Катодная трубка

Номер патента: 1075331

Опубликовано: 23.02.1984

Автор: Коляда

МПК: H01J 49/26

Метки: вторичной, ионно-ионной, компонент, коэффициентов, образца, полупроводникового, эмиссии

...измерения коэффициентов ВИИЭ компонент образца из полу. проводникового материала.Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения коэффициентов вторичной ионно-ионной эмиссии компонент образца из полупроводникового материала, в котором производят ионную и температурную очистку поверхности образца в условиях высокого вакуума, напускают активный по отношению к поверхности образца газ и измеряют токи первичных и вторичных ионов, проводимость поверхности образца поддерживают заданной путем изменения температуры в диапазоне, в пределах которого происходит адсорбция активного газа.Активность поверхности полупроводников по отношению к газовой среде тесным образом связана с электронной структурой его поверхности и с ее...

Номер патента: 1078502

Опубликовано: 07.03.1984

Авторы: Коляда, Нагорная, Черепин

МПК: H01J 49/26

Метки: вторичной, значения, ионно-ионной, компонент-поверхности, коэффициентов, относительного, твердых, тел, эмиссии

...при постоянном значении тока ионов первичного пучка ионное легирование производят тем же пучком первичных ионов с энергией, превышающей энергию ионов первичного пучка при распылении, при этом длительность масс-анализа устанавливают больше времени прекращения спада тока вторичных ионов с массой, соответствующей массе ионов первичного пучка.На фиг. 1 - 4 представлены варианты масс-спектров и временные зависимости токов (в.и.и.э.).При проведении масс-анализа происходит распыление ионнолегированного слоя, поэтому в спектре в.и.и.э., снятом в момент времени 0 ТсТ, наблюдаются вторичные токи компонент А (пики А, А, Аз, А 4) и вторичный ток 1-, который складывается из двух составляющих - вторичного тока 1 от ионов первичного пучка, легирующих...

Номер патента: 281683

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Асгоо, Евтюнин

МПК: H01S 3/032

Метки: газоразрядная, генератора, действия, ионного, квантового, непрерывного, оптического, трубка

...термоэмиссией при рабочей температуре. Так как5 эмиттируемые спиралью электроны будут чейтрализовать объемный заряд ионов у стеноккапилляра, то это приведет к уменьшению падиальных и аксиальных градиентов потенциала, а, следовательно, к счижению скорости10 распыления капилляра и увеличению срокаслубжы, а также к увеличению эффективности и предельной мощности прибора,Используя в качестве материала спиралиэффективные эмиттеры, например торирован 15 ный карбидированный вольфрам, можно значительно снизить нагрузку на катод, так какв прикатодной части такая спираль сама будет служить эмиттером электронов,Изобретение поясняется чертежом.20 Газоразрядная трубка для ионного ОКГ непрерывного действия состоит из катода 1,разрядного капилляра...

Номер патента: 646257

Опубликовано: 05.02.1979

Авторы: Волков, Галялтдинов

МПК: G01P 3/66

Метки: дрейфа, ионов, молекул, поле, растворах, скорости, электрическом, электролитов

...вызывают дрейфионов, первы импульс прикладывают воантервале 90 -ным и 180 -ным: в,ч,импульсами, а второй, противоположнойоноаярностий в интервале между 180-нымв.ч, импульсом и сигналом вха (смефиг. Ц, и снова измеряютамплитуду сигнала эха, По измерению этой амплитуды. судят о скорости дрейфа. Затемизменяют интервал меду в.ч, импульсами и повторяют цикл измерений, Подвергнув полученную зависимость отно-,сительной амплитуды эха от ф Фурьепреобразования, получают функцню распределення дрейфующих частиц по ско ростям,Чувствительность предлагаемого способа сказывается выше, чем известного. Это подтверждается как экспериментальными, так н теоретическими расчетамн.Действительно, сдвиг фаз прецессии ядерных спннов 4 Ф/ за счет...

Номер патента: 1525774

Опубликовано: 30.11.1989

Авторы: Бейзина, Карецкая, Кельман

МПК: H01J 49/48

Метки: ионами, магнитного, масс-спектрометр, многократным, поля, прохождением

...системы; обеспечивает свободу движения ионов по в сему конно-оптическому тракту,.на их пути не встречаются ни сетки, ни щели. Это сводит к минимуму рассеяние и выбивание вторичных частиц,74бкостью. Механическая сборка предлагаемого масс-спектрометра значительно проще, так как пучок входит в электрическое поле свободно и не должен каждый раз точно попадать в узкую щель, как в прототипе. Неизбежные погрешности механической сборки легко ликвидируются электрической юстировкой, В предлагаемом приборе отсутствуют эффекты, связанные с многократным прохождением ионов через узкую щель, - рассеяниеионов и выбивание вторичных заряженных частиц, что обеспечивает высокое разрешение у основания спект,ральных линий,формула изобретения...