Способ определения интенсивности вакуумного ультрафиолетового и мягкого рентгеновского излучения импульсного источника

Номер патента: 1073584

Опубликовано: 15.02.1984

Автор: Сальников

МПК: G01J 3/42

Метки: вакуумного, жидкостей, излучения, области, поглощения, регистрации, спектров, ультрафиолетового

...оптических характеристик- показателя поглощения н показателя преломления жидких образцов в области вакуумного ультрафиолетового излучения и может быть использовано вабсорбционной спектроскопии например при измерении оптических характеристик жидких сцинтилляторов вбиологии,Известны устройства для регистрации спектров поглощения жидкостей в области вакуумного ультрафиолетового излучения содержащие вакуумный монохроматор, регистрирующую систему и кювету Я .Измерение сильных полос поглощения осуществляется по методу слоевнеравномерной толщины, создаваемыхв кювете с образцом введением каплиисследуемой жидкости, зажимаемой между двумя сферическими пластинами с радиусом .кривизны не менее 50 м. Такая система позволяет получить по" степенное...

Номер патента: 1154383

Опубликовано: 07.05.1985

Авторы: Бугай, Выдай, Загарий, Цирлин

МПК: C30B 29/12, C30B 33/00

Метки: гамма-излучения, детекторов, мягкого, рентгеновского, термообработки

...высокое значение параметра пик/допина.Цель изобретения - увеличение параметра пик/долина детекторов рентгеновского и мягкого гамма-излученияи сокращение продолжительности термообработки.Поставленная цель достигается тем,что согласно способу термообработкидетекторов рентгеновского и мягкогогамма-излучения на основе монокристаллов иодистого натрия, активированных таллием, включающему отбор детекторов по задаваемому параметру, ихнагрев до температуры термообработки,выдержку и охлаждение, отбор ведут- гпо концентрации активатора (3-4)10(2-3) 10 мас.7., нагрев - до 80-90 С,а выдержку осуществляют в течение4-5 ч.Сущность способа заключается в том,что при концентрации активатора в основе детектора (3-4) 10 мас.Е наблюдается низкое значение...

Номер патента: 177996

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Грибанов, Леднев

МПК: H05G 1/34

Метки: излучения, интенсивности, модуляции, рентгеновского

...для рентг турного анализа радиоактивных об использовать для этого стандартны новскце установки с минимальными 15 ками, це исключающими обычного р работы.простить нострукразцов и е рентге- переделжима цх Способ х ского излу аппаратах,ку, с нака 5 тем, что, с ляции, мо ла катодаодул ения яциц цнтенсивнос ч по спнусоидалысодержащих рентген чиваемым катодом, о целью упрощения пр дулцруют напряжение рентгеновской трубки ц рентгенов. ому закону в вскую трубличаюи 1 ийся оцесса моду- в цепи накаИзвестны способы модуляции интенсивности рентгеновского излучения по синусоидальному закону в аппаратах, содержащих рентгеновскую трубку с накаливаемым катодом, заключающиеся в механическом прерывании рентгеновского пучка при помощи вращающегося...

Номер патента: 1108943

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Пузиков, Семенов, Сивко, Харченко, Чайковский

МПК: H01J 3/04

Метки: интенсивных, ионных, пучков

...замедления расходящегося пучка. В этом случае даже использованиеэлектродов замедления оптимальнойгеометрии приводит к большим потерямпучка ионов, .Этого можно избежать,если на вход системы замедления подавать сходящийся пучок с углом схо"димости, который бы обеспечивал формирование в промежутке замедлениянерасходящегося пучка,. что устранитпотери ионного:.пучка. Величину требуемого угла сходимости можно определить несколькими способами: электродинамическим расчетом, иСходя изгеометрии электродов замедления,экспериментально, а также используясимметрию электродов ускорения и замедления и известные расчеты для пушек Пирса. 108943 6 статические линзы,. Однако использо.вание конструкций линз, известныхиз литературы, не дало...

Номер патента: 2001463

Опубликовано: 15.10.1993

Авторы: Бугаев, Николаев, Окс, Щанин, Юшков

МПК: H01J 27/04, H01J 27/22

Метки: газа, генерации, двухкомпонентного, ионном, ионов, источнике, металла, потока

...и нейтральных частиц рабочего газа приводит к эффективной регенерации в области контрагирования и анодной части разряда газовых ионов. При повышении концентрации плазмы за счет увеличения тока контрагированного разряда и напряжения между электродом 3 и плазмой на выходе отверстия на металлическом электроде 3 под плазмой контрагированного разряда, в месте ее наибольшей концентрации (вблизи отверстия), возбуждается катодное пятно, ток которого поддерживается источником питания 8, Существование катодного пята обеспечивает поступление в анодную область металлических ионов. Как показали испытания, контрагированнный разряд не только способствует возбуждению катодного пятна, но и оказывает стабилизирующее влияние на горение вакуумной дуги....