способ измерения аберрации и фокусировки по зонам оптических систем коллиматорного типа путем измерения сходимости двух диаметрально и 1, гпвположРых пучков, выделенных д:афрагмой, отличающийся тем, то указанные пучки направляют в стереоскопический измерительный прибор, которым проводят измерения.2, Прибор для осуществления способа по п. 1, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что он выполнен в виде стереоскопического бинокулярного приоора с измерительными марками или компенсаторами в окулярных ветвях и одним объективом, перед которым...

Номер патента: 569845

Опубликовано: 25.08.1977

Авторы: Королев, Меньшикова

МПК: G01B 9/02

Метки: аберраций, волновых, дифракционной, изображения, интерферометр, качества, оптических, систем, точке

...установлена линза 15 и вин товой окулярный микрометр 16.30Предлагаемый интерферометр работает следующим образом.На вогнутой алюминированной поверхнос ти зеркала 5 выполнено дифракционное от верстие, которое освещено через линзу 2 сфокусированным плоскополяризованным пуч ком света из оптического квантового генератора 1 непрерывного действия. Сферическая световая волна, возникающая на дифракционном отверстии, распространяется в боль с) шом телесном угле и попадает в объектив 3 коллиматора и в объектив. 11 системы не блюдения. После объектива 3 волна прохо дит через 1 иафрагму 4 и плоскопараллельную пластинку 7, вырезанную из кристаллического кварца и имеющую разность хода (2 + 1), Размер диафрагмы 4 равен диа.Лметру зрачка...

Номер патента: 80854

Опубликовано: 01.01.1949

Авторы: Додин, Лосик, Михайлов

МПК: B01D 3/38, C12F 1/06

Метки: аппарату, брагоперегонному, рома, сырца

...ятО)с 00,; ьи я 5 ч зсть и 1)Г) 15 5(01;(сиси(устс 51 и 155351) 3 и(ас (с 51 15 вндс )егмы об 1)3 Гию в клоииУ. Дсфлсгмс(тоР окг(3)К 5 стс 51 бРажкой.ЧаетЬ ПаРОВ, ВМЕСТЕ С ИИСРтИЫМИ Гс;5(М 35, (З К(Н(ДЕИСЯтРЗИСРЕКО;(1 т 35 3(ОИДСИСс(ТО) д, (ДС 1)01 СКО;(31 Г ИГ 1 цс)51 КОИ(спсс 1 ЦИ 51 Ис 1/)015 Й ЧсСТИ 1 ИО.следу(ощее окляждсиио паров и иисртицк газов. Из рззделитсльиой бу- ТЫЛЫ КОИСеа ГОрсИС ГИЫ(. ГЗЗЬТВО,(51 С 53, и с(тС,)Е)М; КОИС 1- С с 1 Т, Ч Я С Т И Ч 3 О В В ИС ф Л Е Г М Ы, В 0 5 15 Р ся И (3 Ст С 51 б ) с Т И 0 и К ОГ О И И У, с Ч - Стцс(ИО, В ВИДЕ тОВаРИОй ЭфИРОЗГЬ;(ЕГИ,(ИО(1 фРЗКЦИИ, От 50 ИтСЯ ИЯ ИРУ- ветку 9 б, и после иее в сбори(к. Ром-сырец сбирается с И 1)оме)кутчиы ТЯ)Е;ОК 15 В(3 ДЕ Ис)СТС)И:5 ЯТс( И ИОСГ 1 С О.13...

Номер патента: 423559

Опубликовано: 15.04.1974

Авторы: Изобретени, Патрикеев, Плотников, Целиков

МПК: B22D 11/12

Метки: вторичного, зоны, направляющее, охлаждения, приводное, слитка, тянущее

...гидроцгНндры должны иметь регулируемые ограничители хода. 15 Целью изобретения является упрощениеконструкции приводного тянущего и направляющего устройства зоны вторичного охлаждения слитка. Это достигается тем, что наокимныс механизмы устанОВлены В Окнах, Вы 20 полненных в базовых роликах, и соединеныпосредством тяг с ползунамп, помещенными в пазы балансирных обойм.Ня фиг. 1 показано предлагаемое устройсгво; на фиг. 2 - то же, разрез по Л., Иа 25 фиг. 1.Ня Оазовых рам 2 х 1 закреплены приводнысролики 2 и двухроликовые подвиж 1 ыс Оял 2 Н.сирные ООО 1 мь 3 с роликаи. Балянсир 11 ыс оооймы ю сют пазы 4, в которых рясОлоЗз жены полз,пы О. В рамках 1 в 1,Олнси Окна423559 щим только нажим ня слиток и их отвод от слитка при пропуске...

Номер патента: 1142862

Опубликовано: 28.02.1985

Авторы: Николаев, Раев, Храпко

МПК: G11C 29/00

Метки: запоминающее, исправлением, обнаружением, ошибок, постоянное

...элементов И соединены с входами элементов ИЛИ, причем выходы элементов ИЛИ основных блоков постоянной памяти соединены с входами третьей группы блока декодиро-, вания, входы четвертой группы которого подключены к выходам элементов ИЛИ дополнительных блоков посто янной памяти.На чертеже приведена блок-схема предлагаемого устройства.Устройство содержит основные блоки 1 постоянной памяти, дополнительные .блоки 2 постоянной памяти, блок 3 декодирования, дешифратор 4, элементы И 5 и 6, элементы ИЛИ 7 и 8,Блоки 1 предназначены для хранения основной информации, блоки 2 для хранения контрольной информации.Блоки 1 и 2 выполнены на полупроводниковых многоразрядных микросхемах памяти. Хотя каждый блок 1 или 2 является многовыходным (К - число...